TY - CONF A1 - de Oliveira Guilherme Buzanich, Ana A1 - Emmerling, Franziska T1 - Structure analytics with Hard X-rays at the BAMline and µSpot beamlines N2 - An overview of the research areas at the structure analysis division is given. Specifically the in situ characterization of dynamic processes with hard X-ray diffraction and absorption spectroscopy at the BAMline and µSpot beamlines (BESSY-II). T2 - BAM-IFW Workshop CY - Dresden, Germany DA - 28.03.2019 KW - Structure analysis KW - X-ray Spectroscopy KW - Synchrotron KW - Beamline KW - Material characterization PY - 2019 AN - OPUS4-47695 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hertwig, Andreas T1 - Multi-methods surface analysis involving spectroscopic ellipsometry: New measurements for optical and energy applications N2 - Surface analysis is still gaining importance, as most modern technology is in essence surface and thin film technology. In microelectronics and optics but also in many fields of energy storage and conversion, thin surface layers or structured surfaces are key components. Optical surface measurements are useful because of their reliability, robustness, and scalability – properties, which are especially desirable in a production environment. However, many of these methods take require considerable effort in data analysis. Spectroscopic ellipsometry (SE) is maybe the prime example of this class of methods. To combine the advantages of SE with metrological trueness and traceability, we combine it in a group of other methods, such as electron microscopy, instrumental surface analysis, X-ray diffraction. This presentation will give an overview on the principles of SE, its available quantities and the general properties of this measurement technique. Several examples from current and past projects of BAM-6.7 will show how a measurement community involving ellipsometry can benefit many fields of interest, from polymer science to energy applications. In the context of creating a “measurement landscape”, standardisation and standard compliance play an important role. The efforts of BAM in standardisation and accrediting of ellipsometry will be shown demonstrating the possible impact on quality assurance in different fields of technology. T2 - Abteilungskolloquium 2018, BAM CY - BAM, Berlin, Germany DA - 12.12.2018 KW - Spectroscopic ellipsometry KW - Surface analysis KW - Thin film technology KW - Reference materials PY - 2018 AN - OPUS4-47671 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Fischer, Daniel A1 - Beck, Uwe A1 - Schneider, S. A1 - Duwe, M T1 - Visualisierung von mikro- und nanoskalierten Oberflächenstrukturen mittels abbildender Ellipsometry N2 - In den letzten Jahren hat die Einbindung der abbildenden Ellipsometrie in die Gruppe der optischen Verfahren zur Oberflächencharakterisierung ein enormes Potential bei der Analyse von topologischen Strukturänderungen gezeigt. Der dabei abgebildete Kon-trast wurde typischerweise auf Änderungen im Brechungsindex, Absorptionseffekte oder Schichtdickenänderungen zurückgeführt. In späteren Studien wurde festgestellt, dass auch andere Faktoren, wie etwa die Krümmung der Oberfläche oder Kanten von Struktu-ren einen signifikanten Einfluss auf die Messung der ellipsometrischen Paramater haben. Um diese Effekte aus der ellipsometrischen Messung extrahieren zu können, wird auf die Analyse der Müller-Matrix zurückgegriffen. In dem hier vorliegenden Beitrag wird gezeigt, wie die Müller-Matrix-Imaging Ellipsomet-rie (MM-IE) zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen verwendet werden kann. Dazu werden mikro- und nanoskaliert gekrümmte Oberflächen zunächst mit verschiede-nen Referenzmethoden, wie Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Lichtmikroskopie (OM), Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) vali-diert erfasst. Der anschließende Vergleich mit den Ergebnissen der Müller-Matrix-Ima-ging-Ellipsometrie ermöglicht eine Korrelation der zugrunde liegenden Strukturphäno-mene mit den ellipsometrischen Daten. In diesem Artikel wird das Prinzip an drei industriell relevanten Strukturgruppen demonstriert: Sub-Mikropartikel, Mikropartikel und sub-mikroskalierte Vertiefungen. T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Ellipsometrie KW - Nanoskaliert KW - Mikroskaliert KW - Oberflächengeometrie KW - Brechungsindex KW - Müller-Matrix-Ellipsometrie PY - 2019 AN - OPUS4-47645 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kulow, Anicó A1 - Witte, S. A1 - Beyer, S. A1 - Streli, C. A1 - Radtke, Martin A1 - Reinholz, Uwe A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - de Oliveira Guilherme Buzanich, Ana T1 - Time- and lateral-resolved X-ray absorption fine structure spectroscopy N2 - X-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy is a powerful and widely used tool for material characterization. It is non-destructive, element-sensitive and requires no long-range order of the sample, making it suitable for the investigation of amorphous phases. XAFS includes the X-ray absorption near edge structure (XANES) and the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS), providing information about the electronical state of the absorbing atom and the spatial order of the neighboring atoms respectively. Our new approach presented here is derived from the classical dispersive XAFS setup. The aim is to have a scanningless, stable and reproducible setup for applications, in which dynamic processes occur in the second time scale. A broad polychromatic beam passes through the sample and is dispersed afterwards by a convexly bent Si (111) crystal. All energies are reflected under different angles and thus spatially separated, allowing a position sensitive detector to record a spectrum over the energy range of the incoming beam in a single shot. Tests of this setup were performed at the BAMline @ BESSY-II (Berlin, Germany) with different metal foils. First in situ measurements comprised the investigation of the early stages of the zinc(II)2-methylimidazolate (ZIF-8) crystallization. This topic of metal-organic-frameworks (MOF) research is of interest for medical applications. Structural changes with a time resolution of 1 s could be followed. The second dimension of the broad beam can be used for a lateral resolution. T2 - ANAKON 2019 CY - Münster, Germany DA - 25.03.2019 KW - X-ray absorption fine structure KW - Synchrotron based methods KW - X-ray spectroscopy PY - 2019 AN - OPUS4-47660 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - CAT-Technologie zur Bestimmung der Haftfestigkeit Dünner Schichten N2 - Der Vortrag widmet sich der „CAT-TECHNOLOGIE ZUR BESTIMMUNG DER HAFTFESTIGKEIT DÜNNER SCHICHTEN“ und beschreibt die Punkte „Motivation –CAT-Technologie“ (CAT: Centrifugal Adhesion Testing) und die „Haftfestigkeit von Schichten“, (Ag-Schichten auf N-BK7 Glas, Cr- und Al-Schichten auf Borofloat 33 Glas, Au-Schichten auf N-BK7 Glas und SiO2-Schichten auf CR39 Polymer) im Einzelnen. T2 - EFDS, Workshop: Haft- und Antihaftschichten CY - Dresden, Germany DA - 31.01.2019 KW - CAT-Technologie KW - Centrifugal Adhesion Testing KW - Dünne Schichten KW - Haftfestigkeit PY - 2019 AN - OPUS4-47489 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weidner, Steffen A1 - Lauer, F. A1 - Seifert, S. A1 - Diehn, S. A1 - Kneipp, Janina T1 - MALDI-TOF MS und MALDI-MSI zur Identifikation und Klassifizierung von Pollen N2 - Es werden die letzten Ergebnisse präsentiert, die es ermöglichen, einzelne Pollenkörner unterschiedlicher Arten in Mischungen mittels MALDI-TOF Massenspektrometrie bzw. MALDI-TOF Imaging zu messen und unter Zuhilfenahme multivariater Auswertemethoden zu klassifizieren. T2 - 24. Bruker MALDI Anwendertreffen CY - Leipzig, Germany DA - 18.02.2019 KW - MALDI-TOF Massenspektrometrie KW - Pollenkörner KW - Klassifizierung KW - MALDI Imaging KW - Multivariate Analyse PY - 2019 AN - OPUS4-47441 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kunz, Valentin T1 - Surface chemical transformations of nanoparticles N2 - Nanomaterials are a relatively new class of materials for which a regulatory framework still has to be established and regulators require comprehensive datasets of well characterized nanomaterials for the implementation. Especially information about the surface chemistry of nanoparticles is crucial, since it largely determines their biological and environmental fate. How the surface chemistry changes under relevant ageing conditions is of particular interest, because exposure will normally occur not to the pristine material but to a nanoform that underwent some kind of transformation. In this talk, first a short overview about the contributions of division 6.1 to multiple European-funded projects will be presented, in which surface analytical techniques are used to improve the physical-chemical characterization of nanomaterials. Secondly, a study investigating the surface-chemical transformations of a representative set of titanium dioxide nanoparticles is discussed in more detail. The ageing has partly been performed at the BAM division 7.5, and the surface chemistry was analyzed using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). By analyzing the complex mass spectra with principal component analysis (PCA), it was possible to identify even subtle changes that occur upon ageing. T2 - Abteilungsseminar CY - BAM, Berlin, Germany DA - 25.2.2019 KW - Nanoparticles KW - Surface Chemistry KW - Ageing KW - Titanium Dioxide KW - ToF-SIMS PY - 2019 AN - OPUS4-47444 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Hidde, Gundula A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - CAT-Technologie zur Bestimmung der Klebfestigkeit N2 - Der Vortrag widmet sich der „ CAT-TECHNOLOGIE ZUR BESTIMMUNG DER KLEBFESTIGKEIT“ und beschreibt die Punkte „Motivation –CAT-Technologie (Centrifugal Adhesion Testing), Klebfestigkeit ( Materialscreening verschiedener Werkstoffklassen, Klebstoffscreening fürV2A gegenV2A als Referenz, Klebstoffscreening für Niedrigenergie-Polymere und Oberfächenmodifizierung von Niedrigenergie-Polymeren) und Verbundfestigkeit (“Stirnabzug vs. Zug-Scher-Prüfung an CFK) im Einzelnen. T2 - 17. Praxisseminar KLEBEN CY - IWF Jena, Germany DA - 30.01.2019 KW - CAT-Technologie KW - Klebfestigkeit KW - Verbundfestigkeit KW - Niedrigenergie-Polymeren PY - 2019 AN - OPUS4-47466 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Braun, Ulrike T1 - Repräsentative Untersuchungsstrategien für ein integratives Systemverständnis von spezifischen Einträgen von Kunststoffen in die Umwelt (RUSEKU) N2 - Im Rahmen des Statuskonferenz der BMBF Fördermassnahme wurde über den Projektfortschritt berichtet. T2 - Statusfonferenz der BMBF Fördermassnahme "Plastik in der Umwelt" CY - Berlin, Germany DA - 09.04.2019 KW - Sedimenttaionskasten KW - Probenahme KW - Mikroplastik KW - TED-GC-MS PY - 2019 AN - OPUS4-47796 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Braun, Ulrike T1 - Mikroplastik Analytik: Probennahme, Probenaufbereitung, Detektionsverfahren N2 - Das Diskussionspapier zur Mikroplastik Analytik wurde vorgestellt. Es entstand im Rahmen des Querschnitthemas 1 des BMBF Forschungsschwerpunktes Plastik in der Umwelt. T2 - Statuskonferenz der BMBF Fördermassnahme "Plastik in der Umwelt" CY - Berlin, Germany DA - 09.04.2019 KW - Harmonisierung KW - Mikroplastik KW - Probenahme KW - Detektion KW - Aufbereitung PY - 2019 AN - OPUS4-47797 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -