TY - CONF A1 - Gross, Thomas A1 - Dietrich, Paul A1 - Unger, Wolfgang T1 - Analytik an Microarrays mittels physikalischer Methoden der chemischen Oberflächenanalytik T2 - Workshop "Funktionalisierung von Oberflächen für bioananlytische Anwendungen" T2 - Workshop "Funktionalisierung von Oberflächen für bioananlytische Anwendungen" CY - Berlin, Germany DA - 2012-07-24 PY - 2012 AN - OPUS4-26185 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas A1 - Lippitz, Andreas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Charakterisierung von Siliziumoxidschichten auf Silizium mit ESCA: Ein Beitrag zur Präszisionsbestimmung der Avogadro-Konstanten T2 - EMASS 2000 T2 - EMASS 2000 CY - Berlin, Germany DA - 2000-11-10 PY - 2000 AN - OPUS4-3446 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas T1 - Chemical derivatisation XPS: An inter-laboratory comparison T2 - Kratos 2010 European Surface Analysis Users Meeting T2 - Kratos 2010 European Surface Analysis Users Meeting CY - Manchester, England DA - 2010-06-21 PY - 2010 AN - OPUS4-21485 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - ESCA in der Arbeitsgruppe Schicht- und Oberflächenanalytik (BAM VI.43) T2 - 1. Nutzertreffen deutscher Anwender von KRATOS ESCA-Spektrometern T2 - 1. Nutzertreffen deutscher Anwender von KRATOS ESCA-Spektrometern CY - Berlin, Germany DA - 2009-06-15 PY - 2009 AN - OPUS4-19538 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas T1 - Photoelektronenspektroskopie für die chemische Analytik im Fachbereich Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie T2 - Drittes deutschsprachiges KRATOS ESCA-Anwendertreffen T2 - Drittes deutschsprachiges KRATOS ESCA-Anwendertreffen CY - Aachen, Germany DA - 2013-05-15 PY - 2013 AN - OPUS4-28511 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas T1 - Resümee des ersten Nutzertreffens deutscher Anwender von KRATOS ESCA-Spektrometern T2 - Zweites deutschsprachiges KRATOS ESCA Anwendertreffen 2011 T2 - Zweites deutschsprachiges KRATOS ESCA Anwendertreffen 2011 CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2011-05-12 PY - 2011 AN - OPUS4-23619 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas T1 - Ringversuch mit SSI XPS-Spektormetern T2 - EMASS1999 T2 - EMASS1999 CY - Neuhausen am Rheinfall, Switzerland DA - 1999-10-25 PY - 1999 AN - OPUS4-6053 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas T1 - Röntgenphotoelektronenspektroskopie in der Arbeitsgruppe Schicht- und Oberflächenanalytik T2 - Zweites deutschsprachiges Kratos ESCA Anwendertreffen T2 - Zweites deutschsprachiges Kratos ESCA Anwendertreffen CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2011-05-12 PY - 2011 AN - OPUS4-23588 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - XPS for Si oxide characterisation T2 - International Avogadro Coordination Commitee Extra Meeting T2 - International Avogadro Coordination Commitee Extra Meeting CY - Braunschweig, Germany DA - 2004-12-02 PY - 2004 AN - OPUS4-5017 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -