TY - GEN A1 - Léonard, Fabien T1 - Overview of XCT data processing workflow for ammonium nitrate prills quantitative analysis N2 - This video presents the data processing workflow that was developed to perform the quantitative structural and morphological analysis of ammonium nitrate prills by x-ray computed tomography. KW - ANFO KW - Data processing KW - Explosives KW - Porosity KW - Surface area KW - XCT PY - 2020 DO - https://doi.org/10.5281/zenodo.3611339 PB - Zenodo CY - Geneva AN - OPUS4-51897 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Janczynski, Jessica A1 - Bellon, Carsten A1 - Ulbricht, Alexander T1 - VIRTUELLE XCT – Simulation industrieller XCT-Systeme mit aRTist N2 - Eine der wenigen 3D-Methoden, mit denen ein Objekt zerstörungsfrei analysiert werden kann, ist die Röntgen-Computertomographie (XCT). Die Bestimmung von Formabweichungen und die innere Struktur von Objekten, einschließlich Defekten, ist für die Industrie von besonderem Interesse. Die Möglichkeit der XCT, ein Objekt mit seinen inneren und äußeren Strukturen gleichzeitig abzubilden, führt auch zu einer zunehmenden Anwendung der XCT in der dimensionellen Messtechnik einschließlich der Bestimmung der Messunsicherheit. Die experimentelle Ermittlung der Unsicherheit durch wiederholte XCT-Messungen ist kosten- und zeitintensiv. Die Simulation der XCT eröffnet die Möglichkeit, die aufgabenspezifische Messunsicherheit ressourceneffizient numerisch zu ermitteln. Es gibt bereits mehrere Softwarelösungen, die XCT-Systeme simulieren können, wie z. B. aRTist. Sobald ein XCT-System virtuelle nachgebildet wurde, muss seine Genauigkeit quantitativ im Vergleich zu den XCT-Messungen bewertet werden. Zur Bewertung der Qualität simulierter XCT-Bilder werden verschiedene Metriken für den Vergleich experimenteller und simulierter XCT-Projektionen eingeführt. Die Ergebnisse der Vergleiche werden präsentiert und Schlussfolgerungen gezogen, wie die Simulation industrieller XCT-Systeme verbessert werden kann. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2025 CY - Berlin, Germany DA - 26.05.2025 KW - XCT KW - Simulation KW - Vergleich Messung vs. Simulation PY - 2015 AN - OPUS4-63293 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -