TY - CONF A1 - Recknagel, Sebastian A1 - Vogel, Kristin T1 - Berechnung und Nutzung von Unsicherheiten zertifizierter Werte von Referenzmaterialien N2 - Referenzmaterialien sind unter anderem ein wichtiges Werkzeug zur Qualitätskontrolle von Messungen bestimmter Merkmalswerte. Dabei ist zu berücksichtigen, dass zertifizierte Merkmalswerte immer eine gewisse Unsicherheit haben. Die Ermittlung dieser Unsicherheitsbeiträge ist Gegenstand des Vortrags. Referenzmaterialien sind gleichzeitig ein wertvolles Werkzeug zur Ermittlung der Unsicherheit von Messverfahren und -Analysen unbekannter Proben. Die Vorgehensweise bei der Ermittlung der Messunsicherheit mit Hilfe eines Referenzmaterials wird beschrieben. T2 - Jahrestagung des GDMB-Chemiker-Ausschusses CY - Kassel, Germany DA - 07.11.2023 KW - Referenzmaterial KW - Messunsicherheit KW - ISO Guide 35 PY - 2023 AN - OPUS4-58929 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Recknagel, Sebastian A1 - Vogel, Kristin T1 - Berechnung und Nutzung von Unsicherheiten zertifizierter Werte von Referenzmaterialien N2 - Referenzmaterialien sind unter anderem ein wichtiges Werkzeug zur Qualitätskontrolle von Messungen bestimmter Merkmalswerte. Dabei ist zu berücksichtigen, dass zertifizierte Merkmalswerte immer eine gewisse Unsicherheit haben. Die Ermittlung dieser Unsicherheitsbeiträge ist Gegenstand des Vortrags. Referenzmaterialien sind gleichzeitig ein wertvolles Werkzeug zur Ermittlung der Unsicherheit von Messverfahren und -Analysen unbekannter Proben. Die Vorgehensweise bei der Ermittlung der Messunsicherheit mit Hilfe eines Referenzmaterials wird beschrieben. T2 - 11. VDI-Fachtagung Messunsicherheit und Prüfprozesse CY - Erfurt, Germany DA - 14.11.2023 KW - Referenzmaterial KW - Messunsicherheit KW - ISO Guide 35 PY - 2023 AN - OPUS4-58946 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Vogel, Kristin A1 - Richter, Silke T1 - Die Berechnung von Unsicherheiten zertifizierter Werte von Referenzmaterialien und deren Nutzung zur Berechnung von Verfahrensmessunsicherheiten N2 - Die Angabe von Unsicherheiten bei zertifizierten Werten von Referenzmaterialien ist von entscheidender Bedeutung. Die korrekte Einbindung der Unsicherheiten zur Berechnung von Verfahrensmessunsicherheiten ist wesentlich für die Gewährleistung der Genauigkeit und Zuverlässigkeit von Messungen. In diesem Vortrag werden die verschiedenen Einflussfaktoren auf die Unsicherheit zertifizierter Werte gemäß ISO Guide 35 dargestellt. Dabei werden insbesondere die Charakterisierung, Homogenität und Stabilität als entscheidende Faktoren für die Bestimmung der Unsicherheit eines Referenzmaterials betrachtet. Abschließend wird das Konzept anhand eines konkreten Beispiels veranschaulicht, um die praktische Anwendung und die Auswirkungen auf die Berechnung von Verfahrensmessunsicherheiten zu verdeutlichen. T2 - 324. PTB-Seminar Berechnung der Messunsicherheit – Empfehlungen für die Praxis CY - Berlin, Germany DA - 22.05.2023 KW - Referenzmaterialien KW - Unsicherheit PY - 2023 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-598418 UR - https://www.ptb.de/cms/fileadmin/internet/fachabteilungen/abteilung_8/8.4_mathematische_modellierung/324_PTB_Seminar/Vortraege/324-PTB-Seminar_Unsicherheiten_zertifizierter_Werte.pdf UR - https://www.ptb.de/cms/ptb/fachabteilungen/abt8/fb-84/ag-842/seminare/324-ptb-seminar-berechnung-der-messunsicherheit-empfehlungen-fuer-die-praxis.html AN - OPUS4-59841 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Heidenreich, Sebastian A1 - Bär, Markus A1 - Klauenberg, Katy A1 - Elster, Clemens A1 - Harris, Peter A1 - Lines, Keith A1 - Hippolyte, Jean-Laurent A1 - George, Indhu A1 - Wright, Louise A1 - Cox, Maurice A1 - Rhodes, Susan A1 - Zilberti, Luca A1 - Manzin, Alessandra A1 - Pennecchi, Francesca A1 - Kok, Gertjan A1 - van der Veen, Adriaan A1 - Fischer, Nicolas A1 - Sousa, Joao Alves A1 - Vogel, Kristin A1 - Bosnjakovic, Alen A1 - Ellison, Stephen T1 - Strategic Agenda, European Metrology Network for Mathematics and Statistics N2 - This document constitutes the Strategic Research Agenda (SRA) for the European Metrology Network for Mathematics and Statistics in Metrology (EMN Mathmet). The EMN Mathmet is an alliance of European National Metrology Institutes (NMIs), Designated Institutes (DIs) and an EMN Partner that aims to strengthen research and cooperation in the field. The SRA has been developed within a European project (EMPIR 18NET05 MATHMET) to promote and support the network. The SRA was developed based on a consultation process with stakeholders and the strategies of individual NMIs and DIs, and in alignment with the EURAMET 2030 strategy. As a key result, the SRA defines a long-term research goal: the EMN Mathmet will coordinate research to strengthen the trust in algorithms, software tools and data to underpin digital transformation. For this purpose, new emerging research topics where algorithms, software tools and data play a significant role were identified: (i) Artificial Intelligence and Machine Learning, and (ii) Computational Modelling and Virtual Metrology. The foundation for the development of these new topics is given by the traditional focus on (iii) Data Analysis and Uncertainty Evaluation. The SRA characterises the future needs and challenges in the field of mathematics and statistics in metrology and provides an outline of how the EMN Mathmet can meet these new emerging requirements. KW - Research Agenda KW - Metrology KW - Mathematics and Statistics PY - 2023 UR - https://www.euramet.org/european-metrology-networks/mathmet/strategy/strategic-research-agenda SN - 978-3-942992-78-7 SP - 1 EP - 68 PB - EURAMET e.V. CY - Braunschweig AN - OPUS4-59526 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -