TY - THES A1 - Molkenthin, André T1 - Laser-induzierte Breakdown Spektroskopie (LIBS) zur hochauflösenden Analyse der Ionenverteilung in zementgebundenen Feststoffen N2 - Die Laser-induzierte Breakdown Spektroskopie ermöglicht eine bildgebende und quantitative Analyse der Ionenverteilung aller maßgeblichen Elemente auf mineralischen Baustoffoberflächen. Das Messsystem wurde durch verfahrenspezifische Untersuchungen an Proben aus Zementstein, -mörteln und Betonen charakterisiert, Transport- und Anlagerungsprozesse wurden visuell dargestellt. Zudem werden Ergebnisse für den Ionenhaushalt in der ungestörten oberflächenahen Randzone sowie bei deren Auslaugung bzw. Anreicherung vorgestellt. The Laser-Induced Breakdown Spectroscopy allows imaging and quantitative analysis of the ion distribution of all relevant elements on the surface of mineral building materials. The measuring system has been characterised by investigations on specimens of hardened cement paste, mortar and concrete. Transport and accumulation processes are visualised. Besides, results are introduced for the peripheral zone close to the surface and the extraction is shown. T3 - BAM Dissertationsreihe - 42 KW - Laser KW - Spektroskopie KW - Ionenverteilung KW - Elementanalyse KW - Beton PY - 2009 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-1165 SN - 978-3-9812354-5-6 SN - 1613-4249 VL - 42 SP - 1 EP - 144 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) CY - Berlin AN - OPUS4-116 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hertwig, Andreas A1 - Radnik, Jörg A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Normung in der Oberflächen-und Schichttechnik N2 - Report über Normungsaktivitäten im Bereich der Messtechnk an Oberflächen und dünnen Schichten. Übersicht über Methoden und Vorstellung von laufenden Projekten mit Bezug zur Normung T2 - PlasmaGermany Herbstmeeting 2022 CY - Bielefeld, Germany DA - 07.11.2022 KW - Oberflächenmesstechnik KW - Spektroskopie KW - Ellipsometrie KW - XPS KW - Dünne Schichten PY - 2022 AN - OPUS4-56483 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -