TY - CONF A1 - Rhode, Michael A1 - Wetzel, Annica A1 - Özcan Sandikcioglu, Özlem A1 - Nietzke, Jonathan A1 - Richter, Tim A1 - Schröpfer, Dirk T1 - Wasserstoffdiffusion und lokale Volta-Potentiale in Hoch- und Mittelentropie-Legierungen N2 - Hochentropie-Legierungen (HEAs) zeichnen sich durch einen Mischkristall-System aus mindestens fünf und Mittelentropie-Legierungen (MEAs) durch mindestens drei Hauptlegierungselemente aus, in äquiatomarer Zusammensetzung. Sie zeigen außergewöhnliche Anwendungseigenschaften, wie z.B. hohe Festigkeit, Duktilität oder Korrosionsbeständigkeit. Zukünftige HEA/MEA-Komponenten aufgrund ihrer Eigenschaften für wasserstoffhaltige Umgebungen (wie Behälter für kryogene oder Hochdruckspeicherung) von Interesse. Daher ist die Bewertung der Wasserstoffabsorption und die Diffusion in diesen Materialien von großer Bedeutung. Dazu wurden in unserer Studie eine CoCrFeMnNi-HEA und eine CoCrNi-MEA untersucht. Die Proben wurden elektrochemisch mit Wasserstoff beladen. Für die Ermittlung des Wasserstoffdiffusionsverhaltens wurde die thermische Desorptionsanalyse (TDA) mit unterschiedlichen Heizraten bis zu 0,250 K/s angewandt. Die nachfolgende Peakentfaltung der Signale führte zu Hochtemperatur-Desorptionsspitzen und Wasserstofftrapping auch über 280°C. Eine resultierende Gesamtwasserstoffkonzentration > 40 ppm wurde für den MEA ermittelt und > 100 ppm für den HEA. Dies deutet auf zwei wichtige Effekte hin: (1) verzögerte Wasserstoffdiffusion und (2) eine beträchtliche Menge an getrapptem Wasserstoff auch bei hoher Temperatur. Beide Effekte können hinsichtlich einer wasserstoffunterstützten Rissbildung kritisch werden, dies erfordert jedoch weitere Untersuchungen. Zusätzlich erfolgte die Bestimmung des lokalen Volta-Potentials mittels hochauflösender Kelvin-Sonden-Kraft-Mikroskopie (SKPFM). Die ermittelten Scans zeigen einen bestimmten Einfluss der Wasserstoffbeladung auf die Potentiale. T2 - Symposium on Materials and Joining Technology CY - Online meeting DA - 07.09.2020 KW - Wasserstoff KW - High-entropy alloy KW - Diffusion KW - Scanning kelvin probe force microscopy KW - Thermal desorption analysis PY - 2020 AN - OPUS4-51187 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Kubitzki, Jan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Zentrifugentechnologie zur statistischen Untersuchung von Stumpfklebungen: Ergebnisse ZENSUS-Ringversuchs N2 - Der Vortrag widmet sich der „Zentrifugentechnologie zur statistischen Untersuchung von Stumpfklebungen“ und beschreibt drei wesentlich verschiedene Realsysteme (Fügefläche 1/Klebstoff/ Fügefläche 2), um die Statistik ZPM (wiederholte Ein-Proben-Prüfung) vs. CAT (Mehr-Proben-Prüfung) zu vergleichen. Dazu wurden drei unterschiedliche Klebstoff-klassen mit typischen Fügeteilmaterialkombinationen ausgewählt und in einem Vorversuch mit jeweils 3 unterschiedlichen Prüfgeschwindigkeiten sowohl im Weg-geregelten als auch Kraft-geregelten Mode beansprucht. Die Ergebnisse ZPM vs. CAT und Kraft- vs. Weg-Regelung des Vorversuches zeigten keinerlei Unterschiede auf. Im Ergebnis wurde ein Ringversuch im Kraft-geregelten Mode (6xZPM vs. 8xCAT) für ein Referenzsystem durchgeführt, der nachwies, dass die CAT-Technologie statistisch relevante Prüfergebnisse zur Klebfestigkeit bereitstellt. Es zeigte sich, dass für zwei ZPM-Teilnehmer im Vertrauensbereich 99% statistisch signifikant etwas kleinere Werte der Klebfestigkeit bestimmt wurden, was auf geringfügige Abweichungen von der axialen Ausrichtung des eingespannten Prüflings bei der Ein-Proben-ZPM-Zugprüfung zurückgeführt wird. T2 - VCI CY - Frankfurt/Main, Germany DA - 10.03.2020 KW - Zentrifugentechnologie KW - Statistischen Untersuchung KW - Normung KW - Prüfgeschwindigkeiten KW - Stumpfklebungen PY - 2020 AN - OPUS4-50581 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Radnik, Jörg T1 - Minimale Anforderungen an Referenzdaten anhand von Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik N2 - In dem Vortrag werden, anhand ausgewählten Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik (EDX und XPS), die minimalen Anforderungen an Referenzdaten für zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse (z.B. Partikelgrößenverteilung, Elementzusammensetzung) vorgestellt und diskutiert. T2 - Workshop "Referenzdaten" CY - Berlin, Germany DA - 13.03.2020 KW - Referenzdaten KW - Nanopartikel KW - Elektronenmikroskopie KW - Oberflächenanalytik KW - Standardarbeitsanweisung KW - SOP KW - Standardisierung PY - 2020 AN - OPUS4-50571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Krüger, Jörg A1 - Legall, Herbert A1 - Bonse, Jörn T1 - Gefährdung durch Röntgenstrahlung bei der UKP-Lasermaterialbearbeitung N2 - Der Vortrag beschreibt die Gefährdung durch die Erzeugung unerwünschter Röntgenstrahlung bei der Lasermaterialbearbeitung mit ultrakurzen Laserimpulsen. Die Einfluss der Laserparameter, der Prozessführung und die Materialabhängigkeit werden dargestellt. T2 - Bayerische Laserschutztage 2020 CY - Nuremberg, Germany DA - 21.01.2020 KW - Ultrakurze Laserimpulse KW - Materialbearbeitung KW - Röntgenstrahlung KW - Strahlenschutz PY - 2020 AN - OPUS4-50318 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Krüger, Jörg T1 - Aktuelle Ultrakurzpulslaser-Anwendungen an der BAM N2 - Der Vortrag fasst aktuelle Anwendungsgebiete ultrakurzer Laserimpulse in der Materialbearbeitung zusammen. Dabei wird auch die Gefährdung durch unerwünschte Emission von Röntgenstrahlung bei der Überschreitung bestimmter Laserparameter thematisiert. T2 - Anwendertreffen des Laserverbundes Berlin-Brandenburg e.V. CY - Brandenburg, Germany DA - 16.01.2020 KW - Ultrakurze Laserimpulse KW - Materialbearbeitung KW - Oberflächenstrukturierung PY - 2020 AN - OPUS4-50317 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Altmann, Korinna A1 - Sturm, Heinz T1 - Realitätsnahe Referenzmaterialien für die Mikroplastik-Analytik und Vergleichsuntersuchungen N2 - Zur Validierung und Harmonisierung von verschiedenen Methoden in der Mikroplastik-Analytik werden polymere Referenzmaterialien benötigt. In diesem Vortrag wird dargestellt, was bisher an der BAM zu Referenzmaterialien für die Mikroplastik-Analytik entwickelt wurde, wo es hingehen soll und ein Überblick über bisher gelaufene Vergleichsuntersuchungen gebracht. T2 - Kick-off Meeting "Mikroplastik in Lebensmitteln" CY - Online meeting DA - 03.12.2020 KW - Mikroplastik KW - Referenzmaterial KW - Vergleichsuntersuchungen KW - Ringversuche PY - 2020 AN - OPUS4-51743 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Braun, Ulrike A1 - Altmann, Korinna A1 - Herper, D. A1 - Knefel, M. A1 - Bednarz, M. A1 - Bannick, C. G. T1 - Detektion von Mikroplastik in Flaschenwasser mittels thermoanalytischer Verfahren N2 - Im Vortrag wird ein Messfiltertiegel als Zusatztool für die TED-GC/MS vorgestellt, welcher für die Probenaufbereitung von kleinen Partikelfrachten oder kleinen Partikelgrößen genutzt werden kann. Er ist Filtereinheit und Messtiegel in einem, wodurch Verluste bei der Überführung der Probe in das Messgefäß sowie Kontaminationen vermindert werden. Das beispiel ist hier die Filtration von Flaschenwasser mit anschließender Detektion mit der TED-GC/MS. T2 - BVL_Kick-off Meeting "Mikroplastik in Lebensmitteln" CY - Online meeting DA - 03.12.2020 KW - Mikroplastik KW - TED-GC/MS KW - Kleine Partikel KW - Geringe Partikelfrachten KW - Mikroplastik-Massengehalte PY - 2020 AN - OPUS4-51794 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -