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Surface & thin film analysis at BAM: Development of certified reference materials and surface characterisation of plasma polymerized thin films

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Metadaten
Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Seminar im Lab. of Physical-Chemistry of Surfaces (CNRS-ENSCP), Ecole Nationale Superieure de Chemie de Paris
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Veranstaltung:Seminar im Lab. of Physical-Chemistry of Surfaces (CNRS-ENSCP), Ecole Nationale Superieure de Chemie de Paris
Veranstaltungsort:Paris, France
Beginndatum der Veranstaltung:2006-04-04
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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