TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rühle, Bastian A1 - Bresch, Harald T1 - Competence Center nano@BAM Welcomes ISO/TC 229 Meeting in Berlin N2 - The Competence Center nano@BAM is presented. Examples directly related to the activities of the ISO Technical Committee TC 229 Nanotechnologies as well as BAM projects on nano reference measurement procedures, nano reference materials and nano reference data sets are showed. T2 - The 32nd ISO/TC 229 IEC/TC 113 JWG2 General Meeting CY - Berlin, Germany DA - 06.11.2023 KW - ISO/TC 229 Nanotechnologies KW - Nanoparticles KW - Nano@BAM KW - Reference materials KW - Reference data KW - Reference procedures PY - 2023 AN - OPUS4-58814 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - El-Athman, Rukeia A1 - Bresch, Harald A1 - Muth, Thilo A1 - Rädler, Jörg A1 - Rühle, Bastian T1 - Datenmanagement im Nanomaterial-Labor: Einsatz von ELN-Software zur digitalen Transformation des Laboralltags N2 - Angesichts der zunehmenden Digitalisierung und dem Einsatz datenintensiver Methodiken in der Wissenschaft stehen Forschende vor der Herausforderung, stetig wachsende Datenmengen nachvollziehbar zu dokumentieren, langfristig zu speichern und für Dritte nachnutzbar zu machen. Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, bietet sich die Nutzung von Software-Lösungen an, welche Forschungsdatenmanagement mit der digitalen Dokumentation von Laborinventar und Experimenten in elektronischen Laborbüchern (engl. electronic lab notebooks (ELN)) verknüpfen. KW - NanoPlattform KW - BAM Data Store KW - OpenBIS KW - Forschungsdatenmanagement KW - Research data management KW - Elektronisches Laborbuch KW - Electronic lab notebook (ELN) PY - 2023 UR - https://analyticalscience.wiley.com/content/article-do/datenmanagement-im-nanomaterial-labor SN - 0016-3538 IS - 9 SP - 24 EP - 26 PB - Wiley Analytical Science CY - Weinheim AN - OPUS4-59600 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -