Mechanische, topometrische und optische Charakterisierung von Schichten mit Stand der Normung
- Der Vortrag „MECHANISCHE, TOPOMETRISCHE UND OPTISCHE CHARAKTERISIERUNG VON SCHICHTEN MIT STAND DER NORMUNG“ widmet sich unterschiedlichen Beschichtungssystemen und deren mechanischer, topometrischer und optischer Charakterisierung. Über die entsprechenden aktuellen Normen wird informiert. Es betrifft Verfahren wie die Instrumentierte Eindringprüfung (IIT), Centrifugal Adhesion Testing, Weißlichtinterferenzmikroskopie, Tastschnittverfahren und Ellipsometrie (SE).
Autor*innen: | Uwe Beck |
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Koautor*innen: | Michael Griepentrog, Andreas HertwigORCiD, Stefan Hielscher-Hofinger, Matthias Weise |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.7 Materialsynthese und Design | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Centrifugal Adhesion Testing (CAT); Instrumentierte Eindringprüfung (IIT); Normung; Spektrale Ellipsometrie (SE); Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM, 3D) |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Veranstaltung: | EFDS, V2019, Vakuum und Plasma |
Veranstaltungsort: | Dresden, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 08.10.2019 |
Enddatum der Veranstaltung: | 10.10.2019 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 18.11.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |