Measurement of the thickness and nature of nanoparticle coatings - ISO/PWI TR 23173
- This presentation explains the outline and scientific content of the ISO technical report 23173 "Measurement of the thickness and nature of nanoparticle coatings using electron spectroscopies". This technical report deals with those electron spectroscopy methods that are able to determine the coating thickness of nanoparticles. This specifically includes X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), energy-resolved X-Ray photoelectron spectroscopy (ERXPS) using synchrotron radiation, near abient pressure photoelectron spectroscopy (NAPXPS) and Auger electron spectroscopy (AES).
Autor*innen: | Anja MüllerORCiD |
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Koautor*innen: | Wolfgang UngerORCiD, Thomas Wirth, Marit Kjaervik, D. Cant, A. Shard, C. Clifford |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | AES; Core-shell nanoparticles; Electron spectroscopy; Synchrotron radiation; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | 18. Sitzung des DIN-Normenausschusses 062-08-16 AA |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 08.11.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 08.11.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 12.11.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |