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Measuring organic layers
- Many innovative products - from touchscreens to solar panels to pharmaceuticals – utilise multiple organic layers to create complex functionality. New techniques have been developed to remove and measure layers individually enabling improved product development and assisting with quality assurance. However, manufacturers cannot be certain of the depth of layer being removed and new reference materials for these techniques are needed to increase uptake, and remove a major barrier to innovation.
Autor*innen: | Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Sonstiges |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
Veröffentlichende Institution: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
Herausgeber (Institution): | Euramet, European Metrology Research Programme |
Verlagsort: | Teddington |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 2 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Organic layers; SIMS; XPS |
URN: | urn:nbn:de:kobv:b43-388656 |
URL: | http://www.euramet.org/metrology-for-societys-challenges/metrology-for-industry/impact-case-studies-emrp-industry-theme/ |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
Lizenz (Deutsch): | Allgemeines Deutsches Urheberrecht |
Datum der Freischaltung: | 03.01.2017 |
Referierte Publikation: | Nein |