TY - JOUR A1 - Gauglitz, Günter A1 - Bodensteiner, Michael A1 - Bohleber, Pascal A1 - Clases, David A1 - Dahms, Marcel A1 - Engelhard, Carsten A1 - Haider, Markus A1 - Hayen, Heiko A1 - Herbst‐Irmer, Regine A1 - Jäger, Martin A1 - Kramell, Annemarie E. A1 - Legner, Robin A1 - Matysik, Frank‐Michael A1 - Pöthig, Alexander A1 - Rädle, Matthias A1 - Seifert, Stephan A1 - Steinhauser, Georg A1 - Wolter, Kathrin T1 - Trendbericht Analytische Chemie 2024 N2 - Mehrdimensionale Trenntechniken sowie Kopplungstechniken verbessern weiter die Auflösung in der Analytik. In der Elementanalytik beeindrucken neue Entwicklungen der Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma, in der Archäometrie zerstörungsfreie In‐situ‐Analysen. Der 3‐D‐Druck treibt die elektroanalytische Forschung voran, und die Prozessanalytik setzt auf Lab‐on‐a‐Chip und vermeldet Neues bei der Raman‐Spektroskopie mit Flüssigkernlichtleitern. KW - Analytische Chemie KW - Trenntechniken KW - Elementanalytik KW - Massenspektrometrie KW - Prozessanalytik PY - 2024 DO - https://doi.org/10.1002/nadc.20244139242 SN - 1868-0054 VL - 72 IS - 4 SP - 52 EP - 64 PB - Wiley CY - Weinheim AN - OPUS4-62155 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Meermann, Björn A1 - Lisec, Jan A1 - Jaeger, Carsten A1 - Saatz, Jessica A1 - Traub, Heike A1 - von der Au, Marcus T1 - Mehr Analyten, kleinere Proben N2 - Molekülmassenspektrometrie entwickelt sich weg von klassischer Target- hin zu Nontarget-Analytik. Elementmassenspektrometrie liefert hohe Ortsauflösung beim Element-Imaging und analysiert einzelne Zellen. Aufgrund der Fortschritte bei den Geräten für Timeof-Flight-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICPToF-MS) lässt sich das gesamte Periodensystem der Elemente in kurzen transienten Signalen quasi-simultan massenspektrometrisch erfassen. KW - Massenspektrometrie KW - Non-target KW - ICP-ToF-MS KW - Laser Ablation/Imaging PY - 2021 VL - 69 IS - Juni SP - 64 EP - 67 PB - Wiley-VCH AN - OPUS4-52800 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -