TY - CONF A1 - Bayerlein, Bernd T1 - Probenpräparation für AFM-basierte Untersuchungsverfahren N2 - Adapted and advanced sample preparation of semiconductor layer systems with the focused ion beam for AFM-based test methods N2 - Der vorliegende Vortrag gibt einen Überblick über Probenpräparationen mit der Focused Ion Beam (FIB) für AFM-basierte Untersuchungsverfahren. Anhand zweier Beispiele wird gezeigt, wie ionenstrahlpolierte Lamellen aus Halbleiter-Schichtsystemen elektrisch leitfähig auf Substrate platziert werden, so dass in-situ und in-operando Messungen mit Scanning Microwave Microscope (SMM) bzw. Spectroscopic infrared scanning near-field optical microscope (IR-SNOM) durchgeführt werden können. T2 - 15. Berlin-Brandenburger Präparatorentreffen CY - Potsdam/Golm, Germany DA - 11.04.2019 KW - Focused Ion Beam KW - AFM based test methods KW - Sample preparation KW - Semiconductor materials KW - Layer system PY - 2019 AN - OPUS4-47784 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bayerlein, Bernd A1 - Weinberger, Katharina A1 - Schilling, Markus T1 - Innovations- Plattform Material Digital N2 - Mit der Initiative MaterialDigital fördert das BMBF seit dem letzten Jahr ein wichtiges Instrument zur Digitalisierung der Materialwissenschaft und Werkstofftechnik in Deutschland. In der ersten Phase dieser Initiative wird seit Juli 2019 die Plattform MaterialDigital von einem Konsortium aufgestellt. Ziel dieser Plattform ist der Aufbau eines virtuellen Materialdatenraums, um zusammen mit allen Interessenten die Systematisierung des Umgangs mit Werkstoffdaten voranzutreiben. In einer zweiten Phase werden akademische F&E-Projekte voraussichtlich Anfang 2021 gefördert. In jedem dieser Projekte wird an einer konkreten Fragestellung das Themenfeld „Digitalisierung der Materialwissenschaft und Werkstofftechnik“ adressiert und multidisziplinär bearbeitet. In einer dritten Phase werden im Rahmen industriegeführter vorwettbewerblicher Verbundprojekte mit der gleichen Zielsetzung gefördert. T2 - Workshop - “Datenmanagement in der Additiven Fertigung” CY - Online meeting DA - 27.10.2020 KW - Digitalisierung KW - Plattform Material Digital KW - Virtueller Materialdatenraum KW - Vernetzung KW - Ontologien PY - 2020 AN - OPUS4-51609 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bayerlein, Bernd A1 - Schilling, Markus A1 - Olbricht, Jürgen A1 - Skrotzki, Birgit A1 - Portella, Pedro Dolabella A1 - Hartrott, P. A1 - Hadzic, N. A1 - Todor, A. A1 - Birkholz, H. A1 - Grundmann, J. T1 - Digitalisierung der Materialien in PMD & Mat-o-Lab - Eine normkonforme Anwendungsontologie des Zugversuchs N2 - Zur Bewältigung der Herausforderung bei der Digitalisierung von Materialien und Prozessen ist eine mit allen Stakeholdern konsistente Kontextualisierung von Materialdaten anzustreben, d.h. alle erforderlichen Informationen über den Zustand des Materials einschließlich produktions- und anwendungsbezogener Änderungen müssen über eine einheitliche, maschinenlesbare Beschreibung verfügbar gemacht werden. Dazu werden Wissensrepräsentationen und Konzeptualisierungen ermöglichende Ontologien verwendet. Erste Bemühungen in den beiden Projekten Plattform Material Digital und Materials-open-Laboratory führten zur Erstellung von Anwendungsontologien, die Prozesse und Testmethoden explizit beschreiben. Dabei wurde u.a. der Zugversuch an Metallen bei Raumtemperatur nach DIN EN ISO 6892-1 ontologisch beschrieben. Diese als Beispiel dienende Ontologieentwicklung wird in dieser Präsentation vorgestellt. T2 - Werkstoffprüfung 2021 CY - Online meeting DA - 02.12.2021 KW - Ontologie KW - Semantisches Web KW - Wissensrepräsentation KW - Digitalisierung KW - Zugversuch PY - 2021 AN - OPUS4-53929 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -