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Unsharpness Characteristics of digital detectors for industrial radiographic imaging

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Metadaten
Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD
Koautor*innen:Kurt Osterloh, Uwe Ewert
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004)
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004)
Veranstaltungsort:Montreal, Canada
Beginndatum der Veranstaltung:2004-08-30
Enddatum der Veranstaltung:2004-09-03
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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