Anomalous surface composition in thin films of a poly(vinyl methyl ether) / polystyrene blend
- Highly surface-sensitive X-ray photoelectron spectroscopy at HE-SGM beamline revealed in the outermost region (< 2nm) of thin films (15 -65 nm) of PVME/PS blends a relative high amount of PS, whereas in slightly deeper regions PVME was enriched. Such enrichment of PVME in the whole near-surface region was proposed in former investigations based on conventional XPS studies.
Autor*innen: | Jörg RadnikORCiD |
---|---|
Koautor*innen: | Sherif Madkour, Andreas Lippitz, Andreas SchönhalsORCiD, Wolfgang UngerORCiD |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2017 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Depth profiling; Energy resolved XPS; Polymer blends; Thin films |
Veranstaltung: | Bessy User Meeting 2017 |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 13.12.2017 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 15.12.2017 |
Referierte Publikation: | Nein |