Investigation of white etching layers on rails by optical microscopy, electron microscopy, X-ray and synchrotron X-ray diffraction

  • Patches of white etching layers on rail surfaces were investigated using sophisticated techniques like cross-sectional transmission electron microscopy (XTEM) and synchroton X-ray diffraction. Optical microscopy failed to resolve the microstructure, but in the TEM submicron grains with high dislocation densities and occasional twins, which are characteristic features of high carbon martensite, were observed. The martensitic structure was confirmed by evaluation of synchroton X-ray diffraction line profiles. The latter technique also allowed to determine dislocation densities of the order of 1012 cm-2 and residual compressive stresses of about 200 MPa.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar
Metadaten
Autoren/innen:Werner ÖsterleORCiD, Heidemarie Rooch, A. Pyzalla, L. Wang
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials science and engineering A
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:303
Erste Seite:150
Letzte Seite:157
Freie Schlagwörter:Cross-sectional transmission electron microscopy; White etching layers; X-ray diffraction
DOI:https://doi.org/10.1016/S0921-5093(00)01842-6
ISSN:0921-5093
ISSN:1873-4936
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:24.03.2003