TY - CONF A1 - Bresch, Harald A1 - Unger, Wolfgang A1 - Schulte, Petra A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Nanotechnologie Aktivitäten der BAM N2 - Die Präsentation gibt einen Überblick über die verschiedenen Aktivitäten der BAM im Bereich der Nanotechnologie mit den Schwerpunkten Nanopartikel und Nanosicherheit. Es wird sowohl die Transportsicherheit, als auch die Sicherheit von Batterien mit Nanopartikeln angesprochen. Verschiedene BAM-Projekte zum Thema Nano werden vorgestellt, beginnend mit relevanten REFOPlanprojekten über die Erstellung der OECD nanoTG110 bis hin zu EU-Projekten zur Standardisierung von Messungen an Nanomaterialien, hier insbesondere AEROMET, NanoDefine, NanoValid und EC4SafeNano. T2 - Nano-Behördenklausur der Bundesoberbehörden CY - Berlin, Germany DA - 02.11.2017 KW - Nano KW - Nanotechnologie KW - Nanopartikel KW - Nanosicherheit KW - Nanoanalytik PY - 2017 AN - OPUS4-42793 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Surface Chemical Analysis at BAM: R&D, Metrology, Standardization T2 - Analytikseminar, Insitute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna University of Technology CY - Vienna, Austria DA - 2015-01-09 PY - 2015 AN - OPUS4-32927 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Rades, Steffi A1 - Karlsson, R. A1 - Reuther, R. T1 - NanoValid - Developing Reference Methods for Nanomaterials T2 - Workshop Bundesbehörden/VCI/VdMi "Messstrategien und Messmethoden für Nanomaterialien" CY - Berlin, Germany DA - 2015-09-08 PY - 2015 AN - OPUS4-34060 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Dietrich, Paul A1 - Streeck, C. A1 - Fischer, Tobias A1 - Glamsch, Stephan A1 - Ray, S. A1 - Ehlert, Christopher A1 - Lippitz, Andreas A1 - Nutsch, A. A1 - Kulak, N. A1 - Shard, A.G. A1 - Rurack, Knut A1 - Beckhoff, B. T1 - Traceable and Absolute Quantification of Silane Molecules on Silica Surfaces T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34807 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Holzlechner, Gerald A1 - Giovannozzi, A. A1 - Portesi, C. A1 - Pelster, A. A1 - Arlinghaus, H. F. A1 - Bunch, J. A1 - Tyler, B. A1 - Pollakowski, B. A1 - Beckhoff, B. T1 - Traceability of PDMS on TiO2 and HDPE substrates by a multi analytical approach T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34808 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Passiu, C. A1 - Paul, D. A1 - Hammond, J. A1 - Venkatraman, N. V. A1 - Bernard, L. A1 - Rossi, A. A1 - Spencer, N. D. T1 - Fabrication, microscopic and spectroscopic characterization of planar, nanopatterned,multi-metallic samples C T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34809 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Senoner, Mathias A1 - Gross, Thomas A1 - Bütefisch, S. A1 - Busch, I. A1 - Kollmer, F. A1 - Paul, D. A1 - Renault, O. T1 - Determination of lateral resolution and field of view in imaging and small area surface chemical analysis: Reference materials and standardization T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34810 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Ortel, Erik A1 - Häusler, Ines A1 - Österle, Werner A1 - Narbey, S. A1 - Oswald, F. A1 - Andersen, I. H. A1 - Emmerling, Franziska A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Comprehensive morphological and chemical characterization of thin engineered TiO2films T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34814 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Nutsch, A. A1 - Streeck, C. A1 - Weser, J. A1 - Beckhoff, B. A1 - Grötzsch, D. A1 - Malzer, W. A1 - Dietrich, Paul A1 - Fischer, Tobias A1 - Nietzold, Carolin A1 - Rurack, Knut T1 - X-Ray Spectrometry for In-Situ Detection of Biomolecules T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34815 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - OBERFLÄCHEN- UND GRENZFLÄCHENANALYTIK MIT DEN VERFAHREN PHOTOELEKTRONEN-, AUGER-ELEKTRONENSPEKTROSKOPIE UND SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROMETRIE T2 - ZVO-Oberflächentage Berlin 2015 CY - Berlin DA - 2015-09-24 PY - 2015 AN - OPUS4-34817 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -