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Characterization of nanoparticles by scanning electron microscopy

  • In this chapter sample preparation, image acquisition, and nanoparticle size and shape characterization methods using the scanning electron microscope (SEM) in reflective and transmitted working modes are described. These help in obtaining reliable, highly repeatable results. The best solutions vary case-by-case and depend on the raw (powdered or suspension) nanoparticle material, the required measurement uncertainty and on the performance of the SEM.

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Metadaten
Autoren/innen:A. E. Vladár, Vasile-Dan Hodoroaba
Persönliche Herausgeber/innen:Vasile-Dan Hodoroaba, Wolfgang E. S. Unger, A. G. Shard
Dokumenttyp:Buchkapitel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Erste Seite:7
Letzte Seite:27
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:SEM; electron microscopy; nanoparticles; sample preparation; shape; size measurement; threshold
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Material / Nanoskalige Materialien und deren Eigenschaften
DOI:https://doi.org/10.1016/B978-0-12-814182-3.00002-X
ISBN:978-0-12-814182-3
ISBN:978-0-12-814183-0
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.01.2020
Referierte Publikation:Nein