Newsletter - Metrology for the manufacturing of thin films
Autor*innen: | Andreas HertwigORCiD, F.A. De Castro |
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Dokumenttyp: | Newsletter |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Deutsch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2012 |
Herausgeber (Institution): | EURAMET - European association of national metrology institutes |
Ausgabe/Heft: | February |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 4 |
Freie Schlagwörter: | Coatings technology; Metrology; Optoelectronics; Photovoltaics; Thin films; Traceability |
URL: | http://projects.npl.co.uk/optoelectronic_films/documents/EMRP%20ThinFilms_Newsletter%20Feb%202012.pdf |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |