TY - CONF A1 - Günther, Alexander A1 - Gründer, Klaus-Peter T1 - New bispectral measurement device for fluorescent materials N2 - The application of fluorescent materials improves the visibility for of warning symbols. BAM has used a measurement device to characterize fluorescent materials, which is based on the two-monochromator method. The result of this measurement method is an illuminant independent characteristic of the fluorescent material, called the Donaldson matrix, In view of its age and speed, the measurement device had to be re-designed and re-built. The new measurement facility is explained in greater detail in the paper. First measurement results and a comparison to the older device are also described. T2 - CIE 27th Session CY - Sun City, South Africa DA - 10.07.2011 KW - Fluorescence KW - Fluorescent materials KW - Donaldson factor KW - Total radiance factor KW - Bi-spectral KW - Two-monochromator method PY - 2011 SN - 978-3-901906-99-2 VL - 1 IS - Part 2 SP - 974 EP - 978 AN - OPUS4-24095 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Günther, Alexander A1 - Muschik, Bernd A1 - Gründer, Klaus-Peter T1 - Bi-spektrale Messung der Reflexionseigenschaften von fluoreszierenden Materialien N2 - Beim bispektralen Verfahrensprinzip (auch 2-Monochromatoren-Methode genannt) zur Charakterisierung fluoreszierender Reflexionsproben wird das Probenmaterial monochromatisch bestrahlt und für jede dieser anregenden Wellenlängen das emittierte Spektrum monochromatisch gemessen. Dies hat gegenüber einer polychromatischen Anregung (z. B. Normlichtart D65) den Vorteil, dass spektrale Materialfunktionen (Gesamt-, Reflexions- und Lumineszenz-Strahldichtefaktoren sowie das Lumineszenz-Anregungsspektrum) und diverse Farbmaßzahlen (Sicherheits- und Kontrastfarben; Referenzmaterial) für beliebige Anregungsspektren (Normlichtarten) bestimmt werden können. T2 - Licht 2010 (Gemeinschaftstagung der deutschen, niederländischen, schweizerischen und österreichischen lichttechnischen Verbände) CY - Vienna, Austria DA - 17.10.2010 PY - 2010 AN - OPUS4-22050 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -