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Possibilities and limits of digital industrial radiology: The new high contrast sensitivity technique - Examples and system theoretical analysis

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Metadaten
Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD
Koautor*innen:Uwe Ewert, K. Bavendiek
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Veranstaltung:DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography
Veranstaltungsort:Lyon, France
Beginndatum der Veranstaltung:2007-06-25
Enddatum der Veranstaltung:2007-06-27
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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