TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Gaal, Mate A1 - Scharmach, Martina A1 - Bär, Sylke A1 - Lewis, A. A1 - Bloodworth, T. A1 - Guelle, D. A1 - Pavkovic, N. A1 - Steker, I. T1 - Metalldetektor-Tests in Oberjettenberg November 2003 - Bundeswehrteststelle WTD 52 N2 - Dieses Poster befasst sich mit Testfeldern und Kalibrierflächen, Training, Minensuche in den Testfeldern, Ausmessung der Minenanzeigen, Dateiangabe und Analyse und dem Ausgraben der gefundenen Minen T2 - ITEP-Workshop 2003 CY - Berlin, Germany DA - 16.12.2003 KW - Testfelder KW - Kalibrierflächen KW - Minensuche PY - 2003 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) CY - Berlin AN - OPUS4-35853 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Scharmach, Martina A1 - Henley, S. T1 - Metalldetektor-Testversuche in Afghanistan März 2002 - Auswahl der am besten geeigneten Geräte N2 - Die ROC-Diagramme der Testergebnisse spiegeln eine große Bandbreite in der Detektorleistungsfähigkeit bzw. Zuverlässigkeit wieder sowie den starken Einfluss von unkooperativen Boden bzw. Verunreinigungen während der Einfluss von Feuchtigkeit eher gering ist. T2 - 3rd European-American Workshop on Reliability of NDE and Demining CY - Berlin, Germany DA - 11.09.2002 KW - Zuverlässigkeitsformel KW - IPPTC-Test KW - ROC-Diagramm PY - 2002 AN - OPUS4-35851 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Völker, J. A1 - Scharmach, Martina T1 - Zuverlässigkeit von ZfP-Verfahren - Internationaler Stand der Diskussion im Jahre 2001 N2 - Dieses Poster beschäftigt sich mit den Interessen der Industrie, der ISO 17025 und ISO 9001, den wissenschaftlichen Konzepten, dem European-American-Workshop, der Zuverlässigkeitsformel, der ASNT Reliability ad hoc Group und der EPERC TTF3 T2 - DGZfP Jahrestagung 2001 CY - Berlin, Germany DA - 21.05.2001 KW - ISO 17025 KW - ISO 9001 KW - Zuverlässigkeitsformel PY - 2001 AN - OPUS4-35850 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Tillack, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Scharmach, Martina T1 - Wie kann man den Einfluß der industriellen Anwendungsfaktoren innerhalb der ZfP-Zuverlaessigkeitsformel messen? N2 - Dieses Poster beschäftigt sich mit der Zuverlässigkeitsformel und der Metrik für die Messung der Zuverlässigkeit T2 - DGZfP Jahrestagung 2000 CY - Innsbruck, Austria DA - 29.05.2000 KW - Anwendungszuverlässigkeit KW - Anwendungsparameter KW - ZfP-System PY - 2000 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) CY - Berlin AN - OPUS4-35849 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -