Minimale Anforderungen an Referenzdaten anhand von Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik

  • In dem Vortrag werden, anhand ausgewählten Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik (EDX und XPS), die minimalen Anforderungen an Referenzdaten für zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse (z.B. Partikelgrößenverteilung, Elementzusammensetzung) vorgestellt und diskutiert.

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  • WS2_Referenzdaten_HodoroabaRadnik.pdf
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Metadaten
Autoren/innen:Vasile-Dan Hodoroaba, Jörg Radnik
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Elektronenmikroskopie; Nanopartikel; Oberflächenanalytik; Referenzdaten; SOP; Standardarbeitsanweisung; Standardisierung
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Material / Nanoskalige Materialien und deren Eigenschaften
Veranstaltung:Workshop "Referenzdaten"
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:13.03.2020
Enddatum der Veranstaltung:13.03.2020
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.03.2020
Referierte Publikation:Nein