Zielpräparation mittels Focused Ion Beam für TEM-Untersuchungen, FIB-Präparation an mechanisch stark verformten Oberflächen und an Schichten, bei denen hohe innere Spannungen auftreten

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Metadaten
Autoren/innen:Heidemarie Rooch
Koautoren/innen:Ingrid Urban, Wolfgang Gesatzke
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):FIB-Workshop
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Veranstaltung:FIB-Workshop
Veranstaltungsort:Lucerne, Switzerland
Beginndatum der Veranstaltung:2008-07-03
Enddatum der Veranstaltung:2008-07-04
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein