Technically induced surface wave fields, Part II: Measured and calculated admittance spectra

  • Transfer admittance spectra of technically induced surface wave fields are analyzed in theory and experiments. Theoretical admittance spectra of layered soils are obtained by integration in wavenumber domain and compared with experimental admittances due to hammer or vibrator excitation. The admittance spectra are strongly influenced by the layering and damping of the soil. Deep stiff-soil layers yield a low-frequency cutoff, whereas a strong damping yields a high-frequency cutoff. A sharp cutoff in a narrow frequency band, which is measured at some sites, can be explained by a damping that increases with frequency, such as viscous material or scattering damping.

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Metadaten
Autoren/innen:Lutz Auersch
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Bulletin of the seismological society of America
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:Seismological Society of America
Verlagsort:El Cerito, Calif.
Jahrgang/Band:100
Ausgabe/Heft:4
Erste Seite:1540
Letzte Seite:1550
DOI:https://doi.org/10.1785/0120090229
ISSN:0037-1106
ISSN:1943-3573
Verfügbarkeit des Volltexts:Papiergebundenes Belegexemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hard-copy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:18.11.2010