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Results of the inter-laboratory comparison "Determination of nanometric step heights with AFM"

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Autor*innen:Mathias Senoner, Wolfgang UngerORCiD, L. Koenders, G. Wilkening
Persönliche Herausgeber*innen:K. Hasche, W. Mirande, G. Wilkening
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 5th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Herausgeber (Institution):Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig
Verlag:Wirtschaftsverl. NW
Verlagsort:Bremerhaven
Jahrgang/Band:F-44
Ausgabe/Heft:44
Erste Seite:70
Letzte Seite:77
Veranstaltung:5th Seminar on Quantitative Microscopy ; 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods ; NanoScale 2001
Veranstaltungsort:Bergisch Gladbach, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2001-11-15
Enddatum der Veranstaltung:2001-11-16
ISSN:0179-0609
ISBN:3-89701-840-3
Bemerkung:
Serientitel: PTB-Bericht: PTB-F – Series title: PTB-Bericht: PTB-F
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Ga 167
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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