Anomalous surface composition in thin films of a poly(vinyl methyl ether) / polystyrene blend

  • Highly surface-sensitive X-ray photoelectron spectroscopy at HE-SGM beamline revealed in the outermost region (< 2nm) of thin films (15 -65 nm) of PVME/PS blends a relative high amount of PS, whereas in slightly deeper regions PVME was enriched. Such enrichment of PVME in the whole near-surface region was proposed in former investigations based on conventional XPS studies.

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Metadaten
Autoren/innen:Jörg Radnik
Koautoren/innen:Sherif Madkour, Andreas Lippitz, Andreas Schönhals, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Organisationseinheit der BAM:6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.6 Nano-Tribologie und Nanostrukturierung von Oberflächen
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Depth profiling; Energy resolved XPS; Polymer blends; Thin films
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Veranstaltung:Bessy User Meeting 2017
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:13.12.2017
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.12.2017
Referierte Publikation:Nein