Instruments for Fine and Ultrafine Particle Emission Characterization

  • An overview on instruments and methods for the measurement and chemical characterization of particulate emissions from local sources is presented

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Metadaten
Autoren/innen:Stefan Seeger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:4 Material und Umwelt
4 Material und Umwelt / 4.2 Materialien und Luftschadstoffe
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Sanitär- und Kommunaltechnik; Umwelttechnik
Freie Schlagwörter:Aerosol spectroscopy; Calibration; Chemical analysis; Particulate emission; Total reflection X-ray spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Umwelt
Umwelt / Umweltverhalten von Materialien und Produkten
Veranstaltung:BAM - JBMIA (Japan Business Machine and Information System Industries Association) Meeting, JBMIA Emissions Working Group Meeting
Veranstaltungsort:Tokyo, Japan
Beginndatum der Veranstaltung:04.05.2019
Enddatum der Veranstaltung:05.04.2019
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:17.04.2019
Referierte Publikation:Nein