TY - CONF A1 - Wirth, Thomas T1 - Investigation of Silica Nanoparticles by Auger Electron Spectroscopy (AES) T2 - PHI European User Meeting 2014 CY - Ismaning, Germany DA - 2014-05-14 PY - 2014 AN - OPUS4-32947 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Wirth, Thomas T1 - Standard-Messverfahren, Referenzmaterialien für die GD-OES, Aktivitäten der BAM T2 - 7. Deutsches Anwendertreffen "Analytische GDS" CY - Dresden, Germany DA - 2000-10-17 PY - 2000 AN - OPUS4-6122 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Senoner, Mathias A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Teststreifen für den Nanokosmos KW - Laterale Auflösung KW - Nanometrologie KW - Nanotechnologie KW - Oberflächenanalytik KW - Zertifiziertes Referenzmaterial PY - 2004 UR - http://www.laborpraxis.de/ SN - 0344-1733 SN - 1610-8256 VL - 27 IS - Juli/Aug SP - 30 EP - 32, Sonderh. Nanotechnologie PB - Vogel CY - Würzburg AN - OPUS4-3808 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Wirth, Thomas T1 - TOF-SIMS investigation of coated glass beads T2 - 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry CY - Riva del Garda, Italy DA - 2011-09-18 PY - 2011 AN - OPUS4-24240 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Schichtanalyse mit dem GD-OES-Verfahren PY - 2001 SN - 1662-3096 SN - 0040-1498 SN - 0040-148X SN - 1023-0823 VL - 7 SP - 44 EP - 45 PB - Binkert Medien CY - Laufenburg AN - OPUS4-6881 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Schichtanalyse mit der optischen Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES) PY - 2000 SN - 1662-3096 SN - 0040-1498 SN - 0040-148X SN - 1023-0823 PB - Binkert Medien CY - Laufenburg AN - OPUS4-1055 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Wirth, Thomas T1 - Schichtanalyse mit der Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES) T2 - BAM-Kolloquium CY - Berlin, Germany DA - 2000-04-12 PY - 2000 AN - OPUS4-6089 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -