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Auger electron spectroscopy

  • An introduction in the application of Auger Electron Spectroscopy to surface chemical analysis of nanoparticles is given. Auger Electron Spectroscopy is a mature method in the field of surface chemical analysis. The chapter addresses the physical basis of the method, the principal design of recent instruments together with modes of operation and options for the presentation of spectra, as well as different approaches for qualitative (including identification of chemical species) and quantitative surface analysis of elements. An application paragraph on surface chemical analysis of nanoparticles by AES or SAM introduces the different measurement approaches and sample preparation strategies applied by analysts. The analysis of nanoparticle ensembles, the so-called selected point analysis where a narrow primary electron beam is centered on an individual nanoparticle, and chemical mapping of individual nanoparticles (or a line scan across) are addressed. Existing literature is reviewed andAn introduction in the application of Auger Electron Spectroscopy to surface chemical analysis of nanoparticles is given. Auger Electron Spectroscopy is a mature method in the field of surface chemical analysis. The chapter addresses the physical basis of the method, the principal design of recent instruments together with modes of operation and options for the presentation of spectra, as well as different approaches for qualitative (including identification of chemical species) and quantitative surface analysis of elements. An application paragraph on surface chemical analysis of nanoparticles by AES or SAM introduces the different measurement approaches and sample preparation strategies applied by analysts. The analysis of nanoparticle ensembles, the so-called selected point analysis where a narrow primary electron beam is centered on an individual nanoparticle, and chemical mapping of individual nanoparticles (or a line scan across) are addressed. Existing literature is reviewed and informative case studies presented. Limitations and pitfalls in the application of AES in surface chemical analysis of nanoparticles are also addressed.zeige mehrzeige weniger

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Metadaten
Autoren/innen:Wolfgang E. S. Unger, Thomas Wirth, Vasile-Dan Hodoroaba
Persönliche Herausgeber/innen:Vasile-Dan Hodoroaba, Wolfgang E. S. Unger, A. G. Shard
Dokumenttyp:Buchkapitel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Erste Seite:373
Letzte Seite:395
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Auger Electron Spectroscopy; imaging surface chemical analysis; nanoparticles; nanotechnology; surface chemical analysis
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Material / Nanoskalige Materialien und deren Eigenschaften
DOI:https://doi.org/10.1016/B978-0-12-814182-3.00020-1
ISBN:978-0-12-814182-3
ISBN:978-0-12-814183-0
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.01.2020
Referierte Publikation:Nein