TY - RPRT A1 - Fuhrmann, Gerhard A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Typische Bruchflächenausbildung thermoplastischer Kunststoffe nach wechselnder mechanischer Beanspruchung N2 - Es werden typische Bruchflächen beschrieben und bisher geläufige Vorstellungen über das Bruchbild wechselbeanspruchter Kunststoffe korrigiert. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 97 KW - Bruch KW - Thermoplast KW - Schwingungsbeanspruchung PY - 1983 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-3535 SN - 978-3-88314-297-2 SN - 0938-5533 VL - 97 SP - 1 EP - 68 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-353 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Tödt, Fritz A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Todt, H. G. T1 - Elektrochemische Bestimmung des Sauerstoffgehaltes von Oberflächengewässern PY - 1954 SN - 0932-6200 SN - 0016-9277 SN - 0720-9312 VL - 75 IS - 13/1 SP - 224 EP - 226 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-9734 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Metzler, H. A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Oberflächenveränderung von Bleielektroden durch Elektrolyse PY - 1966 SN - 0013-4686 SN - 1873-3859 VL - 11 IS - 1 SP - 111 EP - 114 PB - Elsevier Science CY - Kidlington AN - OPUS4-10550 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schreiber, G. A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Automatische Verfahren für elektrochemische Arbeiten. Die Aufnahme von U/1gI-Kurven PY - 1966 SN - 0013-4686 SN - 1873-3859 VL - 11 IS - 2 SP - 211 EP - 219 PB - Elsevier Science CY - Kidlington AN - OPUS4-10551 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Gesichtspunkte bei der Wahl eines Rasterelektronenmikroskopes unter Berücksichtigung der neuesten Entwicklungstendenzen T2 - 2. Sitzung des Arbeitsausschusses Geräteentwicklung CY - Berlin, Deutschland DA - 1977-10-14 PY - 1978 SP - 85 EP - 94 CY - Berlin AN - OPUS4-8948 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - A fast fourier transform (FFT) program for a programmable pocket calculator TI 59 PY - 1978 SN - 0161-0457 SN - 1932-8745 VL - 1 IS - 3 SP - 188 EP - 194 PB - Wiley CY - Hoboken, NJ AN - OPUS4-8949 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Schmidt, Daniel T1 - A test chart for STEREOSCAN 180 by generating grey-scale signals in staircase form PY - 1978 SN - 0161-0457 SN - 1932-8745 VL - 1 IS - 2 SP - 131 EP - 133 PB - Wiley CY - Hoboken, NJ AN - OPUS4-8950 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Zur Elektrochemischen Sauerstoffmessung nach F. Tödt PY - 1955 SN - 0043-2822 SN - 1521-4176 VL - 6 IS - 1 SP - 527 EP - 535 PB - Verl. Chemie CY - Weinheim, Bergstr. AN - OPUS4-9814 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Unsere heutige Vorstellung vom elektrochemischen Mechanismus der Korrosion - Einführung PY - 1956 SN - 0026-0746 VL - 10 IS - 11-12 SP - 513 EP - 519 PB - Giesel Verlag GmbH CY - Isernhagen AN - OPUS4-9885 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Der Potentiostat als Hilfsmittel für die Polarographie und Amperometrie PY - 1956 SN - 0009-286X SN - 1522-2640 VL - 28 SP - 423 EP - 427 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-9888 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Gesichtspunkte bei der Wahl eines Rasterelektronenmikroskops unter Berücksichtigung der neuesten Entwicklungstendenzen T2 - 10. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) CY - Münster, Deutschland DA - 1977-09-04 PY - 1979 SN - 0340-3815 VL - 10 SP - 25 EP - 34 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-9158 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Dunger, Birgitt A1 - Bahr, Joachim T1 - Vergleichende Untersuchung an Szintillatoren für die Rasterelektronenmikroskopie T2 - 7. Kolloquium des Arbeitskreises Elektronenmikroskopische Direktabbildung von Oberflächen CY - Frankfurt am Main, Deutschland DA - 1974-06-04 PY - 1975 SN - 0340-3815 VL - 7 SP - 149 EP - 164 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-8308 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Pagel, H.-J. A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Simon, Wolfgang T1 - Gas circulating pump for enclosed systems PY - 1958 SN - 0950-7671 VL - 36 SP - 53 PB - Institute of Physics and the Physical Society CY - London AN - OPUS4-7820 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schwarz, Wolfram ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Aufgaben und Arbeiten der Fachgruppe 5.3 "Oberflächenphänomene" PY - 1973 SP - 405 EP - 408 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9664 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schwarz, Wolfram ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Möglichkeiten des Raster-Elektronenmikroskopes in der Oberflächen-Morphologie PY - 1973 SP - 409 EP - 412 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9665 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schwarz, Wolfram ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Probleme der Grenzflächen-Kinetik PY - 1973 SP - 417 EP - 420 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9667 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Schichtdickenberechnung aus Mikrosondenmessungen mittels Gaußscher Verteilung PY - 1974 SN - 0028-1042 SN - 1432-1904 VL - 61 IS - 1 SP - 30 EP - 31 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-8089 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Zum Zusammenhang zwischen der Dicke dünner Metallschichten, der relativen Röntgenintensität und anderen Mikrosonden-Parametern T2 - Gemeinsame Tagung für Elektronenmikroskopie CY - Lüttich, Belgien DA - 1973-09-03 PY - 1974 SN - 0340-3815 VL - 6 SP - 55 EP - 66 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-8090 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Dunger, Birgitt A1 - Bahr, Joachim T1 - Das Raster-Elektronenmikroskop PY - 1974 SN - 0340-2460 IS - 2 SP - 4 EP - 19 PB - Presse- u. Informationsstelle d. Freien Universität CY - Berlin AN - OPUS4-8091 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Unsere heutige Vorstellung vom elektrochemischen Mechanismus der Korrosion - 3. Vorgänge bei der Korrosion durch Lokalelemente PY - 1956 SN - 0026-0746 VL - 10 IS - 19-20 SP - 921 EP - 925 PB - Giesel Verlag GmbH CY - Isernhagen AN - OPUS4-15132 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Eine einfache, Fourier-gestützte Methode zur Beseitigung von Untergrund in einzelnen Spektral-Peaks PY - 1977 SN - 0016-1152 VL - 286 SP - 20 EP - 30 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-8741 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Simon, Wolfgang T1 - Untersuchungen zum elektrochemischen Verhalten des Eisens in Alkalilösung PY - 1963 SN - 0005-9021 VL - 67 IS - 1 SP - 108 EP - 117 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-10294 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Czichos, Horst A1 - Petersohn, Dieter A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Oberflächenatlas - Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen und Profildiagramme PY - 1981 SN - 3-410-11346-0 SP - 65 EP - 114 PB - Beuth CY - Berlin AN - OPUS4-31955 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram T1 - SURTEC Berlin '81 PY - 1981 SN - 0341-1079 IS - 6 SP - 63 EP - 65 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-32291 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Czichos, Horst A1 - Petersohn, Dieter A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Oberflächenatlas - Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen und Profildiagramme PY - 1985 SN - 3-410-11863-2 SP - 95 EP - 153 PB - Beuth CY - Berlin AN - OPUS4-34179 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -