TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Hielscher, Stefan A1 - Rietz, Uwe A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Multiple-sample approach for bonding and testing: validation of bonding strength of adhesive-bonded joints and adhesive tapes N2 - The multiple-sample approach by means of centrifugal adhesion testing (CAT-technology) allows the determination of bonding strength of adhesive-bonded joints on a statistical basis of up to eight samples. Therefore, it is obvious to ensure the continuous handling and identical processing of an octet of samples within the entire process chain of wet-chemical cleaning, plasma-chemical pre-treatment, bonding of samples, and testing of bonding strength. Within the multiple-sample bonding set-up (MPKV-technology) a defined bonding pressure can be adjusted regardless the actual number of samples. A comparison of single- and multiple-sample approach is made for bonding strength of selected adhesives, double-sided adhesive tapes and different material combinations [stainless steel (V2A) vs. stainless steel, polyamide (PA), or polypropylene (PP)]. It is shown that both technologies improve reliability of results T2 - EURADH 2016 Adhesion ´16 CY - Glasgow, UK DA - 21.09.2016 KW - Multiple-sample bonding KW - Multiple-sample testing KW - Bonding strength KW - Adhesives and adhesive tapes PY - 2016 SP - 162 EP - 166 AN - OPUS4-37588 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Bach, Reinhard A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Recycling von beschichteten Bauteilen N2 - Auf Basis einer Literaturstudie werden der Stand und die Perspektiven des Recyclings beschichteter Bauteile vorgestellt. Die Studie ist verfahrens-, branchen- und produktübergreifend angelegt. Die gesetzlichen Rahmenbedingungen werden erläutert, eine Auswahl beschichteter Bauteile und Materialkombinationen bezüglich ihrer Recyclingfähigkeit untersucht und unterschiedlichste Recyclingverfahren diskutiert. Auf die Bedeutung des Recyclings beschichteter Bauteile als spezieller Verbundwerkstoff wird eingegangen. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 239 PY - 2000 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-2110 SN - 978-3-89701-522-6 SN - 0938-5533 VL - 239 SP - 1 EP - 36 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-211 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Fritz, Thomas A1 - Gamer, Nadja A1 - Wirth, Thomas T1 - VAMAS - Versailles Project on Advanced Materials and Standards N2 - Glühentladung optischer Ausstrahlungsspektroskopie (GDOES) wurde ursprünglich für die elementare Analyse von Größenmaterialien entwickelt. Mehrere Gruppen führten diese Methode zur Analyse von Anstrichen, Laienstapeln und dünnen Filmen durch. In den frühen Neunzigern wurde eine ISO-TC 201-Arbeitsgruppe gegründet, um Normen für alle Formen der Glühentladungsspektroskopie (GDS) zu entwickeln und die Fähigkeiten der Oberflächenchemikalien-Analyse zu beurteilen, insbesondere für die Tiefe von gestuften Systemen. Die Quantifizierung von Tiefenprofilen, d.h. die Umwandlung von Intensitäts-Zeit- Profilen in Konzentrierungs-Tiefen-Profile ist für dc-mode entwickelt worden. 1997 wurde ein VAMAS TWA 2 Vorschlag für ein Referenzanstrich für GD-OES Tiefe gemacht. Entsprechend dem VAMAS Beurteilungsverfahren wurde dieser Vorschlag 1998 mit einigen geringfügigen Änderungen genehmigt. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 242 PY - 2001 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-2083 SN - 978-3-89701-713-X SN - 0938-5533 VL - 242 SP - 1 EP - 64 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-208 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hübert, Thomas A1 - Kleinke, Helga T1 - Amorphous and nanocrystalline SrTiO3 thin films KW - Schicht, dünn KW - Schicht, amorph KW - Schicht, nanokristallin KW - SrTiO3 PY - 1996 SN - 0022-3093 VL - 196 SP - 150 EP - 154 PB - North-Holland Publ. Co. CY - Amsterdam AN - OPUS4-652 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe T1 - Trends in der Plasma- und Oberflächentechnik T2 - 6th Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Deutschland DA - 1998-09-14 PY - 1998 SN - 0026-0797 SN - 0043-2792 VL - 52 IS - 12 SP - 952 PB - IGT, Informationsges. Technik CY - München AN - OPUS4-606 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - van der Kolk, G. J. A1 - Hurkmans, A. A1 - Trinh, T. A1 - Fleischer, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael T1 - Coating evaluation of decorative PVD finishes T2 - 41st Annual Technical Conference CY - Boston, MA, USA DA - 1998-04-18 PY - 1998 UR - http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=272 SN - 1-591-24158-8 SP - 44 EP - 45 PB - Society of Vacuum Coaters CY - Albuquerque AN - OPUS4-607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe T1 - ICMCTF '96 - eine Tagungsnachlese KW - Beschichtung KW - Dünnfilm PY - 1996 SN - 0026-0797 SN - 0043-2792 VL - 50 IS - 9 SP - 715 EP - 716 PB - IGT, Informationsges. Technik CY - München AN - OPUS4-688 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Männ, Marion A1 - Netzband, Olivia T1 - Schichtdickenbestimmung aus Quer- und Schrägschliffen von Schichtsystemen durch Einbettung von Testkörpern und Referenzmaßstäben KW - Schichtdicke KW - Dünnschichtsystem KW - Schliff KW - Testkörper PY - 1995 SN - 0032-678X VL - 32 IS - 8 SP - 388 EP - 403 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-618 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Männ, Marion A1 - Netzband, Olivia T1 - Determining the thickness of layers in cross and angled cross sections of coating systems using embedded test bodies and reference measures KW - Schichtdicke KW - Dünnschichtsystem KW - Schliff KW - Testkörper PY - 1995 SN - 0032-678X VL - 32 IS - 8 SP - 388 EP - 403 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-619 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Wirth, Thomas A1 - Sahre, Mario A1 - Männ, Marion A1 - Gamer, Nadja A1 - Hoffmann, V. A1 - Hentschel, R. A1 - Brauneck, U. A1 - Mollenhauer, R. ED - Berg, S. T1 - Reference coatings for gdoes depth profiling - Preliminary results of a VAMAS project T2 - 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 SN - 0257-8972 IS - 142-144 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-970 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Griepentrog, Michael ED - Berg, S. T1 - Quality assessment, reliability and damage analysis of coating/substrate systems T2 - 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 SN - 0257-8972 IS - 142-144 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-972 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Reiners, Georg A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Schmidt, R. A1 - Weigl, B. ED - Beckmann, D. T1 - Topographische Charakterisierung von Oberflächen im steriltechnischen Anlagenbau T2 - 11. Heiligenstädter Kolloquium CY - Heiligenstadt, Deutschland DA - 2002-09-30 PY - 2003 SN - 3-00-011287-1 SP - 33 EP - 39 PB - Inst. für Bioprozess- und Analysenmesstechnik CY - Heiligenstadt AN - OPUS4-1738 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Klaffke, Dieter A1 - Beck, Uwe ED - Bartz, Wilfried J. T1 - Tribological and mechanical investigations of SiO2 and Si3N4 coatings on fused silica and borosilicate glass T2 - 12th International Colloquium Tribology CY - Esslingen, Germany DA - 2000-01-11 PY - 2000 SN - 3-924813-44-2 VL - 3 SP - 1953 EP - 1959 PB - Techn. Akad. Esslingen CY - Ostfildern AN - OPUS4-849 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baudach, Steffen A1 - Männ, Marion T1 - Spektroskopische Ellipsometrie - Referenzverfahren für die Qualitätssicherung T2 - 2. Workshop Ellipsometrie CY - Berlin, Deutschland DA - 2002-02-18 PY - 2002 AN - OPUS4-2280 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Cobet, C. A1 - Wollschläger, Nicole A1 - Esser, N. A1 - Richter, W. A1 - Baudach, Steffen A1 - Beck, Uwe A1 - Männ, Marion A1 - Brunn, S. A1 - Gruska, B. A1 - Richter, U. T1 - VUV-XUV-Ellipsometrie mit Synchrotronstrahlung T2 - 2. Workshop Ellipsometrie CY - Berlin, Deutschland DA - 2002-02-18 PY - 2002 AN - OPUS4-2282 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Sümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - About the calibration of thickness standards on the nanometer scale T2 - 3rd International EUSPEN conference ; 3rd International conference. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology ; 4th General meeting. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology CY - Eindhoven, The Netherlands DA - 2002-05-26 PY - 2002 SN - 90-386-2883-8 SP - 1 EP - 5 CY - Eindhoven AN - OPUS4-2283 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hasche, K. A1 - Herrmann, K. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Ade, G. A1 - Pohlenz, F. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Schindler, A. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche N2 - Nanotechnologien werden gegenwärtig als leistungsfähige Oberflächentechniken in erheblichem Umfange industriell genutzt. Dabei spielen dünne Schichten und deren Kenndaten eine wesentliche Rolle, z.B. als Röntgenspiegel oder optische und magnetooptische Datenträger. Die Schichtdicke zählt hierbei zu den technologisch wichtigen Parametern. Abgeleitet von Anwenderinteressen, werden für die Röntgenreflektometrie (XRR bzw. GIXR), Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) und Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) einerseits und die Ellipsometrie andererseits zugeschnittene Schichtdickenmaßverkörperungen (SDM) entwickelt, gefertigt und untersucht. Das Ziel ist die Bereitstellung praxistauglicher, kalibrierter SDM, im weiteren Schichtdickennormale (SDN) genannt. SDN sind Maßverkörperungen, für die der Schichtdickenwert mit einer definierten Messunsicherheit bekannt und auf ein metrologisch anerkanntes Längennormal zurückgeführt ist. Berichtet wird über die Herstellung und messtechnische Charakterisierung der beiden spezifischen Varianten von Maßverkörperungen. T2 - 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium. Technische Universität Ilmenau ; Herbstkonferenz der Gesellschaft für Arbeitswissenschaft ; 6. Workshop Multimedia für Bildung und Wirtschaft CY - Ilmenau, Deutschland DA - 2002-09-23 PY - 2002 UR - http://publica.fraunhofer.de/documents/N-14872.html VL - 47 SP - 568 EP - 569 PB - Techn. Univ. CY - Ilmenau AN - OPUS4-2284 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Koenders, L. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias T1 - Über die metrologische Charakterisierung von Schichtdicken Standards im Nanometerbereich T2 - 12th Applied Surface Analysis Workshop ; AOFA 12 CY - --- DA - 2002-09-15 PY - 2002 AN - OPUS4-2285 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Cobet, C. A1 - Rakel, M. A1 - Schmidtling, T A1 - Richter, W. A1 - Esser, N. A1 - Gruska, B. T1 - A VUV-XUV ellipsometric setup at BESSY II: Optical characterisation of Nitride Semiconductors T2 - 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry CY - Vienna, Austria DA - 2003-07-06 PY - 2003 AN - OPUS4-2907 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe T1 - Spektroskopische Ellipsometrie: Mehr als ein Reflexionsexperiment mit polarisiertem Licht! PY - 2000 SN - 0021-3756 VL - 40 IS - 11 SP - 14 EP - 19 PB - Vieweg CY - Wiesbaden AN - OPUS4-1025 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Baudach, Steffen A1 - Beck, Uwe A1 - Arndt, Jürgen ED - Bräuer, G. T1 - Damage Analysis of Coating/Substrate Systems - Multiprobe Techniques for the Evaluation of Defects and Surface Topography from the Micrometer- to the Nanometer-Range T2 - 8th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2002-09-09 PY - 2002 SN - 0257-8972 VL - 174-175 IS - TuPSC25 SP - 265 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-1621 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Weise, Matthias ED - Bräuer, G. T1 - Replica-Techniques for Indirect Inspection of Surface and Coating Defects and for Evaluation of Topography and Topometry of 3D-Shaped Surfaces T2 - 8th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2002-09-09 PY - 2002 SN - 0257-8972 VL - 174-175 IS - TuPSC24 SP - 264 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-1622 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja A1 - Schmidt, S. A1 - Weigl, B. ED - Bräuer, G. T1 - Material- and Topography-Related Surface Features of Components for Food Production Facilities - Contamination Adhesion, and Cleaning of Species T2 - 8th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2002-09-09 PY - 2002 SN - 0257-8972 VL - 174-175 SP - 56 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-1623 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Bach, Reinhard T1 - Recycling von beschichteten Bauteilen N2 - R. Bach, U. Beck, G. Reiners Recycling von beschichteten Bauteilen Branchen-, produkt- und verfahrensübergreifende Literaturstudie zum Stand und zu den Möglichkeiten des Recyclings von beschichteten Bauteilen 32 S., ISBN 3-89701-522-6, 2000, Euro 11,50 T2 - 10. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Deutschland DA - 2002-10-17 PY - 2002 SP - 176 EP - 179 PB - DTVa CY - Dresden AN - OPUS4-1653 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Männ, Marion ED - Fried, M. T1 - Ellipsometry and Standardisation - A Publicly Available Specification (PAS) for Ellipsometry, Measurement of Reference Coatings and Non-ideal Samples T2 - 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry CY - Vienna, Austria DA - 2003-07-06 PY - 2003 SN - 0040-6090 VL - 455-456 SP - 1(?) PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-2598 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, R. A1 - Beck, Uwe A1 - Weigl, B. A1 - Gamer, Nadja A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. T1 - Topographische Charakterisierung von Oberflächen im steriltechnischen Anlagenbau PY - 2003 SN - 0009-286X SN - 1522-2640 VL - 75 IS - 4 SP - 428 EP - 431 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-2557 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe T1 - Referenzverfahren zur Bestimmung von optischen und dielektrischen Materialeigenschaften sowie der Schichtdicke dünner Schichten mittels Ellipsometrie / Reference procedure for the determination of optical and dielectric material properties and the layer thickness of thin films by ellipsometry KW - Ellipsometrie PY - 2004 N1 - Sprachen: Deutsch/Englisch - Languages: German/English IS - DIN PAS 1022 SP - 1 EP - 17 PB - Beuth CY - Berlin AN - OPUS4-3000 LA - mul AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Männ, Marion T1 - Ellipsometry and Standardisation: A Publicly Available Specification (PAS) for Ellipsometry - Measurement of Reference Coatings and Non-ideal Samples T2 - International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 3) CY - Vienna, Austria DA - 2003-07-07 PY - 2003 AN - OPUS4-3097 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Männ, Marion A1 - Weise, Matthias T1 - Ellipsometrie als Referenzverfahren: Charakterisierung von Referenzmaterialien - Validierung von Präparations- und Prüfverfahren - Qualitätssicherung für funktionelle Oberflächen T2 - 3. Workshop "Ellipsometrie" CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-02-23 PY - 2004 AN - OPUS4-3322 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Wirth, Thomas A1 - Beck, Uwe A1 - Hoffmann, V. A1 - Kurt, R. A1 - Kämmer, K. A1 - Thielsch, R. T1 - Interference Phenomena at Transparent Layers in Glow Discharge Optical Emission Spectrometry KW - Glow discharge optical emission spectroscopy KW - Depth profile KW - Interference KW - Transparent layers KW - Layer thickness KW - Refractive index KW - GD-OES PY - 1999 SN - 0003-7028 SN - 1943-3530 VL - 53 IS - 8 SP - 987 EP - 990 PB - Society for Applied Spectroscopy CY - Frederick, Md. AN - OPUS4-777 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, R. A1 - Beck, Uwe A1 - Weigl, B. A1 - Gamer, Nadja A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. T1 - Topografische Charakterisierung von Oberflächen im steriltechnischen Anlagenbau PY - 2003 SN - 0009-286X SN - 1522-2640 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-2142 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, R. A1 - Weigl, B. A1 - Sommer, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Weise, Matthias A1 - Reiners, Georg T1 - Werkstoffoberflächen - Haftung und Reinigung KW - Steriltechnik KW - Haftung KW - Reinigung PY - 2003 SN - 1617-8378 VL - 1 SP - 15 EP - 16 PB - GIT Verl. CY - Darmstadt AN - OPUS4-2648 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reck, J. A1 - Beck, Uwe A1 - Dohrmann, J. T1 - Electrodeposition of CdSe Films: In-Situ Study by Spectroscopic Ellipsometry N2 - CdSe films grown on Ti-coated polished steel by constant-current deposition from an aqueous solution containing selenosulfite and cadmium nitrilotriacetate have been studied by spectroscopic ellipsometry under in-situ conditions. Ellipsometric parameters, tan? and cos?, were measured both as a function of deposition time at ? = 825 nm and of wavelength (? = 500-900 nm) for constant film thickness from 0.02 µm to 2.3 µm. The model used for data analysis, Ti-substrate | TiO2 | CdSe-film | solution, with optically homogenous phases was valid for film thickness larger than 0.3 µm. Refractive indices and extinction coefficients of the 2.3-µm film were derived for ? = 500–900 nm. A direct band-gap of 1.72 eV was determined. The faradaic efficiency of electrodeposition was 0.93 for a current density of 50 µA cm-2. KW - Ellipsometry KW - CdSe Films PY - 2000 U6 - https://doi.org/10.1524/zpch.2000.214.1.083 SN - 0942-9352 SN - 2196-7156 SN - 0044-3336 SN - 0044-3328 VL - 214 IS - 1 SP - 83 EP - 93 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-3562 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hartung, J. A1 - Reinhold, E. A1 - Strümpfel, J. T1 - Ion-assisted vs. Plasma-assisted PVD: Preparation of Optical Multi-layers in a Versatile Cluster System Implementing Electron Beam and Sputter Technology KW - Thin Film Technology KW - Ion-assisted PVD KW - Plasma-assisted PVD KW - Optical Multi-layers KW - Cluster Deposition System PY - 2004 SN - 0737-5921 SP - 86 EP - 90 PB - Society of Vacuum Coaters AN - OPUS4-3536 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm T2 - DVG Jahrestagung 2002 CY - Magdeburg, Germany DA - 2002-06-17 PY - 2002 SP - 1 EP - 9 PB - Deutsche Vakuum-Gesellschaft CY - Kaiserslautern AN - OPUS4-1936 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, R. A1 - Weigl, B. A1 - Sommer, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Weise, Matthias A1 - Reiners, Georg T1 - Werkstoffoberflächen - Haftung und Reinigung KW - Haftung KW - Reinigung KW - Steriltechnik PY - 2003 SN - 0946-7726 SN - 1619-8662 VL - 48 IS - 1-2 SP - 52 EP - 53 PB - GIT-Verlag CY - Darmstadt AN - OPUS4-2385 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Reiners, Georg A1 - Hense, Eduard A1 - Arndt, Jürgen T1 - Optimierung bei Oberflächen mit Fehlstellen T2 - VDMA-Workshop, PBA-Sitzung CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 2004-06-30 PY - 2004 AN - OPUS4-3633 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Macroscopic Function vs. Microscopic and Nanoscopic Features: Multi-probe Testing of Surfaces and Thin Films by Optical Characterisation Techniques T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4182 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja A1 - Schmidt, R. A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. T1 - Surfaces for Food Industry: Efects of Microscopic and Macroscopic Features, Roughness and Surface Energy on the Adhesion and Kinetics of Species T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4183 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias A1 - Senoner, Mathias A1 - Österle, Werner A1 - Dück, Alexander A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas T1 - Preparation, Characterisation and Certification of Reference Coatings for Surface and Thin Film Technology: BAM Certified Reference Materials T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4185 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Schulte, J. ED - Niu, X. T1 - BAM certified reference materials for nano-metrology: Preparation, characterisation and certification T2 - 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Shanghai, China DA - 2004-12-09 KW - Certified reference materials KW - Film thickness KW - Mechanical properties KW - Surface acoustic waves KW - Naoindentation KW - Non-destructive testing KW - Destructive testing PY - 2005 SN - 0-97-57537-1-1 SP - 71 EP - 83 PB - Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Sydney AN - OPUS4-5482 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächentechnik mit optischen Verfahren T2 - AK-Plasma CY - Berlin, Germany DA - 2006-05-31 PY - 2006 AN - OPUS4-12496 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. A1 - Dittrich, K.-H. T1 - Safety of food production: Characterisation of sterile surfaces T2 - PSE 2006 (10th International Conference on Plasma Surface Engineering) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2006-09-10 PY - 2006 AN - OPUS4-12461 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja A1 - Schmidt, R. A1 - Sommer, A. A1 - Bobe, U. T1 - Sicherheit bei der Produktion von Lebensmitteln: Eigenschaftsanalyse von sterilen Oberflächen T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-13 PY - 2005 AN - OPUS4-6286 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. T1 - Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-13 PY - 2005 AN - OPUS4-6287 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg ED - Kohler, W. T1 - Rauheits- und Energiemessungen an steril-technischen Oberflächen PY - 2005 SN - 3-8163-0506-7 SP - 78 EP - 97 PB - VDMA-Verl. CY - Frankfurt am Main AN - OPUS4-12120 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächen- und Schichttechnik mit optischen Verfahren T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik (CIO 2005) "Schichten auf Glas und Polymeren - Neue Anwendungen für Optik, Elektronik und Umwelt CY - Braunschweig, Deutschland DA - 2005-02-22 KW - Qualitätssicherung KW - Oberflächentechnik KW - Optische Verfahren PY - 2005 SP - 7-1-7-9 PB - Neue Materialien Niedersachsen CY - Göttingen AN - OPUS4-7694 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe ED - Häusser, V. T1 - Sicherheit bei der Produktion von Lebensmitteln: Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 "Innovationspotentiale in der Lebensmittelproduktion" CY - Berlin, Deutschland DA - 2005-09-13 KW - Lebensmittel KW - Oberflächen KW - Steriltechnik PY - 2005 SN - 3-925032-41-X SP - 89 EP - 114 PB - Forschungskreis der Ernährungsindustrie CY - Bonn AN - OPUS4-11898 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Oberflächenanalytik und Schichttechnik T2 - 12. Sitzung des AK "Korrosionsschutz durch Beschichtungen" CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-20 PY - 2005 AN - OPUS4-10873 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mitterer, C. A1 - Waldhauser, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Structure and properties of decorative rare-earth hexaboride coatings KW - Decorative coatings KW - Magnetron sputtering KW - Rare-earth hexaborides KW - Optical properties PY - 1996 SN - 0257-8972 VL - 86-87 SP - 715 EP - 721 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-6954 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Dielectric reference coatings for the evaluation of thin film characterization techniques KW - Depth profiling KW - Ellipsometry KW - Silicon nitride KW - Silicon oxide PY - 1995 U6 - https://doi.org/10.1016/0040-6090(95)06840-6 SN - 0040-6090 VL - 270 SP - 85 EP - 90 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-6955 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reiners, Georg A1 - Beck, Uwe A1 - Jehn, H.A. T1 - Decorative optical coatings KW - Nitrides KW - Optical properties KW - Physical vapour desposition KW - Structural properties PY - 1994 SN - 0040-6090 VL - 253 SP - 33 EP - 40 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-6956 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Urban, Ingrid A1 - Jehn, H.A. A1 - Kopacz, U. A1 - Schack, H. T1 - Decorative hard coatings: new layer systems without allergy risk PY - 1993 SN - 0257-8972 VL - 61 SP - 215 EP - 222 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-6957 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Witt, Klaus T1 - Decorative hard coatings: advances in optical characterization techniques PY - 1993 SN - 0040-6090 VL - 236 SP - 184 EP - 190 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-6958 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Kopacz, U. A1 - Jehn, H.A. T1 - Decorative hard coatings: interdependence of optical, stoichiometric and structural properties PY - 1993 SN - 0257-8972 VL - 60 SP - 389 EP - 395 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-6959 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Urban, Ingrid A1 - Witt, Klaus T1 - Evaluation of optical properties of decorative coatings by spectroscopic ellipsometry PY - 1992 SN - 0040-6090 VL - 220 SP - 234 EP - 240 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-6960 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hartung, J. A1 - Reinhold, E. A1 - Strümpfel, J. T1 - Ion Assisted vs. Plasma Assisted PVD: Preparation of Optical Multilayers in a Versatile Cluster System Implementing Electron Beam and Sputter Technology N2 - Functionality of optical systems requires optical coatings of high quality which have to be adapted to the application in terms of the performance of optical parameters such as reflectivity (AR, low, defined, high), the substrate material of interest (polymers, ceramics, and glass), the environmental conditions (such as temperature or humidity), and the service conditions (such spectral range and power density). Moreover, in many cases, additional non-optical requirements have to be met, including mechanical features such as scratch resistance, hardness and modulus. Consequently, thickness and overall uniformity requirements are steadily increasing. In general, these demands can usually not be achieved by a single film or coating. Instead, films with specific design features (such as gradients), layer stacks and multilayers are a prerequisite for high quality layers and their reliability. For the development of such layer systems, a versatile cluster deposition system consisting of three clusters and a cluster-to-cluster handler has been designed. Besides a PECVD cluster for DLC coatings, two PVD clusters implement ion assisted electron beam evaporation and plasmabased sputter technology. In addition to metallic films, preparation of oxide and nitride optical coatings (SiO2, TiO2, Ta2O5, ITO, Al2O3, TiN, AlN) in various process modifications (nonreactive, partially reactive, full-reactive; rf-, dc-, mf- mode; PEM control) has been carried out. Within this paper, the effect of several process parameters on layer quality (optical constants, density, and uniformity) is discussed for selected applications examples (AR- and HR coatings, applications at elevated temperatures and applications of enhanced mechanical performance). It has been shown that specific features of ion and plasma assisted PVD processes, including ion-beam and plasma preand post-treatment of substrates and layer systems, may widen the application range and improve functionality features of given coating/substrate systems. T2 - 47th Annual Technical Conference Proceedings CY - Dallas, TX, United States of America DA - 2004-04-24 KW - Ion assisted PVD KW - Optical multilayers KW - Plasma assisted PVD KW - Cluster deposition system PY - 2004 UR - http://www.knovel.com/knovel2/Toc.jsp?BookID=1082 SN - 0737-5921 SN - 1539-2236 SP - 86 EP - 90 CY - Albuquerque, NM AN - OPUS4-4148 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Beck, Uwe A1 - Senoner, Mathias T1 - Entwicklung von Referenzmaterialien für die Oberflächentechnik im Mikrometer- und Nanometerbereich T2 - Oberflächentage 2004 ; 42. Jahrestagung. Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik CY - Dresden, Deutschland DA - 2004-09-22 KW - Laterale Auflösung KW - Nanometrologie KW - Nanotechnologie KW - Oberflächenanalytik KW - Zertifiziertes Referenzmaterial PY - 2004 SN - 3-9806061-2-0 SP - 263 EP - 266 PB - DGO CY - [Hilden] AN - OPUS4-4582 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächen- und Schichttechnik mit optischen Verfahren T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik CY - Braunschweig, Germany DA - 2005-02-22 PY - 2005 AN - OPUS4-5605 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bobe, U. A1 - Sommer, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Schmidt, R. T1 - Influence on the Adhesion of Biological Particles T2 - 7th European Adhesion Conference - EURADH 2004 CY - Freiburg im Breisgau, Germany DA - 2004-09-07 KW - Haftung KW - Reinigung KW - Mikroorganismen PY - 2004 SP - 6 pages PB - DECHEMA CY - Frankfurt am Main AN - OPUS4-4836 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baudach, Steffen A1 - Männ, Marion T1 - A publicly available specification (PAS) for ellipsometry: Measurement of reference coatings and non-ideal samples T2 - 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 3) CY - Vienna, Austria DA - 2003-07-07 PY - 2003 AN - OPUS4-4999 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja A1 - Hense, Eduard A1 - Arndt, Jürgen T1 - Optimierung von Reinigungsverfahren bei Oberflächen mit Fehlstellen T2 - Sitzung des projektbegleitenden Ausschusses und Sitzung des VDMA-Ausschusses Steriltechnik (AiF-Projekt) CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 2003-12-04 PY - 2003 AN - OPUS4-5000 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Klaffke, Dieter A1 - Griepentrog, Michael A1 - Weise, Matthias A1 - Rau, B. A1 - Dittrich, K.-H. A1 - Hertwig, Andreas T1 - Mechanical properties of ECR-Modified RF-PECVD a-C:H coatings T2 - PSE 2006 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2006-09-10 PY - 2006 AN - OPUS4-12038 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. T1 - Safety of food production: Characterisation of surfaces for sterile applications T2 - PSE 2006 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2006-09-10 PY - 2006 AN - OPUS4-12039 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine A1 - Weise, Matthias A1 - Lange, Thorid T1 - Adhesive and Bonding Strength - Comparative Study: Conventional Tests vs. Centrifuge Technology T2 - International Workshop Dispersion Analysis CY - Berlin, Germany DA - 2013-03-07 PY - 2013 AN - OPUS4-28045 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Rosu, Dana Maria A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Oxides, nitrides and oxynitrides on non-silicon substrates with tailored mechanical, optical, electrical and chemical properties T2 - ICMCTF 2013 CY - San Diego, CA, USA DA - 2013-04-29 PY - 2013 AN - OPUS4-28506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Schichtsysteme für den Marken-, Produkt- und Dokumentenschutz T2 - Plasma Germany CY - Berlin, Germany DA - 2013-05-13 PY - 2013 AN - OPUS4-28507 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Sommer, K. A1 - Weigl, B. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja T1 - Werkstoffoberflächen, Haftung, Reinigung - Ein neuartiges, interdisziplinäres Konzept zur Vermeidung von Infektion und Kontamination bei der Produktion von Lebensmitteln - Abschlussbericht AiF-FEI 12636 N KW - Oberflächenreinigung KW - Lebensmittelproduktion KW - Verunreinigung PY - 2003 UR - http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01fn08/564556688.pdf SP - 1 EP - 79 PB - Forschungskreis der Ernährungsindustrie CY - Bonn AN - OPUS4-25427 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Göbel, E. O. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Herrmann, K. A1 - Koenders, L. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Pohlenz, F. A1 - Xu, M. A1 - Dai, G. A1 - Hoffmann, K.-P. A1 - Busch, I. A1 - Frank, W. A1 - Procop, M. A1 - Beck, Uwe T1 - Kalibrierte Schichtdicken-Maßverkörperungen für Nanometerschichten, Teilvorhaben - Kalibrierung von Schichtdicken-Maßverkörperungen im Nanometerbereich - Abschlussbericht des BMBF Verbundvorhabens 13N7704 - 13N77041 KW - Schichtdicke KW - Nanometerbereich PY - 2003 UR - http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01fb02/373214030.pdf SP - 1 EP - 131 PB - Physikalisch-Technische Bundesanstalt CY - Dresden AN - OPUS4-25428 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja T1 - Optimierung von Reinigungsverfahren in der Lebensmittelindustrie bei Oberflächen mit makroskopischen und mikroskopischen Fehlstellen (Schweißnähte, Risse, Poren) in Verbindung mit der Auswahl und dem Verbrauch von lebensmittelgerechten Reinigungsmitteln und Tensiden - Abschlussbericht AiF-FEI AIF 13586 N II KW - Lebensmittelindustrie KW - Reinigungsverfahren KW - Schweißnaht KW - Oberflächenstruktur PY - 2005 UR - http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01fn08/56137757X.pdf SP - 1 EP - 87 PB - Forschungskreis der Ernährungsindustrie CY - Bonn AN - OPUS4-25429 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Jacobs, R. A1 - Meneve, J. A1 - Dyson, G. A1 - Jennett, N. M. A1 - von Stebut, J. A1 - Feuchter, P. A1 - Cavalleri, A. A1 - Ronkainen, H. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Ingelbrecht, C. D. T1 - SMT4-CT98-2238 - A certified reference material for the scratch test - REMAST - Final technical report PY - 2002 SP - 1 EP - 110 PB - Vito CY - Mol, Belgium AN - OPUS4-25601 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hönig, D. A1 - Domnick, R. T1 - Abschlussbericht zum BMWi/MNPQ-Verbundprojekt VERMERK (versteckte Merkmale) - BMWi-Vorhaben 22/07 PY - 2011 SP - 1 EP - 17 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25602 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Tränkle, G. A1 - Fabich, F. A1 - Schiller, Wolfgang A1 - Reiners, Georg A1 - Hübert, Thomas A1 - Beck, Uwe T1 - Abschlussbericht zum Vorhaben Aufbau und Inbetriebnahme eines Zentrums für Mikrosystemtechnik (ZEMI) in Berlin-Adlershof PY - 2003 SP - 1 EP - 17 PB - Europäischer Fond für Regionale Entwicklung (EFRE) CY - Berlin AN - OPUS4-25603 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Klaffke, Dieter A1 - Beck, Uwe T1 - Tribological and mechanical investigation of SiO2 and Si3N4 coatings on fused silica and borosilicate glass N2 - Amorphous SiO2 and Si3N4 plasma-enhanced chemical vapour deposited (PECVD) coatings were deposited on two different substrate materials (fused silica and borosilicate glass), with three coating thicknesses (0.1, 0.5, and 1.0 µm). The mechanical properties (hardness and elastic modulus) were determined by depth-sensing indentation, with loads from 700 mN down to 0.1 mN. Tribological behaviour was studied in instrumented oscillating sliding tests at room temperature with a ball-on-flat arrangement, in which the coated disc was tested against an alumina ball, at a load of 1 N. Interpretation of the measurement of hardness and modulus of the coatings has to take into consideration the influence of layer thickness and the effect of the substrate. Tensile film stress and crack generation were only observed for Si3N4 on fused silica above a threshold thickness. Friction and wear measurements show that the coating has an effect on friction, while wear is affected by the thin coatings only for a short running-in phase. The morphology of the wear scars indicates that the coatings have good adhesion. Despite crack generation, delamination effects were not observed. Indentation patterns similarly showed excellent lateral homogeneity of the mechanical properties over the entire film surface, and indicated that load-displacement curves may be used to characterise the system. KW - Mechanical properties KW - SiO2 coating KW - Si3N4 coating KW - Depth-sensing indentation KW - Oscillating sliding test KW - Friction KW - Wear KW - PECVD PY - 2001 U6 - https://doi.org/10.1002/tt.3020080105 SN - 1354-4063 SN - 1557-685X VL - 8 IS - 1 SP - 57 EP - 72 PB - Coppin CY - Deal AN - OPUS4-25598 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Gamer, Nadja A1 - Wegwerth, Tillmann T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen der Steriltechnik T2 - 3-Länder-Korrosionstagung - Nichtrostender Stahl - Reinigen, beizen, passivieren, Korrosionsschutz optimieren CY - Basel, Schweiz DA - 2009-04-20 KW - Oberflächentopographie KW - Replikaverfahren KW - Oberflächenenergie KW - Modifizierung KW - Bearbeitung KW - Beschichtung und Strukturierung KW - Wechselwirkung mit Partikeln PY - 2009 SN - 978-3-935406-38-3 SP - 12 EP - 24 PB - DECHEMA CY - Frankfurt/M. AN - OPUS4-25599 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Jacobs, R. A1 - Meneve, J. A1 - Dyson, G. A1 - Jennett, N. A1 - von Stebut, J. A1 - Feuchter, P. A1 - Cavaleiro, A. A1 - Ronkainen, H. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Ingelbrecht, C. T1 - SMT4-CT98-2238 - A certified reference material for the scratch test - REMAST - Synthesis report PY - 2002 SP - 1 EP - 9 PB - Vito CY - Mol, Belgium AN - OPUS4-25625 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Practical Aspects of Measurement and Data Evaluation - Invited Keynote Tutorial T2 - WSE 07, 2012 CY - Leipzig, Germany DA - 2012-03-05 PY - 2012 AN - OPUS4-25693 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Fabry-Perot-based layer stacks for ellipsometric encoding - Embedded public, hidden, and forensic information for product authentication N2 - Public, hidden, and forensic features either encoded or directly legible are used for authentication. Fabry-Perot layer stacks as information carriers in combination with imaging ellipsometry as optical read-out system provide all-in-one anti-counterfeiting capability that may establish the new security level 'encoded forensic'. Different layer designs are described with regard to all three security levels: public features (e.g. color and tilt effect) perceptible by the human eye, hidden features (e.g. spectroscopic response in the UV or IR), and forensic features (ellipsometric quantities Ψ and Δ as a function of wavelength λ and angle of incidence AOI). Physically uncloneable functions (PUF) could be realized as a result of a multi-material and a multi-parameter deposition approach as well as by means of specific design features of the Fabry-Perot layer stack. Hence, they are not subject to any reverse engineering strategies. Examples of stratified, micro-structured, and laser-modified Fabry-Perot layer systems are considered that may be used at all perception levels (e.g. human eye, bar code reader, and imaging ellipsometry) for authentication against product counterfeiting and related areas. -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- Zur Authentifizierung werden offene, versteckte und forensische Merkmale entweder codiert oder direkt auslesbar verwendet. Mit Fabry-Perot Schichtsystemen als Informationsträger in Kombination mit der abbildenden Ellipsometrie als optischem Auslesesystem steht ein 'all-in-one' Fälschungsschutz-System zur Verfügung, das ein neues Sicherheitsniveau 'kodiert-forensisch' darstellt. Es werden unterschiedliche Schichtdesigns beschrieben, mit denen alle drei Sicherheitsniveaus realisiert werden können: offene Merkmale (z.B. Farbe und Kippeffekt), die mit dem menschlichen Auge wahrnehmbar sind, versteckte Merkmale (z.B. die spektrale Antwort im Sichtbaren oder im IR) sowie forensische Merkmale (ellipsometrische Größen Ψ und Δ als Funktion der Wellenlänge λ und des Einfallswinkels AOI). Physikalisch nicht klonbare Funktionen (PUF) können im Ergebnis einer Multi-Material- und Multi-Parameter Beschichtungsstrategie sowie durch spezifische Design-Merkmale des Fabry-Perot Schichtsystems realisiert werden. Folglich sind solche Schichtsysteme dem 'reverse engineering' nicht zugänglich. Es werden Beispiele für lateral ausgedehnte, mikrostrukturierte und Laser modifizierte Schichtsysteme auf verschiedenen Ausleseniveaus (menschliches Auge, Barcode-Lesegerät, abbildendes Ellipsometer) vorgestellt, die zur Authentifizierung von Produkten und verwandte Gebiete geeignet sind. KW - Fabry-Perot Schichten KW - Ellipsometrie KW - Produkt- und Markenschutz PY - 2012 U6 - https://doi.org/10.1002/vipr.201200494 SN - 0947-076X SN - 1522-2454 VL - 24 IS - 4 SP - 6 EP - 11 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-26180 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mix, Renate A1 - Hielscher, Stefan A1 - Beck, Uwe A1 - Friedrich, Jörg Florian T1 - Plasma meets chemistry: Combined methods for tailored interface design in metal-polymer composites by selective chemical reactions on plasma modified surfaces N2 - The applicability of polymer-metal composites is mainly determined by the durability of the adhesive strength between both components. Aluminium (Al) deposited on polypropylene (PP) exemplifies different options of interface design. By deposition of plasma polymers on PP the effect of the type of the functionality was investigated. Spacer insertion was accomplished to position the functional group away from the topmost surface. A further kind of interface design involved a partial condensation of functional groups. Hydroxyl and carboxyl groups were most effective to improve adhesion in Al-PP systems. Approximately 7-10 carboxyl or 25-27 hydroxyl groups per 100 C atoms were necessary to increase the peel strength up to ~700 N/m. In this range, the failure of the composite propagated along the interface Al-tape (no peeling of the metal). Spacer molecules between surface and functional groups provoked the effect that the number of needed functional groups for maximum adhesion was strongly reduced. Linking of the functional groups resulted in non-peelable Al-PP laminates. Two adhesion tests were applied - the peel test and the centrifuge technology. For PP foils modified with chemically bonded and additionally linked silanol groups (no peeling) an adhesive strength of (2.5 ± 0.2) N/mm² was determined by centrifuge technology. XPS inspection of both fracture surfaces indicated a sub-surface failure in the polymer. T2 - HTPP-12 - 12th High-tech plasma processes conference CY - Bologna, Italy DA - 2012-06-24 KW - Adhesion PP-Al KW - Modified surfaces KW - Interface design PY - 2012 U6 - https://doi.org/10.1088/1742-6596/406/1/012004 SN - 1742-6588 SN - 1742-6596 VL - 406 SP - 012004-1 - 012004-11 PB - IOP Publ. CY - Bristol, UK AN - OPUS4-28658 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bonse, Jörn A1 - Hertwig, Andreas A1 - Koter, Robert A1 - Weise, Matthias A1 - Beck, Uwe A1 - Reinstädt, Philipp A1 - Griepentrog, Michael A1 - Krüger, Jörg A1 - Picquart, M. A1 - Haro-Poniatowski, E. T1 - Femtosecond laser pulse irradiation effects on thin hydrogenated amorphous carbon layers N2 - The irradiation of ~0.9-µm-thick hydrogenated amorphous carbon (a-C:H) layers deposited on silicon substrates with single femtosecond (fs) laser pulses (35 fs pulse duration, 790 nm centre wavelength) in air is studied experimentally. Irradiation spots have been generated with different peak fluences and subsequently investigated by optical topometry, micro Raman spectroscopy and microscale mechanical indentation in order to evaluate their microscopic, topographical, structural and mechanical properties (e.g. elastic modulus). By this multi-method approach, a clear separation of different effects (delamination and graphitisation) becomes possible. The joint application of mechanical and spectroscopic techniques provides unique insights into the effects of the fs-laser radiation on the carbon layer. PY - 2013 U6 - https://doi.org/10.1007/s00339-012-7170-5 SN - 0947-8396 VL - 112 IS - 1 SP - 9 EP - 14 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-28629 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Plasmabeschichtungsverfahren - eine Übersicht T2 - OPTEC BB: Messen, Prüfen, Kalibrieren (MPK-2011): Beschichtung von metallischen Oberflächen CY - Potsdam, Germany DA - 2011-10-26 PY - 2011 AN - OPUS4-24461 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Plasmabeschichtungsverfahren - eine Übersicht T2 - Innovationsforum Schutz und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag CY - Wildau, Germany DA - 2012-02-28 PY - 2012 AN - OPUS4-25241 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen für den sterilen Behälterbau T2 - Innovationsforum Schutz- und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag CY - Wildau, Germany DA - 2012-02-28 PY - 2012 AN - OPUS4-25242 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Ellipsometry - Practical Aspects of Measurement and Data Evaluation T2 - 7. Workshop Ellipsometry, March 5-7, 2012; Review Tutorial invited CY - Leipzig, Germany DA - 2012-03-05 PY - 2012 AN - OPUS4-24894 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Kormunda, M. A1 - Krause, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Lohse, Volkmar A1 - Nooke, Alida A1 - Pavlik, J. A1 - Steinbach, J. T1 - SPR enhanced ellipsometric gas monitoring on thin iron doped tin oxide layers N2 - In this work, thin iron doped tin oxide layers (3–6 nm) were investigated with regard to gas sensitivity by means of surface plasmon resonance (SPR) effect with ellipsometric readout. The experimental set-up was a Kretschmann configuration with gold as metal layer. The sensor system was exposed to different concentrations of methane in the low ppm range and the sensor response of an uncoated gold layer compared to a gold layer coated with iron doped tin oxide. The additional layer effects stability with regard to drift behavior of the sensor and an increase in sensitivity. Furthermore, the sensor is able to detect the toxic gas carbon monoxide in low concentration range (down to 0.5 ppm). The thin layers were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy, secondary electron microscopy and spectroscopic ellipsometry. The possible mechanisms taking place on the surface are discussed. KW - Gas sensing KW - SPR effect KW - Iron doped tin oxide KW - Ellipsometry PY - 2011 U6 - https://doi.org/10.1016/j.snb.2011.08.036 SN - 0925-4005 SN - 1873-3077 VL - 160 IS - 1 SP - 609 EP - 615 PB - Elsevier CY - Amsterdam [u.a.] AN - OPUS4-24826 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Mix, Renate A1 - Hielscher, Stefan T1 - Vergleichende Bestimmung der Haft- und Klebefestigkeit modifizierter Kunststoffoberflächen mittels Zentrifugentechnologie und konventioneller Prüfmethoden T2 - Fachtagung RWTH Aachen "Plasmen in der Kunststoffverarbeitung" CY - Aachen, Germany DA - 2012-12-04 PY - 2012 AN - OPUS4-27664 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Mix, Renate A1 - Kern, Janine A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Prüfung der Kleb- und Haftfestigkeit mittels Zentrifugentechnologie im Mehrprobenversuch T2 - 11. Praxis Seminar Kleben CY - Jena, Germany DA - 2013-01-30 PY - 2013 AN - OPUS4-27666 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Mix, Renate A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Haftfestigkeit von Beschichtungen: Zentrifugentechnologie im Vergleich mit anderen Prüfmethoden T2 - Berliner Fachseminar der DGO CY - Berlin, Germany DA - 2013-01-31 PY - 2013 AN - OPUS4-27667 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Winchester, M. R. A1 - Beck, Uwe T1 - Availability of layered certified reference materials for industrial application of glow discharge spectrometric depth profiling N2 - Owing primarily to speed, low cost and ease of use relative to competing surface analysis techniques, glow discharge spectrometry (GDS) has become an economically important depth profiling method for certain niche industries in Europe and Japan. For the industrial application of this method, layered certified reference materials (CRMs) are needed to ensure accuracy, as well as comparability between individual users. A survey of existing CRMs has been conducted to evaluate the availability of layered CRMs with appropriate characteristics. No materials with the desirable characteristics necessary for efficient implementation were found. These results indicate a need for the production of new layered CRMs. The survey was conducted by an advisory group assembled as part of the activities of the Glow Discharge Spectrometry Subcommittee (ISO TC201/SC8) associated with the ISO Technical Committee on Surface Chemical Analysis (ISO TC201). KW - Certified reference materials KW - Depth profiling KW - Glow discharge spectrometry KW - ISO PY - 1999 U6 - https://doi.org/10.1002/(SICI)1096-9918(199910)27:10<930::AID-SIA653>3.0.CO;2-D SN - 0142-2421 SN - 1096-9918 VL - 27 IS - 10 SP - 930 EP - 935 PB - Wiley CY - Chichester AN - OPUS4-25571 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Maser, K. A1 - Mohr, U. A1 - Leihkauf, R. A1 - Ecker, Klaus A1 - Beck, Uwe A1 - Grambole, D. A1 - Grötzschel, R. A1 - Herrmann, F. A1 - Krauser, J. A1 - Weidinger, A. T1 - Hydrogen migration in wet-thermally grown silicon dioxide layers due to high dose 15N ion beam irradiation N2 - Three effects have been observed in wet-thermally grown structures under bombardement with energetic 15N ions: (1) Out-diffusion of H from the SiO2/Si system through the surface, (2) Accumulation of H at the SiO2/Si interface, (3) Changes in the optical fingerprint spectra of Ψ and Δ in dependence on λ (wavelength) obtained by ellipsometric measurements. PY - 1999 U6 - https://doi.org/10.1016/S0167-9317(99)00356-1 SN - 0167-9317 SN - 1873-5568 VL - 48 IS - 1-4 SP - 139 EP - 142 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-25572 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Chudoba, T. A1 - Schwarzer, N. A1 - Richter, F. A1 - Beck, Uwe T1 - Determination of mechanical film properties of a bilayer system due to elastic indentation measurements with a spherical indenter N2 - A recently developed theoretical model represents the generalization of the indentation of a sphere into an infinite homogeneous halfspace to the problem of a Hertzian load acting on a halfspace covered with one or more films having different elastic properties. The model allows the analytical calculation of the complete elastic stress field and the deformations within the films and the substrate. Some results of the model shall be confirmed by nanoindentation experiments using an UMIS-2000 nanoindenter into Si3N4/SiO2 and SiO2/ Si3N4 double layers on BK7 glass and Si(100) single crystal. The materials used allow accurate measurements due to their homogeneous, amorphous structure as well as low surface and interface roughness. After the determination of the instrument compliance and the real, depth dependent indenter radius the measured load–depth data are compared with calculated results. It is shown that measurement results can be correctly interpreted by the model. The onset of plastic deformation is investigated for the same samples by multiple partial unloading experiments with a 4-µm radius diamond sphere. The critical load at which a first deviation from a wholly elastic response occurs is used for a stress calculation with the model. The mechanical behavior of the different film combinations is interpreted by means of the von Mises comparison stress. The measured results, together with the analytical modeling, allow an optimization of the thickness and modulus of the individual layers to get a maximum mechanical stability. KW - Mechanical properties KW - Depth sensing indendation KW - Young´s modulus KW - Spherical indenter PY - 2000 U6 - https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)01365-1 SN - 0040-6090 VL - 377-378 SP - 366 EP - 372 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-25573 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Prüfung der Kleb- und Haftfestigkeit mittels Zentrifugenversuch T2 - 11. Workshop des ak-adp (Anwenderkreis Atmosphärendruckplasma) CY - Erfurt, Germany DA - 2012-03-15 PY - 2012 AN - OPUS4-25524 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Daschewski, Maxim A1 - Harrer, Andrea A1 - Prager, Jens A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias T1 - A resonance-free nano-film airborne ultrasound emitter N2 - In this contribution we present a novel thermo-acoustic approach for the generation of broad band airborne ultrasound and investigate the applicability of resonance-free thermo-acoustic emitters for very short high pressure airborne ultrasound pulses. We report on measurements of thermo-acoustic emitter consisting of a 30 nm thin metallic film on a usual soda-lime glass substrate, generating sound pressure values of more than 140 dB at 60 mm distance from the transducer and compare the results with conventional piezoelectric airborne ultrasound transducers. Our experimental investigations show that such thermo-acoustic devices can be used as broad band emitters using pulse excitation. T2 - 39th Annual review of progress in quantitative nondestructive evaluation CY - Denver, Colorado, USA DA - 2012-07-15 KW - Thermo-acoustic KW - Broad band airborne ultrasound KW - High pressure airborne ultrasound KW - Resonance free ultrasound transducer KW - Broad band ultrasonic emitter KW - Measurement sound particle velocity PY - 2013 SN - 978-0-7354-1129-6 U6 - https://doi.org/10.1063/1.4789225 SN - 0094-243X SN - 1551-7616 N1 - Serientitel: AIP conference proceedings – Series title: AIP conference proceedings VL - 1511 SP - 1541 EP - 1546 AN - OPUS4-27790 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Sicherheit bei der Produktion von Lebensmitteln: Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-13 PY - 2005 AN - OPUS4-10708 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bovtun, V. A1 - Döring, Joachim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Erhard, Anton A1 - Yakymenko, Y. T1 - Air-coupled ultrasonic transducers based on cellular polypropylene ferroelectret films N2 - Analysis of the dielectric and electromechanical properties of the cellular polypropylene ferroelectret films (EMFIT) evidences their high potential for the application in the air-coupled ultrasonic transducers. Simple prototype transducers, based on the EMFIT films, were developed and their high sensitivity was proved in the air-coupled ultrasonic experiment. Amplitude and delay time scanned images of the polyethylene step wedge with holes, obtained in both pulse-echo and transmission modes, demonstrate that non-contact ultrasonic imaging with EMFIT transducers is possible. KW - Air-coupled ultrasonics KW - Non-contact transducers KW - Ferroelectrets KW - Electromechanical properties PY - 2007 SN - 0015-0193 SN - 1563-5112 VL - 353 IS - 1 SP - 186 EP - 192 PB - Taylor & Francis CY - New York, NY AN - OPUS4-14977 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg T1 - Material-, topgraphy- and feature recognition: Challenges on optical property testing of surfaces and thin films T2 - 35th International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films (ICMCTF 2008) CY - San Diego, CA, USA DA - 2008-04-28 PY - 2008 AN - OPUS4-15880 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kasch, Thomas A1 - Beck, Uwe A1 - Binder, Christian A1 - Brock, Thomas A1 - Hesse, Olaf A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Einsatz der Oberflächentechnik zur Verbesserung der Ausbrennsicherheit von Sauerstoffarmaturen T2 - BAM-Kolloquium CY - Berlin, Germany DA - 2007-06-20 PY - 2007 AN - OPUS4-16335 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Wirth, Thomas A1 - Sahre, Mario A1 - Männ, Marion A1 - Gamer, Nadja A1 - Hoffmann, V. A1 - Hentschel, R. A1 - Brauneck, U. A1 - Mollenhauer, R. T1 - Reference Coatings for GD-OES Depth Profiling - Results of a VAMAS Project T2 - PSE 2000 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 AN - OPUS4-6143 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Senoner, Mathias A1 - Beck, Uwe A1 - Paatsch, Wolfgang T1 - Materialien mit Maß KW - Nanometrologie KW - Nanotechnologie KW - Oberflächenanalytik KW - Qualitätssicherung KW - Schichtanalytik KW - Zertifiziertes Referenzmaterial PY - 2005 SN - 0026-0797 SN - 0043-2792 VL - 59 IS - 1-2 SP - 28 EP - 31 PB - IGT, Informationsges. Technik CY - München AN - OPUS4-7143 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Senoner, Mathias T1 - Herstellung, Charakterisierung und Zertifizierung von Referenzschichten für die Oberflächentechnik T2 - GDMB-Sitzung CY - Berlin, Germany DA - 2005-11-08 PY - 2005 AN - OPUS4-10941 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Bestimmung der Topographie technischer Oberflächen und der Haftfestigkeit an beschichteten Bauteilen T2 - 27. Ulmer Gespräch CY - Neu-Ulm, Deutschland DA - 2005-04-28 KW - Oberflächentechnik KW - Topographie KW - Haftfestigkeit PY - 2005 SN - 3-87480-215-9 SP - 136 EP - 146 PB - Leuze CY - Bad Saulgau AN - OPUS4-11476 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Binder, Christian A1 - Kasch, Thomas A1 - Brock, Thomas A1 - Beck, Uwe A1 - Weise, Matthias A1 - Sahre, Mario T1 - Promoted combustion testing of pure and ceramic-coated metals in high pressure oxygen by the federal institute of materials research and testing (BAM) N2 - The new promoted ignition combustion test apparatus at BAM matches the requirements of ASTM test method G 124 [ASTM G 124, Standard Test Method for Determining the Combustion Behavior of Metallic Materials in Oxygen-Enriched Atmospheres, 2003] and of EIGA publication, IGC Doc 13/02/E [EIGA Gas Association Document IGC Doc 13/02/E, Oxygen Pipeline Systems, 2003]. The test apparatus is most likely the only one in Europe. The test chamber allows investigations with pure oxygen or oxygen mixtures at pressures up to 500 bar and at temperatures up to 400°C at static or flowing gas conditions. The ignition device consists of an electrical ignition wire and a promoter. IR-sensors, distributed over the whole length of the rod, measure and record the burning temperature and allow measurement of the burn rate. A video system records the experiment for visual characterization of the burning behavior. BAM test results are compared with published data. Results on investigations with coated rods are presented. Ceramic coatings seem to be a solution for the use of certain less compatible metallic materials at higher oxygen pressures. KW - Promoted combustion KW - High pressure oxygen KW - Metallic materials KW - Flammability KW - Safety engineering KW - Coatings PY - 2006 U6 - https://doi.org/10.1520/JAI13533 SN - 1546-962X VL - 3 IS - 4 SP - JAI13533, 1 EP - 6 PB - American Society for Testing and Materials CY - West Conshohocken, Pa. AN - OPUS4-12676 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Binder, Christian A1 - Kasch, Thomas A1 - Lehné, Siegfried A1 - Beck, Uwe A1 - Weise, Matthias A1 - Sahre, Mario T1 - Combustion tests under high pressure oxygen: Promoted ignition combustion test versus metallic disk ignition test N2 - Two different test apparatuses are used at BAM to evaluate the safety of oxygen components: First, the “promoted ignition combustion test” according to ASTM G 124 [1] and to EIGA IGC Doc 13/02/E [2], and second, the new “metallic disk ignition test” that has not been standardized yet. The standard test method ASTM G 124 allows a ranking of metallic materials for use at high pressure oxygen. However, the transfer of those test results to valves and fittings in real-life situations is rather complex. The “metallic disk ignition test,” developed at BAM, is more practice oriented and uses metallic disks of different thicknesses of the investigated material. A commonly used nonmetallic sealing ring is placed in front of this disk and serves as an igniter. This test array is then exposed to high pressure gaseous oxygen impacts in a standardized pneumatic impact tester according to DIN EN 1797 [3]. KW - Adiabatic compression KW - Pneumatic impact KW - Flammability KW - High pressure oxygen KW - Metallic materials KW - Promoted ignition KW - Coatings PY - 2006 U6 - https://doi.org/10.1520/JAI13532 SN - 1546-962X VL - 3 IS - 5 SP - JAI13532, 1 EP - 5 PB - American Society for Testing and Materials CY - West Conshohocken, Pa. AN - OPUS4-12677 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg A1 - Weise, Matthias A1 - Beck, Uwe T1 - Hydrogen-Containing Amorphous Carbon Layers as Optical Materials in the Near-IR Spectral Range N2 - Hydrogenated amorphous carbon layers were deposited on various substrates by means of a plasma CVD process with a RF substrate bias as well as an ECR plasma source. The optical properties of the a-C:H layers were obtained via spectroscopic ellipsometry and correlated with their mechanical and chemical properties. The layers from pure RF plasma exhibit a higher absorption constant in the visible spectral range and a higher refractive index. All layers are nearly transparent in the NIR spectral range making them candidates for optical thin layer systems. The laser damage behaviour of the a-C:H layers was investigated with ultrashort pulses. The damage thresholds were consistent with the absorption constants of the layers. Interesting damage morphologies were observed indicating a sensitivity of this experiment to sub-structures in the layer. KW - Kohlenstoffschichten KW - Optische Konstanten KW - Ellipsometrie KW - Laser-Material-Bearbeitung KW - Amorphous KW - Diamond-like carbon KW - Hydrocarbons KW - Laser ablation KW - Optical proper PY - 2007 SN - 1612-8850 SN - 1612-8869 VL - 4 IS - S1 SP - S76 EP - S82 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-14862 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe T1 - Bestimmung der Topographie technischer Oberflächen und der Haftfestigkeit an beschichteten Bauteilen PY - 2007 SN - 0016-4232 VL - 98 IS - 10 SP - 2377 EP - 2387 PB - Leuze CY - Saulgau, Württ. AN - OPUS4-16078 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm N2 - High-accuracy film thickness measurements in the range below 100 nm can be made by various complex methods like spectral ellipsometry (SE), scanning force microscopy (SFM), grazing incidence X-ray reflectometry (GIXR), or X-ray fluorescence analysis (XRF). The measurement results achieved with these methods are based on different interactions between the film and the probe. A key question in nanotechnology is how to achieve consistent results on a level of uncertainty below one nanometre with different techniques. Two different types of thickness standards are realised. Metal film standards for X-ray techniques in the thickness range 10 to 50 nm are calibrated by GIXR with monochromatised synchrotron radiation of 8048 eV. The results obtained at four different facilities show excellent agreement. SiO2 on Si standards for SE and SFM in the thickness range 6 to 1000 nm are calibrated by GIXR with monochromatised synchrotron radiation of 1841 eV and with a metrological SFM. Consistent results within the combined uncertainties are obtained with the two methods. Surfaces and interfaces of both types of standards are additionally investigated by transmission electron microscopy (TEM). PY - 2004 U6 - https://doi.org/10.1007/s00339-003-2273-7 SN - 0947-8396 VL - 78 IS - 5 SP - 645 EP - 649 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-17195 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Krüger, Hannes A1 - Kemnitz, E. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe T1 - Transparent MgF2-films by sol-gel coating: Synthesis and optical properties N2 - Dielectric, anti-reflective or high reflective systems consist of low and high refractive index layers. Common systems are oxides. The preparation of low refractive index MgF2-films of optical quality by means of an anhydrous low temperature sol–gel synthesis is presented. The MgF2-sol is prepared by spin-coating on silicon and glass substrates. Various film thicknesses between 20 nm and 435 nm have been deposited. It has been shown that the thickness increase is proportional to the number of coating steps. The deposited MgF2-films consist of 10 nm to 20 nm large nanoparticles and have smooth surfaces with an average roughness (Ra) of (1.7 ± 0.3) nm. The optical constants n and k of the films are in agreement with the literature data of bulk-MgF2. KW - Sol-gel KW - Nano-MgF2 KW - Spin coating KW - Optical properties KW - Nanoparticles PY - 2008 U6 - https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.10.126 SN - 0040-6090 VL - 516 IS - 12 SP - 4175 EP - 4177 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-17375 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Rietz, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. T1 - Testing of tensile and adhesive strength by centrifuge technology T2 - PSE 2008 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2008-09-15 PY - 2008 AN - OPUS4-17806 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Döring, Joachim A1 - Bovtun, V. A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - Cellular polypropylene ferroelectret film: piezoelectric material for non-contact ultrasonic transducers T2 - 17th World Conference on Non-Destructive Testing CY - Shanghai, China DA - 2008-10-25 KW - Air-coupled ultrasound KW - Ultrasonic transducers KW - Electromechanical properties KW - Piezoelectric materials KW - Impedance spectroscopy PY - 2008 IS - Paper 123 SP - 1 EP - 6 PB - International Committee for Non-Destructive Testing CY - Shanghai AN - OPUS4-18435 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bovtun, Viktor Petrovic A1 - Döring, Joachim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Erhard, Anton A1 - Yakymenko, Y. T1 - Ferroelectret non-contact ultrasonic transducers N2 - Dielectric and electromechanical properties of the cellular polypropylene ferroelectret films (EMFIT), combining strong piezoelectric response with a low density and softness, evidence their high potential for the air-coupled ultrasonic applications. The disadvantage of the low coupling factor is compensated by the extremely low acoustic impedance, which provides excellent matching to air and promises efficient sound transmission through the air–transducer interface. The influence of the electrodes on the electromechanical properties was investigated. Electron beam evaporation technology was adapted to the EMFIT films, and films with both-sided Au and Al electrodes were prepared without reducing or suppressing of the electromechanical properties. Finally, prototype transducers based on the EMFIT films were developed. In spite of the simple construction and absence of matching layers, high sensitivity of the EMFIT transducers was proved in the air-coupled ultrasonic experiment. Amplitude and delay time scanned images of the polyethylene step wedge with holes, obtained in both pulse-echo and transmission modes, demonstrate that non-contact ultrasonic imaging and testing with EMFIT transducers is possible. KW - Piezoelectric film KW - Air borne transducer KW - Non-destructive testing PY - 2007 SN - 0947-8396 VL - 88 IS - 4 SP - 737 EP - 743 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-15074 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. T1 - Centrifuge Technology: A Promising Tool for the Determination of Adhesion and Mechanical Properties! T2 - The International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films, ICMCTF 2007 CY - San Diego, CA, USA DA - 2007-04-23 PY - 2007 AN - OPUS4-15036 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Männ, Marion T1 - Optical property testing for material control in thin film and surface technology T2 - 72. DPG-Tagung, DS 14: Optical Layers Basis Research and Applications CY - Berlin, Germany DA - 2008-01-25 PY - 2008 AN - OPUS4-16210 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Evaluation of Lateral Resolution and Spot Size: Imaging and Mapping Ellipsometry vs. White Light Interference and Atomic Force Microscopy T2 - 5th Workshop Ellipsometry CY - Zweibrücken, Germany DA - 2009-03-02 PY - 2009 AN - OPUS4-18476 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bovtun, Viktor Petrovic A1 - Döring, Joachim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Erhard, Anton A1 - Yakimenko, Y. T1 - EMFIT Ferroelectret Film Transducers for Non-Contact Ultrasonic Testing T2 - 9th European Conference on NDT CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 KW - Non-contact ultrasound KW - Ferroelectret film KW - Ultrasonic transducer PY - 2006 SN - 3-931381-86-2 SP - 1 EP - 10(?) PB - European Federation for Non-Destructive Testing CY - Berlin AN - OPUS4-14211 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bobe, U. A1 - Sommer, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Winzer, B. A1 - Peukert, W. T1 - Untersuchungen zur Verbesserung der CIP-Fähigkeit von Oberflächen PY - 2007 SN - 0724-696X SN - 0006-9329 VL - 147 IS - 31-32 SP - 844 EP - 847 PB - Hans Carl GmbH CY - Nürnberg AN - OPUS4-15742 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Krüger, Hannes A1 - Kemnitz, E. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe T1 - Moderate temperature sol-gel deposition of magnesium fluoride films for optical UV-applications: A study on homogeneity using spectroscopic ellipsometry N2 - Thin films of MgF2 have been deposited on silicon wafers in optical quality with a novel sol-gel deposition process at temperatures as low as 100 °C. The properties of the fluoride layers are compared to bulk MgF2 with respect to the optical constants. By employing spectroscopic mapping ellipsometry, the uniformity of the thickness of fluoride layers is confirmed to be within acceptable limits for optical applications. The optical constants are close to the bulk data. High-quality low-index films of suitable and homogeneous thickness have already been produced on a laboratory scale. KW - 78.20.-e KW - 78.66.Li KW - 78.68.+m KW - 81.20.Fw PY - 2008 U6 - https://doi.org/10.1002/pssa.200777856 SN - 1862-6300 SN - 0031-8965 VL - 205 IS - 4 SP - 821 EP - 824 PB - Wiley-VCH CY - Berlin AN - OPUS4-17330 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe ED - Richard Suchentrunk, T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächentechnik mit optischen Prüfverfahren KW - Qualitätssicherung KW - Oberflächentechnik KW - Optische Prüfung PY - 2008 SN - 978-3-87480-245-1 N1 - Serientitel: Jahrbuch Oberflächentechnik – Series title: Jahrbuch Oberflächentechnik VL - 64 SP - 319 EP - 329 PB - Leuze CY - Bad Saulgau AN - OPUS4-17681 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haftvermögen, Topographie und optische Konstanten - zentrale Kenngrößen modifizierter Oberflächen T2 - SGO - Fachtagung / Jahrestagung CY - Solothurn, Switzerland DA - 2008-10-29 PY - 2008 AN - OPUS4-17873 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haftfestigkeit, Topographie und optische Konstanten - zentrale Kenngrößen modifizierter Oberflächen T2 - Technische Jahresfachtagung der Schweizer Gesellschaft für Oberflächentechnik (SGO) CY - Solothurn, Switzerland DA - 2008-10-29 PY - 2008 AN - OPUS4-18184 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hartung, J. A1 - Reinhold, E. A1 - Strümpfel, J. T1 - Ion-assisted vs. Plasma-assisted PVD: Preparation of Optical Multi-layers in a Versatile Cluster System Implementing Electron Beam and Sputter Technology T2 - SVC 2004 CY - Dallas, TX, USA DA - 2004-04-24 PY - 2004 AN - OPUS4-4876 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja T1 - Bewertung steriltechnischer Oberflächen - Zusammenfassung zweier AiF-Projekte T2 - DIN/DVS AA 14/AG V7 "Thermisches Spritzen und thermisch gespritzte Schichten" CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-31 PY - 2004 AN - OPUS4-4877 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Griepentrog, Michael T1 - Bestimmung der Topographie technischer Oberflächen und der Haftfestigkeit an beschichteten Bauteilen T2 - DGO Jahrestagung, 63. Ulmer Gespräch CY - Ulm, Germany DA - 2005-04-28 PY - 2005 AN - OPUS4-6883 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. T1 - Oberflächen in der Lebensmittelindustrie: Hygenetic Design, Sterilisation, Reinigung T2 - Workshop Kompetenzzentrum CC-NanoChem CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-29 PY - 2006 AN - OPUS4-13402 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Beck, Uwe A1 - Senoner, Mathias T1 - Development of reference materials for surface technology in the micrometer and nanometer range T2 - AESF SUR/FIN 2004 ; Interfinish 2004 World Congress CY - Chicago, IL, USA DA - 2004-06-28 KW - Reference materials KW - Zerstörungsfreie Prüfung KW - Referenzmaterialien PY - 2004 SP - 369 EP - 385 PB - American Electroplaters and Surface Finishers Society (AESF) CY - Orlando AN - OPUS4-4130 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Hoffmann, V. A1 - Steers, E.B.M. A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Beck, Uwe T1 - Round Robin exercise: Coated materials for glow discharge spectroscopy N2 - A Round Robin (RR) exercise on selected coated materials has been carried out with the aim of finding the optimal conditions for the analysis of nitride layers with GD-OES. Such pre-normative work is necessary for the evaluation of parallel development of the production of nitride layers as certified reference materials (CRMs). Two types of samples, Ti–N layer and V–N layer, respectively, with chemical compositions close to stoichiometry and a thickness of ~3 µm, deposited on a steel substrate, have been provided to the RR participants. Additionally, another type of sample, a (100 nm CrNi/100 nm Cu) multilayer (ML) stack deposited on silicon wafer has also been included in the RR. This sample can be used as a CRM for checking GD spectrometer conditions and it has been proved helpful in further development of GDS instrumentation and methodology. The RR exercise has been performed in the frame of the EC Thematic Network on Glow Discharge Spectroscopy for Spectrochemical Analysis (‘GDS-Net’). KW - Coated/Layered Reference Materials KW - Nitrides KW - Multilayer KW - GDS KW - Round Robin PY - 2006 U6 - https://doi.org/10.1039/B513426A SN - 0267-9477 SN - 1364-5544 VL - 21 IS - 1 SP - 74 EP - 81 PB - Royal Society of Chemistry CY - London AN - OPUS4-11762 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Tiller, H. T1 - Stand der Technik in der Oberflächentechnik T2 - 2. Thüringer Grenz- und Oberflächentage CY - Oberhof, Deutschland DA - 2006-09-13 KW - Oberflächentechnologie KW - Standardisierung PY - 2006 SN - 3-00-019289-1 SP - 179 EP - 191 PB - Innovent CY - Jena AN - OPUS4-13200 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Baier, Jennifa A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Sahre, Mario T1 - Process-related interdependence of microstructure and mechanical properties of zinc coatings KW - Zinc plating KW - Process parameters KW - Microstructure of zinc deposits KW - Mechanical properties PY - 2013 SN - 2195-5891 SN - 2195-5905 VL - 2 IS - 09 SP - 7 EP - 8 PB - WOTech CY - Waldshut-Tiengen AN - OPUS4-29095 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Baier, Jennifa A1 - Beck, Uwe A1 - Sahre, Mario T1 - Validierung der Plasmabeständigkeit von monodispersen und funktionalisierten Partikeln T2 - 9. ThGOT - Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda, Germany DA - 2013-09-03 KW - Partikel KW - Plasmabeständigkeit PY - 2013 SP - 242 EP - 243 AN - OPUS4-29086 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. ED - Petzow, G. T1 - Zentrifugentechnologie in der Beanspruchung auf Zug bzw. Druck: Klebfestigkeit, Schichthaftung, Materialhärte T2 - 47. Metallographie-Tagung CY - Friedrichshafen, Germany DA - 2013-09-18 KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Verbundfestigkeit KW - Brinell- und Vickers Härte KW - Zentrifugentechnologie PY - 2013 SN - 978-3-88355-398-6 N1 - Geburtsname von Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. - Birth name of Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. VL - 45 SP - 157 EP - 162 AN - OPUS4-29276 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Trutz, Sebastian T1 - Imaging of Surface Impurities, Imfections, Residues, Contaminations and Nano-scaled Pattern: Microscopic Techniques vs. Ellipsometric T2 - Workshop Ellipsometry CY - Dresden, Germany DA - 2014-03-10 PY - 2014 AN - OPUS4-29570 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Sahre, Mario A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias T1 - Optical Mapping and Imaging for Quality Control of Thin Films and Surfaces T2 - ICCG 8, The 8th International Conference on Coatings on Glass and Plastics - Advanced Coatings for Large-Area or High-Volume Products CY - Braunschweig, Germany DA - 2009-06-13 PY - 2009 AN - OPUS4-19247 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Optische Prüfverfahren zur Qualitätskontrolle in der Dünnschicht- und Oberflächentechnik T2 - Fachkonferenz "Messen, Prüfen, Kalibrieren" CY - Berlin, Germany DA - 2009-04-30 PY - 2009 AN - OPUS4-19248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Funktionelle Oberflächen - Beschichtung, Modifizierung, Charakterisierung: Nanotechnologien in der Steriltechnik, im Verschleiß- und Korrosionsschutz T2 - Kooperationsforum: Funktionelle Oberflächen CY - Berlin, Germany DA - 2009-10-08 PY - 2009 AN - OPUS4-19664 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Qualitative Adhesion Testing of Metallic Films on Polymers by means of the Centrifuge Test T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium CY - Dresden, Germany DA - 2010-10-21 PY - 2010 AN - OPUS4-21263 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Qualitative Adhesion Testing of Coatings: Pull-off vs. Centrifuge Test T2 - 24th International Conference on Surface Modification Technologies CY - Dresden, Germany DA - 2010-09-07 PY - 2010 AN - OPUS4-21265 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Nooke, Alida A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krause, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Lohse, Volkmar A1 - Negendank, Detlef A1 - Steinbach, J. T1 - On the application of gold based SPR sensors for the detection of hazardous gases N2 - A gas sensor system based on the surface plasmon resonance (SPR) effect in a 44 nm Au layer was studied. The usability of this sensor system was investigated for several analyte gases and gas mixtures which are interesting due to their flammability, toxicity or greenhouse effect. The SPR effect of gold was measured in nitrogen and compared with the gaseous alkane series which caused a shift of the position of the SPR effect. For in situ measurements, the phase shift Δ at the SPR angle (ψ minimum) in the analyte gas mixtures was measured for investigated gases in comparison with nitrogen. With this method, detection limits of different gases could be determined, which lie in a range interesting for safety engineering. Furthermore the aging effect of the gold layers which leads to loss in sensitivity of the sensor was investigated. KW - Ellipsometry KW - SPR effect KW - Gas sensing KW - Gold layer PY - 2010 U6 - https://doi.org/10.1016/j.snb.2010.05.061 SN - 0925-4005 SN - 1873-3077 VL - 149 IS - 1 SP - 194 EP - 198 PB - Elsevier CY - Amsterdam [u.a.] AN - OPUS4-21673 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Schichten sind fast überall - Nanotechnologische Funktionalisierung von Oberflächen T2 - MST Kooperationsforum: Moderne Beschichtungs- und Oberflächentechnologien CY - Cologne, Germany DA - 2009-12-09 PY - 2009 AN - OPUS4-20670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hertwig, Andreas A1 - Schneider, Stefan A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Identification and Authentication Testing of Native Surface Features and Artificial Layer Modifications by means of Imaging Ellipsometry T2 - 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE V) CY - Albany, NY, USA DA - 2010-05-23 PY - 2010 AN - OPUS4-20760 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Niederwald, H. T1 - Quantitative Adhesion Testing of PVD Coatings by means of Centrifuge Technology T2 - PSE CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2010-09-13 PY - 2010 AN - OPUS4-20870 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Die BAM - Materialforschung für Sicherheit und Technik T2 - Wissenschaft trifft Handwerk, Neue Werkstoffe und Technologien für die Präzionsfertigung CY - Leipzig, Germany DA - 2010-04-21 PY - 2010 AN - OPUS4-20921 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bovtun, Viktor Petrovic A1 - Döring, Joachim A1 - Wegener, M. A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Erhard, Anton A1 - Borisov, V. T1 - Air-coupled ultrasonic applications of ferroelectrets KW - Air-coupled ultrasonics KW - Non-contact transducers KW - Ferroelectrets KW - Electromechanical properties PY - 2008 U6 - https://doi.org/10.1080/00150190802380243 SN - 0015-0193 SN - 1563-5112 VL - 370 IS - 1 SP - 11 EP - 17 PB - Taylor & Francis CY - New York, NY AN - OPUS4-20924 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias T1 - Optical Mapping and Imaging for Quality Control of Thin Films and Surfaces T2 - ICCG 8, The 8th International Conference on Coatings on Glass and Plastics - Advanced Coatings for Large Area or High-Volume Products CY - Braunschweig, Germany DA - 2010-06-15 PY - 2010 AN - OPUS4-21026 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Fabry-Perot Based Laser Systems with Embedded Public, Hidden, and Forensic Information For Anti-counterfeiting Applications T2 - International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films (ICMCTF) CY - San Diego, CA, USA DA - 2011-05-02 PY - 2011 AN - OPUS4-22094 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Comparative Study on Bonding and Adhesive Strength Testing vs. Centrifuge Test T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Germany DA - 2010-10-21 PY - 2010 AN - OPUS4-22244 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa T1 - Imaging und Mapping von Oberflächen und Schichten in der Materialforschung und -prüfung T2 - Anwenderseminar IR-Bildgebung CY - Ettlingen, Germany DA - 2010-11-22 PY - 2010 AN - OPUS4-22571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Elliptometrisch codierbare Schichtsysteme für den Dokumenten-, Produkt- und Markenschutz T2 - Kompetenznetz INPLAS, eingeladener Vortrag CY - Berlin, Germany DA - 2012-10-23 PY - 2012 AN - OPUS4-26726 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen für den sterilen Behälterbau N2 - Technische Oberflächen - im Anlieferungszustand oder modifiziert — werden hinsichtlich topographischer und energetischer Merkmale in der Abweichung von der »idealen « Oberfläche beschrieben. Die Topographie wird dabei durchgehend vom Makro- über den Mikro- bis in den Nano-Bereich mit den Methoden Streifenlichtprojektion (FP), Lichtmikroskopie (LM), mechanischem Tastschnitt (MS), Weißliehtinterferenzraikroskopie (WLIM), Rasterelektronen- (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) erfasst. Replika-Verfahren ermöglichen dabei auch die indirekte Erfassung der Topographie an Bauteilen. Zur makroskopischen Bestimmung der Oberflächenenergie werden Randwinkelmessungen nach der Tropfen- bzw. der Plattenmethode herangezogen. Im Fokus stehen Materialien der Steriltechnik (Edelstahl, Emaille, PTFE), Passivschichten, Beschichtungen (Si02, a-C:H) und mikrostrukturierte Modelloberflächen (Silizium). Neben Standardisierungsaspekten (Mikro- vs, Nano-Rauheit) ist die Wechselwirkung der Oberflächen mit Partikeln (Haftung) von immanenter Bedeutung. Dabei sind Größe, Form und Plastizität der Partikel im Kontext mit der Oberflächentopographie zu betrachten. T2 - BMBF-Innovationsforum - Schützen und Veredeln von Oberflächen CY - Wildau, Germany DA - 28.02.2012 KW - Funktionelle Oberflächen KW - Oberflächentopographie KW - Oberflächenenergie KW - Haftung von Partikeln PY - 2012 SP - 59 EP - 68 AN - OPUS4-26943 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Plasmabeschichtungsverfahren - eine Übersicht N2 - Einleitend wird eine kurze Einordnung der Plasmaverfahren innerhalb der Beschichtungstechnologien vorgenommen. Die vielfältigen Möglichkeiten der Plasmaverfahren werden an Hand von Beispielen zu Sehichtfunktionalitäten, Produktemund:Anlagenkonzepten, erläutert. Es wird aufgezeigt, dass die Plasmaverfahren industriell angewandte Nanotechnologie sind und branchenübergreifend eine Schlüsseltechnologie darstellen, die in der Verschränkung mit der Nanotechnologie noch ein enormes Zukunftspotenzial aufweist, und; für alle Kernbranchen des Wirtschaftstandortes Deutschland unverzichtbar sind. Dieser Aufgabe widmen sich in Deutschland unter dem Dach von PLASMA Germany insbesondere die EFDS in Dresden und INPLAS in Braunschweig. Der in Cannes prämierte INPLAS-Film »Plasma leuchtet ein«, der unter Federführung des FhG IST in Braunschweig entstand, zeigt auf, in wie vielfältiger Weise die Plasmatechnik schon heute unseren Alltag bestimmt. T2 - BMBF-Innovationsforum - Schützen und Veredeln von Oberflächen CY - Wildau, Germany DA - 28.02.2012 KW - Funktionelle Schichten KW - Plasmabeschichtung KW - PVD KW - PECVD PY - 2012 SP - 37 EP - 40 AN - OPUS4-26944 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan T1 - Validierung der Zentrifugentechnologie zur Qualitätssicherung der Fügefestigkeit von Verklebungen mit bzw. der Haftfestigkeit von Beschichtungen auf Kunststoffen N2 - Die quantitative Prüfung der Füge-, Haft- und Verbundfestigkeit in N/mm2 war bisher nur mittels Zugprüfeinrichtung möglich. Insbesondere für flächig ausgebildete Werkstoffverbunde wie Verklebungen und Beschichtungen stellt dies ein immenses Problem dar, da keine zwei „Enden“ zum Einspannen zur Verfügung stehen. Beim Abreißversuch wird deshalb ein Prüfstempel aufgeklebt, der besser einzuspannen ist. Aber auch auf der Substratseite wird in der Regel eine spezielle Aufnahme benötigt. Zudem handelt es sich um aufwendige, schlecht reproduzierbare Einzelprüfungen. Trotz doppeltkardanischer Einspannung lässt sich die Einleitung von Querkräften nicht vollständig vermeiden. Diese Mängel werden mit der Zentrifugentechnologie weitgehend überwunden. In Tabelle 1 sind die entsprechenden Merkmale des Abreißversuches mittels Zugprüfeinrichtung bzw. Zentrifugentechnologie gegenübergestellt. T2 - 20. NDVaK - Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium - Beschichtung, Modifizierung und Charakterisierung von Polymeroberflächen CY - Dresden, Germany DA - 25.10.2012 KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit KW - Zugfestigkeitsprüfung KW - Zentrifugentechnologie PY - 2012 SN - 978-3-9812550-4-1 SP - 107 EP - 111 AN - OPUS4-26872 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schartel, Bernhard A1 - Beck, Uwe A1 - Bahr, Horst A1 - Hertwig, Andreas A1 - Knoll, Uta A1 - Weise, Matthias T1 - Sub-micrometre coatings as an infrared mirror: a new route to flame retardancy N2 - Most of the polymeric materials used are easy to ignite and show extensive flame spread along their surfaces. Apart from extensive heat release rates, their short time to ignition (tig), in particular, is a key fire hazard. Preventing ignition eliminates fire hazards completely. Protection layers that shift tig by more than an order of magnitude are powerful flame retardancy approaches presenting an alternative to the usual flame retardancy concepts. Coatings are proposed that consist of a three-layer system to ensure adhesion to the substrate, acting as an infrared (IR) mirror and protecting against oxidation. The IR-mirror layer stack is realised by physical vapour deposition in the sub-micrometre (<1 µm) range, reducing heat absorption by up to an order of magnitude. Not only is the ease of ignition diminished (tig is increased by several minutes), the flame spread and fire growth indices are also remarkably reduced to as little as 1/10 of the values of the uncoated polymers open for further optimization. Sub-micrometre thin IR-mirror coatings yielding surface absorptivity <0.1 are proposed as a novel and innovative flame retardancy approach. KW - Coating KW - Fire protection KW - Physical vapour deposition (PVD) KW - IR mirror KW - Ignition PY - 2012 U6 - https://doi.org/10.1002/fam.1122 SN - 0308-0501 SN - 1099-1018 VL - 36 IS - 8 SP - 671 EP - 677 PB - Heyden CY - London AN - OPUS4-27210 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Multispektraler Response und Ellipsometrische Codierung von Schichtsystemen für den Dokumenten-, Produkt- und Markenschutz T2 - OPTEC BB, Optische Messtechnik - Mehrdimensionale Spektroskopie CY - Berlin, Germany DA - 2012-11-20 PY - 2012 AN - OPUS4-27151 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan T1 - Validierung der Zentrifugentechnologie zur Qualitätssicherung der Haft- und Verbundfestigkeit von Beschichtungen auf und Verklebungen mit Kunststoffen; eingeladener Vortrag T2 - 20. NDVaK CY - Dresden, Germany DA - 2012-10-25 PY - 2012 AN - OPUS4-27154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias T1 - Optical layer systems for product authentication: interference, scattering, light diffusion and ellipsometric encoding as public, hidden and forensic security features N2 - Embedding of information on surfaces is state of the art for identification testing in which public, hidden and forensic features are used. In many instances, the legal authentication of a product, a material or a document is required. Among the surface-based encoded labels, bar codes and data matrices are most frequently applied. They are publicly visible. The material itself is irrelevant, only a sufficient optical contrast is required. However, a strong material dependence of the label can be achieved by means of Fabry-Perot layer stacks. Stack designs are described with regard to all three security levels: public features (e.g. color and tilt effect) perceptible by the human eye, hidden features (e.g. optical response in a given spectral range) detectable by commonly available instruments and forensic features (ellipsometric quantities Ψ and Δ as a function of wavelength λ and angle of incidence AOI) only detectable by sophisticated instruments. Regarding material-correlated authentication, ellipsometric quantities Ψ and Δ are used as encoded forensic features for the first time. Hence, Fabry-Perot layer stacks as information carriers in combination with imaging ellipsometry as optical read-out system provide all-in-one anti-counterfeiting capabilities. T2 - PSE 2012 - 13th International conference on plasma surface engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 10.09.2012 KW - Fabry-Perot layers KW - Ellipsometry KW - Anti-counterfeiting PY - 2012 UR - http://www.pse-conferences.net/tl_files/pse2012/abstractupload/PSE2012-PO1001-ext.pdf SP - 1 EP - 4 AN - OPUS4-27304 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias A1 - Mix, Renate A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Progress in quantitative adhesion testing of films and coatings by means of centrifuge technology - present state of the art N2 - Standardised conventional adhesion tests are time-consuming single-sample tests. Moreover, except for the pull-off test, all these tests provide only qualitative or semi-quantitative (ranking, respectively measurement of an adhesion-correlated quantity) information on adhesion. Sometimes, adhesion is evaluated even under compressive stress conditions (e.g. cross-cut and scratch test), which itself is a contradiction to adhesive strength as defined in terms of tensile force per area. For optical coatings it has been shown that the pull-off test in a centrifuge is definitely a promising alternative with respect to the reliable, fast and quantitative determination of adhesive strength in N/mm2. The force-controlled centrifuge test is the only multiple-sample test which provides reliable quantitative information on the adhesive strength in agreement with DIN EN 15870 and DIN EN ISO 4624 on a statistical basis for up to eight samples simultaneously tested under identical testing conditions. T2 - PSE 2012 - 13th International conference on plasma surface engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 10.09.2012 KW - Adhesion KW - Centrifuge test KW - Plasma modification KW - Tensile strength PY - 2012 UR - http://www.pse-conferences.net/tl_files/pse2012/abstractupload/PSE2012-OR2601-ext.pdf SP - 1 EP - 4 AN - OPUS4-27305 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Bobe, U. A1 - Beck, Uwe A1 - Wegwerth, Tillmann A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Strauß, Birgid A1 - Reetz, Susanne A1 - Schondelmaier, D. A1 - Kutz, O. A1 - Winzer, B. A1 - Schaule, G. T1 - Nanotechnologische Entwicklung von "easier-to-clean"- Oberflächenstrukturen für eine zukünftig gesteigerte Lebensmittel- und Produktsicherheit - Abschlussbericht AiF-Vorhaben Nr.: 210 ZN III N2 - Reinigung wird in der Lebensmittel- und Pharmaindustrie aufgrund des stetig steigenden Kosten- und Zeitdrucks sowie der hohen Verbrauchererwartungen hinsichtlich Produktsicherheit und -haltbarkeit ein immer zentraleres Thema. Eine verbesserte Reinigbarkeit bedeutet für die produzierende Industrie eine Steigerung der Effizienz der Produktionsanlage. Besonders in der heutigen medienintensiven Zeit kommt ein "Lebensmittelskandal" durch ein unsicheres Produkt einem finanziellen Desaster und immensem Imageverlust gleich. Aus diesem Grund ist die Reinigbarkeit der produktberührenden Oberflächen stets ein wichtiges Kriterium für die Werkstoffauswahl. Basierend auf den Theorien zu Schmutzhaftung und -entfernung wurde im Rahmen dieser Arbeit überprüft, ob und wie die theoretisch relevanten Parameter auch in den Experimenten den Reinigungserfolg beeinflussen. Der Schwerpunkt wurde auf die Einflussgrößen des Werkstoffes gelegt, um herauszufinden, wie stark eine Oberfläche selbst zu ihrer Reinigbarkeit beitragen kann (self-cleaning). In den durchgeführten Versuchen hat sich gezeigt, dass die Oberflächenrauheit lediglich bei der Reinigung von kohäsiven Schmutzfilmen eine entscheidende Rolle gespielt hat. Hingegen ist ihr Einfluss auf das Reinigungsergebnis von sich auflösenden Schmutzfilmen und Partikeln nur begrenzt bis gar nicht zur Geltung gekommen. Das Oberflächenmaterial hatte keinen starken, aber dennoch signifikanten Einfluss auf die Reinigbarkeit der untersuchten Oberflächen. Dass die Reinigbarkeit einer Oberfläche keine Materialkonstante sein kann, wurde unter Verwendung spezieller Oberflächen mit definiert geätzten Rauheitsstrukturen nachgewiesen. Der Reinigungserfolg hängt immer auch von der Verunreinigungsart ab, was sich auch in vergleichbaren Versuchen der Einzelpartikelablösung mittels AFM in dem Einfluss der Elastizität bzw. Plastizität der Partikeln geäußert hat. Praxistaugliche Empfehlungen gehören mit zu den wichtigsten Zielen dieser Arbeit gewesen. Mit Fokus auf die Oberflächenparameter und auf Basis der durchgeführten Untersuchungen wurde zur Optimierung der Reinigung produktberührender Oberflächen für bekannte Kontaminationen eine Checkliste als Orientierungshilfe erarbeitet. Ist die Verunreinigungsart dennoch unbekannt, so sollte der "Grenzwert" von Ra = 1 µm unterschritten werden, um bei Vorhandensein filmartiger Verschmutzungen keine negativen Auswirkungen auf die Reinigbarkeit zu haben. Die Notwendigkeit nach hochpolierten Oberflächen (Ra < 0,3 µm) aus Reinigbarkeitsgründen kann aufgrund der Untersuchungen nicht nachvollzogen werden. Das Ziel des Vorhabens wurde erreicht. PY - 2007 SP - I EP - 148 PB - TU München CY - Weihenstephan AN - OPUS4-25430 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Arwin, H. A1 - Beck, Uwe A1 - Schubert, M. T1 - Papers presented at the 4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 4) - Preface T2 - 4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 4) CY - Stockholm, Sweden DA - 2007-06-11 PY - 2008 U6 - https://doi.org/10.1002/pssc.200860016 SN - 1610-1634 SN - 1862-6351 SN - 1610-1642 VL - 5 IS - 5 SP - 1000 EP - 1002 PB - Wiley-VCH CY - Berlin AN - OPUS4-25433 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jacobs, R. A1 - Meneve, J. A1 - Dyson, G. A1 - Teer, D. G. A1 - Jennett, N. M. A1 - Harris, P. A1 - von Stebut, J. A1 - Comte, C. A1 - Feuchter, P. A1 - Cavaleiro, A. A1 - Ronkainen, H. A1 - Holmberg, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Ingelbrecht, C. D. T1 - A certified reference material for the scratch test N2 - Adhesion and other mechanical behaviour of coatings is at present routinely tested in industry and research organisations using the scratch test. The test has been the subject of a European Standard prEN 1071-3:2000 established by the European Standards Committee CEN TC184 WG5. A previous European project on the development and validation of test methods for thin hard coatings—FASTE—revealed that uncertainties in the Rockwell C stylus tip shape represent a major source of error for the scratch-test method. Therefore a follow-up project—REMAST—was started to develop and certify a reference material as a quality control tool for the testing and qualification of scratch-test instruments. In addition, a considerable effort was devoted to improve the scratch stylus manufacturing process. This paper presents the results of the REMAST project. During a feasibility study, two candidate materials—titanium nitride (TiN) and diamond-like carbon (DLC) coatings both on high speed steel substrates—were evaluated. Because of the lower sensitivity to styli tip shape variations and higher data scatter observed for the TiN coating, DLC was chosen as the reference material to be certified. One thousand samples were produced, as well as qualified styli to carry out the certification campaign, including homogeneity and stability testing. Nine independent laboratories were involved in the certification exercise, and the data were statistically analysed to obtain the certified critical load values and their uncertainty ranges. A certified reference material BCR-692 is available for verification purposes. This presents three repeatable failure events at certified critical load intervals and can provide a good indication of overall scratch-test instrument performance, including stylus condition and calibration. It is also useful as a diagnostic tool, providing a means of sensitive monitoring of machine and stylus performance over extended periods. Considerable improvement of the quality of scratch styli was achieved by the strict control of all manufacturing steps. KW - Adhesion KW - Scratch test KW - Certified reference material PY - 2003 U6 - https://doi.org/10.1016/S0257-8972(03)00470-5 SN - 0257-8972 VL - 174-175 SP - 1008 EP - 1013 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-25435 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Wirth, Thomas A1 - Hoffmann, V. A1 - Präßler, F. T1 - Multilayer reference coatings for depth profile standards N2 - Depth profiles of layer systems consisting of different film materials and having different thicknesses are of great practical importance. Multilayer reference coatings of conducting (Ti/Al) and non-conducting (SiO2/Si3N4) material are analyzed with Auger electron spectroscopy (AES) and glow discharge optical emission spectroscopy (GDOES) depth profiling. Deposition techniques, physical vapor deposition for Ti/Al layers and plasma-enhanced chemical vapor deposition for SiO2/Si3N4 layers, as well as measurement and testing procedures for the determination of layer thickness such as optical and mechanical stylus and spectroscopie ellipsometry are discussed. GDOES depth profiles in direct current (d.c.) and radio frequency (r.f.) mode are related to measurements of crater profiles and compared with line scans and depth profiles performed by AES. It is shown that such multilayer reference systems are appropriate for calibration of depth profiles, i.e. the definition and the evaluation of the depth resolution at the interface, the determination of sputter rates both for d.c.- and r.f.-GDOES and AES, the optimization of the conditions of analysis, and the quantification of analysis itself. KW - Depth profiling KW - Multilayers KW - Glow discharge KW - Auger electron spectroscopy PY - 1996 U6 - https://doi.org/10.1016/S0040-6090(96)09083-9 SN - 0040-6090 VL - 290-291 SP - 57 EP - 62 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-25436 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L104 TiC single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l104repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25410 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L105 VC single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l105repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25411 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa T1 - Anwendungsorientierte Simulation zur Planung und Produktion maßgeschneiderter, elektrolytisch erzeugter Oberflächen - AnSim - Abschlussbericht des BMBF Verbundvorhabens 01RI0711A-J KW - Additive KW - Duktilität KW - Korrosionsbeständigkeit PY - 2010 UR - http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01fb11/669247707.pdf SP - 1 EP - 160 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25470 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Urban, Ingrid A1 - Männ, Marion T1 - Dekorative PVD-Schichten - Grundlegende Eigenschaften und Verhalten - Teilvorhaben Analyse - Förderkennzeichen BMFT 13 N 5836 KW - PVD-Verfahren KW - Oberflächeneigenschaften PY - 1994 SP - 1 EP - 118 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25477 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L100 Ti/Al multilayer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l100repe.pdf SP - 1 EP - 23 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25406 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Männ, Marion T1 - Certified reference material BAM-L101 TiO2/SiO2 multilayer on BK7 glass PY - 2005 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l101repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25407 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L102 TiN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l102repe.pdf SP - 1 EP - 24 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25408 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L103 VN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l103repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25409 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Smith, D.T. A1 - Reiners, Georg A1 - Dapkunas, S.J. T1 - Mechanical properties of SiO2 and Si3N4 coatings: a BAM/NIST co-operative project N2 - Mechanical properties, i.e. hardness and elastic modulus, of amorphous SiO2 and Si3N4 PE-CVD coatings have been studied for two coating thicknesses (0.1 and 1.0 µm) and two substrate materials (fused silica, i.e. Herasil, and borosilicate glass, i.e., BK7) using low load instrumented indentation. The coating systems are being considered for possible use as reference materials for thin film mechanical property test methods. Single layers of SiO2 and Si3N4 and a multilayer stack consisting of five double layers of SiO2/Si3N4 (individual layer thickness: 0.1 µm) were investigated on both substrate materials. A special plasma pre-treatment of the substrates prior to deposition ensured that coating adhesion exceeded inner film stress for all systems considered. The applied indentation load ranged from 700 down to 0.1 mN and resulted in indentation depths from more than 1 µm to about 15 nm. The influence of coating thickness and the effect of the substrate on the measurement of hardness and elastic modulus of the films are discussed, with emphasis on the effects of indentation depth vs. coating thickness on the observed coating properties. One coating–substrate system (1.0 µm Si3N4 on Herasil) out of ten was found to be above a critical threshold for tensile cracking of the coating. In this system, termed ‘overcritical’, tensile cracks occurred both prior to, and as a result of, indentation, indicating that Berkovich indentation may also be used to probe residual film stress. KW - Indentation KW - Hardness KW - Modulus KW - Silica KW - Silicon nitride KW - Coatings KW - Thin films PY - 1998 U6 - https://doi.org/10.1016/S0040-6090(98)00989-4 SN - 0040-6090 VL - 332 IS - 1-2 SP - 164 EP - 171 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-25443 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias A1 - Mix, Renate A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Progress in Quantitative Adhesion Testing of Films and Coatings by means of Centrifuge Technology - Present State of the Art T2 - PSE 2012, 13th International Conference on Plasma Surface Engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2012-09-10 PY - 2012 AN - OPUS4-26123 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gaal, Mate A1 - Döring, Joachim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Beck, Uwe A1 - Weise, Matthias A1 - Bovtun, Viktor Petrovic A1 - Brekow, Gerhard A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - Parameter reproducibility of polypropylene ferroelectret transducers for air-coupled ultrasonic testing N2 - The extremely low acoustic impedance of polypropylene ferroelectret combined with its piezoelectric properties makes this material suitable for construction of aircoupled ultrasonic transducers for non-destructive testing. For the fabrication of transducers with a stable quality, the reproducibility of their key parameters is of interest. The reproducibility was evaluated by means of (i) impedance spectroscopy and (ii) pulse-echo measurements. (i) Impedance spectroscopy was applied to identify the resonance frequency, the coupling factor and the acoustic impedance of several nominally identical transducers. (ii) Pulse-echo measurements yielded the signal form of these transducers. The variation of the signal amplitude measured with pulseecho technique was about 10 dB. A part of this variation Comes from the deposition of transducer electrodes and another part from local variations of ferroelectret properties. The variation of the signal amplitude was caused by the observed variation of the coupling factor, which was also about 10 dB. The variation of the acoustic impedance was only about 1 dB, thus having no effect on the variation of the signal amplitude. These results indicate that the variability can be reduced by improving the control of electrode deposition and by optimizing the production technology affecting the reproducibility of material properties. T2 - 2011 IEEE International ultrasonics symposium (IUS) CY - Orlando, FL, USA DA - 18.10.2011 KW - Air-coupled ultrasonic transducers KW - Polypropylene ferroelectret KW - Reproducibility PY - 2011 IS - Abstract-ID 258 SP - 1 EP - 3 AN - OPUS4-26405 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haft- und Klebefestigkeit modifizierter Kunststoffoberflächen - Zentrifugentechnologie vs. konventionelle Prüfverfahren T2 - NEMO-Netzwerksymposium CY - Wildau, Germany DA - 2014-03-04 PY - 2014 AN - OPUS4-30118 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. A1 - Lindner, E. T1 - Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebverbunden im OKTETT T2 - Thüringer Grenz- und Oberflächentage CY - Leipzig, Germany DA - 2014-09-02 PY - 2014 AN - OPUS4-30127 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Rietz, U. A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine A1 - Beck, Uwe A1 - Lerche, D. T1 - Centrifuge technology revolutionises adhesion testing N2 - Composite materials fulfil a great variety of functions in a wide field of applications. Testing the composite properties under environmental conditions is a must for development and quality control. Common tensile strength test instruments have limitations, like single sample handling only. Present test methods for multi-layers, e.g. peel test, permit semi-quantitative ,or qualitative evaluation only. A new instrument based on analytical centrifugation is introduced, using centrifugal force as test load, permitting to determine bonding and adhesive strength of up to 8 samples simultaneously. KW - Adhesion KW - Testing KW - Composites KW - Coatings KW - Tensile strength KW - Analytical centrifugation KW - Zentrifugentechnologie KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Verbundfestigkeit PY - 2013 SN - 978-3-944261-28-7 VL - 4 SP - 1 EP - 4 PB - LUM GmbH CY - Berlin AN - OPUS4-30047 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine A1 - Mix, Renate A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Adhesive and Bonding Strengh - Comparative Study: Conventional Tests vs. Centrifuge Technology T2 - EUROMAT 2013 CY - Seville, Spain DA - 2013-09-08 PY - 2013 AN - OPUS4-30088 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Zentrifugentechnologie in der Beanspruchung auf Zug bzw. Druck: Klebfestigkeit, Schichthaftung, Materialhärte T2 - Metallographie-Tagung 2013 CY - Friedrichshafen, Germany DA - 2013-09-18 PY - 2013 N1 - Geburtsname von Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. - Birth name of Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. AN - OPUS4-30089 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Baier, Jennifa A1 - Mix, Renate A1 - Hidde, Gundula T1 - Plasma cleaning, activation and modification of surfaces for improved adhesive and bonding strength T2 - PSE-Conference CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2014-09-15 PY - 2014 AN - OPUS4-30132 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Daschewski, Maxim A1 - Harrer, Andrea A1 - Prager, Jens A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias T1 - Metallic nanofilm as resonance-free airborne ultrasound emitter N2 - A novel approach for the generation of broadband airborne ultrasound by using the thermo-acoustic effect is presented in this contribution. We investigate the applicability of resonance-free thermo-acoustic emitters for generation of very short high pressure airborne ultrasound pulses. A thermoacoustic emitter consisting of a 30 nm thin metallic film on a usual soda-lime glass substrate generates sound pressure values of more than 140 dB at 60 mm distance. The results are compared with conventional piezoelectric airborne ultrasound transducers. Our investigations show the applicability of the thermo-acoustic devices for broadband and high pressure ultrasound emitters using pulse excitation. T2 - 2012 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) CY - Dresden, Germany DA - 2012-10-07 KW - Thermo-acoustic KW - Broadband airborne ultrasound KW - Resonance-free ultrasound transducer KW - High pressure airborne ultrasound KW - Sound particle velocity measurement PY - 2012 SN - 978-1-4673-4562-0 U6 - https://doi.org/10.1109/ULTSYM.2012.0241 SN - 1948-5719 SP - 965 EP - 967 AN - OPUS4-29152 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias T1 - Uncertainty budgets in surface technology: stepheigt, layerthickness, indentation hardness, adehesive strength N2 - The object (sample) and the measurement/testing procedure may always have unknown degrees of freedom, i.e. instead of 𝐯 ≥ n – 1 in many cases 𝐯 ≫ n - 1 may apply, in particular in the micro- and nano-world! T2 - 10. VDI-Fachtagung, Messunsicherheit und Prüfprozesse CY - Erfurt, Germany DA - 10.11.2021 KW - Methodology in metrology KW - Methodology in testing KW - Spectroscopic Ellipsometry KW - Instrumented Indentation Testing (IIT) KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) PY - 2021 AN - OPUS4-53986 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Functional coatings for mechanical applications: characterization and standardization N2 - The paper addresses the “Functional coatings for mechanical applications: characterization and standardization” and the following points are discussed in more detail: 1. Mechanic alapplications (coatings for tools and components, system features vs. material parameters) 2. Mechanical characterization (instrumented indentation testing (IIT), centrifugal adhesion testing (CAT), state of standardization) 3. Topometric characterization (white light interference microscopy (WLIM, 3D), mechanical stylus (MS, 2D), state of standardization) 4. Optical characterization (spectroscopic ellipsometry (SE), inter-laboratory comparison, state of standardization) T2 - IC-CMTP6 CY - Miskolc, Hungary DA - 04.10.2021 KW - Spectroscopic Ellipsometry KW - White Light Interference Microscopy KW - Instrumented Indentation Testing KW - Functional coatings KW - Mechanical characterization KW - Optical characterization KW - Topometric characterization KW - Standardization PY - 2021 AN - OPUS4-53987 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, S. A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias T1 - Uncertainty budgets in surface techno-logy: step height, layer thickness, indentation hardness, adehesive strength N2 - The object (sample) and the measurement/testing procedure may always have unknown degrees of freedom, i.e. instead of 𝐯 ≥ n – 1 in many cases 𝐯 ≫ n - 1 may apply, in particular in the micro- and nano-world! T2 - 10. VDI-Fachtagung, Messunsicherheit und Prüfprozesse CY - Erfurt, Germany DA - 10.11.2021 KW - Methodology in metrology KW - Methodology in testing KW - Spectroscopic Ellipsometry KW - Instrumented Indentation (IIT) KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) PY - 2021 AN - OPUS4-53739 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Ermilova, Elena A1 - Schneider, S. A1 - Peters, S. T1 - Gemeinsamer Abschlussbericht WIPANO-Vorhaben „Standardisierung und Normung der Ellipsometrie als universeller Spektroskopie“ N2 - Im Vorhaben SNELLIUS wurden in enger Zusammenarbeit der BAM mit den Firmen Accurion und SENTECH Instruments aufbauend auf der Norm DIN 50989-1 „Ellipsometrie - Teil 1: Grundlagen; Ellipsometry – Part 1: Principles“ insgesamt fünf Normenentwürfe erarbeitet, die fünf Modell-basierten Anwendungsfällen der Ellipsometrie entsprechen. Unter Berücksichtigung des neuartigen Modell-basierten Normungskonzepts wurde in den Normenentwürfen erstmals eine GUM- und DIN EN ISO/IEC 17025:2018 konforme Bestimmung bzw. Abschätzung der Messunsicherheit umgesetzt. Dies erforderte neben der textlichen Erstellung auch umfangreiche experimentelle Arbeiten bei den Firmen, Vergleichsversuche und komplementäre Modell- und Datenevaluierungen, da sowohl die verwendete ellipsometrische Hardware (unterschiedliche ellipsometrische Funktionsprinzipien) als auch die ellipsometrische Software (Modell-Randbedingungen, Fitalgorithmus) firmenspezifisch zum Teil sehr unterschiedlich sind. Hierbei mussten in einem Konsensprozess Lösungen gefunden werden, die die beiden deutschen Ellipsometer-Anbieter Accurion (Imaging-Ellipsometrie) und SENTECH Instruments (Mapping Ellipsometrie) gleichermaßen akzeptieren konnten und die zudem einen Transfer auf die Internationale Ebene (ISO Norm) ermöglichen, also vom Grundsatz her auch auf weitere Ellipsometerhersteller wie (J. A. Woollam Co., USA; SEMILAB, Ungarn; HORIBA, Japan) mit wieder anderen ellipsometrischen Funktionsprinzipien, Hard- und Softwarelösungen anwendbar sind. Die weitgehende Unabhängigkeit von ellipsometrischen Funktionsprinzipien, Hard- und Softwarelösungen wurde dadurch erreicht, dass normativ festgelegt wurde, dass die ellipsometrischen Größen PSI und DELTA im Sinne von DIN ENISO/IEC 17025 als Rohdaten fungieren. KW - Ellipsometrie-Norm KW - Messunsicherheit ellipsometrischer Messungen KW - Validierungskonzepte ellipsometrischer Messungen KW - DIN 50989, Teile 1 bis 6 KW - DIN EN ISO/IEC 17025:2018 und GUM Kompatibilität PY - 2021 SP - 1 EP - 16 AN - OPUS4-52857 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Reetz, U. T1 - Vorhaben ZENSUS, BAM Vh-Nr. 6768 „Zentrifugentechnologie zur statistischen Untersuchung von Stumpfklebungen“ N2 - Das Vorhaben ZENSUS beschäftigt sich mit der Erstellung eines Normenentwurfs bzw. einer normen-konformen Technischen Spezifikation für die Zentrifugen-basierte Prüfung der Klebfestigkeit von Stumpfklebungen. Das umfasst auch umfangreiche Validierungsversuche, um mögliche Unterschiede zwischen Kraft-gesteuerter (Zentrifuge) und Weg-gesteuerter (Zugprüfmaschine) bzw. ggf. dazu korrelierte Materialabhängigkeiten mit ihren Auswirkungen auf SOPs zu identifizieren. Die Zentri-fugen-basierte Mehr-Proben-Prüfung von bis zu 8 Klebverbunden wird im Weiteren mit CAT-Technologie („Centrifugal Adhesion Testing“) abgekürzt. KW - Klebfestigkeit von Stumpfklebungen KW - EN 15870 KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) Technologie KW - Zugprüfung mittels Zugprüfmaschine KW - Zugprüfung mittels Zentrifugentechnologie PY - 2021 SP - 1 EP - 28 AN - OPUS4-52858 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Sahre, Mario A1 - Stockmann, Jörg Manfred A1 - Weise, Matthias T1 - Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: Generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit N2 - Der Vortrag widmet sich dem Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: Generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit. Es werden Untersuchungsmethoden zu ihrer Prüfung dargestellt. T2 - 37. ak-adp 2021, Jena CY - Online meeting DA - 16.06.2021 KW - Qualitätssicherung KW - Mapping modifizierter Oberflächen KW - Generische Kenngrößen KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit PY - 2021 AN - OPUS4-52870 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Stockmann, Jörg Manfred A1 - Weise, Matthias T1 - Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: Generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit N2 - Der Vortrag widmet sich dem Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit. Es werden Untersuchungsmethoden zu ihrer Prüfung dargestellt. T2 - 37. ak-adp 2021 CY - Jena, Germany DA - 16.06.2021 KW - Qualitätssicherung KW - Mapping modifizierter Oberflächen KW - Imaging modifizierter Oberflächen KW - Generische Kenngrößen KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit PY - 2021 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-52893 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Schukar, Vivien A1 - Basedau, Frank A1 - Hofman, Detlef A1 - Köppe, Enrico T1 - From on line sensor validation to in-situ monitoring of layer growth: coatings around fibre bragg gratings N2 - The lack of on-line validation procedures for structure-embedded fiber-optical strain sensors, in particular fiber-Bragg-gratings (FBG), resulted in limited applications in structural health monitoring (SHM). Degradation under service conditions and ageing as a result of climatic influences or delamination under load were unsolved Validation issues. This could be overcome by means of an auto-diagnosis procedure based on FBG-sensors coated by electrochemical deposition (ECD) with a magnetostrictive NiFe-coating on top of an adhesive Cu/Cr adhesive layer deposited by physical vapour deposition (PVD) around the FBG strain sensor. This allows at any time under Service a validation of sensor functionality, stability, and reliability. For this purpose, a magnetic strain-proportional reference field is introduced. The optical read-out is realized by the measurement of the Bragg-wavelength shift. The ratio of resulting strain and exciting magnetic reference field should be constant given that the sensor is in proper function. In principle, the magnetostrictive coating around the FBG should also work as on-line magnetic field sensor and other applications in material science. One of these applications is the in-situ monitoring of ECD processes as the deposition of the ECD NiFe-layer on the FBG revealed. Challenges are the monitoring of temperature, deposition stages/thickness, and resulting mechanical stress under given plating conditions. Monitoring problems can be solved by applying a pre-coated FBG to the electrolytic process as the shift of the Bragg wavelength is affected by both the temperature of the electrolyte near the substrate and the stress formation in the growing layer. The experimental FBG set-up and the quantitative determination of temperature- and stress-related strain are described for a nickeliron electrolyte. The in-situ measurement of Bragg wavelength shifts of a pre-coated FBG during electrochemical deposition allows a detailed analysis of stress states due to changes in the growth morphology of the layer. The separation of mechanical and thermal contributions to this shift provides information on the individual Deposition processes in terms of a process fingerprint. T2 - ICMCTF 2021 San Diego/on-line CY - Online meeting DA - 28.04.2021 KW - Fiber- Bragg-gratings (FBG) KW - Physical vapour deposition (PVD) KW - Electrochemical deposition (ECD) KW - Magnetostrictive coating KW - ECD NiFe-layer PY - 2021 AN - OPUS4-52898 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Windhövel, U. A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Reetz, U. T1 - Proposal for revision of en 15870 „Adhesives determination of tensile strength of butt joints” N2 - The paper addresses the PROPOSAL FOR REVISION OF EN 15870 „ADHESIVES -DETERMINATION OF TENSILE STRENGTH OF BUTT JOINTS” “ and the follow points are discussed in more detail: Adhesives-Determination of tensile strength of butt joints, Introduction of Centrifugal Adhesion Testing, Comparison of Testing Methods. T2 - CEN TC 193 Madrid CY - Online meeting DA - 04.03.2021 KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) KW - DIN EN ISO/IEC 17025 KW - Adhesives - Determination PY - 2021 AN - OPUS4-52900 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Daum, Werner A1 - Gong, Xing A1 - Hofmann, Detlef A1 - Basedau, Frank A1 - Schukar, Vivien A1 - Westphal, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe T1 - New self - diagnostic fiber optical sensor technique for structural health monitoring N2 - Fiber optic sensors have gained increasing importance in recent years and are well established in many areas of industrial applications. In this paper, we introduce a concept of a self-diagnostic fiber optic sensor. The presented sensor is to resolve the problems of embedded fiber optic sensors in complex structures and to enable the validation under operational conditions. For this purpose, different magnetostrictive coated fiber optic sensors were developed and various experiments were performed to verify their mode of Operation and to determine the respective reproducibility. The measuring principle is illustrated by obtained experimental results, which showed a change in wavelength from 1 pm at a magnetic field strength change of 0.25 mT. In addition, the temperature characteristics of the implemented magnetostrictive sensor were analyzed and an experimental factor of 1.5 compared to a reference fiber optic sensor was determined. T2 - 32nd DANUBIA ADRIA SYMPOSIUM on Advances in Experimental Mechanics CY - Starý Smokovec, Slovakia DA - 22.09.2015 KW - Self-diagnostic fiber optical sensor KW - Magnetostrictive metal coating KW - Magnetic field KW - Fiber bragg grating PY - 2016 U6 - https://doi.org/10.1016/j.matpr.2016.03.038 SN - 2214-7853 VL - 3 IS - 4 SP - 1009 EP - 1013 AN - OPUS4-37131 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gaal, Mate A1 - Daschewski, Maxim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Schadow, Florian A1 - Dohse, Elmar A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Weise, Matthias A1 - Beck, Uwe T1 - Novel air-coupled ultrasonic transducer combining the thermoacoustic with the piezoelectric effect N2 - In recent years, there has been an increasing industrial demand for one-sided inspection of various structures by means of air-coupled ultrasonic technique. Lightweight structures based on carbon-fibre-reinforced polymers may have very complex shapes, making air-coupled transmission difficult or even impossible. The inspection of concrete structures is another example where one-sided inspection is required. To address these challenges a new type of transducer for air-coupled pulse-echo inspection was developed, which unites two principles: thermoacoustic emission and piezoelectric reception. The thermoacoustic emitter is a titanium electrode with a thickness of several tens of nanometer. This electrode was deposited onto charged cellular polypropylene, which serves as a piezoelectric receiver. The thermoacoustic transmission is based on a transformation of the thermal energy of an electrically heated electrode into the acoustic energy of an ultrasonic wave. Thermoacoustic emitters provide resonance-free behaviour and thus extremely broadband pulses. Charged cellular polypropylene is piezoelectric due to the polarization of its cells and it is well matched to air, with a Young modulus in the order of magnitude of MPa. In this contribution we present some pulse-echo measurements with the first prototypes of the combined thermoacoustic-piezoelectric transducer. T2 - World Conference of Non-Destructive Testing CY - Munich, Germany DA - 13.6.2016 KW - Thermoacoustic KW - Piezoelectric KW - Ultrasonic transducer KW - Ferroelectret PY - 2016 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-367151 VL - 158 SP - Mo.1.F.4, 1 EP - 6 AN - OPUS4-36715 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe ED - Baier, Jennifa ED - Sahre, Mario ED - Weise, Matthias ED - Dähne, L. ED - Lerche, K.-H. T1 - Plasma Compatibility of Particles for Functional PVD-coatings by ex-situ Injection - Stability of Particles under Plasma Conditions N2 - The validation of the plasma compatibility of particles is a prerequisite for their application in plasma dispersion layers. The goal is the realization of functional add-on features on surfaces, in films and coatings. Although intended applications primarily address nanoparticles, the compatibility tests were carried out at first with particles in the lower micrometer range in order to investigate material-, fluorescent marker- or surface-based degradation effects in a simple manner. Plasma compatibility implies at least the short-term acceptance of charged species, plasma-UV radiation, vacuum and elevated temperatures. Otherwise, effects on geometrical dimensions, chemical bonds, fluorescence efficiency and plastic-elastic properties are expected. The plasma compatibility of monodisperse fluorescent-labeled particles to microwave excitation was evaluated by means of microscopic and spectroscopic investigation methods (light, fluorescence, confocal, atomic force microscopy and FTIR). This study comprises particles of different materials (SiO2, PMMA, PS, MF) and sizes (from 50 nm to 10 μm). A special preparation technique ensures that smallest geometry changes of particles can be measured by atomic force microscopy. For the selected plasma conditions (P = 600 W, f = 2.46 GHz, d = 10 cm) and an exposure time of 10 minutes, the geometry of SiO2 particles (approx. 1.7 μm) remains nearly unchanged, whereas PS particles shrink in diameter by 6% and PMMA particles by 11%. For selected core-particles (SiO2, MF) with fluorescencemarked (rhodamine) shell-polyelectrolytes no remarkable plasma degradation of the fluorescence intensity was observed for the above mentioned plasma conditions, however a doubling of exposure time already results in a significant decrease in intensity. Two different injection systems have been studied for the particle injection into the plasma deposition process. One of the selected systems also proves process compatibility regarding the expected pressure differences upon injection. T2 - PARTEC 2016, International Congress on Particle Technology CY - Nürnberg, Germany DA - 19.04.2016 KW - plasma dispersion layers KW - functional PVD coatings KW - particle injection PY - 2016 SN - 978-3-18-092283-6 SN - 0083-5560 SP - 6. Applications of Particle Technology/6.11_Beck_Uwe PB - VDI Wissensforum GmbH CY - Düsseldorf AN - OPUS4-37265 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Schelero, Natascha A1 - Dähne, L. A1 - Lerche, K.-H. T1 - Plasma compatibility of particles for functional PVD-coatings by ex-situ injection N2 - The validation of the plasma compatibility of particles is a prerequisite for their application in plasma dispersion layers. The goal is the realization of functional add-on features on surfaces, in films and coatings. Although intended applications primarily address nanoparticles, the compatibility tests were carried out at first with particles in the lower micrometer range in order to investigate material-, fluorescent marker- or surface-based degradation effects in a simple manner. Plasma compatibility implies at least the short-term acceptance of charged species, plasma-UV radiation, vacuum and elevated temperatures. Otherwise, effects on geometrical dimensions, chemical bonds, fluorescence efficiency and plastic-elastic properties are expected. The plasma compatibility of monodisperse fluorescent-labeled particles to microwave excitation was evaluated by means of microscopic and spectroscopic investigation methods (light, fluorescence, confocal, atomic force microscopy and FTIR). This study comprises particles of different materials (SiO₂, PMMA, PS, MF) and sizes (from 50 nm to 10 μm). A special preparation technique ensures that smallest geometry changes of particles can be measured by atomic force microscopy. For the selected plasma conditions (P = 600 W, f = 2.46 GHz, d = 10 cm) and an exposure time of 10 minutes, the geometry of SiO₂ particles (approx. 1.7 μm) remains nearly unchanged, whereas PS particles shrink in diameter by 6% and PMMA particles by 11%. For selected core-particles (SiO₂, MF) with fluorescencemarked (rhodamine) shell-polyelectrolytes no remarkable plasma degradation of the fluorescence intensity was observed for the above mentioned plasma conditions, however a doubling of exposure time already results in a significant decrease in intensity. Two different injection systems have been studied for the particle injection into the plasma deposition process. One of the selected systems also proves process compatibility regarding the expected pressure differences upon injection T2 - PARTEC 2016 - International Congress on Particle Technology CY - Nürnberg, Germany DA - 19.04.2016 KW - plasma dispersion layers KW - functional PVD coatings KW - particle injection PY - 2016 AN - OPUS4-37269 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Beck, Uwe T1 - Oberflächenaktivierung von Polymeren mittels O2-Plasma N2 - Zur Verbesserung der Verbundfestigkeit kann beim Kleben [1] oder Beschichten von Polymeren die Oberfläche mittels 02-Plasma gereinigt (Feinstreinigung) und aktiviert werden. Bei der Plasmaaktivierung werden sauerstoffhaltige funktionelle Gruppen auf der Oberfläche gebildet. Die Polymersubstrate wurden mit 02-Plasma behandelt, zum einen mit einem Plasmajet bei 200 W (PP, PA) und zum anderen mit einem Mikrowellenplasma bei 100 W (Folie: PE, PP, PS, PC, PET), mittels FTIR-Spektroskopie (p-ATR) charakterisiert sowie die Änderung der Oberflächenenergie mittels Kontaktwinkelmessung bestimmt. T2 - 10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium CY - Leipzig, Germany DA - 02.09.2014 KW - Plasma KW - Oberflächenaktivierung PY - 2014 SP - 1 EP - 2 AN - OPUS4-31337 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate A1 - Weise, Matthias T1 - Multiple-sample approach: reliable ranking and validated statistics of bonding and adhesive strength N2 - Bonding strength of adhesive-bonded joints and adhesive strength of coatings have been exclusively determined in single-sample tests using a tensile testing machine. Necessarily, the single-sample approach was also applied to the corresponding bonding procedure. As a consequence, reliability and reproducibility of results were restricted. By applying the newly introduced centrifuge technology, the multiple-sample approach was realized for simultaneous tensile testing of up to eight samples under identical conditions without any disturbing shear-force effects. In order to introduce the multiple-sample approach into the bonding procedure, a hydraulic bonding set-up was developed which enables identical bonding pressure also for slightly different heights of sample assemblies. Both sample approaches were compared for various application examples: ranking of different classes of adhesives, validated statistics of adhesive-bonded joints using one particular adhesive and effects of cleaning and plasma-treatment on the adhesive strength of coatings. The investigated systems included glass, metals and polymer substrates, different adhesives, metallic and dielectric coatings on polymers. KW - Bonding strength KW - Adhesive strength KW - Multi-sample approach KW - Centrifuge technology PY - 2014 SN - 978-3-944261-28-7 SN - 978-3-944261-36-2 SN - 978-3-944261-52-2 VL - 5 SP - 1 EP - 5 AN - OPUS4-31310 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine T1 - Determination of bonding, adhesive and composite strength by means of centrifuge technology N2 - The quality and durability of bonded joints, coated systems and composites depend on various factors. Therefore effective quantitative tests to determine adhesive, bonding or composite strength are of great need for R&D and QC. In this paper a new measuring principle is described which uses the centrifugal force to generate the test load. By the geometry of the whole measurement set-up, the test specimen are supported from only one side, the influence of shear forces is avoided. The possibility to test up to eight samples in one measurement under identical testing conditions allows a high sample throughput. A detailed description of the whole sample preparation procedure including pre-treatment is followed by the specification of the measuring protocol as well as result analysis. For each application area bonding strength of joints, adhesive strength of coated systems and internal strength of composite materials examples are presented. T2 - EURADH 2014 - 10th European Adhesion Conference CY - Alicante, Spain DA - 22.04.2014 KW - Adhesive strength KW - Bonding strength KW - Composites KW - Centrifuge technology KW - Zentrifugentechnologie KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Prüfen/Kleben PY - 2014 SN - 978-84-616-9067-1 SN - 84-616-9067-2 SP - Paper 47, 203 EP - 206 AN - OPUS4-31311 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lange, Thorid A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Tsoviaki, Anna A1 - Lindner, E. T1 - OKTETT – Acht auf einen Streich: Verbundfestigkeit vs. Schälwiderstand von Klebebändern N2 - Zur Bewertung der Klebkraft von Klebebändern werden üblicherweise die Prüfungen zur Bestimmung des Schälwiderstandes (in N/25 mm) mit 90° bzw. 180° Abzugswinkel unter Verwendung einer Zugprüfmaschine (ZP) herangezogen, Für die hier gezeigten Beispiele wurde dabei eine V2A-Prüfplatte (Ra = 0,15 pm), ein Abzugswinkel von 90° und eine Abzugsgeschwindigkeit von 300 mm/min verwendet. Alternativ wurde der Versuch unternommen, die Klebkraft von Klebebändern durch die Prüfung der Verbundfestigkeit (in N/mm2) mittels Zentrifugen-Technologie (ZT) zu bestimmen. Dazu wurden beidseitig klebende Klebeband-Pads einer Abmessung von (10x10) mm2 zunächst auf V2A-Stahlsubstrate aufgebracht und anschließend dann auf diese modulare Prüfstempel (Klebfläche aus V2A, 0=10 mm; Massekörper aus Cu) aufgesetzt. In Abb. 1 sind Beispiele von Versagensformen, wie sie nach der Prüfung der Verbundfestigkeit mittels ZT auftreten können, dargestellt. T2 - 10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium CY - Leipzig, Germany DA - 02.09.2014 KW - Mehr-Proben-Kleb-Vorrichtung KW - Zentrifugen-Technologie KW - Schälwiderstand KW - Verbundfestigkeit PY - 2014 SP - P05, 1 EP - 2 AN - OPUS4-31312 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebverbunden im OKTETT T2 - 10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium CY - Leipzig, Germany DA - 2014-09-02 KW - Zentrifugentechnologie KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Prüfen/Kleben PY - 2014 SP - BA04, 1 EP - 2 AN - OPUS4-31313 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate A1 - Weise, Matthias T1 - Multiple-sample approach: reliable ranking and validated statistics of bonding and adhesive strength N2 - Bonding strength of adhesive-bonded joints and adhesive strength of coatings have been exclusively determined in single-sample tests using a tensile testing machine. Necessarily, the single-sample approach was also applied to the corresponding bonding procedure. As a consequence, reliability and reproducibility of results were restricted. By applying the newly introduced centrifuge technology, the multiple-sample approach was realized for simultaneous tensile testing of up to eight samples under identical conditions without any disturbing shear-force effects. In order to introduce the multiple-sample approach into the bonding procedure, a hydraulic bonding set-up was developed which enables identical bonding pressure also for slightly different heights of sample assemblies. Both sample approaches were compared for various application examples: ranking of different classes of adhesives, validated statistics of adhesive-bonded joints using one particular adhesive and effects of cleaning and plasma-treatment on the adhesive strength of coatings. The investigated systems included glass, metals and polymer substrates, different adhesives, metallic and dielectric coatings on polymers. T2 - EURADH 2014 - 10th European Adhesion Conference CY - Alicante, Spain DA - 22.04.2014 KW - Bonding strength KW - Adhesive strength KW - Multi-sample approach KW - Centrifuge technology PY - 2014 SN - 978-84-616-9067-1 SN - 84-616-9067-2 SP - Paper 49, 211 EP - 214 AN - OPUS4-31309 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate A1 - Weise, Matthias T1 - Multiple-sample Approach: Reliable Ranking and Validated Statistics of Bonding and Adhesive Strength T2 - EURADH 2014 CY - Alicante, Spain DA - 2014-04-22 PY - 2014 N1 - Geburtsname von Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. - Birth name of Kittler-Packmor, Kai: Kittler, K. AN - OPUS4-30305 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja A1 - Wegwerth, Tillmann A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik T2 - ZMDB-Workshop CY - Berlin, Deutschland DA - 2014-11-27 PY - 2014 AN - OPUS4-32111 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lerche, D. A1 - Beck, Uwe A1 - Rietz, U. A1 - Hielscher, Stefan T1 - Determination of adhesive, bonding and composite strength by ACSD-technology: A new multiple-sample absolute measurement technique based on analytical centrifugation T2 - WCARP-V CY - Nara, Japan DA - 2014-09-07 PY - 2014 AN - OPUS4-30914 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hidde, Gundula A1 - Baier, Jennifa A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate T1 - Plasma Cleaning, Activation and Modification of Surfaces for Improved Adhesive and Bonding Strength T2 - International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2014-09-15 PY - 2014 AN - OPUS4-31498 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Mehr-Proben-Festigkeitsprüfung mittels Zentrifugentechnologie in den Beanspruchungen auf Zug und Druck: Klebfestigkeit, Schichthaftung, Materialhärte T2 - Tagung Werkstoffprüfung 2014 CY - Berlin, Germany DA - 2014-12-04 PY - 2014 AN - OPUS4-30582 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hielscher, Stefan A1 - Mix, Renate A1 - Hidde, Gundula T1 - Metallische und oxidische Schichtsysteme auf Polymeren: Haftvermittler, Haftfestigkeit, Versagensformen T2 - NDVak - Polymer CY - Dresden, Germany DA - 2014-11-12 PY - 2014 AN - OPUS4-31471 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias T1 - Imaging of Impurities and Imperfections, Micro- and Nano-scaled Pattern on Surfaces and in Films: Microscopic Techniques vs. Ellipsometry T2 - ICMCTF CY - Santa Clara, CA, USA DA - 2015-04-27 PY - 2015 AN - OPUS4-31454 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan T1 - Adhesion and Failure Pattern of Optical Coatings on Polymers and Glass T2 - ICMCTF CY - San Diego, CA, USA DA - 2015-04-20 PY - 2015 AN - OPUS4-31455 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Multiple-sample strength testing within a centrifuge: tensile and compressive stress conditions T2 - IC-CMTP3 CY - Miskolc-Tapolca, Hungary DA - 2014-10-06 PY - 2014 AN - OPUS4-31685 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Hielscher, Stefan A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebeverbunden im OKTETT T2 - 10. Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Leipzig, Germany DA - 2014-09-02 PY - 2014 AN - OPUS4-31064 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Qualitätssicherung für die Dünnschichttechnik mit optischen Verfahren T2 - Fokusseminar Dünnschichttechnik des OpTecBB CY - Berlin, Germany DA - 2009-03-31 PY - 2009 AN - OPUS4-19006 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Charakterisierung realer, strukturierter und beschichteter Oberflächen für den sterilen Behälter- und Anlagenbau T2 - Konferenz Oberflächentechnologien im Maschinen- und Anlagenbau CY - Halle (Saale), Germany DA - 2009-11-25 PY - 2009 AN - OPUS4-19567 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Sahre, Mario A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias T1 - Optical Mapping and Imaging for Quality Control of Thin Films and Surfaces T2 - ICCG 8, The 8th International Conference on Coatings on Glass and Plastics - Advanced Coatings for Large Area or High-Volume Products CY - Braunschweig, Germany DA - 2010-06-13 PY - 2010 AN - OPUS4-21586 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Krüger, Hannes A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Kemnitz, E. T1 - Low temperature sol-gel metal oxide and fluoride layer stacks for optical applications N2 - MgF2 and TiO2 single layers and layer stacks were produced by a spin-coating sol-gel process. The final temperature treatment was carried out at 100 °C. The layers were deposited onto silicon and fused silica substrates and were analysed by means of atomic force microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, transmission electron microscopy, ellipsometry, and UV-vis transmission spectroscopy. MgF2 and TiO2 single layers have morphological and optical properties comparable with physical vapour deposited layers. By using spectroscopic mapping ellipsometry, a good inter- and intra-sample homogeneity was confirmed. Multiple deposition steps result in a linear increase of layer thickness. Various films were deposited with thicknesses between 25 nm and 350 nm. It was shown that the low temperature sol-gel process results in films of optical quality. Anti-reflective and high reflective layer stacks consisting of MgF2 and TiO2 were designed and can be produced now by a sol-gel process, whereas the MgF2 layers in the layer stacks contains also traces of MgF2-2xOx. KW - Magnesium fluoride KW - Titanium oxide KW - Sol-gel KW - Spin-coating KW - Optical properties KW - Optical layer stacks KW - MgF2 KW - TiO2 PY - 2010 U6 - https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.06.025 SN - 0040-6090 VL - 518 IS - 21 SP - 6080 EP - 6086 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-21516 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Männ, Marion T1 - Ellipsometry and Standardization: Validation of Models - Key Issue for Reference Coatings and Non-ideal Samples N2 - Standardisation of ellipsometry is mainly based on three documents: pioneering work at NIST [1] on film standards, a publicly available specification and stan-dard testing procedure [2] for real-world samples by BAM and a standard specification for integrated metrology by SEMI [3]. Other activities refer to inter-laboratory comparisons for selected layer/substrate systems and analytical methods including ellipsometry [4] and the development of combined standards for thickness d and step height h [5]. Generally, precision of ellipsmetry in terms of raw data Ψ and Δ meets the major demands for all ellipsometric principles (RPE, RAE, PME, RCE, NE). As a result, fingerprint capabilty is al-most perfect for various layer/substrate systems. However, this is not true for accuracy in terms of physical quantities such as thickness d, optical (n, k) and dielectric constans (ε1, ε2,) as modelling is required. Hence, the layer/substrate and material dependent validation of models is nowadays a key issue. In contrast to the sub-nanometer sensi-tivity in vertical direction, the effective lateral resolution of almost all ellipso-metric principles except for imaging null ellipsometry is rather poor, usually be-yond 100 µm. Hence, nanometer-scaled homogeneity testing and the measurement of micro- and nanopatterned structures is not feasible by standard configurations. KW - Ellipsometry KW - Standardisation KW - Reference Coatings KW - Non-ideal samples KW - Validation of models PY - 2008 IS - 2 SP - 6 EP - 7 AN - OPUS4-18673 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Surface modification by means of vacuum-based plasma technology: industrial and institutional players, status, trends, application areas and networking in Germany T2 - 2nd International Symposium of Plasma Center for Industrial Applications (PLACIA) CY - Nagoya, Japan DA - 2009-11-18 PY - 2009 AN - OPUS4-19929 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Koter, Robert A1 - Weise, Matthias A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Krüger, Jörg T1 - Influence of film thickness and optical constants on femtosecond laser-induced ablation of hydrogenated amorphous carbon films N2 - Hydrogenated amorphous carbon layers were deposited on BK7 glass in a plasma-assisted chemical vapor deposition process. Low and high refracting films with thicknesses d ranging from 11 nm to 5.8 µm were produced having refractive indices n between 1.68 and 2.41 and linear absorption coefficients of α~100 cm-1 and α~20000 cm-1 at 800 nm wavelength as a result of different plasma modes. Laser ablation thresholds Fth in dependence on d were determined using 30-fs laser pulses. Low absorbing layers show a constant Fth while Fth increases with rising d up to the optical penetration depth of light α-1 for high absorbing films. KW - Physical radiation damage (61.80.-x) KW - Laser-beam impact phenomena (79.20.Ds) KW - Radiation treatment (81.40.Wx) KW - Carbon (81.05.Uw) KW - Optical constants (78.20.Ci) PY - 2010 SN - 1454-4164 VL - 12 IS - 3 SP - 663 EP - 667 PB - INOE & INFM CY - Bucharest AN - OPUS4-21084 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Verification and Authentication of Surface- and Layer-embedded information for Anti-counterfeiting Applications by Imaging Ellipsometry T2 - 6th Workshop Ellipsometry CY - Berlin, Germany DA - 2011-02-21 PY - 2011 AN - OPUS4-22434 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Reiners, Georg T1 - Haftfestigkeitsprüfung mittels Zentrifugenversuch T2 - DGO AnSim Verwertungsworkshop CY - Berlin, Germany DA - 2011-03-23 PY - 2011 AN - OPUS4-23299 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hönig, D. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Verification and Authentication of Surface- and Layer-embedded Information for Anticouterfeiting Applications by Imaging Ellipsometry T2 - 6th Workshop Ellipsometry CY - Berlin, Germany DA - 2011-02-21 PY - 2011 AN - OPUS4-23300 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias ED - Uhlmann, E. T1 - Ellipsometrische Codierung & Fabry-Perot Schichtsysteme mit offenen, versteckten und forensischen Merkmalen zur Produkt-Authentifizierung T2 - 3. Internationaler Kongress - Sichere Identität CY - Berlin, Deutschland DA - 2011-04-05 KW - Ellipsometric encoding KW - Fabry-Perot layer stacks KW - Product authentification PY - 2011 SP - 1 EP - 4(?) CY - Berlin AN - OPUS4-23306 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Niederwald, H. T1 - Quantitative adhesion testing of optical coatings by means of centrifuge technology N2 - Although adhesion testing of coatings is of fundamental interest for quality assurance, it is still a challenge regarding reliable quantitative results. Because of the huge variety of coating/ substrate systems in terms of materials and thickness range, adhesion tests display the same variety as coating/substrate systems. Some tests are qualitative, many are quantitative but except for the pull (DIN EN ISO 15870) and pull-off test (DIN EN ISO 4624) adhesion is not measured in terms of force per area. For optical coatings, the standardized tests according to ISO 9211-4 apply, i.e. abrasion tests (cheese cloth or eraser test) and adhesion tests (tape or cross-hatch test) with different degrees of severity. Instead of the adhesion strength, all these single-sample tests provide only quantitative information on the abrasion or adhesion resistance of a particular coating/ substrate system. The centrifuge test has manifold advantages. First, it can be easily run as multiple-sample test. Second, adhesion strength is measured in absolute numbers (N/mm2). Third, the centrifuge test requires only a one-sided sample support instead of a two-sided sample clamping as the pull- and pull-off test do. Fourth, it is much easier and faster than many other tests. Fifth, the centrifuge technology additionally enables tests under defined climates or harsh environments. Last but not least, versatile test conditions (alternating loads at various load rates) important to fatigue testing can be easily realized by varying the number of revolutions. The centrifuge test was applied to the testing of optical coatings on glass and CaF2. It could be shown that there are significant advantages compared to other tests. In particular, the centrifuge test was able to discriminate the adhesion strength for coating/substrate systems until failure which all passed the standardized tests of ISO 9211-4. KW - Adhesion strength KW - Bonding strength KW - Optical coatings KW - Pull-off test KW - Centrifuge test KW - Quantitative adhesion testing PY - 2011 U6 - https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2011.02.016 SN - 0257-8972 VL - 205 IS - Supplement 2 SP - S182 EP - S186 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-23285 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Nooke, Alida A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krause, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Lohse, Volkmar A1 - Negendank, Detlef A1 - Steinbach, J. T1 - Ellipsometric detection of gases with the surface plasmon resonance effect on gold top-coated with sensitive layers N2 - An ellipsometric gas sensor based on the surface Plasmon resonance (SPR) effect of ~ 43 nm thick gold layers was investigated. To protect the gold layer from contamination and to improve the detection limits, the gold layers were top-coated with 5–6 nm thick layers of organic a-C:H or with inorganic metal oxides TiO2 or ZrO2. The additional layers increased the long-term stability, whereas the metal oxide layers protect better than a-C:H. Furthermore, the additional layers decreased the detection limits by one order of magnitude in case of a-C:H and two orders of magnitude in case of the oxides. It could be shown that the detection limits also depend on the kind of preparation (sol–gel process or physical vapour deposition) of the additional layers. KW - Gas sensor KW - SPR KW - Ellipsometry KW - Sensitive layer KW - TiO2 KW - ZrO2 KW - a-C:H PY - 2011 U6 - https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.11.091 SN - 0040-6090 VL - 519 IS - 9 SP - 2659 EP - 2663 PB - Elsevier B.V. CY - Amsterdam AN - OPUS4-23353 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Conventional Testing of Bonding and Adhesive Strength vs. Centrifuge Test T2 - DGO AnSim Verwertungsworkshop CY - Berlin, Germany DA - 2011-03-23 PY - 2011 AN - OPUS4-23417 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Sahre, Mario A1 - Gamer, N. A1 - Wegwerth, Tillmann T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen für die Steriltechnik T2 - 3-Länderkorrosionstagung CY - Basel, Switzerland DA - 2009-04-20 PY - 2009 AN - OPUS4-19102 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Baier, Jennifa A1 - Lange, Thorid A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe T1 - Zerstörungsfreie Prüfung von Zinkschichten N2 - Zinkschichten wurden mit den zerstörungsfreien Methoden Röntgenfluoreszenz (XRF), mechanischer Tastschnitt (MS), Röntgenbeugung (XRD) und instrumentierter Eindringprüfung (IIT) hinsichtlich der makroskopischen und mikroskopischen Schichteigenschaften untersucht. Die Rauheit der Zinkschichten hängt im Wesentlichen von der Substratoberfläche ab. Inhomogenen Schichtdickenverteilung treten bekanntermaßen am Rand von Beschichtungsgestellen auf. Die plasto-elastische Eigenschaften Härte, E-Modul und Kriechen sind bei unterschiedlichen Abscheidungen vergleich- und reproduzierbar. Diese makroskopischen Schichteigenschaften sind geprägt von der Mikrostruktur der Schicht, die eine Vorzugsorientierung der Kristallite in der Netzebene (110), die senkrecht zur Substratoberfläche steht, zeigt. PY - 2009 SN - 0016-4232 VL - 100 IS - 5 SP - 1034 EP - 1040 PB - Leuze CY - Saulgau, Württ. AN - OPUS4-19457 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Niederwald, H. T1 - Centrifuge Technology: A Breakthrough in Adhesion Testing of Optical Coatings T2 - ICMCTF 2010 CY - San Diego, CA, USA DA - 2010-04-26 PY - 2010 AN - OPUS4-20038 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Surface Modification by menas of Vaccum-based Plasma Technology: Application Areas, Satus, Trends in Germany T2 - 2. PLACIA Symposium CY - Nagoya, Japan DA - 2009-11-17 PY - 2009 AN - OPUS4-20041 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Gamer, Nadja A1 - Wegwerth, Tillmann T1 - Charakterisierung realer, modifizierter und beschichteter Oberflächen für den sterilen Behälter- und Anlagenbau KW - Steriltechnik KW - Oberflächentechnik KW - Oberflächenmesstechnik KW - Plasmabeschichtung KW - Partikel-Haftung PY - 2009 VL - 18 IS - 4 SP - 10 EP - 15 CY - Magdeburg AN - OPUS4-20307 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, Uwe T1 - Messung der Schichthaftung mit der Zentrifugenmethode T2 - Nano-Cluster Bodensee (NCB) CY - St. Gallen, Switzerland DA - 2010-01-19 PY - 2010 AN - OPUS4-20605 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Rybachuk, Maksym A1 - Hertwig, Andreas A1 - Weise, Matthias A1 - Sahre, Mario A1 - Männ, Marion A1 - Beck, Uwe A1 - Bell, J. M. T1 - Near infrared optical materials from polymeric amorphous carbon synthesized by collisional plasma process N2 - The synthesis of polymerlike amorphous carbon (a-C:H) thin-films by microwave excited collisional hydrocarbon plasma process is reported. Stable and highly aromatic a-C:H were obtained containing significant inclusions of poly(p-phenylene vinylene) (PPV). PPV confers universal optoelectronic properties to the synthesized material. That is a-C:H with tailor-made refractive index are capable of becoming absorption-free in visible (red)-near infrared wavelength range. Production of large aromatic hydrocarbon including phenyl clusters and/or particles is attributed to enhanced coagulation of elemental plasma species under collisional plasma conditions. Detailed structural and morphological changes that occur in a-C:H during the plasma synthesis are also described. KW - Kohlenstoffschichten KW - Plasmachemie KW - PA-CVD KW - Amorphous state KW - Carbon KW - Coagulation KW - Hydrogen KW - Optical materials KW - Plasma collision processes KW - Plasma deposition KW - Refractive index KW - Thin films PY - 2010 U6 - https://doi.org/10.1063/1.3431292 SN - 0003-6951 SN - 1077-3118 VL - 96 IS - 21 SP - 211909-1 - 211909-3 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-21365 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Funktionalisierung von Oberflächen mittels Mikro- und Nanotechnologien T2 - Measurement Valley Workshop "Funktion und Oberflächen" CY - Göttingen, Germany DA - 2010-02-10 PY - 2010 AN - OPUS4-22962 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Conventional Testing of Bonding and Adhesive Strength vs. Centrifuge Test T2 - NIST-Workshop CY - Gaithersburg, MD, USA DA - 2011-04-27 PY - 2011 AN - OPUS4-23687 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe T1 - Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance N2 - The paper addresses the „Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance“ and the following points are discussed in more detail: thin film analysis, major trends regarding optical measuring methods. KW - optische Konstanten KW - Ellipsometrie KW - Klassifizierungssystem KW - Optical konstantyss KW - Ellipsometry KW - Classification stem PY - 2015 SP - 35 EP - 35 AN - OPUS4-37949 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Characterization of Materials: Uncertainty Budgets in Measurement and Testing N2 - The comprehensive knowledge of material properties as engineered and the material behavior in use is of huge importance for the functionality and reliability of processes and products. Hence, the accurate determination of material properties is a prerequisite for the applicability of a given material. Nowadays, macroscopic product features are originated by material properties on the microscopic and nanoscopic scale. This is a general challenge for uncertainty budgets in measurement and testing based on a conformity assesment. Testing labs accreditated according to DIN EN ISO/IEC 17025 have to meet these demands. This paper focuses on the measurement of physical quantities (measurand with value and unit) and on the testing of material properties (qualitative, semi-quantitative or quantitative characteristics) of solid state materials. For both measurement and testing, the expression of uncertainty according to GUM is essential. Regarding the object/sample one has to subdivide in surface and bulk features, from the measurement/testing point of view destructive vs. nondestructive procedures have to be distinguished. Moreover, direct mesurement/testing and model-based determination of quantities/properties of interest require different approaches regarding the expression of uncertainty. For surface quantities and properties as discussed here, further considerations have to be made with respect to localized (lateral extension, native or artificial) or stratified (homogeneity and isotropy) material features vs. mapping (integration area) and imaging (lateral resolution and field of analysis) specifications of the measurement/testing procedure. The concept of uncertainty budgets and the expression of uncertainty is introduced and discussed in more detail for the nondestructive model-based determination of thickness by spectroscopic ellipsometry (SE), the destructive determination of adhesion by means of centrifugal adhesion testing (CAT). It is shown that the expression of uncertainty for these examples and real materials requires different approaches resulting in either quantitity values with unit or qualitative/quantititative attributes with calculated/estimated uncertainties in agreement with GUM. T2 - The 4th International Conference on Competitive Materials and Technology Processes, ic-cmtp4, 2016 CY - Miskolc-Lillafüred, Hungary DA - 03.10.2016 KW - Measurement and testing KW - Uncertainty budgets KW - Expression of uncertainty PY - 2016 AN - OPUS4-37841 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schukar, Vivien A1 - Köppe, Enrico A1 - Hofmann, Detlef A1 - Westphal, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Gong, Xin A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Beck, Uwe T1 - Magnetic field detection with an advanced FBG-based sensor device N2 - A high-performance fiber Bragg grating-based (FBG) sensor device has been developed for the detection of small magnetic fields. Based on a smart multilayer jacket around the fibre over the physical length of the FBG, magnetic fields generated by rotating machine parts, power generators or power cable can be easily detected, analysed and evaluated. Consequently, this innovative, on-line and non-contact inspection method results in an increase in quality and reliability of high-performing machine parts, devices and cables. The basic physical principle is based on a magnetostrictive multilayer system that strains the high-resolution FBG element in presence of magnetic fields. Subsequently, a fixed relationship between induced magnetic field and wavelength change of the FBG element describes the characteristic sensitivity curve. Intensive tests regarding characterisation of this magnetic field FBG sensor have been carried out and its performance has been evaluated. T2 - 30th Eurosensors Conference, EUROSENSORS 2016 CY - Budapest, Hungary DA - 04.09.2016 KW - Fiber Bragg grating KW - Magnetostriction KW - Strain KW - Magnetic field PY - 2016 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-376703 SN - 1877-7058 VL - 168 SP - 1270 EP - 1274 PB - Elsevier Ltd. AN - OPUS4-37670 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rietz, U. A1 - Lange, Thorid A1 - Hielscher, Stefan A1 - Beck, Uwe A1 - Kavianpour, D. A1 - Lerche, D. T1 - Quantitative determination of adhesive tape properties by CAT-technology (centrifugal adhesion testing) N2 - The future commercial prospects for adhesive tapes are very good and its application range is very broad. From every-day-use in office, packaging, maintenance, and quick repair in workshops, it ranges from handicraft work, medical purposes and cosmetics up to workmanship. The study describes a new multi-sample approach in adhesive tape testing from theoretical background, preparation of test specimen for tensile as well as shear testing, detailed measurement procedures up to analysis and result interpretation. Various types of single and double-sided pressure sensitive adhesive tapes supplied by different manufacturers were investigated and compared T2 - EURADH 2016 Adhesion ´16 CY - Glasgow, UK DA - 21.09.2016 KW - Tensile KW - Shear KW - Peel KW - Strength KW - Analytical centrifugation KW - Adhesive tapes PY - 2016 SP - 352 EP - 355 AN - OPUS4-37664 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gaal, Mate A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Schadow, Florian A1 - Beck, Uwe A1 - Daschewski, M. A1 - Kreutzbruck, M. T1 - Airborne ultrasonic systems for one-sided inspection using thermoacoustic transmitters N2 - Airborne ultrasonic inspection is performed in through transmission, where the test piece (e.g. adhesive joint or polymer-based composite plate) is placed between the transmitter and the receiver. However, many structures with difficult shapes allow only one-sided inspection. The strong reflection of the signal from the surface overshadows the signals from the inside, so that broadband pulses are required. Thermoacoustic transmission, where the thermal energy of an electrically heated electrode is transformed into the acoustic energy of an ultrasonic wave, opens the possibility to excite broadband pulses and thus to inspect objects with one-sided access. We present various thermoacoustic transducers consisting of an electrically conductive film on a solid substrate. The first type of transducer is a transmitter with an indium-tin-oxide electrode on a glass substrate combined with a laser Doppler vibrometer as a receiver. The second type of transducer combines thermoacoustic transmission and piezoelectric reception, having a titanium electrode as a transmitter deposited onto charged cellular polypropylene serving as a piezoelectric receiver. Using a focusing thermoacoustic transmitter and a separate cellular polypropylene receiver, a through-transmission inspection of a 4 mm thick CFRP test piece with inserts as small as 1 mm was performed. The same emitter and a laser vibrometer as a receiver were used for a one-sided inspection of a Plexiglas block with a cross hole at 15 mm depth. A twin probe consisting of a thermoacoustic transmitter on a cellular polypropylene receiver was applied to a profile measurement on a step wedge with flat bottom holes. The smallest detected diameter of a flat bottom hole was 1 mm. Sound pressure level above 140dB was achieved with each of these transmitters. Thermoacoustic transmitters enable a step towards one-sided air-coupled ultrasonic inspection. T2 - IEEE International Ultrasonics Symposium CY - Tours, France DA - 18.09.2016 KW - Airborne KW - Air-coupled KW - Ultrasonic transducer KW - Thermoacoustic KW - Ferroelectret PY - 2016 SN - 978-1-4673-9897-8 SN - 1948-5719 SP - (online publication) 1 EP - 4 AN - OPUS4-37620 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schukar, Vivien A1 - Köppe, Enrico A1 - Hofmann, Detlef A1 - Westphal, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe A1 - Gong, Xing A1 - Bartholmai, Matthias ED - Aulova, Alexandra ED - Rogelj Ritonja, A. ED - Emri, I. T1 - A contribution to intelligent automatic validation of structure-integrated fibre optic strain sensors N2 - Sensors integrated into devices and structures provide essential data to control, optimize or manage machines and structural components. In the last years, processes, applications and machine parts became more and more intelligent. Consequently, the need for sensor validation increased significantly in order to rely on sensor data and measurement results. Structure-integrated fibre optic strain sensors, such as fiber Bragg gratings (FBG), are of special interest in the composite manufacturing industry. This type of sensor makes it possible to gain information and to collect measurement data about entire production processes and whole life-time cycles of composite-made machine parts and structures. However, validation concepts and approaches for this type of sensors are barely reported in literature. Furthermore, all the reported activities have the drawback that the sensor diagnosis strategy is implemented as limited mathematical models and/or complex time-consuming spectral analysis tools which are applied in data post-processing loops. However, to automate sensor validation and to apply real-time and in-field sensor fault detection, it is necessary to acquire measurement data and information about the measurement reliability at the same time. T2 - 33rd Danubia- Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics CY - Portorož, Slovenia DA - 20.09.2016 KW - Fiber bragg grating KW - Magnetic field KW - Magnetostrictive metal coating KW - Self-diagnostic fiber optical sensor PY - 2016 SN - 978-961-94081-0-0 SP - 180 EP - 181 CY - Ljubljana AN - OPUS4-37645 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kormunda, M. A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Sebik, M. A1 - Esser, N. T1 - Preparation of pulsed DC magnetron deposited Fe-doped SnO2 coatings N2 - Iron-doped SnO2 coatings were deposited in a 50 kHz DC-pulsed magnetron sputtering discharge. The pulses had a duration of 4 µs in selected gas mixtures from pure argon up to 60% of oxygen at a constant total pressure of 0.2 Pa. A single target of SnO2 with Fe inset was used. The mass spectrometry study detected the gas-related ions Ar+, O2+ and O+, where the last one becomes the dominant positive ion at higher oxygen contents. Atomic oxygen ions had a higher energy as it resulted from the collision-caused dissociation on the target surface. The tin-related species were detected as Sn+ and SnO+. SnO2+ species were not detected. The deposition rate decreased by using gas mixtures with oxygen as well as the corresponding amount of Sn-related species in the plasma. The increase of oxygen also increased significantly the sheet resistance of the films. The XPS study showed that the iron concentration decreased by using additional oxygen. But the O/Sn ratio in the coatings was constant, contrary to the increased FeO/Fe ratio in the films. An additional analysis of the coatings by spectroscopic ellipsometry has shown a dependence of the polarizability and the permittivity on the amount of oxygen used during the deposition. In contrast, the study has found no such dependence for the absorption of the layers. KW - Coatings KW - Magnetron sputtering KW - Optical properties KW - Sheet resistivity KW - SnO2 PY - 2016 UR - http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssa.201532882/full U6 - https://doi.org/10.1002/pssa.201532882 SN - 0031-8965 SN - 1862-6300 VL - 213 IS - 9 SP - 2303 EP - 2309 PB - WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA CY - Weinheim AN - OPUS4-38106 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Ringversuch zur Klassifizierung von Kohlenstoffschichten mittels Ellipsometrie N2 - Der Vortrag widmet sich dem „Ringversuch zur Klassifizierung von Kohlenstoffschichten mittels Ellipsometrie“ und beschreibt die experimentellen Eckdaten, die Ellipsometrie als Messmethode am Beispiel DLC auf Stahl, Proben vs. n-k Ebene vs. Ergebnisse des Ringversuches, messtechnische Bewertung des Ringversuches und normative Bewertung des Ringversuches sowie Schlussfolgerungen. T2 - 9. Sitzung DIN NA 062-01-64 „Kohlenstoffschichten“ CY - Berlin, Deutschland DA - 09.05.2016 KW - Amorphe Kohlenstoffschichten KW - Optische Konstanten KW - Ellipsometrie KW - Klassifizierungssystem PY - 2016 AN - OPUS4-38041 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Unger, Wolfgang A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas T1 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Herbstsitzung 2016 N2 - Der Stand der Normung im Bereich der Oberflächentechnik wird zusammengefasst. Aktuelle Normungsvorhaben zur chemischen Oberflächenanalyse, Rastersondenmikroskopie, Nanotechnologie, Oberflächenmesstechnik im Mikro- und Nanobereich, für Anwendungen von Kohlenstoffschichten sowie von Mess- und Prüfverfahren für metallische und anorganische Überzüge werden vorgestellt. Ein Ringversuch zur Klassifizierung von Kohlenstoffschichten mittels Ellipsometrie wird diskutiert. Abschließend wird das DIN-Terminologie Portal erläutert. T2 - Lenkungsausschuss von Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Herbstsitzung 2016 CY - Stuttgart, Germany DA - 27.10.2016 KW - Stand der Normung KW - Oberflächentechnik KW - Schichttechnik PY - 2016 AN - OPUS4-38068 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Multiple-sample Strength Testing: Reliable Ranking and Validated Statistics of Bonding and Adhesive Strength T2 - AB2015 CY - Porto, Portugal DA - 2015-06-02 PY - 2015 AN - OPUS4-33891 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Baier, Jennifa A1 - Beck, Uwe T1 - Plasma-kompatible Partikel für add-on Funktionen in Beschichtungen N2 - Die Plasma-Kompatibilität von Partikeln ist eine Voraussetzung für die Anwendung in Plasmadispersionsschichten. Das Ziel ist die Realisierung von add-on Funktionen auf Oberflächen, in Folien und in Beschichtungen. Obwohl primär Nanopartikel für die beabsichtigten Anwendungen verwendet werden, wurden die Kompatibilitättests zuerst mit Partikeln im unteren Mikrometerbereich durchgeführt, um auf einfache Weise Degradationseffektes des Materials, der Fluoreszenzmarkierung oder der Oberfläche zu untersuchen. T2 - 11. ThGOT - Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda-Triebes, Germany DA - 15.09.2015 KW - Plasmatechnik KW - Partikel KW - Kombinationsverfahren PVD-ESI PY - 2015 SN - 978-3-00-046056-2 SP - 16.9.2015, Block A, 1 EP - 3 AN - OPUS4-34279 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias T1 - Visualisierung von Oberflächenverunreinigungen und Schichtartefakten N2 - Die Oberflächentechnik ist eine Schlüsseltechnologie in nahezu zu allen industriellen Branchen. Mit Ausnahme der mechanischen Stabilität, die das Substrat bereitstellt, werden verschiedenartigste Funktionen materialsparend, zum Teil hochintegriert mit maßgeschneiderten Schichtdesigns unter Ausnutzung von Nano- und Quanteneffekten auf Oberflächen appliziert. Ein Großteil der Fertigungskosten in der Mikro- und Nanotechnik wird durch Reinräume und die Umsetzung ausgeklügelter Reinigungsstrategien zur Vermeidung von Restverschmutzungen und partikulären Belegungen verursacht, da diese unweigerlich zum Bauteilversagen führen. Die Validierung des Reinigungszustandes ist somit von zentraler Bedeutung für die Schichtqualität und Produktfunktionalität. Dies gilt in Abhängigkeit von der Applikation und den vertikalen Schicht- bzw. lateralen Strukturdimensionen sowohl für Fertigungsprozesse im Reinraum als auch für solche in robuster Umgebung. In der Praxis kommt es häufig vor, dass man mikroskopisch scheinbar saubere Substrate erst durch die Beschichtung „enttarnt" und dann Defekte oft mit bloßem Auge sichtbar werden. Noch problematischer ist der Einbau von Verunreinigungen während der Schichtabscheidung, die zunächst nicht sichtbar sind, dann aber zum Bauteilversagen führen. T2 - 11. ThGOT - Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda-Triebes, Germany DA - 15.09.2015 KW - Imaging Ellipsometrie KW - Mikroskopie KW - Schleimpflug-Optik PY - 2015 SN - 978-3-00-046056-2 SP - 15.9.2015, Block B, 1 EP - 5 AN - OPUS4-34280 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Pfuch, A. A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Rietz, U. A1 - Küzün, B. A1 - Twardygrosz, R. T1 - Wie Klebungen einfacher validiert werden können N2 - Die Bestimmung der Haftfestigkeit von Lackierungen, Beschichtungen oder Klebungen ist wichtig für die Beurteilung von entsprechenden Fertigungsabläufen. Unter Verwendung einer neuen Zentrifugentechnik wurde jetzt ein neues Mehr-Proben-Konzept zur schnellen Validierung von Klebverbindungen entwickelt. KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Vorbehandeln/Kleben/Prüfen PY - 2015 SN - 0001-8198 VL - 9 SP - 44 EP - 52 PB - Vieweg CY - Wiesbaden AN - OPUS4-34282 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Baier, Jennifa A1 - Beck, Uwe A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate T1 - Plasmagestützte Oberflächenfunktionalisierung von Polypropylen (PP) N2 - Polypropylen (PP) ist als Niedrigenergie-Polymer ohne nass- und plasmachemische Vorbehandlung weder haftfest zu beschichten noch verbundfest zu kleben. Typische Haft- bzw. Klebfestigkeiten liegen für die unbehandelte Polymeroberfläche bei maximal 0,5 MPa. Hinzu kommt, dass bei der Bestimmung von Haft- und Klebfestigkeiten der unmodifizierten Oberfläche mit großen Streuungen zu rechnen ist, die bezogen auf die Spannweite durchaus einem Faktor 5 entsprechen können. Generell besteht bei Prüfung der Haftfestigkeit mittels Stirnabzugsversuch und bei der Prüfung der Klebfestigkeit die Notwendigkeit eines statistisch validierten Herangehens. Hierzu sind zeitaufwändige Ein-Proben-Klebungen und -Prüfungen nur eingeschränkt geeignet. Zudem ist, insbesondere für geringe Haft- bzw. Klebfestigkeiten, ein querkraftfreies Prüfen Grundvoraussetzung. Im vorliegenden Beitrag werden verschiedenartige plasmagestützte Oberflächenfunktionalisierungen von PP sowie das Mehr-Proben-Konzept zur Klebung/Prüfung von bis zu acht Proben vorgestellt. Dazu werden ein BAM-Funktionsmuster einer Mehr-Proben-Kleb-Vorrichtung und eine kommerzielle analytische Zentrifuge zum Prüfen verwendet. T2 - 24. Workshop des Anwenderkreises Atmosphärendruckplasma "Haftung durch Oberflächenfunktionalisierung" CY - Erfurt, Germany DA - 11.11.2015 KW - Plasmamodifizierung KW - Polypropylen KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit KW - Mehr-Proben-Kleben/-Prüfen PY - 2015 SP - 1 EP - 6 PB - Anwenderkreis Atmosphärendruckplasma CY - Jena AN - OPUS4-34838 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Stockmann, Jörg M. T1 - Imaging of Impurities and Imperfections, Micro- and Nanoscaled Pattern on Surfaces and in Thin Films T2 - SVC CY - Santa Clara, CA, USA DA - 2015-04-25 PY - 2015 AN - OPUS4-33098 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. ED - Grellmann, W. ED - Frenz, H. T1 - Mehr-Proben-Prüfung mittels Zentrifugentechnologie in Zug- bzw. Druck-Beanspruchung: Klebfestigkeit, Schichthaftung, Materialhärte N2 - Testing under tensile (determination of adhesive or bonding strength) and compressive (determination of Brinell, ball or Vickers hardness) load conditions has been exclusivley realized so far as single-sample test by means of tensile and hardness testing machines. For the determination of tensile strength, the sample has to be two-sided clamped and, in order to avoid the introduction of any shear forces, a double-cardanic suspension is usually required. For the first time, centrifuge technology uses the centrifugal force as testing force in a multiple-sample arrangement of a drum rotor. As samples have to be supported only on one side, loading of samples can be realized by inserting. By means of the bench-top testing system, up to eight samples can be simultaneously tested regarding tensile or compressive strength. The bonded or otherwise with the sample connected test stamp is steered in a guiding sleeve and pulls from the outside under the effect of the centrifugal force radially outwards. In the moment of failure of the adhesive-bonded joint, coating/substrate system or composite material, a position-coded and an rpm-correlated signal is sent and enables this way the determination of either bonding, adhesive or composite strength in a multiple-sample arrangement. Similarly, the test stamp equipped with a distinct indenter presses from the inside under the effect of centrifugal force radially outwards. From the knowledge of the revolutions per minute, radius and test stamp mass one can determine either bonding-, adhesive respectively composite strength of Brinell, ball respectively Vickers hardness values. N2 - Für Prüfungen in der Beanspruchung auf Zug zur Bestimmung der Haft- bzw. Klebfestigkeit bzw. in der Beanspruchung auf Druck zur Bestimmung der Härte wurden bisher Zug- bzw. Härteprüfmaschinen als Ein-Proben-Prüfungen verwendet. In der Beanspruchung auf Zug ist die Probe beidseitig, und um das Einleiten von Querkräften zu verhindern, oft doppeltkardanisch einzuspannen. In jedem Falle handelt es sich um Ein-Proben-Prüfungen. Bei der Zentrifugentechnologie kann mit der Zentrifugalkraft als Prüfkraft unter Verwendung eines Trommelrotors erstmals in einer Mehr-Proben- Anordnung gearbeitet werden. Da die Proben nur einseitig unterstützt werden, ist die Beladung über einfaches Einstecken realisierbar. Mit dem Auf-Tisch-Prüfsystem können bis zu acht Proben gleichzeitig auf Zug oder Druck beansprucht werden. Ein aufgeklebter oder anderweitig mit dem Prüfkörper verbundener und unter Einwirkung der Zentrifugalkraft in einer Führungshülse radial nach außen laufender Prüfstempel beansprucht dann die Klebung, die Beschichtung oder den Verbund auf Zug bis zum Versagen. Im Augenblick des Abrisses wird ein positionscodiertes und drehzahlkorreliertes Signal gesendet und so die Bestimmung von Kleb-, Haft- bzw. Verbundfestigkeiten im Mehr-Proben-Versuch möglich. Analog beansprucht ein in einer Führungshülse radial innen an den Proben anliegender ggf. mit entsprechenden Eindringkörpern ausgerüsteter nach außen gerichteter Prüfstempel die Proben auf Druck. Aus Drehzahl, Radius und Prüfstempelmasse können dann Kleb-, Haft- bzw, Verbundfestigkeiten oder aber Brinell-, Kugeldruck- oder Vickers-Härtewerte bestimmt werden. T2 - Tagung Werkstoffprüfung 2014 - Fortschritte in der Werkstoffprüfung für Forschung und Praxis - Werkstoffeinsatz, Qualitätssicherung und Schadensanalyse CY - Berlin, Germany DA - 04.12.2014 KW - Zentrifugentechnologie KW - Mehr-Proben-Prüfung KW - Zugfestigkeit KW - Druckfestigkeit KW - Härteprüfung KW - Centrifuge technology KW - Multiple-sample testing KW - Tensile strength KW - Compressive strength KW - Hardness PY - 2014 SN - 978-3-9814516-8-9 SN - 1861-8154 SP - 181 EP - 186 AN - OPUS4-32161 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Kratzfestigkeit - Prüfmethoden und deren Praxistauglichkeit T2 - Modifikation der Kratz- und Abriebfestigkeit von Kunststoffen CY - Peine, Deutschland DA - 2015-02-24 PY - 2015 AN - OPUS4-32389 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Hielscher, Stefan A1 - Beck, Uwe T1 - Centrifugal adhesion testing technology (CATT) - A valuable tool for strength determination N2 - A new technology for strength determination of adhesive-bonded joints based on analytical centrifugatioon is introduced. Tensile as well as shear strength can be measured for multiple test specimens simultaneously within a very short time. The experimental procedure is described from sample preparation, application of adhesives, sample mounting within the centrifuge to testing parameters and sequences. All requirements of DIN EN 15870 are fulfilled and, in addition, a higher throughput and a better reproducibility can be obtained. The experimental results are discussed regarding bonding strength development over time, comparison of tensile and shear strength and various testing conditions. Furthermore, an additional application field of centrifuge technology is described with respect to the determination of the adhesive strength of coatings. The novel centrifuge based technology provides the determination of bonding, adhesive and shear strength on a statistical basis under identical testing conditions for up to eight samples. Moreover, sophisticated two-sided sample clamping, necessary for a tensile testing machine, is replaced by a simple plug-in procedure. KW - Centrifuge technology KW - Adhesive strength KW - Interface strength KW - Bonding strength KW - Adhesion KW - Tensile strength KW - Shear strength KW - Centrifuge KW - Multiple sample testing PY - 2015 SN - 0916-4812 SN - 0001-8201 VL - 51 IS - S1 (Special Issue on WCARP-V) SP - 293 EP - 297 PB - Kyokai CY - Osaka AN - OPUS4-33994 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Hielscher, Stefan A1 - Mix, Renate A1 - Griepentrog, Michael A1 - Lange, Thorid T1 - Haftfestigkeit von Beschichtungen - Prüfmethoden und deren Praxistauglichkeit, eingeladener Plenar-Vortrag T2 - EFDS Workshop "Messung der Schichthaftung" CY - Dresden, Deutschland DA - 2015-06-24 PY - 2015 AN - OPUS4-33150 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Pfuch, A. A1 - Rietz, U. T1 - Zentrifugentechnologie erleichtert Prüfverfahren N2 - Die Bestimmung der Haftfestigkeit von Lackierungen, Beschichtungen oder Klebeverbunden ist ein wichtiges Analyseinstrument bei der Beurteilung von entsprechenden Fertigungsabläufen. Unter Verwendung einer neuen Zentrifugentechnologie wurde in einem AiF Forschungsprojekt OKTETT die gesamte Prozesskette Vorbehandlung - Verklebung - Prüfung validiert. KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Vorbehandeln/Kleben/Prüfen PY - 2015 SN - 2195-5891 SN - 2195-5905 IS - 3 SP - 1 PB - WOTech CY - Waldshut-Tiengen AN - OPUS4-32834 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias T1 - Visualisierung von nanoskaligen Belegungen, Restverschmutzungen, partikulären Rückständen und Degradationsphänomenen T2 - Handlungskonferenz Optische Analytik in der Dünnschnitttechnologie CY - Berlin DA - 2015-06-16 PY - 2015 AN - OPUS4-33241 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Rosu, Dana Maria A1 - Petrik, P. A1 - Rattmann, G. A1 - Schellenberger, M. A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Optical characterization of patterned thin films N2 - The present study investigates the use of imaging and mapping ellipsometry to determine the properties of non-ideal and patterned thin film samples. Samples which are candidates for future references and standards were prepared for this purpose. The samples investigated were lithographically patterned SiO2 and photoresist layers. The thickness and the optical constants of the two materials were determined using spectroscopic ellipsometry in the visible spectral range. On a larger lateral scale of several mm lateral resolution, the homogeneity was investigated using a goniospectral rotating compensator ellipsometer. A nulling imaging ellipsometer was used to determine the properties of the sample on a smaller scale of 25–150 µm. KW - Spectroscopic imaging and mapping ellipsometry KW - Inhomogeneous and patterned thin films KW - SiO2 KW - Photoresist KW - Ellipsometrie KW - Patterned films PY - 2014 U6 - https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.11.052 SN - 0040-6090 VL - 571 IS - 3 SP - 601 EP - 604 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-32695 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schukar, Vivien A1 - Gong, Xin A1 - Hofmann, Detlef A1 - Basedau, Frank A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Westphal, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe ED - Berghmans, F. ED - Mignani, A. G. T1 - Modelling and simulation of a fibre Bragg grating strain sensor based on a magnetostrictive actuator principle N2 - A new concept for the self-diagnosis of embedded fiber Bragg grating (FBG) strain sensors was developed, simulated and experimentally tested. This concept is based on a magnetostrictive metallic layer directly coated on the fibre cladding over the grating segment of the FBG sensor, so that an on-demand external magnetic field in a millitesla scale can produce a controllable artificial strain as an indication signal for the remote optical interrogator. The relationship between the pre-defined magnetic field and its induced Bragg wavelength shift characterizes this validation concept. Any deviation of the local bonding state of the interfaces from the initial or/and any change of shear strain transferring mechanism from composite matrix to the optical fibre core will result in alterations in this sensitive relationship, and thus triggers an immediate alert for a further inspection. The finite element method is used to simulate the strain of this configuration as result of different values of the magnetic field in order to optimize the geometrical sensor parameters. The simulations are verified by experiments results. © (2016) COPYRIGHT Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). Downloading of the abstract is permitted for personal use only. T2 - Optical Sensing and Detection IV CY - Brüssel, Belgium DA - 03.04.2016 KW - Fiber Bragg gratings KW - Actuators KW - Modeling and simulation KW - Finite element methods PY - 2016 SN - 9781510601444 U6 - https://doi.org/10.1117/12.2224728 SN - 0277-786X SN - 1996-756X VL - 9899 SP - 9899-39 PB - SPIE Digital Library AN - OPUS4-38634 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hiratsuka, M. A1 - Spindler, Ch. A1 - Ohtake, N. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Becker, J. A1 - Gäbler, J. A1 - Neubert, Th. A1 - Vergöhl, M. A1 - Winkler, J. A1 - Eypert, C. T1 - Interlaboratory comparison: optical property classification of carbon-based films by ellipsometry N2 - The paper addresses the “INTERLABORATORY COMPARISON: OPTICAL PROPERTY CLASSIFICATION OF CARBON-BASED FILMS BY ELLIPSOMETRY” and the following points are discussed in more detail: Established classification for mechanical properties, Complementary classification for optical properties, Ellipsometry for determination of optical constants n-k plane as material fingerprint, Samples, participants & set-ups (samples: Japan, participants: Japan, Germany, France, set-ups: Japan, Germany, USA) and Results of interlaboratory comparison: thickness, n & k. T2 - ISO TC 107 Meeting Tokyo CY - Tokio, Japan DA - 17.01 2017 KW - Interlaboratory Comparison KW - Optical Property KW - Carbon-based Films KW - Ellipsometry PY - 2017 AN - OPUS4-39028 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid T1 - Haftung und Haftfestigkeit: Grundlagen, Einflussgrößen, Prüfverfahren – Eine Übersicht N2 - Der Vortrag widmet sich Haftung und Haftfestigkeit bezüglich Grundlagen, Einflussgrößen sowie Prüfverfahren und beschreibt die Punkte: Generische und spezifische Motivation, Einflussgrößen auf Haftfestigkeit und Haftung von Beschichtungen, Prüfverfahren zur quantitativen Bestimmung der Haftfestigkeit und zur qualitativen Klassifizierung bzw. semi-quantitativen Bewertung der Haftung im Einzelnen. T2 - EFDS, 17. Wörlitzer Workshop "Schichthaftung - Anwendungsbeispiele aus der Praxis" CY - Oranienbaum-Wörlitz, Germany DA - 06.06.2016 KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit KW - Verbundfestigkeit PY - 2016 AN - OPUS4-37479 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Stockmann, Jörg M. T1 - Zentrifugentechnologie in der Beanspruchung auf Zug und Druck; Zug-und Zugscherprüfung von CFK N2 - Der Vortrag widmet sich der Zentrifugentechnologie und beschreibt die Punkte der Beanspruchung auf Zug und Druck, Zug- und Zugscherprüfung von geklebten CFK-Platten im Einzelnen. T2 - Videokonferenz CY - Dingolfing, Germany DA - 13.06.2016 KW - Zentrifugentechnologie KW - Klebfestigkeit KW - Härteprüfung KW - CFK PY - 2016 AN - OPUS4-37494 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid T1 - Quantifizierung der Festigkeit von Kunststoffklebungen & -beschichtungen: Vorbehandeln, Kleben und Prüfen im OKTETT N2 - Der Vortrag widmet sich der „Quantifizierung der Festigkeit von Kunststoffklebungen & -beschichtungen: Vorbehandeln, Kleben und Prüfen im OKTETT“ und beschreibt das Mehr-Proben-Konzept zur Herstellung und Prüfung von Klebeverbunden. Vorgestellt werden die Mehr-Proben-Klebevorrichtung sowie die Centrifugal Adhesion Testing (CAT) Technologie zur Bestimmung der Haft- und Klebefestigkeit von Beschichtungen (Al auf PP, SiO2 auf CR39). T2 - SKZ Das Kunststoff-Zentrum Würzburg 2016 CY - Würzburg, Germany DA - 21.11.2016 KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Multiple Sample Bonding (MSB) KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) PY - 2016 AN - OPUS4-38461 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Reinstädt, Philipp A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Basedau, Frank A1 - Hofmann, Detlef A1 - Gong, Xin A1 - Schukar, Vivien T1 - Altbekannter Watts-Elektrolyt, junge Hightech-Anwendung, Nickel- und Nickel-Eisen-Schichten als magnetostriktive Aktorschicht auf faseroptischen Sensoren N2 - Durch faseroptische Sensoren können Bauteile im Einsatz kontinuierlich überwacht und frühzeitig Informationen über Materialveränderungen gewonnen werden. Mittels einer magnetostriktiven Aktorschicht, welche den Sensor umhüllt, kann nun auch die korrekte Sensorfunktion jederzeit kontrolliert werden. Als Aktorschicht eignet sich galvanisch abgeschiedenes reines Nickel oder Nickel-Eisen in der Zusammensetzung 50:50. Um diese haftfest mit dem Sensor zu verbinden wurde ein ECD/PVD-Kombinationsschichtsystem entwickelt. Die mechanischen Eigenschaften der ECD-Schicht können sowohl mit einer auf die Fasergeometrie angepassten instrumentierten Eindringprüfung als auch einem 2-Punkt-Biegeversuch bestimmt werden. KW - Faseroptik-Sensoren KW - ECD-Aktorschicht KW - PVD-Haftfestigkeit KW - Nickel-/Nickel-Eisen- Magnetostriktion PY - 2016 SN - 2195-5891 SN - 2195-5905 VL - 12 SP - 1 EP - 4 AN - OPUS4-39129 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Othake, N. A1 - Hiratsuka, M. T1 - Ellipsometrische Klassifizierung von Kohlenstoffschichten N2 - Der Vortrag widmet sich der „ELLIPSOMETRISCHE KLASSIFIZIERUNG VON KOHLENSTOFFSCHICHTEN“ und beschreibt die Punkte: 1. Anwendungen Kohlenstoffschichten–Carbon–based films (DLC) aus dem Vortrag N. Ohtakeet. al. (ISO TC 107, Tokyo 2017),2. Präparation der Kohlenstoffschichten für ISO TC 107 Ringversuch aus Vortrag M. Hiratsuka et. al. (ISO TC 107, Tokyo 2017), 3. Ellipsometrische Charakterisierung von Kohlenstoffschichten, Ergebnisse des Ringversuchs (ISO TC 107, Tokyo 2017) Vortrag Beck et. al. und 4.Deutsche Normungsaktivitäten national/international zur Ellipsometrie DIN NA 062-01-061 (DIN 50989-1)/TC 107 (PWI DE)“ im Einzelnen. T2 - Netzwerksymposium “schützen und Veredeln von Oberflächen”, Wildau CY - TH Wildau, Germany DA - 01.03.2018 KW - Anwendung von Kohlenstoffschichten KW - Klassifizierung von Kohlenstoffschichten KW - Ringversuch Ellipsometrie KW - Normung Ellipsometrie PY - 2018 AN - OPUS4-44340 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Weise, Matthias T1 - White light interference microscopy, ellipsometry, and instrumented indentation testing as reference procedures N2 - The paper addresses “WHITE LIGHT INTERFERENCE MICROSCOPY, ELLIPSOMETRY, AND INSTRUMENTED INDENTATION TESTING AS REFERENCE PROCEDURES“ and is subdivided in the following sections: 1. Measurement vs. testing vs. reference procedures, 2. White light interference microscopy (WLIM) for determination of step height h, 3. Spectroscopic ellipsometry (SE) for determination of layer thickness d and 4. Instrumented indentation testing (IIT) for determination of indentation hardness HIT. The following points are discussed in more detail: methodology of measurement and testing, uncertainty budgets for direct (WLIM), model-based (SE) and formula-based (IIT) reference procedures by means of specific examples. It is shown that standardization efforts are connected to reference procedures. T2 - Referenzverfahren CY - BAM, Berlin, Germany DA - 21.02.2018 KW - Reference procedures KW - Uncertainty budgets KW - White light interference microscopy KW - Spectroscopic ellipsometry KW - Instrumented indentation testing PY - 2018 AN - OPUS4-44256 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Winkler, J. T1 - Preliminary work item (PWI) 23131 on standardization of ellipsometry N2 - The paper addresses the PRELIMINARY WORK ITEM (PWI) 23131 ON STANDARDIZATION OF ELLIPSOMETRY and the following points are discussed in more detail: Historical background of ellipsometry, Technical/industrial importance of ellipsometry and Standardization activities on ellipsometry. T2 - ISO TC 107 and JWG 4 meeting CY - Levi, Finland DA - 23.01.2018 KW - Standardization KW - Ellipsometrie KW - Modelling KW - Accreditation PY - 2018 AN - OPUS4-43959 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Unger, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Krüger, Jörg T1 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Berichtszeitraum Herbst 2017 – Frühjahr 2018 N2 - Der Vortrag gibt den aktuellen Stand der Normung im Bereich der Oberflächen-technik insbesondere der Oberflächenanalytik und der Oberflächenmess- und -prüftechnik wider. Vorgestellt wird der Status technischer Berichte, Normenentwürfe und Normen u.a. zur Charakterisierung von funktionellen Glasoberflächen für bioanalytische Anwendungen, zur Messung der Schichtdicke von Nanomaterialien mittels Ellipsometrie, zur Kalibrierung von Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung, zur Rockwelleindringprüfung zur Bewertung der Schicht-haftung, zu den Grundlagen der Ellipsometrie, zur Messung der Schichtdicke mittels Wirbelstromverfahren, zur Schichtpotentialmessung von Mehrfach-Nickelschichten, zu Filtern und Augenschutzgeräten gegen Laserstrahlung sowie zur Bestimmung der Schichthaftung mittels Zugversuch. T2 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Frühjahrssitzung CY - Kiel, Germany DA - 17.04.2018 KW - Stand der Normung KW - Oberflächentechnik KW - Oberflächenanalytik KW - Oberflächenmesstechnik KW - Oberflächenprüftechnik PY - 2018 AN - OPUS4-44729 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Basedau, Frank A1 - Hofmann, Detlef A1 - Schukar, Vivien T1 - Faser-basierter magneto-optischer Schicht-Sensor zum Monitoring von Bauteilen N2 - In Glasfasern eingeschriebene Bragg-Gitter (FBG: fibre-based Bragg gratings) sind über die Verschiebung der Bragg-Wellenlänge in der Lage, Stauchungen und Dehnungen von Glasfasern hochgenau zu erfassen. In Kompositwerkstoffe eingebettete faseroptische Sensoren können Bauteile bezüglich ihrer mechanischen Integrität überwachen und früh-zeitig Informationen über Materialveränderungen gewinnen. Um die Zuverlässigkeit eines solchen Sensors zu gewährleisten, ist es wichtig, die korrekte Funktion des Sensors im Verbund mit der Werkstoff-Matrix on-line und in-situ sicherzu-stellen. Im Rahmen des DFG-Projekts FAMOS² (FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor) wurde ein selbstdiagnosefähiger Schichtsensor entwickelt, der mit Hilfe von magnetostriktiven Aktorschichten aus Nickel bzw. Eisen-Nickel validiert werden kann. Der FAMOS²-Schichtsensor wird durch ein PVD (physical vapour deposition)/ECD (electro-chemical deposition) Hybridschichtsystem realisiert, das auf dem Fasermantel im Bereich des FBG haftfest, homogen und langzeitfunktional abzuscheiden ist. Dabei wird in einem ersten Schritt ein etwa 100 Nanometer dünnes PVD-Schichtsystem aus Chrom und Kupfer als Haftvermittler auf der Glasfaser bzw. als leitfähige Startschicht für den nachfolgenden ECD-Prozess abgeschieden. Um eine rotationssymmetrische Schich-tabscheidung zu gewährleisten, erfolgt während der PVD-Beschichtung eine Rotation der Glasfasern. In einem zweiten Schritt wird dann unter Verwendung eines klassischen Watts-Elektrolyten in einer speziell entwickelten ebenfalls rotationssymmetrisch aufgebau-ten ECD-Durchströmungszelle dann die etwa 30 Mikrometer dicke, magnetostriktive Ak-torschicht auf dem PVD-Schichtsystem abgeschieden, im Vergleich sowohl reine Nickel-Schichten als auch Nickel-Eisen-Schichten. Ein äußeres Magnetfeld dehnt die magnetostriktive Aktorschicht und damit auch die Faser reversibel. Diese Dehnung führt zu einer Verschiebung der Bragg-Wellenlänge, welche direkt mit der Stärke eines zu messenden oder zu Validierungszwecken vorgegebenen Magnetfeldes korreliert. Die Anpassung der Beschichtungsverfahren an die Fasergeome-trie und die mechanischen Eigenschaften der Hybridschichten werden hinsichtlich der me-chanischen Integrität des faseroptischen Sensors diskutiert und der Nachweis der Selbst-diagnosefähigkeit erbracht. T2 - 13. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 11. Thüringer Biomaterial-Kolloquium CY - Zeulenroda, Germany DA - 13.03.2018 KW - Magneto-optischer Sensor KW - Faser-Bragg Gitter KW - Magnetostriktive Beschichtung KW - Selbstkalibrierung KW - Bauteilmonitoring PY - 2018 AN - OPUS4-44598 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Basedau, Frank A1 - Hofmann, Detlef A1 - Schukar, Vivien T1 - Faser-basierter magneto-optischer Schicht-Sensor zum Monitoring von Bauteilen N2 - In Glasfasern eingeschriebene Bragg-Gitter (FBG: fibre-based Bragg gratings) sind über die Verschiebung der Bragg-Wellenlänge in der Lage, Stauchungen und Dehnungen von Glasfasern hochgenau zu erfassen. In Kompositwerkstoffe eingebettete faseroptische Sensoren können Bauteile bezüglich ihrer mechanischen Integrität überwachen und früh-zeitig Informationen über Materialveränderungen gewinnen. Um die Zuverlässigkeit eines solchen Sensors zu gewährleisten, ist es wichtig, die korrekte Funktion des Sensors im Verbund mit der Werkstoff-Matrix on-line und in-situ sicherzu-stellen. Im Rahmen des DFG-Projekts FAMOS² (FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor) wurde ein selbstdiagnosefähiger Schichtsensor entwickelt, der mit Hilfe von magnetostriktiven Aktorschichten aus Nickel bzw. Eisen-Nickel validiert werden kann. Der FAMOS²-Schichtsensor wird durch ein PVD (physical vapour deposition)/ECD (electro-chemical deposition) Hybridschichtsystem realisiert, das auf dem Fasermantel im Bereich des FBG haftfest, homogen und langzeitfunktional abzuscheiden ist. Dabei wird in einem ersten Schritt ein etwa 100 Nanometer dünnes PVD-Schichtsystem aus Chrom und Kupfer als Haftvermittler auf der Glasfaser bzw. als leitfähige Startschicht für den nachfolgenden ECD-Prozess abgeschieden. Um eine rotationssymmetrische Schich-tabscheidung zu gewährleisten, erfolgt während der PVD-Beschichtung eine Rotation der Glasfasern. In einem zweiten Schritt wird dann unter Verwendung eines klassischen Watts-Elektrolyten in einer speziell entwickelten ebenfalls rotationssymmetrisch aufgebau-ten ECD-Durchströmungszelle dann die etwa 30 Mikrometer dicke, magnetostriktive Ak-torschicht auf dem PVD-Schichtsystem abgeschieden, im Vergleich sowohl reine Nickel-Schichten als auch Nickel-Eisen-Schichten. Ein äußeres Magnetfeld dehnt die magnetostriktive Aktorschicht und damit auch die Faser reversibel. Diese Dehnung führt zu einer Verschiebung der Bragg-Wellenlänge, welche direkt mit der Stärke eines zu messenden oder zu Validierungszwecken vorgegebenen Magnetfeldes korreliert. Die Anpassung der Beschichtungsverfahren an die Fasergeome-trie und die mechanischen Eigenschaften der Hybridschichten werden hinsichtlich der me-chanischen Integrität des faseroptischen Sensors diskutiert und der Nachweis der Selbst-diagnosefähigkeit erbracht. T2 - 13. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 11. Thüringer Biomaterial-Kolloquium CY - Zeulenroda, Germany DA - 13.03.2018 KW - Magneto-optischer Sensor KW - Faser-Bragg Gitter KW - Magnetostriktive Beschichtung KW - Selbstkalibrierung KW - Bauteilmonitoring PY - 2018 SN - 978-3-00-058187-8 SP - 1 EP - 5 CY - Jena AN - OPUS4-44599 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Grunwald, Daniel A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Die Zentrifuge als universelles Prüfsystem für Beanspruchungen auf Zug und Druck N2 - Mit der Zentrifugentechnologie ist seit einigen Jahren ein neuartiges Mehr-Proben-Prüf-verfahren auf dem Markt etabliert, welches die klassische Zugprüfung in den Trommelrotor einer Tischzentrifuge überträgt. In der Beanspruchung auf Zug ist die Prüfung der Verbundfestigkeit mittels CAT-Technologie (centrifugal adhesion testing) an der BAM seit 2017 nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiert, wobei die Verbundfestigkeit von Klebungen direkt bestimmt wird und in Abhängigkeit von den Versagensformen Rückschlüsse auf die Klebfestigkeit von Klebstoffen/Klebebändern oder die Haftfestigkeit von Beschichtungen gezogen werden können. T2 - 13. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 11. Thüringer Biomaterial-Kolloquium CY - Zeulenroda, Germany DA - 13.03.2018 KW - Zentrifugentechnologie KW - Haftfestigkeit KW - Härteprüfung KW - Mehr-Proben-Prüfung KW - Beanspruchung auf Zug und Druck PY - 2018 AN - OPUS4-44570 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hielscher, Stefan A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Grunwald, Daniel A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Die Zentrifuge als universelles Prüfsystem für Beanspruchungen auf Zug und Druck N2 - Mit der Zentrifugentechnologie ist seit einigen Jahren ein neuartiges Mehr-Proben-Prüf-verfahren auf dem Markt etabliert, welches die klassische Zugprüfung in den Trommelrotor einer Tischzentrifuge überträgt. In der Beanspruchung auf Zug ist die Prüfung der Verbundfestigkeit seit 2017 nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiert, wobei die Verbundfestigkeit von Klebungen direkt bestimmt wird und in Abhängigkeit von den Versagensformen Rückschlüsse auf die Klebfestigkeit von Klebstoffen/Klebebändern oder die Haftfestigkeit von Beschichtungen gezogen werden können. Bei der zerstörenden Beanspruchung auf Zug ist zu beachten, dass es sich bei der Verbundfestigkeit um eine Systemeigenschaft handelt, d.h. nicht nur die chemischen und topografischen Oberflächeneigenschaften, sondern auch die plasto-elastischen Volumeneigenschaften des Klebstoffes und der Fügeteile haben Einfluss auf die ermittelten Kennwerte. Dabei ist eine qualitative Bestimmung der Versagensformen und Bruchbilder nach DIN EN ISO 10365 zwingend erforderlich, um eine Aussage über die Art des Versagens treffen zu können. Mit der Erweiterung der Zentrifugentechnologie um Beanspruchungen auf Druck wurde dann der Nachweis erbracht, dass auch die klassische Härteprüfung in einer Zentrifuge als Mehr-Proben-Prüfung durchgeführt werden kann. Im Verbundvorhaben QUO VADIS PLUS werden derzeit invasive Beanspruchungen auf Druck zur Bestimmung der Härte von Materialien, der Kompressibilität von Metallschäumen sowie der Kompaktierbarkeit von Pulvern untersucht, was das Anwendungspotential der Zentrifugentechnologie nochmals erweitert. Dazu gehören auch kombinierte Beanspruchungen wie Zug-Scher- und Druck-Scher-Prüfungen. Die Verbundfestigkeit von CFK-Platten in Abhängigkeit der Beanspruchungsart (Zug vs. Zug-Scher) bzw. der Faserorientierung (0°, 45°, 90°), die Klebfestigkeit von Klebstoffen bzw. Klebebändern auf unterschiedlichen Fügeteilwerkstoffen in Abhängigkeit von der Vorbehandlung, die Haftfestigkeit optischer Schichten auf Kunststoffen, die Bestimmung der Vickers-, Brinell- bzw. Kugeldruck-Härte sowie die Kompressibilität von metallischen Schäumen und Federn werden als ausgewählte Beispiele diskutiert. T2 - 13. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 11. Thüringer Biomaterial-Kolloquium CY - Zeulenroda, Germany DA - 13.03.2018 KW - Zentrifugentechnologie KW - Haftfestigkeit KW - Härteprüfung KW - Mehr-Proben-Prüfung KW - Beanspruchung auf Zug und Druck PY - 2018 SN - 978-3-00-058187-8 SP - 1 EP - 5 CY - Jena AN - OPUS4-44572 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hidde, Gundula A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias T1 - Ellipsometric imaging of low-contrast surface modifications and depolarization contrast imaging (DCI) of particulate accumulations N2 - Imaging of surfaces regarding topographical, morphological, micro-structural, and chemical features is a key requirement for quality control for the identification of contaminated, degraded, damaged or deliberately modified surface areas vs. clean, virgin, undamaged or unmodified regions. As optical functions may represent any of these changes on the micro- and nano-scale, imaging ellipsometry (IE) is the technique of choice using either intensity, phase, or/and amplitude contrast for visualization of low-contrast surface modifications [1, 2]. Defects or surface and film features whether native or artificial, intended or unintended, avoidable or unavoidable as well as surface pattern are of interest for quality control. In contrast to microscopic techniques operated at normal incidence, ellipsometry as oblique-incidence technique provides improved contrast for vertically nano-scaled add-on or sub-off features such as ultra-thin transparent films, metallic island films, carbon-based thin films, laser modification or laser induced damage, dried stain, cleaning agent or polymeric residue. Two-sample reference techniques, i.e. referenced spectroscopic ellipsometry (RSE) may further increase sensitivity and decrease measurement time. In case of particulate accumulations depolarization contrast imaging (DCI) may improve the lateral resolution beyond the Abbe limit. This has been proven for silica spheres as reference in terms of single particles, particulate accumulations or particulate monolayers and layer stacks. Scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) were used for reference measurements of particle diameter, particle height, or particulate layer/accumulation thickness. It has been shown that single silica particles of 250 nm in diameter, i.e. at least a factor of 4 better than the lateral resolution limit as of now, can be visualized on even substrates. However, the ellipsometric measurement of particle diameters of this size needs further efforts interpretation. T2 - Workshop Ellipsometry 2018 CY - Chemnitz, Germaný DA - 19.03.2018 KW - Low-contrast surface modifications KW - Particulate distributions KW - Imaging ellipsometry(IE) KW - Depolarization contrast imaging (DCI) PY - 2018 AN - OPUS4-44548 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hidde, Gundula A1 - Sahre, Marion A1 - Weise, Matthias T1 - Particles in PVD-coatings: Imperfection or functional add-on feature? N2 - The application of PVD-coatings ranges from mechanical engineering, i.e. thicker tribological coatings, to precision optics, i.e. thinner optical coatings. For physical vapor deposition (PVD) technologies such as evaporation, sputtering, ion beam assisted/driven deposition, vacuum is a prerequisite for two reasons: at first process-related ones (evaporation source, plasma discharge, and mean free path) and at second coating-related ones (pure, perfect, and dense films). Usually, the goal is a homogenous coating of defined stoichiometry and micro-structure without any imperfection. However, the implementation of micro- or nano-particles may occur accidentally or delibe-rately. Independent of the particle origin, there are two fundamental rules regarding coating functionality: at first, the larger the particle diameter to coating thickness ratio the more affected the functionality of the coating, and at second, the larger the material contrast in terms of the functional feature of interest the more affected the coating performance. Hence, embedded particles have to be avoided for the majority of thin films by all means. The unintended implementation of particles usually results in a malfunction of the coating from the beginning or is at least considered as a weak point of the coating creating a time-dependent defect under service conditions. The intended implementation of particles on surfaces and in coatings may create add-on features, topographic ones and functional ones, however, the facts mentioned hold true. Examples of particle-initiated coating defects are demonstrated in dependence on the origin and the field of application. Strategies for deliberate attachment/embedding of particles on surfaces/in coatings are discussed regarding process compatibility and coating integrity. For industrial applications, both the validation of process compatibility of particle injection and the plasma resistance of particles under vacuum and plasma conditions have to be confirmed. Further points of interest are the homogeneity of particle distribution and the avoidance of particle agglomeration which is still a crucial point for dry dispersed particles. So far, technical applications are limited to PVD hybrid coatings, plasma dispersion coatings are still a challenge except for applications where homogeneity is not required as in case of product authentication. T2 - ICMCTF 2018, International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films CY - San Diego, CA, USA DA - 23.04.2018 KW - PVD-coatings KW - PVD-processes KW - Unintended particle generation KW - Particles as imperfections KW - Deliberate particle implementation KW - Particles as add-on features PY - 2018 AN - OPUS4-44973 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Basedau, Frank A1 - Hofmann, Detlef A1 - Schukar, Vivien A1 - Kormunda2, M. T1 - Multi-functional coatings for optical sensor applications: Surface plasmon resonance & magneto-optical coupling N2 - Multi-functional coatings are a key requirement for surface engineering. General demands are adhesion and long-term stability under service conditions. The modification of surfaces by means of PVD-, ECD- or hybrid processes allows an add-on functionalization of surfaces by a huge diversity of materials with both lateral and vertical micro-/nano-designs. This fact is a prerequisite for micro- and sensor-systems in lab-on-chip and sensor-on-chip technology. Two layer-based sensor principles are presented, i.e. surface plasmon resonance enhanced spectroscopic ellipsometry (SPREE) for detection of hazardous gases and magneto-optical sensors on smart-coated fiber Bragg gratings (FBG) for structural health monitoring (SHM). The interdependence of substrate features, coating properties, and layer design is discussed firstly for gas sensitivity and selectivity of SPREE-sensors and secondly for sensitivity and selectivity of magneto-strictive coatings to mechanical strain or external magnetic fields resulting in an optical displacement of the Bragg wavelength of FBG-sensors. Moreover, generic features such long-term stability, crucial process-related fabrication conditions, and effects of operational and environmental parameters are discussed with respect to the sensor performance. It has been shown that appropriate layer design and adapted selection of layer materials (SnOx/Au, Fe/Ni:SnOx/Au; Ni/NiFe-Cu-Cr) result in improved sensor parameters and may enable new sensor applications. T2 - SVC TechCon 2018 CY - Orlando, FL, USA DA - 05.05.2018 KW - Multi-functional coatings for sensors KW - Surface plasmon resonance enhanced ellipsometry (SPREE) KW - Gas monitoring KW - Magneto-optical coupling (MOC) KW - Structural health monitoring (SHM) PY - 2018 AN - OPUS4-44976 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Winkler, J. T1 - Standardization of ellipsometry N2 - The talk addresses the STANDARDIZATION OF ELLIPSOMETRY and the following points are discussed in more detail: historical background of ellipsometry, history of International Conferences on Ellipsometry, Workshops Ellipsometry in Germany and Europe, information on German/European Working Group Ellipsometry, technical/industrial importance of ellipsometry, applications on non-ideal material systems and standardization activities on ellipsometry. T2 - DIN NA Dünne Schichten für die Optik, Mainz CY - Mainz, Germany DA - 06.06.2018 KW - Standardization KW - Ellipsometry KW - Modelling KW - Accreditation PY - 2018 AN - OPUS4-45167 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Juds, Carmen A1 - Schmidt, J. A1 - Weller, Michael G. A1 - Lange, Thorid A1 - Beck, Uwe A1 - Conrad, T. A1 - Boerner, H. G. T1 - Combining phage display and next-generation sequencing for materials sciences: A case study on probing polypropylene surfaces N2 - Phage display biopanning with Illumina next-generation sequencing (NGS) is applied to reveal insights into peptide-based adhesion domains for polypropylene (PP). One biopanning round followed by NGS selects robust PP-binding peptides that are not evident by Sanger sequencing. NGS provides a significant statistical base that enables motif analysis, statistics on positional residue depletion/enrichment, and data analysis to suppress false-positive sequences from amplification bias. The selected sequences are employed as water-based primers for PP-metal adhesion to condition PP surfaces and increase adhesive strength by 100% relative to nonprimed PP. KW - Polymers KW - Polypropylene KW - Glue KW - Plastics KW - Surface Activation KW - Primer KW - Peptide Library KW - Epoxy KW - Solid-binding Peptides KW - Functionalization KW - Polymer-binding Peptides KW - Adhesion KW - Material-binding Peptides KW - Adhesives PY - 2020 U6 - https://doi.org/10.1021/jacs.0c03482 SN - 0002-7863 SN - 1520-5126 VL - 142 IS - 24 SP - 10624 EP - 10628 PB - ACS CY - Washington, DC, USA AN - OPUS4-51123 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Hidde, Gundula A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Adhesion of Coatings vs. Strength of Composite Materials – A Review of Applications Evaluated by Centrifugal Adhesion Testing (CAT) N2 - Sufficient adhesion/tensile strength are basic requirements for any coating/composite material. For coatings, adhesive strength in N/mm2 is of Major interest for various applications such as decorative and water-repellent coatings on wood (paints and varnishes), optical coatings on glass and polymers (reflectors and filters), electrical coatings on semiconductors, glass and polymers (conducting and bondable layers), mechanical coatings on metals and polymers (wear-reduction, scratch-resistance) and adhesion-promoting layers. For composite materials, tensile strength in N/mm2 is also a key quantity for carbon fiber reinforced composites (CFC), laminates and adhesive-bonded joints. Centrifugal adhesion testing (CAT) transfers the single-sample tensile test from a tensile or universal testing machine into an analytical centrifuge as multiple-sample test of up to eight test pieces. The one-sided sample support instead of a two-sided sample clamping and the absence of mounting- and testing-correlated shear forces provides fast and reliable results both for adhesive strength and bonding strength by means of bonded test stamps. For bonding strength, the evaluation of failure pattern from microscopic inspection is required in order to determine the failure pattern according to ISO 10365 such as adhesive failure (AF), delamination failure (DF) and cohesive failure (CF). Hence, one test run by CAT-technology provides either statistics or ranking of up to eight samples at once. For adhesive strength of coatings, a variety of examples is discussed such as ALD-Al203 layers as adhesion promoters, evaporated Ag-layers on N-BK7 glass, sputtered Cr- and Al-layers on Borofloat 33 glass, evaporated Au-films on N-BK7 glass and sputtered SiO2 -layers on CR39 Polymer. Provided adhesive or bonding strength are high enough, the substrate or the joining part may also fail. T2 - Special PSE 2020 CY - Online meeting DA - 07.09.2020 KW - Centrifugal adhesion testing (CAT) KW - Adhesive strength KW - Pull-off test KW - Failure pattern KW - Compound strength PY - 2020 AN - OPUS4-51231 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hielscher-Bofinger, Stefan A1 - Beck, Uwe A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Multiple-sample Testing: Adhesive Strength of Coatings and Bonding Strength of Adhesives evaluated by Centrifugal Adhesion Testing (CAT) N2 - The quantitative determination of adhesion and cohesion properties is a key requirement for adhesive-bonded joints and coated components in both R&D and Quality assurance. Because of the huge variety of layer/substrate Systems in terms of materials and large thickness range, adhesion tests display the same diversity as layer/substrate systems. There are only two tensile testing procedures available, that determine adhesive strength in terms of force per area (N/mm²), the single-sample pull-off test in a tensile testing machine and the multiple-sample-test using the Centrifugal Adhesion Testing (CAT) Technology. The CAT Technology is a testing method which uses centrifugal force as tensile testing force in a multiple-sample arrangement within a drum rotor of a Desktop centrifuge. Hence, the adhesive/bonding strength A/B can be determined on a statistical basis under identical testing conditions for up to eight samples. A variety of examples for bonding strength of adhesives, adhesive strength of coatings and compound strength of composite materials is discussed such as metalto-metal and glass-to-metal bonding, sputtered SiO2-layers on CR39 Polymer and carbon fiber reinforced polymer. T2 - Colloquium Department 6. CY - Berlin, BAM, Germany DA - 03.09.2020 KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) KW - Adhesive strength KW - Bonding strength KW - Composite strength KW - Interlaboratory comparision PY - 2020 AN - OPUS4-51178 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Westphal, Anja A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Gaal, Mate A1 - Daschewski, Maxim A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Basedau, Frank A1 - Gong, Xin A1 - Schukar, Vivien T1 - Advanced Layer-based Sensor Principles: Surface Plasmon Resonance, Air-coupled Ultra Sonics, Magneto-optical Coupling T2 - PSE CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2016-09-12 PY - 2016 AN - OPUS4-35277 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Baier, Jennifa A1 - Sahre, Mario A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias T1 - Optisches Mapping und Imaging zur Qualitätssicherung von dünnen Schichten und Oberflächen T2 - Universitätsseminar CY - TU Wien, Österreich DA - 2016-03-18 PY - 2016 AN - OPUS4-35279 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Multiple-sample Approach for Bonding and Testing: Validation of Bonding and Adhesive Strength of Adhesive bondet Joints and Adhesive Tapes T2 - EURADH CY - Glasgow, GB DA - 2016-09-21 PY - 2016 AN - OPUS4-35280 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kormunda, M. A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Sebik, M. A1 - Pavlik, J. A1 - Esser, N. T1 - Deposition and characterization of single magnetron deposited Fe:SnOx coatings N2 - Coatings deposited by magnetron co-sputtering from a single RF magnetron with a ceramic SnO2 target with iron inset in argon plasma were studied. The mass spectra of the process identified Sn+ and SnO+ species as the dominant species sputtered from the target, but no SnO2+ species were detected. The dominant positive ions in argon plasma are Ar+ species. The only detected negative ions were O-. Sputtered neutral tin related species were not detected. Iron related species were also not detected because their concentration is below the detection limit. The concentration of iron dopant in the tin oxide coatings was controlled by the RF bias applied on the substrate holder while the discharge pressure also has some influence. The iron concentration was in the range from 0.9 at.% up to 19 at.% increasing with the substrate bias while the sheet resistivity decreases. The stoichiometry ratio of O/(Sn + Fe) in the coatings increased from 1.7 up to 2 in dependence on the substrate bias from floating bias (- 5 V) up to - 120 V of RF self-bias, respectively. The tin in the coatings was mainly bonded in Sn4 + state and iron was mainly in Fe2 + state when other tin bonding states were detected only in a small amounts. Iron bonding states in contrary to elemental compositions of the coatings were not influenced by the RF bias applied on the substrate. The coatings showed high transparency in the visible spectral range. However, an increased metallic behavior could be detected by using a higher RF bias for the deposition. The X-ray diffraction patterns and electron microscopy pictures made on the coatings confirmed the presence of an amorphous phase. KW - Metal oxides KW - Transparent conductive oxides (TCO) KW - Magnetron KW - Optical properties KW - Ellipsometry KW - XPS characterzation PY - 2015 U6 - https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.11.009 SN - 0040-6090 VL - 595 IS - Part A SP - 200 EP - 208 PB - Elsevier B.V. CY - Amsterdam AN - OPUS4-35281 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Baier, Jennifa A1 - Lange, Thorid A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Visualisierung von Oberflächenverunreinigungen und Schichtartefakten T2 - 11. Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda, Deutschland DA - 2015-09-15 PY - 2015 AN - OPUS4-32939 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Daum, Werner A1 - Gong, Xin A1 - Hofmann, Detlef A1 - Basedau, Frank A1 - Schukar, Vivien A1 - Westphal, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe T1 - New self diagnostic fiber optical sensor technique for structural health monitoring N2 - Fiber optic sensors have gained increasing importance in recent years and are well established in many areas of industrial applications. In this paper, we introduce a concept of a self-diagnostic fiber optic sensor. The presented sensor is to resolve the problems of embedded fiber optic sensors in complex structures and to enable the validation under operational conditions. For this purpose, different magnetostrictive coated fiber optic sensors were developed and various experiments were performed to verify their mode of operation and to determine the respective reproducibility. The measuring principle is illustrated by obtained experimental results, which showed a change in wavelength from 1 pm at a magnetic field strength change of 0.25 mT. In addition, the temperature characteristics of the implemented magnetostrictive sensor were analyzed and an experimental factor of 1.5 compared to a reference fiber optic sensor was determined. T2 - 32nd Danubia-Adria Symposium on advances in experimental mechanics CY - Starý Smokovec, Slovakia DA - 22.09.2015 PY - 2015 SN - 978-80-554-1094-4 SP - 1 EP - 2 CY - Zilina AN - OPUS4-35173 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Normung und Standardisierung im Bereich von Kohlenstoffschichten T2 - 6. Graphen Treffen CY - Berlin DA - 2015-11-06 PY - 2015 AN - OPUS4-34742 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hielscher, Stefan A1 - Hidde, Gundula A1 - Lange, Thorid A1 - Mix, Renate T1 - Plasmagestützte Oberflächenfunktionalisierung von Polypropylen T2 - 24. Workshop des ak-adp CY - Erfurt DA - 2015-11-11 PY - 2015 AN - OPUS4-34679 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Hielscher, Stefan T1 - Mehr-Proben-Prüfung von Kunststoffen in den Beanspruchungen auf Druck, Zug- und Scherfestigkeit mittels CAT-Technologie: Oberflächenbehandlung, Klebefestigkeit, Schichthaftung, Materialhärte T2 - 15. Schwarzheider kunststoff-Kolloquium CY - Schwarzheide DA - 2015-09-22 PY - 2015 AN - OPUS4-34698 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Schukar, Vivien A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Beck, Uwe T1 - Abschlussbericht zum DFG-Projekt „FAMOS²“ FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor N2 - Der Mangel an Anwendungsrichtlinien und Validierungsverfahren für struktur-eingebettete faseroptische Dehnungssensoren, insbesondere auf Faser-Bragg-Gitter (FBG)-Basis, führte bislang dazu, dass diese Sensoren trotz ihrer hervorragenden Eigenschaften im Bereich der kommerziellen Material- und Strukturüberwachung nur in geringem Umfange eingesetzt wurden. Fragen zur Degradation der Sensoren unter Beanspruchung, Alterung durch klimatische Einflüsse und Enthaftung infolge Belastung der Struktur konnten bisher nur theoretisch simuliert oder anhand exemplarischer Proben für einzelne einflussnehmende Parameter im Labor untersucht werden. Die Erfassung des Sensorverhaltens im Bauteil unter komplexen Umwelteinflüssen während des Bauteilbetriebes, um damit eine Aussage zur Zuverlässigkeit der Sensormessdaten zu gewinnen, war bisher nicht möglich. Im Forschungsprojekt FAMOS² wurde deshalb von 2014 bis 2018 die Realisierung eines Autodiagnoseverfahrens für faseroptische Dehnungssensoren erarbeitet, um die Funktionszuverlässigkeit und Langzeitstabilität der Sensoren während des Bauteilbetriebes innerhalb einer Bauteilstruktur bewerten zu können. Im Rahmen des Forschungsprojektes wurde gezeigt, dass ein FBG-Sensor mit einer speziell angepassten magnetostriktiven Schicht magnetisch so angeregt werden kann, dass mit einer zugeschnittenen Messmethodik zu jedem Zeitpunkt eine Bewertung der Sensorzuverlässigkeit unter Betriebsbedingungen möglich ist. Die auf den Sensor aufgebrachte magnetostriktive Schicht erzeugt bei Anregung mit einem passenden Magnetfeld eine gepulste, synthetische Dehnung. Diese Dehnung steht in einem definierten Verhältnis zum anregenden Magnetfeld und wird optisch über die Verschiebung der Bragg-Wellenlänge ausgelesen. Die Konstanz dieses Verhältnisses stellt dann ein Maß für die korrekte Funktionsfähigkeit des Sensors dar. Das Beschichtungs-verfahren, das magnetische Anregungs- und optische Ausleseverfahren, wie auch die Validierung des Sensors unter Berücksichtigung faseroptischer Effekte wurden während des Projekts konzeptionell entwickelt, aufgebaut und charakterisiert. Qualitativ kann mit diesem Verfahren zunächst eine Gut-/Schlecht-Beurteilung des Sensors vorgenommen werden. Perspektivisch bietet das Verfahren jedoch auch die Möglichkeit, verschiedene Versagensmechanismen bestimmen und klassifizieren zu können. Es zeichnete sich schon während des Projektverlaufs ab, dass sich aus den erzielten Ergebnissen über das Autodiagnoseverfahren hinaus weitere Anwendungsmöglichkeiten für den Einsatz des kombinierten magnetostriktiv-faseroptischen Sensorprinzips, beispielsweise als reiner Magnetfeldsensor, ergeben. Nach Abschluss dieses Forschungsprojekts besteht nun die Möglichkeit, den Funktionszustand faseroptischer Dehnungssensoren jederzeit unabhängig von Alter, Belastung oder Kenntnis eines Referenzzustands zu einem bestimmten Zeitpunkt bestimmen zu können. Aufbauend auf diesen Ergebnissen können weiterführende Forschungen die Messmethodik vertiefend charakterisieren und weitere Anwendungsfälle erschließen. KW - Faser-Bragg-Gitter (FBG) KW - Sensorvalidierung KW - Magnetostriktive Beschichtung KW - Structural Health Monitoring (SHM) PY - 2018 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden - Projektlaufzeit: 01.04.2014 - 31.07.2018 The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible - project runtime: 01.04.2014 - 31.07.2018 SP - 1 EP - 28 AN - OPUS4-50418 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Stockmann, Jörg M. T1 - AiF Projekt GmbH, KONTRAST – schnell, sicher, sichtbar N2 - Das Projekt KONTRAST adressiert die Qualitätskontrolle (QC) zur Erfassung nano- und mikroskaliger Belegung/Degradation mittels abbildender Ellipsometrie (IE). Das BAM-Teilvorhaben beinhaltet das Screening von Benchmark-Materialsystemen und die Validierung von Messstrategien. Im Ergebnis erfolgte eine Fokussierung auf das im Vergleich zur off Null Ellipsometrie (ONE) aussichtereichere Verfahren der referenzkompensierten Ellipsometrie(RKE), das marktstrategisch in RSE (referenced spectral ellipsometry) umbenannt wurde. Alle Materialsysteme der BAM-Unterauftragnehmer konnten mit IE visualisiert werden, mit dem RSE-System in wesentlich kürzeren Zeiten, auf größeren Flächen, bei vergleichbarer Empfindlichkeit und Auflösung, Komplementärverfahren waren für den schnellen Nachweis nano- und mikroskaliger Belegung nicht konkurrenzfähig, wobei zusätzliche Materialsysteme mit niedrigem Kontrast (SnO:Ni auf Glas bzw. Cr auf Chromstahl) in der BAM hergestellt wurden. Die öffentliche Präsentation des RSE-Prototyps erfolgte auf der ICSE-7 2016 mit der Publikation 2017 in Applied Surface Science. KW - Abbildende Ellipsometrie (IE) KW - Imaging Null Ellipsometrie (INE) KW - Referenced Spectral Ellipsometry (RSE) KW - Oberflächenverunreinigungen KW - Visualisierung bei geringem Kontrast PY - 2017 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden Projektlaufzeit: 01.10.2014 bis 28.08.2017 The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible Project runtime: 01.10.2014 to 28.08.2017 SP - 1 EP - 16 AN - OPUS4-50420 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Kubitzki, Jan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Zentrifugentechnologie zur statistischen Untersuchung von Stumpfklebungen: Ergebnisse ZENSUS-Ringversuchs N2 - Der Vortrag widmet sich der „Zentrifugentechnologie zur statistischen Untersuchung von Stumpfklebungen“ und beschreibt drei wesentlich verschiedene Realsysteme (Fügefläche 1/Klebstoff/ Fügefläche 2), um die Statistik ZPM (wiederholte Ein-Proben-Prüfung) vs. CAT (Mehr-Proben-Prüfung) zu vergleichen. Dazu wurden drei unterschiedliche Klebstoff-klassen mit typischen Fügeteilmaterialkombinationen ausgewählt und in einem Vorversuch mit jeweils 3 unterschiedlichen Prüfgeschwindigkeiten sowohl im Weg-geregelten als auch Kraft-geregelten Mode beansprucht. Die Ergebnisse ZPM vs. CAT und Kraft- vs. Weg-Regelung des Vorversuches zeigten keinerlei Unterschiede auf. Im Ergebnis wurde ein Ringversuch im Kraft-geregelten Mode (6xZPM vs. 8xCAT) für ein Referenzsystem durchgeführt, der nachwies, dass die CAT-Technologie statistisch relevante Prüfergebnisse zur Klebfestigkeit bereitstellt. Es zeigte sich, dass für zwei ZPM-Teilnehmer im Vertrauensbereich 99% statistisch signifikant etwas kleinere Werte der Klebfestigkeit bestimmt wurden, was auf geringfügige Abweichungen von der axialen Ausrichtung des eingespannten Prüflings bei der Ein-Proben-ZPM-Zugprüfung zurückgeführt wird. T2 - VCI CY - Frankfurt/Main, Germany DA - 10.03.2020 KW - Zentrifugentechnologie KW - Statistischen Untersuchung KW - Normung KW - Prüfgeschwindigkeiten KW - Stumpfklebungen PY - 2020 AN - OPUS4-50581 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Duwe, M. A1 - Quast, J.-H. A1 - Schneider, S. A1 - Fischer, Daniel A1 - Beck, Uwe T1 - Thin-film metrology of tilted and curved surfaces by imaging Mueller-matrix ellipsometry N2 - For the vast majority of ellipsometric measurements, the application of planar substrates is mandatory and requires a proper sample alignment prior to the measurement. Here, the authors present a generalized approach of how to extract the isotropic ellipsometric sample parameters from an imaging Mueller-matrix measurement even if the sample is significantly misaligned. They validate the method by layer-thickness calculations based on imaging Mueller-matrix measurements of flat crystalline silicon samples that were misaligned on purpose. Furthermore, they also exploit this method’s capabilities to perform spatially resolved layer-thickness measurements of a single-layer indium-tin-oxide coating on a fused-silica microlens without the need of realignment or repositioning of the sample during the measurement. T2 - 8th International conference on spectroscopic ellipsometry (ICSE-8) CY - Barcelona, Spain DA - 26.05.2019 KW - Metrology KW - Thin films KW - Polarization spectroscopy KW - Spectroskopic Imaging KW - Mueller-Matrix imaging ellipsometry PY - 2019 U6 - https://doi.org/10.1116/1.5122757 SN - 2166-2746 SN - 2327-9877 VL - 37 IS - 6 SP - 062908 PB - AIP CY - New York, NY AN - OPUS4-50209 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rietz, U. A1 - Küchler, S. A1 - Lerche, D. A1 - Lange, Thorid A1 - Hielscher, Stefan A1 - Beck, Uwe T1 - Zentrifugalkraftbasierte Mehrprobenprüfung in einer analytischen Zentrifuge zur Bestimmung von Kleb- und Haftfestigkeiten: Metallische Referenzverbunde, Plasmaaktivierung von Polymeren, Schichthaftung auf GFK, Wirkung von Primern N2 - Das Fügeverfahren Kleben bietet viele Vorteile wie z.B. das Verbinden schwieriger Materialklassen, geringe thermische Belastung (Strukturveränderung/-schwächung) der Fügepartner und eine Lastverteilung über den gesamten Fügebereich. Die Auswahl an verfügbaren Klebstoffen und Vorbehandlungsoptionen ist dabei ebenfalls vielfältig. Einige Polymere weisen darüber hinaus Eigenschaften auf, die eine Herstellung von festen und dauerhaft beanspruchbaren Klebverbindungen erschweren. Mittels Oberflächenbehandlung, z.B. durch Plasmafeinreinigung bzw. –aktivierung, können die Grenzflächern solcher Polymere - bezogen auf die Eignung als Fügeteilpartner – optimiert werden. Schnelle Prüfverfahren zur Ermittlung von Verbundeigenschaften sind somit erforderlich. Das Messprinzip Centrifugal Adhesion Testing Technologie verwendet die radial gerichtete Zentrifugalkraft als Belastungsgröße des zu testenden Verbunds, die durch Variation der Drehzahl gesteuert wird. Bei Erreichen der kritischen Beanspruchung trennt sich ein aufgeklebter Prüfstempel vom Substrat. Zeitgleich wird ein positionsbezogenes IR-Signal aus dem drehenden Rotor an das Basisgerät gesendet und zusammen mit der Drehzahl an die PC-Software übertragen. Für jede Probe wird die Bruchkraft berechnet und in Echtzeit angezeigt. Der Adhesion Analyser LUMiFrac® untersucht bis zu acht Prüfkörper unter identischen Bedingungen. Das neue Messprinzip erfüllt die Anforderungen von DIN EN 15870, DIN EN 14869-2, ISO 4624 sowie DIN EN 13144. Die Multiprobentestung ermöglicht schnelle Charakterisierungen von Klebverbindungen. So kann der Effekt einer Plasmabehandlung von Bauteilen auf die Verbundfestigkeit zeitsparend bestimmt werden. Die gezielte Veränderung unterschiedlicher Plasma-Parameter, wie beispielsweise, die Plasmazusammensetzung, der Abstand vom Plasmabrenner zur Oberfläche oder die Verweildauer unter dem Brenner, beeinflußt die Festigkeit des Klebsystems und ist dem LUMiFrac direkt quantifizierbar. Neben der Festigkeitsbestimmung von Klebverbindungen ist die Haftung von Schichtsystemen ein wichtiger Anwendungsbereich. Ergebnisse für Zug- und Scherbeanspruchung, realisiert mit unterschiedlichen Prüfkörper-Geometrien, werden vorgestellt. Ferner werden verschiedene festigkeitsbeeinflussende Faktoren, wie Prüfgeschwindigkeit oder Substratverformung bei Beanspruchung untersucht T2 - 35. Workshop des ak-adp CY - Nuremberg, Germany DA - 20.11.2019 KW - Adhäsion KW - Mehrprobenprüfung KW - Analytische Zentrifuge KW - Kleb- und Haftfestigkeit PY - 2019 SN - 978-3-00-063646-2 SP - 100 EP - 109 AN - OPUS4-50149 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Mechanische, topometrische und optische Charakterisierung von Schichten mit Stand der Normung N2 - Der Vortrag „MECHANISCHE, TOPOMETRISCHE UND OPTISCHE CHARAKTERISIERUNG VON SCHICHTEN MIT STAND DER NORMUNG“ widmet sich unterschiedlichen Beschichtungssystemen und deren mechanischer, topometrischer und optischer Charakterisierung. Über die entsprechenden aktuellen Normen wird informiert. Es betrifft Verfahren wie die Instrumentierte Eindringprüfung (IIT), Centrifugal Adhesion Testing, Weißlichtinterferenzmikroskopie, Tastschnittverfahren und Ellipsometrie (SE). T2 - EFDS, V2019, Vakuum und Plasma CY - Dresden, Germany DA - 08.10.2019 KW - Normung KW - Spektrale Ellipsometrie (SE) KW - Instrumentierte Eindringprüfung (IIT) KW - Centrifugal Adhesion Testing (CAT) KW - Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM, 3D) PY - 2019 AN - OPUS4-49320 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe T1 - Abschlussbericht zum BMWi / MNPQ – Verbundprojekt Quo Vadis Qualitätssicherung von Verbundwerkstoffen und Validierung des Zentrifugenversuchs – eines neuartigen Prüfverfahrens zur Bestimmung von Verbundfestigkeiten N2 - Quo Vadis – Kurzdarstellung Im Fokus von Quo Vadis stehen die Qualitätssicherung von Verbundwerkstoffen und die Validierung der Zentrifugentechnologie zur quantitativen Bestimmung von Festigkeitswerten in der Beanspruchung auf Zug als Mehr-Proben-Prüfverfahren unter Verwendung einer analytischen Zentrifuge (nachfolgend als „Adhesion Analyser LUMiFrac®“ bezeichnet). Zu den Festigkeiten, die mit Hilfe des LUMiFrac® unter Verwendung aufgeklebter Prüfstempel bestimmt werden, gehören die Fügefestigkeit (FF) von Klebverbindungen, die Haftfestigkeit (HF) von Beschichtungen sowie die Verbundfestigkeit (VF) von Faserverbundwerkstoffen. Aufbauend auf zwei Funktionsmustern der analytischen Zentrifuge sollen für die genannten Anwendungsszenarien (FF, HF, VF) in Anlehnung an die geltenden Normen DIN EN 15870 „Klebstoffe – Zugprüfung zur Bestimmung der Zugfestigkeit von Stumpfklebungen“ und DIN EN ISO 4624 „Beschichtungsstoffe – Abreißversuch zur Beurteilung der Haftfestigkeit“ geeignete Prüfstrategien und -abläufe sowie zum Klebprozess kompatible Aufnahmen für den Prüfkörperverbund in der Zentrifuge entwickelt werden. Im Ergebnis des Vorhabens soll ein automatisiertes und validiertes Mehr-Proben-Prüfverfahren zur Qualitätssicherung von Verbundfestigkeiten zur Verfügung stehen, welches neben der Hardware auch eine Software für die angepassten Prüfstrategien in Form von SOPs (standard operating procedures) bereitstellt. KW - Zentrifugentechnologie KW - Mehr-Proben-Prüfverfahren KW - Fügefestigkeit KW - Klebverbindungen KW - Haftfestigkeit KW - Beschichtungen KW - Verbundfestigkeit KW - Zugfestigkeit PY - 2015 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden Projektlaufzeit: 01.05.2012 bis 31.08.2015 The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible Project runtime: 01.05.2012 bis 31.08.2015 SP - 1 EP - 12 AN - OPUS4-50390 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Krüger, A. T1 - Abschlussbericht für das Kooperationsprojekt zwischen Unternehmen und Forschungseinrichtungen (KF) - Nanoskalige Haftvermittler zur Erhöhung der Haft- bzw. Klebfestigkeit kritischer Verbundsysteme unter Verwendung von ALD-Hybridprozessen N2 - Aufzählung der wichtigsten wissenschaftlich-technischen und anderer wesentlicher Ergebnisse • ALD Abscheidungen auf Polymeren (PE, PP, PTFE) unter Atmosphärendruck und im Vakuum mit Ozon als Oxidationsmittel wurden durchgeführt: - Mit Variation der Schichtdicke - Mit Variation der Zykluszeit - Mit und ohne Ozon Vorbehandlung der Oberfläche • ALD Abscheidungen auf (PE, PP, PTFE) in Vakuum mit O2- und H2-Plasma Vorbehandlung wurden durchgeführt. - Mit Variation der Schichtdicke - Mit Variation der Zykluszeit - Mit und ohne Plasma Vorbehandlung der Oberfläche • Die ALD Prozesse wurden mit in situ Laserellipsometrie untersucht. • Die ALD Schichten wurden für die Haftfestigkeit bei der BAM ausgewerte KW - ALD-Abscheidungen KW - Plasma Vorbehandlung KW - Laserellipsometrie KW - Haftfestigkeit PY - 2017 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden - The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible - Projektlaufzeit: 01.07.2015-30.06.2017 - Project runtime: 01.07.2015-30.06.2017 SP - 1 EP - 17 AN - OPUS4-50386 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid T1 - Validierung der Oberflächenbehandlung für hochfeste Klebverbindungen und Beschichtungen als durchgehendes Mehr-Proben-Konzept in den Schritten Reinigung, Vorbehandlung, Klebung und Prüfung der Verbundfestigkeit "OKTETT - Acht auf einen Streich" N2 - Aus der Möglichkeit mittels Zentrifugentechnologie bis zu 8 Proben gleichzeitig einer Zugprüfung unter wirklich identischen Bedingungen, schnell über einfaches Einstecken der Proben und unter Ausschluss jeglicher Querkräfte, zu unterziehen , ergab sich für Klebverbindungen erstmals die Möglichkeit einer statistisch abgesicherten Prüfung identischer bzw. einer vergleichend bewertenden Prüfung unterschiedlicher Verbundsysteme. Es war deshalb naheliegend, auch das Aufkleben der Prüfstempel unter möglichst identischen Bedingungen und ebenfalls frei von Querkräften im OKTETT durchzuführen. Außerdem sind beim durchgehenden Handling im OKTETT die identische Vorbehandlung vor dem Kleben, identische Transferzeiten und -bedingungen zwischen den verschiedenen Prozessschritten, eine weitgehend gleichartige Klebstoffaufbereitung und -applikation sowie die bessere Einhaltung von gleichen Verarbeitungs- und Aushärtezeiten der Klebstoffe vor der Prüfung der Verbundfestigkeit für jeweils 8 Proben sichergestellt. Im Ergebnis dieser Überlegungen stellte sich schnell heraus, dass das Mehr-Proben-Kleben unter identischen Bedingungen für in Grenzen unterschiedliche Verbundsysteme eine ungelöste Aufgabenstellung ist. KW - Zentrifugentechnologie KW - Mehr-Proben-Handling KW - Ranking und Statistik KW - Verbundfestigkeit KW - Klebfestigkeit PY - 2014 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden Projektlaufzeit: 01.10.2014 bis 30.09.2014 The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible Project runtime: 01.10.2014 to 30.09.2014 SP - 1 EP - 14 AN - OPUS4-50429 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. T1 - Abschlussbericht zum BMWi - MNPQ – Verbundprojekt QUO VADIS PLUS (Mehr-Proben-Festigkeitsprüfung zur Qualitätssicherung in der Materialtechnik und Validierung der Zentrifugentechnologie bei Druck- bzw. Zugbeanspruchung) N2 - Im Fokus des Vorhabens steht das mit dem Innovationspreis Berlin-Brandenburg 2012 ausgezeichnete Mehr-Proben-Prüfverfahren zur Festigkeitsprüfung unter Verwendung einer analytischen Zentrifuge mit dem Ziel des Einsatzes in der Qualitätssicherung. Nachdem im MNPQ-Projekt QUO VADIS die grundsätzliche Anwendbarkeit der Zentrifugentechnologie auf Beanspruchungen auf Zug (Kleb-, Haft- und Verbundfestigkeit) nachgewiesen worden war, wurden im Vorhaben QUO VADIS PLUS folgende erweiterte Prüfszenarien und technische Weiterentwicklungen etabliert: 1. Beanspruchung auf Druck (Härte von Materialien, Kompressibilität von Schäumen, Kompaktierbarkeit von Pulvern), 2. Erweiterung der Beanspruchung auf Zug (Kombination von Normal- und Lateralkräften), 3. Erweiterung auf die Bewertung plasto-elastischenn Materialverhaltens, 4. Vermeidung von Schockwellen im Hochlastbereich KW - Analytische Zentrifuge KW - Mehr-Proben-Prüfverfahren KW - Härte KW - Kompressibilität KW - Kompaktierbarkeit KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit KW - Verbundfestigkeit PY - 2019 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden Projektlaufzeit: 01.05.2015 bis 28.02.2019 The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible Project runtime: 01.05.2015 to 28.02.2019 SP - 1 EP - 20 AN - OPUS4-50406 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel T1 - Abschlusspräsentation zum Unterauftrag des BMWi Projekts ARGUS N2 - Im Rahmen eines BMWi Projekts der Fa. Innovent Jena, bei dem ein neuartiger optischer Sensor zur Bewertung der Oberflächenqualität und Reinheit von optischen Gläsern im Fokus stand, wurden die abbildende Ellipsometrie, die IR-Mikroskopie und die Weißlichtinterferenzmikroskopie als Referenzverfahren herangezogen. Mittels Brewster-Winkelmessungen konnten „Wolkenstrukturen“ identifiziert werden, die bei nachfolgenden Beschichtungsprozessen zu Schichtdefekten führen können. Außerdem wurden mittels Ellipsometrie Änderungen im Brechungsindex der Floatgläser (Luft- bzw. Zinnseite) nachgewiesen. Topographie Oberflächenmerkmale wie Welligkeit, Rauheit und Kreuzrillen konnten mittels Weißlichtinterferenzmikroskopie bzw. abbildender Ellipsometrie identifiziert werden. T2 - Projektverteidigung: Abschlusspräsentation zum Unterauftrag ARGUS, 14.12.2017, Jena, Innovent CY - Jena, Germany DA - 14.12.2017 KW - Glasoberflächen KW - Imaging Ellipsometrie KW - Verunreinigungen KW - Fehlstellen KW - Weißlichtinterferenzmikroskopie KW - Topographie PY - 2017 AN - OPUS4-50439 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Unger, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Krüger, Jörg T1 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Berichtszeitraum Herbst 2018 – Frühjahr 2019 N2 - Der Vortrag gibt den aktuellen Stand der Normung im Bereich der Oberflächentechnik insbesondere der Oberflächenanalytik und der Oberflächenmess- und -prüftechnik wider. Vorgestellt wird der Status technischer Berichte, Normenentwürfe und Normen u.a. zur Bewertung von Auflösung und Schärfe mit strahlbasierten Methoden im Nanometer- und Mikrometerbereich, zur Messung von Schichtdicken und Nanopartikeln in kritischen Dimensionen einschließlich Größen- und Formverteilungen mittels REM, zur Messung der Schichtdicke von Nanomaterialien und zur Klassifizierung von Kohlenstoffschichten mittels Ellipsometrie, zur Standardisierung der Ellipsometrie, zur Kalibrierung von Konfokalmikros-kopen für die Formmessung, zur linear elastisch dynamischen instrumentierten Eindringprüfung, zur Messung der flächenbezogenen Masse mittels AAS und ICP, zur Schichtpotentialmessung von Mehrfach-Nickelschichten, zur Schichtdicken und Flächen-widerstandsbestimmung sowie zur Bestimmung der Schichthaftung mittels Zentrifugentechnologie. T2 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, CY - Karlsruhe, Germany DA - 09.04.2019 KW - Stand der Normung KW - Oberflächenanalytik KW - Oberflächenmesstechnik KW - Qualitätssicherung PY - 2019 AN - OPUS4-48874 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Unger, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Krüger, Jörg T1 - Plasma Germany, Fachausschuss Normung, Berichtszeitraum Frühjahr 2018 - Herbst 2018 N2 - Der Vortrag gibt den aktuellen Stand der Normung im Bereich der Oberflächen-technik insbesondere der Oberflächenanalytik und der Oberflächenmess- und -prüftechnik wider. Vorgestellt wird der Status technischer Berichte, Normenentwürfe und Normen u.a. zur Charakterisierung von funktionellen Glasoberflächen für bioanalytische Anwendungen, zur Messung der Schichtdicke von Nanomaterialien mittels Ellipsometrie, zur Kalibrierung von Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung, zur Rockwelleindringprüfung zur Bewertung der Schicht-haftung, zu den Grundlagen der Ellipsometrie, zur Messung der Schichtdicke mittels Wirbelstromverfahren, zur Schichtpotentialmessung von Mehrfach-Nickelschichten, zu Filtern und Augenschutzgeräten gegen Laserstrahlung sowie zur Bestimmung der Schichthaftung mittels Zugversuch. T2 - Fachausschuss Normung, Herbstsitzung CY - Jena, Germany DA - 06.11.2018 KW - Stand der Normung KW - Oberflächentechnik KW - Oberflächenanalytik KW - Oberflächenmesstechnik KW - Oberflächenprüftechnik PY - 2018 AN - OPUS4-48894 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Weise, Matthias A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. T1 - Centrifugal force meets materials testing – analytical centrifuge as multipurpose tool for tensile and compressive stress testing N2 - Up until several years ago, tensile and compressive tests have been exclusively carried out as single-sample tests within a tensile, hardness or universal testing machine. The availability of centrifuge technology changed this situation in 2013 in several ways because centrifugal force is used as testing force within a rotational reference frame. Firstly, multiple-sample strength testing became feasible for both tensile load condi-tions, e.g. determination of composite, bonding or adhesive strength, and compressive load conditions, e.g. hardness, compressibility and compactibility. Secondly, there is no need for a two-sided sample clamping and double-cardanic suspensions as samples are simply inserted using a one-sided sample support. Thirdly, shear forces can be avoided by means of guiding sleeves which steer test stamps acting as mass bodies for either tensile or compressive testing. Fourthly, up to eight samples can be tested under identical conditions within a very short period of time, typically within 15 minutes including sample loading and unloading. Hence, either a reliable statistics (of identical samples) or a ranking (of different samples) can be derived from one test run. The bench-top test system is described in detail and demonstrated that centrifugal force acts as testing force in an appropriate way because Euler and Coriolis force do not affect the testing results. Examples for both tensile strength testing, i.e. bonding strength of adhesives-bonded joints and adhesive strength of coatings, and compres-sive strength testing, i.e. Vickers-, Brinell- and ball indentation hardness and deter-mination of spring constants, are presented, discussed and compared with conven-tional tests within tensile, hardness or universal testing machines. At present, a maximum testing force of 6.5 kN can be realized which results at test stamp diameters of 5 mm, 7 mm, and 10 mm in tensile or compressive stress values of 80 MPa, 160 MPa, and 320 MPa. For tensile strength, this is already beyond bonding strength of cold- and warm-curing adhesives. Moreover, centrifuge technology is compliant to standards such as EN 15870, EN ISO 4624, EN ISO 6506/6507 and VDI/VDE 2616. Programmable test cycles allow both short-term stress and log-term fatigue tests. Based on a variety of examples of surface and bonding technology, applications in both fields R&D and QC are presented. Meanwhile, centrifuge technology is also accredited according to DIN EN ISO/IEC 17025. T2 - Intermationa Conference Dispersion Analysis & Materials Testing CY - Berlin, Germany DA - 22.05.2019 KW - Centrifugal Force KW - Compressive Stress KW - Tensile Stress PY - 2019 AN - OPUS4-48310 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Dähne, L. A1 - Lerche, K.-H. T1 - Schlussbericht zum BMWi/MNPQ-Verbundprojekt: PLASMA-FIT (PLASMA-kompatible Partikel zur gepulsten in-situ Injektion von ex-situ hergestellten Partikeln für add-on Funktionen und zur Identifizierung in BeschichTungen) N2 - Im Fokus steht die Qualitätssicherung mit Blick auf Herstellung, Modifizierung, Handling und Erprobung von PLASMA-kompatiblen Partikeln zur gepulsten in-situ Injektion von ex-situ hergestellten Partikeln für add-on Funktionen in und zur Identifikationsprüfung von BeschichTungen (PLASMA-FIT). Im Kern war zunächst zu prüfen, welche Klassen ex-situ hergestellter Partikel unterschiedlichster Materialien überhaupt bzw. unter welchen Bedingungen PLASMA-fit sind oder unter welchen Randbedingungen PLASMA-fit gemacht werden können. In den dazugehörenden Projektphasen Screening und Adaption stand dabei das komplexe Beanspruchungsszenario bestehend aus Vakuum-, Temperatur- und wenigstens kurzzeitiger Plasmabeständigkeit der ex-situ bereitgestellten Partikel im Fokus. In der Projektphase Applikation sollte dann unter Verwendung einer modifizierten Plasmaquelle (BAM-Patentanmeldung, beabsichtigte Lizenznahme durch Fa. CemeCon, Optionsvertrag) hinsichtlich der Realisierbarkeit, Prüfung und Qualitätssicherung von Plasmadispersionsschichten ein erster Praxistest zur in-situ Injektion von Partikeln in einen laufenden Beschichtungsprozess, zur Realisierung funktioneller Eigenschaften z.B. zur Identifikation oder Authentifizierung von Originalteilen, vorgenommen werden KW - Plasma-kompatible Partikel KW - Plasma-Injektion KW - add-on Funktionen PY - 2015 N1 - Das Dokument unterliegt der Vertraulichkeit und kann nicht zugänglich gemacht werden - The document is subject to confidentiality restrictions and cannot be made accessible - Projektlaufzeit: 17.11.2010-16.02.2015 - Project runtime: 17.11.2010-16.02.2015 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-48360 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel T1 - MISTRAL-Müller-Matrix-basierte Identifizierung von Inhomogenitäten und strukturellen Anomalien N2 - Mit abbildender Ellipsometrie (imaging ellipsometry: IE) können Nanometer-Beschichtungen/ Degradationen visualisiert und bezüglich Brechungsindex n, Extinktionskoeffizient k und Schichtdicke d charakterisiert werden. Materialseitig werden lokal Homogenität und Isotropie innerhalb eines/mehrerer Bildpunkte (field of analysis: FOA) und messtechnisch global die Ebenheit der Proben bezüglich aller Bildpunkte des Messfeldes vorausgesetzt. Für die Müller-Matrix-basierte abbildende Ellipsometrie (MM-IE), die den optischen Response anisotroper Materialien in jedem Bildpunkt über die bis zu 16 Müller-Matrix-Elemente erfasst, ist dies von besonderer Relevanz. Reale Substrate sind aber oft nicht eben, können lokal Noppen/Mulden (im FOA) aufweisen oder sind global konvex/ konkav im möglichen Messfeld (field of view: FOV) gekrümmt. Diese lokalen/globalen strukturellen Anomalien des Substrats werden schon für die IE messtechnisch/modellseitig oft nicht beherrscht und sind für die MM-IE in der Wirkung auf die MM-Elemente unbekannt. Diese Defizite sollen messtechnisch bzw. modellmäßig behoben und somit die Messung lokal/global gekrümmter Oberflächen ermöglicht werden (MM-CSIE, CS curved surface). KW - Abbildende Ellipsometrie (IE) KW - Müller-Matrix Ellipsometrie (MM-IE) KW - Gekrümmte Oberflächen KW - Schichtdicke KW - Optische Konstanten PY - 2020 SP - 1 EP - 7 AN - OPUS4-51574 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe A1 - Duwe, M. A1 - Quast, J.-H. A1 - Schneider, S. T1 - Effect of curvature of spherical microscopic indentations on the ellipsometric readout N2 - The authors describe and interpret curvature-related changes to the ellipsometric readout. As model system for a concave curvature, a set of three spherical microscopic indents in silicon (100) of different sizes was prepared by instrumented indentation testing using a spherical indenter. For reference, these samples were characterized by AFM to reveal the topography of each structure. The concavelike indents were analyzed by Mueller-Matrix imaging ellipsometry to extract lateral intensity images of 12 elements of the Mueller-Matrix. As a result of the detailed analysis of the image elements m22, m23, and m14, it was possible to correlate intensity changes and symmetry properties to depolarization and cross polarization induced by the edge threshold and the curved surface of the indent. KW - Spectroskopic Imaging KW - Mueller-Matrix imaging ellipsometry KW - Structural anomalies KW - Structural inhomogenities PY - 2019 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-498105 VL - 37 IS - 6 SP - 062906-1 EP - 062906-5 PB - American Vacuum Society AN - OPUS4-49810 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Florian, Camilo A1 - Fischer, Daniel A1 - Freiberg, K. A1 - Duwe, M. A1 - Sahre, Mario A1 - Schneider, S. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg A1 - Rettenmayr, M. A1 - Beck, Uwe A1 - Undisz, A. A1 - Bonse, Jörn T1 - Single Femtosecond Laser-Pulse-Induced Superficial Amorphization and Re-Crystallization of Silicon N2 - Superficial amorphization and re-crystallization of silicon in <111> and <100> orientation after irradiation by femtosecond laser pulses (790 nm, 30 fs) are studied using optical imaging and transmission electron microscopy. Spectroscopic imaging ellipsometry (SIE) allows fast data acquisition at multiple wavelengths and provides experimental data for calculating nanometric amorphous layer thickness profiles with micrometric lateral resolution based on a thin-film layer model. For a radially Gaussian laser beam and at moderate peak fluences above the melting and below the ablation thresholds, laterally parabolic amorphous layer profiles with maximum thicknesses of several tens of nanometers were quantitatively attained. The accuracy of the calculations is verified experimentally by high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and energy dispersive X-ray spectroscopy (STEM-EDX). Along with topographic information obtained by atomic force microscopy (AFM), a comprehensive picture of the superficial re-solidification of silicon after local melting by femtosecond laser pulses is drawn. KW - Femtosecond laser KW - Silicon KW - Amorphization KW - Crystallization KW - Spectroscopic imaging ellipsometry PY - 2021 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-523687 UR - https://www.mdpi.com/1996-1944/14/7/1651 SN - 1996-1944 VL - 14 IS - 7 SP - 1651-1 EP - 1651-21 PB - MDPI AG CY - Basel, Switzerland AN - OPUS4-52368 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Messunsicherheiten in Messungen und Oberflächencharakterisation: Ellipsometrie, Härte und Haftprüfung N2 - Die Angabe der Messunsicherheit wird im Rahmen von Konformitätsbewertungen gefordert. Die Messunsicherheit gibt an, wie sicher der wahre Wert der Messgröße getroffen wird. Für ihre Ermittlung gibt es unterschiedliche Ansätze, allen voran der „Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement“ (GUM). In der geplanten Auditoren- und Bewerterschulung sollen in einem Übersichtsvortrag "Uncertainty Budgets in Measurement and Testing for Surface Characterization: Ellipsometry, Hardness and Adhesion Testing" Herangehensweisen und Methoden zur Ermittlung der Messunsicherheit vorgestellt und anschließend anhand beispielhafter Anwendungen aus den Arbeitsbereichen der BAM erklärend untersetzt werden. Mit dieser Schulung sollen die Auditoren und Bewerter der BAM befähigt werden, geltende Anforderungen zur Messunsicherheit handhaben und beurteilen zu können. T2 - Auditoren- und Bewerterschulung CY - BAM, Berlin, Germany DA - 05.04.2017 KW - GUM KW - Messunsicherheit KW - Oberflächencharakterisierung KW - Ellipsometrie, Härte,und Haftung KW - Härte KW - Haftung PY - 2017 AN - OPUS4-39767 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Reiners, G. T1 - Kratzbeständigkeit – Prüfmethoden und deren Praxistauglichkeit N2 - Der Vortrag widmet sich modifizierten Oberflächen zur Erhöhung der Kratzbeständigkeit sowie entspre-chenden Prüfmethoden und bewertet deren Praxis-tauglichkeit. Nach einer Übersicht zu Begriffen und Definitionen wird die wirtschaftliche Bedeutung der Kratzbeständigkeit aufgezeigt. Neben generellen Anforderungen an Mess-und Prüfverfahren hinsicht-lich Einsatzbereichen, Messunsicherheit und Validie-rung werden diverse Verfahren zur Erzeugung und Bewertung Einzel- und Vielfach-Kratzern nebst ent-sprechenden Normen vorgestellt. Die analytische Charakterisierung, werkstofftechnische Gesichts-punkte und eine Zusammenstellung aktuell gültiger Normen zur Kratzbeständigkeit schließen den Vortrag ab. T2 - Seminar: Modifikation der Kratz- und Abriebsbeständigkeit von Kunststoffen CY - SKZ – KFE GmbH Peine, Germany DA - 09.05.2017 KW - Kunststoff-Oberflächen KW - Kratzbeständigkeit KW - Härte KW - Abrieb KW - Prüfverfahren KW - Normung PY - 2017 AN - OPUS4-40258 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Hielscher, Stefan A1 - Grunwald, Daniel A1 - Beck, Uwe ED - Frenz, H. ED - Langer, J. B. T1 - CAT-Technologie als neues Multiprobenverfahren N2 - Das Fügeverfahren Kleben bietet viele Vorteile, wie das Verbinden verschiedener Materialklassen und eine Lastverteilung über den gesamten Fügebereich, und erfordert schnelle Prüfverfahren zur Ermittlung von Verbundeigenschaften. Das Messprinzip CAT-Technologie® (Centrifugal Adhesion Testing) verwendet die radial gerichtete Zentrifugalkraft als Belastungsgröße, die durch programmierbare Variation der Drehzahl statisch oder dynamisch vorgegeben wird. Bei Erreichen der kritischen Beanspruchung trennt sich der Prüfstempel vom Substrat, zeitgleich wird ein positionsbezogenes Signal aus dem drehenden Rotor gesendet und zusammen mit der Drehzahl an die PC-Software übertragen. Für jede Probe wird die Bruchkraft berechnet und in Echtzeit angezeigt. Der Adhesion Analyser LUMiFrac® untersucht simultan bis zu acht Prüfkörper unter identischen Bedingungen. Das neue Messprinzip erfüllt die Anforderungen von DIN EN 15870, DIN EN 14869-2 und ISO 4624. Neben der Festigkeitsbestimmung von Klebverbindungen ist die Haftung von Schichtsystemen ein weiterer wichtiger Anwendungsbereich. Ergebnisse für Zug- und Scherbeanspruchung, realisiert mit unterschiedlichen Prüfkörper-Layouts, werden vorgestellt und Festigkeit beeinflussende Faktoren, wie Prüfgeschwindigkeit oder Substratverformung bei Beanspruchung, werden aufgezeigt. Die Charakterisierung von Klebebandeigenschaften über die Möglichkeiten der Schälprüfung hinaus wird gezeigt. Des Weiteren werden experimentelle Ergebnisse durch zyklische Belastung (Ermüdung) im Vergleich zu Stan-dard-Tests diskutiert. T2 - Tagung „Werkstoffprüfung" 2017 CY - Berlin, Germany DA - 30.11.2017 KW - Adhäsion KW - Festigkeit KW - Scherbelastung KW - Zugbelastung KW - analytische Zentrifuge PY - 2017 SN - 978-3-9814516-7-2 SN - 1861-8154 SP - 277 EP - 282 PB - DVM Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-43414 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Köppe, Enriko A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Gaal, Mate A1 - Schukar, Vivien A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - LAYER-based Sensors for Monitoring: Surface Plasmon Resonance, Air-coupled UltraSonics, Magneto-optical Coupling N2 - The talk addresses layer-based sensors for monitoring applications. In particular, sensor principles surface plasmon resonance (SPR), air-coupled ultrasonic, and magneto-optical coupling are discussed. Optical sensors on planar substrates are prepared by sol-gel, CVD- and PVD deposition techniques, ultrasonic sensors on planar and curved substrates are made by means of PVD processes, and magnetostrictive coatings for magneto-optical sensors are deposited on fibre-based Bragg gratings (FBGs) using PVD and ECD techniques. For all kinds of sensors design and function are explained and discussed, i.e. regarding sensitivity. It is shown that a) SPR enhanced ellipsometry is a promising tool for gas monitoring of hazardous gases, that b) thermos-acoustic and piezo-electric pulse-echo techniques are relevant for damage inspection of hidden volume defects of CFRPs, and that c) magnetostrictive-optical sensors with self-calibrating (magnetic reference field) function are useful for structural health monitoring in terms of strain sensors. T2 - Vortrag im National Institute of Standards and Technology, Ceramics Division, Nanoscale Strength Measurement and Standards CY - NIST Gaithersburg, Maryland, USA DA - 28.04.2017 KW - Layer-based sensors KW - Surface plasmon resonance (SPR), KW - Air-coupled ultrasonics KW - Magneto-optical coupling KW - Gas monitoring KW - Damage inspection KW - Structural health monitoring PY - 2017 AN - OPUS4-40465 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Lohse, V. A1 - Negendank, D. A1 - Kormunda, M. A1 - Esser, N. T1 - Thin SnOx films for surface plasmon resonance enhanced ellipsometric gas sensing (SPREE) N2 - Background: Gas sensors are very important in several fields like gas monitoring, safety and environmental applications. In this approach, a new gas sensing concept is investigated which combines the powerful adsorption probability of metal oxide conductive sensors (MOS) with an optical ellipsometric readout. This concept Shows promising results to solve the problems of cross sensitivity of the MOS concept. Results: Undoped tin oxide (SnOx) and iron doped tin oxide (Fe:SnOx) thin add-on films were prepared by magnetron sputtering on the top of the actual surface plasmon resonance (SPR) sensing gold layer. The films were tested for their sensitivity to several gas species in the surface plasmon resonance enhanced (SPREE) gas measurement. It was found that the undoped tin oxide (SnOx) shows higher sensitivities to propane (C3H8) then to carbon monoxide (CO). By using Fe:SnOx, this relation is inverted. This behavior was explained by a change of the amount of binding sites for CO in the layer due to this iron doping. For hydrogen (H2) no such relation was found but the sensing ability was identical for both layer materials. This observation was related to a different sensing mechanism for H2 which is driven by the Diffusion into the layer instead of adsorption on the surface. Conclusion: The gas sensing selectivity can be enhanced by tuning the properties of the thin film overcoating. A relation of the binding sites in the doped and undoped SnOx films and the gas sensing abilities for CO and C3H8 was found. This could open the path for optimized gas sensing devices with different coated SPREE sensors. KW - Doped tin oxide KW - Ellipsometry KW - Gas sensing KW - Surface plasmon KW - Resonance KW - Thin films KW - Transparent conductive oxides PY - 2017 U6 - https://doi.org/10.3762/bjnano.8.56 SN - 2190-4286 VL - 8 SP - 522 EP - 529 AN - OPUS4-39391 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hinrichs, K. A1 - Beck, Uwe A1 - Esser, N. T1 - Editorial to the proceedings of the 7th conference on spectroscopic N2 - The 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7) was held in Berlin in June 2016, jointly organised by ICSE and BAM. The publication of the proceedings special issue in Applied Surface Science follows this event. In the special issue, about 100 articles on current topics of optics and surface science related to ellipsometry, polarimetry, and similar techniques are presented, underpinning the high significance of these techniques for many fields of materials science. T2 - 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, ICSE-7 CY - Berlin, Germany DA - 06.06.2016 KW - Spectroscopic ellipsomety PY - 2017 U6 - https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.04.081 SN - 0169-4332 VL - 2017 IS - 421 SP - 269 EP - 270 PB - Elsevier B.V. AN - OPUS4-42554 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Sarma, Dominik A1 - Mielke, Johannes A1 - Sahre, Mario A1 - Beck, Uwe A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rurack, Knut T1 - TSEM-based contour analysis as a tool for the quantification of the profile roughness of silica shells on polystyrene core particles N2 - Core-shell (CS) particles with a polymeric core and a silica shell play an important role in the materials and (bio)analytical sciences. Besides the establishment of reliable synthesis procedures, comprehensive particle characterization is essential for batch-to-batch reproducibility and objective performance assessment across architectures, protocols, and laboratories. Particle characterization with respect to size, size distribution, shell thickness and texture, surface area and roughness or materials composition is commonly conducted with different analytical methods, often on different samples. Our approach uses a dual-mode TSEM/SEM set-up with an EDX detector to obtain a complementary data set with sufficient statistical confidence of one and the same sample on a single instrument. Our protocol reveals information about size, size distribution and shell thickness of the various particles employed from overview images, while an increased field of view (FOV) and high-resolution EDX analysis yields detailed information on shell texture and elemental composition. An image analysis tool was developed to derive and quantify the profile roughness of CS particles from individual beads. Comparison with surface roughness data from AFM showed a similar trend in roughness across the series of particles. Reliable classification into smooth and rough is proposed and roughness changes within different particle batches were tracked systematically. KW - Core-shell particles KW - Electron microscopy KW - Transmission mode KW - Roughness KW - Image analysis PY - 2017 U6 - https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.07.099 SN - 0169-4332 SN - 1873-5584 VL - 426 IS - 1 SP - 446 EP - 455 PB - Elsevier B.V. CY - Amsterdam AN - OPUS4-42256 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Unger, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas T1 - Herbstsitzung Plasma Germany 2017, Frohnhausen N2 - Der Vortrag widmet sich den Normenentwicklungen auf den Gebieten der • Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie • Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse • Prüfverfahren (zu Nanotechnologien) • Hardness Testing • Oberflächenmesstechnik im Mikro- und Nanobereich • Kohlenstoff- und keramische Hartstoffschichten • Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme • Dünne Schichten für die Optik • Coating Qualification Tests T2 - FA_NORMUNG_PLASMA_GERMANY CY - Frohnhausen, Germany DA - 08.11.2017 KW - Normen KW - Oberflächentechnik KW - Oberflächenanalytik KW - Oberflächenmesstechnik PY - 2017 AN - OPUS4-42821 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Fischer, Daniel A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe A1 - Negendank, Detlef A1 - Lohse, Volkmar A1 - Kormunda, M. A1 - Esser, N. T1 - Dependence of the optical constants and the performance in the SPREE gas measurement on the thickness of doped tin oxide over coatings N2 - In this study, thickness related changes of the optical properties of doped tin oxide were studied. Two different sets of samples were prepared. The first set was doped with iron or nickel on silicon substrate with thicknesses of 29–56 nm, the second was iron doped on gold/glass substrate with 1.6–6.3 nm. The optical constants were determined by using spectral ellipsometry (SE) followed by modelling of the dielectric function with an oscillator model using Gaussian peaks. The analysis of the optical constants shows a dependence of the refraction and the absorption on the thickness of the doped tin oxide coating. In addition to the tin oxide absorption in the UV, one additional absorption peak was found in the near-IR/red which is related to plasmonic effects due to the doping. This peak shifts from the near-IR to the red part of the visible spectrum and becomes stronger by reducing the thickness, probably due to the formation of metal nanoparticles in this layer. These results were found for two different sets of samples by using the same optical model. Afterwards the second sample set was tested in the Surface Plasmon Resonance Enhanced Ellipsometric (SPREE) gas measurement with CO gas. It was found that the thickness has significant influence on the sensitivity and thus the adsorption of the CO gas. By increasing the thickness from 1.6 nm to 5.1 nm, the sensing ability is enhanced due to a higher coverage of the surface with the over coating. This is explained by the high affinity of CO molecules to the incorporated Fe-nanoparticles in the tin oxide coating. By increasing the thickness further to 6.3 nm, the sensing ability drops because the layer disturbs the SPR sensing effect too much. T2 - 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7) DA - 06.06.2016 KW - Surface plasmon resonance KW - Spectroscopic ellipsometry KW - Doped tin oxide KW - Gas sensing KW - Plasmonic absorption PY - 2017 U6 - https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.188 SN - 0169-4332 VL - 421, Teil B SP - 480 EP - 486 PB - Elsevier B.V. AN - OPUS4-42692 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hidde, Gundula A1 - Lange, Thorid A1 - Gargouri, H. A1 - Kärkkänen, I. A1 - Naumann, F. T1 - Plasma Activation and Plasma-assisted ALD Surface Modification of Polymers for Improved Bonding and Adhesive Strength N2 - Bonding strength is crucial on polymers of low surface energy, for clean surfaces limited to 0.5, 1, and 2 MPa for PTFE, PP, and PE. Plasma treatment may improve bonding strength by a factor of 2 (PTFE) or 5 (PP and PE). The efficiency of treatment is usually 10% as both low pressure and atmospheric pressure processes show low topographic conformity. Besides, lifetime of activation/modification is rather short. Hence, bonding has to be carried out immediately after plasma treatment. The concept of plasma-assisted ALD (atomic layer deposition) interlayers was introduced in the project HARFE of SENTECH (modification/deposition/in-situ monitoring) and BAM (bonding, characterization, testing). ALD deposition has a high surface conformity and for dielectric films of Al2O3 also a good long-term stability given that the films are dense enough. Based on TMA and O2/O3 precursors, ALD layer stacks from 60 to 375 monolayers were prepared under different conditions. For a transfer time of 24 hours from deposition to measurement, bonding strength could be increased up to 5 MPa (PTFE) respectively 10 MPa (PP, PE). The huge potential of ALD layers as adhesive interlayers was demonstrated for Al2O3 on stainless steel with bonding strength beyond 15 MPa, i.e. interface strength within the ALD stack is also in this range. This is a prerequisite for subsequent PVD/CVD-deposition in hybrid systems. By means of the SI ALD LL system of SENTECH thermal and plasma-supported ALD processes can be alternatively realized. Ellipsometric in-situ monitoring provides monolayer sensitivity and reveals that the efficient bonding of the lower ALD layers on the polymer has to be further improved. Testing of bonding strength was realized by CAT (centrifugal adhesion testing) technology. It was shown that ALD modification correlates with the increase of surface energy and bonding strength. T2 - PSE 2018 - 16th Conference on Plasma Surface Engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 17.09.2018 KW - Plasma activation KW - Plasma-assisted ALD modification KW - Adhesive ALD interlayer KW - Bonding strength KW - Adhesive strength PY - 2018 AN - OPUS4-46015 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Kormunda, M. A1 - Ryšánek, P. A1 - Ivanov, L. T1 - Characterisation of magnetron sputtered SnZnOx by means of spectroscopic ellipsometry - how can we analyse TCO materials optically? N2 - Transparent conductive oxide (TCO) films are a vital part of a large part of modern technology. The production of TCO materials has sparked much development in plasma coating technology. Quality control measurements of these layers are therefore important in many fields of optics and electronics such as high efficiency thin film photovoltaics. In this presentation, we report on optical measurements of ZnSnOx layers generated by DC/RF magnetron plasma co-sputtering. By changing the respective power on two different targets, the overall power, the gas composition and post-treatment, the properties of this type of layers can be varied in a number of parameters. The optical, electrical, and chemical properties of TCO layers are the technically most important properties together with the layer thickness. The dielectric function of layers is accessible by means of spectroscopic ellipsometry, which also yields the very important value for the layer thickness at the same time. It would be a significant step forward in quality control to use this non-destructive method also as a fast test for electrical properties. Therefore, we report on the optical properties connected to the production parameters, and also on our preliminary results connecting the optical dielectric function (in the visible and near infrared) to the electrical conductivity of the layers. We discuss the effect of deposition parameters on the optical properties of the layers and present an approach for correlating optical and electrical properties. Further, we discuss the question of accuracy of optical properties gained from model-fit-based optical methods and the use of different parameterised models for the dielectric function to achieve this. T2 - PSE 2018 - 16th Conference on Plasma Surface Engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 17.09.2018 KW - Mixed Oxides KW - TCO KW - Quality Control KW - Ellipsometry KW - Optical Constants PY - 2018 AN - OPUS4-46388 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. T1 - State-of-the-Art in Multiple-Sample Evaluation of Adhesive and Bonding Strength N2 - The paper addresses the “State-of-the-Art in Multiple-Sample Evaluation of Adhesive and Bonding Strength” and the following points are discussed in more detail: 1. Motivation (coatings, varnishes, tapes, laminates, CFRP, adhesive-bonded joints) 2. Conventional single-sample testing (evaluation of adhesive and bonding strength; failure pattern) 3. Multiple-sample handling (MSH), bonding (MSB), and testing: centrifugal adhesion testing (CAT) (multiple-sample approach, tensile test within a centrifuge) 4. Application examples of CAT-Technology™ (laminates, optical coatings, CFRP joints) Finally, a summary is given regarding status quo and benefits of CAT-technology under tensile stress conditions whereas examples of testing in a centrifuge under compressive stress conditions are mentioned in the outlook. T2 - The 5th International Conference Competitive Materials and Technology Processes CY - Miskolc-Lillafüred, Hungary DA - 08.10.2018 KW - Centrifugal Adhesion Testing KW - CAT KW - Multiple-sample handling (MSH) KW - Multiple-sample bonding (MSB) KW - Tensile strength of laminates KW - Tensile strength of coatings KW - Adhesive strength KW - Bonding strength PY - 2018 AN - OPUS4-46336 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Lange, Thorid A1 - Hidde, Gundula A1 - Gargouri, H. A1 - Kärkkänen, I. A1 - Naumann, F. T1 - ALD-Haftvermittler zur Erhöhung der Haft- bzw. Klebfestigkeit N2 - Zur Erhöhung der Haft- und Klebfestigkeit von Niedrigenergie-Polymeren wie PTFE, PP und PE werden plasmabasierte Aktivierungen (Realisierung von dangling bonds) und Modifizierungen (Realisierung von functional groups) verwendet. Die Effizienz dieser Modifizierungen liegt für technisch raue Oberflächen bei ca. 10%, d. h. nur jedes zehnte C-Atom wird aktiviert oder modifi-ziert, weil sowohl LP- (Low Pressure) als auch AP- (Atmospheric Pressure) Plasmen nicht topo-graphietreu wirksam werden. Zudem ist die Lebensdauer der Aktivierung bzw. Modifizierung oft sehr kurz, liegt im Bereich von wenigen Minuten bis zu mehreren Stunden, d.h. zeitnahe Beschich-tung oder Verklebung in Prozessfolge sind unabdingbar. Im Projekt „HARFE - Haftung, Reproduzierbarkeit, Festigkeit“ soll untersucht werden, in wie weit diese Defizite mittels Atomlagenabscheidung (ALD: Atomic Layer Deposition) vorbeschichteten Polymeren minimiert werden können. ALD-Prozesse sind zum einen topographietreu, zum anderen sowohl ohne als auch mit Plasmaunterstützung realisierbar. T2 - 12. Thementage Grenz- und Oberflächentechnik (ThGOT) und das 5. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Gemany DA - 14.03.2017 KW - ALD-Prozess KW - ALD Haftvermittler KW - Haftfestigkeit KW - Klebefestigkeit KW - Verbundfestigkeit KW - Zentrifugentechologie KW - Mehrprobenprüfung PY - 2017 AN - OPUS4-41352 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schukar, Vivien A1 - Köppe, Enrico A1 - Hofmann, Detlef A1 - Mitzkus, Anja A1 - Gong, Xin A1 - Sahre, Mario A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Beck, Uwe ED - Emri, Igor T1 - A contribution to intelligent automatic validation of structure-integrated fibre optic strain sensors N2 - An auto-validation tool for the reliability quantification of materials integrated fiber Bragg grating (FBG) strain sensors have been developed and tested. The FBG strain sensor was jacketed with a magnetostrictive layer based on iron-nickel which, when excited by a specific magnetic field, adds an artificial strain to the sensor. The fixed relationship between magnetic induction and wavelength shift of the FBG strain sensor characterizes the bond strength and adhesion between the sensor and the surrounding structure. Due to an easily applicable magnetic field, it is possible to validate the sensor performance in a non-contact, fast way without disturbing the data-acquisition process. T2 - 33nd Danubia Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics CY - Portorož, Slovenia DA - 20.09.2016 KW - Fiber Bragg grating KW - Self-diagnosis KW - Magnetostriction KW - Strain KW - Auto-validation PY - 2017 UR - http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214785317308489 U6 - https://doi.org/10.1016/j.matpr.2017.06.073 SN - 2214-7853 VL - 4 IS - 5, Part 1 SP - 5935 EP - 5939 PB - Elsevier Ltd. AN - OPUS4-41583 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Beck, Uwe T1 - Visualization of low-contrast surface modifications: Thin films, printed pattern, laser-induced changes, imperfections, impurities, and degradation N2 - Visualization of surface modifications may be very challenging for coating/substrate systems of either almost identical optical constants, e.g. transparent films on substrates of the same material, or minor film thickness, substance quantity and affected area, e.g. ultra-thin or island films. Methods for visualization are optical microscopy (OM), imaging ellipsometry (IE), and referenced spectroscopic ellipsometry (RSE). Imaging ellipsometry operates at oblique incidence near Brewster angle of the bare, clean or unmodified substrate. In this configuration, reflected intensities are rather weak. However, the contrast to add-on and sub-off features may be superior. Referenced spectroscopic ellipsometry operates in a two-sample configuration but with much higher intensities. In many cases, both ellipsometric techniques reveal and visualize thin films, printed-pattern, laser-induced changes, and impurities better than optical microscopy. In particular for stratified homogeneous modifications, ellipsometric techniques give access to modelling and hence thickness determination. Modifications under investigation are polymer foil residue on silicon, laser-induced changes of ta-C:H coatings on 100Cr6 steel, imperfections of ta-C:H on thermal silicon oxide, degradation of glass, thin film tin oxide pattern on silicon, printed and dried pattern of liquids such as deionized water, cleaning agents, and dissolved silicone. © 2016 Elsevier B.V. All rights reserved. T2 - International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7) CY - Berlin, Germany DA - 06.06.2016 KW - Optical microscopy (OM) KW - Imaging ellipsometry (IE) KW - Referenced spectroscopic ellipsometry (RSE) KW - Thin films KW - Impurities KW - Degradation PY - 2016 U6 - https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.10.145 SN - 0196-4332 VL - 2017 IS - 421 SP - 807 EP - 812 PB - Elsevier B.V. AN - OPUS4-42136 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Auf dem Weg zu Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik N2 - Vorgestellt wurde die Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets für sehr unterschiedliche physikalische Größen, die in der Oberflächentechnik von hoher Relevanz sind: Stufenhöhe h, Schichtdicke d, Eindringhärte HIT und Haftfestigkeit. Die Unterschiede betreffen die Art der Prüfmethodik (optisch zerstörungsfrei vs. mechanisch invasiv/zer-störend), die laterale Größe des Integrationsgebietes der Messung (lokal:nano bis sub-mikro vs. global: mikro bis makro) und die Art der Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets (physikalische Größen: direkt rückführbar; Werkstoffkenngröße: genormt; Systemkenngröße: genormt). Im Rahmen von Industrie 4.0 werden ausgehend der geforderten Spezifikation des beschichteten Produkts (Mittelwert mit Vertrauensbereich oder Mindestwert) durchgehende Toleranzbänder zur Oberflächenmodifizierung/Beschichtung des Substrats, einhergehend mit Prozessfenstern, die diese Toleranzbänder garantieren, erforderlich, die zuverlässig erfasst werden müssen. Die Frage der anzuwendenden Mess- und Prüftechnik und die damit notwendige Betrachtung von Messunsicherheitsbudgets ist für die Digitalisierung von Konditionierungs-, Zustands-, Regel- und Steuergrößen unverzichtbar. Mit Blick auf die Einhaltung von Prozessfenstern und die dafür notwendige Prozessführung wird technologisches Kern-Know-how digitalisiert, das es unbedingt zu schützen gilt. Nur lokale Netze können diese Sicherheit garantieren, in globalen Netzen ist die Datensicherheit bestenfalls maximierbar. T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Oberflächentechnik KW - Messunsicherheit KW - Messtechnik KW - Prüftechnik KW - Haftfestigkeit PY - 2019 AN - OPUS4-47612 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Auf dem Weg zu Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik N2 - Vorgestellt wurde die Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets für sehr unterschiedliche physikalische Größen, die in der Oberflächentechnik von hoher Relevanz sind: Stufenhöhe h, Schichtdicke d, Eindringhärte HIT und Haftfestigkeit. Die Unterschiede betreffen die Art der Prüfmethodik (optisch zerstörungsfrei vs. mechanisch invasiv/zerstörend), die laterale Größe des Integrationsgebietes der Messung (lokal: nano bis sub-mikro vs. global: mikro bis makro) und die Art der Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets (physikalische Größen: direkt rückführbar; Werkstoffkenngröße: genormt; Systemkenngröße: genormt). Im Rahmen von Industrie 4.0 werden ausgehend der geforderten Spezifikation des beschichteten Produkts (Mittelwert mit Vertrauensbereich oder Mindestwert) durchgehende Toleranzbänder zur Oberflächenmodifizierung/Beschichtung des Substrats, einhergehend mit Prozessfenstern, die diese Toleranzbänder garantieren, erforderlich, die zuverlässig erfasst werden müssen. Die Frage der anzuwendenden Mess- und Prüftechnik und die damit notwendige Betrachtung von Messunsicherheitsbudgets ist für die Digitalisierung von Konditionierungs-, Zustands-, Regel- und Steuergrößen unverzichtbar. Mit Blick auf die Einhaltung von Prozessfenstern und die dafür notwendige Prozessführung wird technologisches Kern-Know-how digitalisiert, das es unbedingt zu schützen gilt. Nur lokale Netze können diese Sicherheit garantieren, in globalen Netzen ist die Datensicherheit bestenfalls maximierbar T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Oberflächentechnik KW - Messunsicherheit KW - Messtechnik KW - Prüftechnik KW - Haftfestigkeit PY - 2019 SN - 978-3-00-058187-8 VL - 2019 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-47670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Fischer, Daniel A1 - Beck, Uwe T1 - Visualisierung von mikro- und nanoskalierten Oberflächenstrukturen mittels abbildender Ellipsometrie N2 - In den letzten Jahren hat die Einbindung der abbildenden Ellipsometrie in die Gruppe der optischen Verfahren zur Oberflächencharakterisierung ein enormes Potential bei der Analyse von topologischen Strukturänderungen gezeigt. Der dabei abgebildete Kon-trast wurde typischerweise auf Änderungen im Brechungsindex, Absorptionseffekte oder Schichtdickenänderungen zurückgeführt. In späteren Studien wurde festgestellt, dass auch andere Faktoren, wie etwa die Krümmung der Oberfläche oder Kanten von Struktu-ren einen signifikanten Einfluss auf die Messung der ellipsometrischen Paramater haben. Um diese Effekte aus der ellipsometrischen Messung extrahieren zu können, wird auf die Analyse der Müller-Matrix zurückgegriffen. In dem hier vorliegenden Beitrag wird gezeigt, wie die Müller-Matrix-Imaging Ellipsomet-rie (MM-IE) zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen verwendet werden kann. Dazu werden mikro- und nanoskaliert gekrümmte Oberflächen zunächst mit verschiede-nen Referenzmethoden, wie Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Lichtmikroskopie (OM), Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) vali-diert erfasst. Der anschließende Vergleich mit den Ergebnissen der Müller-Matrix-Ima-ging-Ellipsometrie ermöglicht eine Korrelation der zugrunde liegenden Strukturphäno-mene mit den ellipsometrischen Daten. In diesem Artikel wird das Prinzip an drei industriell relevanten Strukturgruppen demonstriert: Sub-Mikropartikel, Mikropartikel und sub-mikroskalierte Vertiefungen. T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Ellipsometrie KW - Nanoskaliert KW - Mikroskaliert KW - Oberflächengeometrie KW - Brechungsindex KW - Müller-Matrix-Ellipsometrie PY - 2019 SN - 978-3-00-062102-4 SP - 1 EP - 5 AN - OPUS4-47646 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lange, Thorid A1 - Hidde, Gundula A1 - Beck, Uwe A1 - Naumann, F. A1 - Kärkkänen, I. A1 - Gargouri, H. T1 - Nanoskalige Haftvermittler zur Erhöhung der Haft- bzw. Klebfestigkeit unter Verwendung von ALD-Hybridprozessen N2 - Ziel des Projektes HARFE (Haftfestigkeit Reproduzierbarkeit Festigkeit) war es, eine Er-höhung der Haft- bzw. Klebfestigkeit auf Niedrigenergie-Polymeren (PE, PP, PTFE) zu erreichen. SENTECH realisierte dazu plasmachemische Oberflächenaktivierungen mit O2 und die Abscheidung von Aluminiumoxidschichten (Al2O3) mittels Atomic Layer Deposition (ALD), wobei die Ellipsometrie zum in-situ Monitoring der ALD-Prozesse diente. Die BAM charakterisierte die modifizierten Oberflächen bezüglich der Oberflächenenergie (OFE) und bestimmte die Verbund- bzw. Klebfestigkeit mittels der Zentrifugentechnologie T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Haftvermittler KW - ALD-Hybridprozesse KW - Klebfestigkeit KW - Atomic Layer Deposition KW - Al2O3-Schichten KW - Oberflächenenergie PY - 2019 SN - 978-3-00-062102-4 SP - 1 EP - 2 CY - Zeulenroda, Germany AN - OPUS4-47656 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - CAT-Technologie zur Bestimmung der Haftfestigkeit Dünner Schichten N2 - Der Vortrag widmet sich der „CAT-TECHNOLOGIE ZUR BESTIMMUNG DER HAFTFESTIGKEIT DÜNNER SCHICHTEN“ und beschreibt die Punkte „Motivation –CAT-Technologie“ (CAT: Centrifugal Adhesion Testing) und die „Haftfestigkeit von Schichten“, (Ag-Schichten auf N-BK7 Glas, Cr- und Al-Schichten auf Borofloat 33 Glas, Au-Schichten auf N-BK7 Glas und SiO2-Schichten auf CR39 Polymer) im Einzelnen. T2 - EFDS, Workshop: Haft- und Antihaftschichten CY - Dresden, Germany DA - 31.01.2019 KW - CAT-Technologie KW - Centrifugal Adhesion Testing KW - Dünne Schichten KW - Haftfestigkeit PY - 2019 AN - OPUS4-47489 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Hidde, Gundula A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - CAT-Technologie zur Bestimmung der Klebfestigkeit N2 - Der Vortrag widmet sich der „ CAT-TECHNOLOGIE ZUR BESTIMMUNG DER KLEBFESTIGKEIT“ und beschreibt die Punkte „Motivation –CAT-Technologie (Centrifugal Adhesion Testing), Klebfestigkeit ( Materialscreening verschiedener Werkstoffklassen, Klebstoffscreening fürV2A gegenV2A als Referenz, Klebstoffscreening für Niedrigenergie-Polymere und Oberfächenmodifizierung von Niedrigenergie-Polymeren) und Verbundfestigkeit (“Stirnabzug vs. Zug-Scher-Prüfung an CFK) im Einzelnen. T2 - 17. Praxisseminar KLEBEN CY - IWF Jena, Germany DA - 30.01.2019 KW - CAT-Technologie KW - Klebfestigkeit KW - Verbundfestigkeit KW - Niedrigenergie-Polymeren PY - 2019 AN - OPUS4-47466 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Basedau, Frank A1 - Hofman, Detlef A1 - Beck, Uwe T1 - Fiber Bragg Gratings for In-Situ Stress Monitoring of Electrochemical Deposition N2 - The in-situ monitoring of electrochemical deposition (ECD) processes is still a challenge regarding the measurement of the effective temperature of the substrate and the formation of mechanical stress in the layer under given plating conditions. Monitoring problems can be solved by applying a pre-coated fiber Bragg grating (FBG) to the electrolytic process as the shift of the Bragg wavelength is affected by both the temperature of the electrolyte near the substrate and the stress formation in the growing layer. The experimental FBG set-up and the quantitative determination of temperature- and stress-related strain is described for a nickel-iron electrolyte. KW - Fiber Bragg grating (FBG) KW - Electrochemical deposition (ECD) KW - Optical fibers PY - 2019 U6 - https://doi.org/10.1149/2.0111906jes SN - 0013-4651 VL - 166 IS - 6 SP - B312 EP - B315 PB - Electrochemical Society CY - Pennington, NJ AN - OPUS4-47738 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -