Possibilities and limits of digital industrial radiology: The new high contrast sensitivity technique - Examples and system theoretical analysis
Autor*innen: | Uwe ZscherpelORCiD |
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Koautor*innen: | Uwe Ewert, K. Bavendiek |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2007 |
Veranstaltung: | DIR 2007, International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography |
Veranstaltungsort: | Lyon, France |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2007-06-25 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2007-06-27 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |