TY - GEN A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Schors, Jörg ED - Gerhard Busse, ED - Danny Van Hemelrijck, ED - Igor Solodov, ED - Anastasopoulos, Athanasios T1 - Direct iterative reconstruction of computed tomography trajectories (DIRECTT) T2 - 4th International Conference of Emerging Technologies in Non-Destructive Testing (ETNDT 4) CY - Stuttgart, Germany DA - 2007-04-02 KW - Computed tomography KW - Reconstruction algorithm PY - 2007 SN - 978-0-415-46476-5 SP - 229 EP - 236 PB - Taylor & Francis CY - London, UK AN - OPUS4-17560 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Ekenhorst, Derk A1 - Schors, Jörg A1 - Lange, Axel T1 - X-Ray Refraction for NDT of Micro Cracks and Impacts N2 - High performance composites and other light weight materials are generally a comple problem to the performance of nondestructive testing methods. X-ray refraction provide unconventional X-ray scattering techniques to meet the actual demand for improve nondestructive characterization of these advanced materials. Scanning the samples across collimated narrow incident X-ray beam permits to image integral micro-structures (a present) with a resolution of 10 µm. Investigations of samples after strain-induced micro cracks and fibre debonding in impact damaged epoxy are shown. The physics of X-ray refraction are analogous to the well known refraction of light b optical lenses and prisms, governed by Snell's law. The special feature is the deflection a very small angles of few minutes of arc, as the refractive index of X-rays in matter i nearly one. Due to the density differences at inner surfaces most of the incident X-rays ar deflected. As the scattered intensity of refraction is proportional to the specific surface of sample, a reference standard gives a quantitative measure for analytical determinations. Figure 1 represents a two-dimensional damage distribution of an impact in a 0/90° CFR laminate of 3 mm, thickness. Unlike in ultrasonic testing, there is no shadowing effect o the successive layers. By use of X-ray refraction the exact concentration of debonde fibres is calculated for each position. Additionally the refraction allows the selection of th fibre orientation. T2 - 7th European Conference on Non-Destructive Testing (ECNDT) CY - Copenhagen, Denmark DA - 1998-05-26 PY - 1998 UR - http://www.ndt.net/abstract/ecndt98/435.htm SN - 87-986898-0-0 VL - 3 CY - Broendy, Denmark AN - OPUS4-3328 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Ekenhorst, Derk A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg ED - Green, R. E. T1 - New X-ray refractography for non-destructive evaluation of advanced materials T2 - 8th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials CY - Boulder, CO, USA DA - 1997-06-15 PY - 1998 SN - 0-306-45900-0 VL - 8 SP - 409 EP - 416 PB - Plenum Press CY - New York AN - OPUS4-3330 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Schors, Jörg A1 - Wald, Oliver ED - Green, R. E. ED - Djordjevic, B. B. ED - Hentschel, M. P. T1 - X-Ray Diffraction and Refraction Topography of Light Weight Materials T2 - 11th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials CY - Berlin, Germany DA - 2002-06-24 PY - 2003 SN - 3-540-40154-7 SP - 157 EP - 166 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-2639 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Ekenhorst, Derk A1 - Schors, Jörg ED - Michel, B. T1 - X-ray refraction for nondestructive investigation of micro cracks and impacts T2 - 2nd International Conference and Exhibition Micro Materials CY - Berlin, Germany DA - 1997-04-16 PY - 1997 SN - 3-932434-05-6 VL - 1 SP - 1025 EP - 1027 PB - ddp Goldenbogen CY - Dresden AN - OPUS4-3662 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schors, Jörg A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Green, R. E. ED - Djordjevic, B. B. ED - Hentschel, M. P. T1 - Precise Measurements of Fibre Direction, Type and Content in CFRP by X-Ray Rotation Topography T2 - 11th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials CY - Berlin, Germany DA - 2002-06-24 PY - 2003 SN - 3-540-40154-7 SP - 185 EP - 198 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-2766 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Schors, Jörg T1 - Direkte iterative Rekonstruktion von computer-tomographischen Trajektorien (DIRECTT) T2 - DGZfP Jahrestagung CY - Rostock, Deutschland DA - 2005-05-02 KW - Neues Prinzip der computer-tomographischen Rekonstruktion ohne Fourier-Filterung PY - 2005 SN - 3-931381-64-1 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 94-CD SP - 1 EP - 8(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-11697 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Wald, Oliver ED - Geer, R. T1 - X-Ray Diffraction Topography images materials by molecular probe T2 - Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II CY - San Diego, CA, USA DA - 2005-03-08 KW - X-ray diffraction KW - X-ray topography KW - X-ray microscopy KW - Texture KW - Polymers KW - Composites KW - Ceramics KW - Compounds KW - Molecular probe KW - Non-metallics PY - 2005 SN - 0-8194-5747-7 N1 - Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series IS - 5766 SP - 9 EP - 14 PB - SPIE CY - Bellingham AN - OPUS4-11700 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Schors, Jörg A1 - Wald, Oliver T1 - X-ray diffraction and refraction topography of light weight materials T2 - Annual conference of the British Institute on Non-Destructive Testing ; NDT 2002 CY - Southport, England, UK DA - 2002-09-17 PY - 2002 SN - 0-903132-30-3 SP - 275 EP - 280 PB - British Institute of Non-Destructive Testing CY - Northampton AN - OPUS4-1938 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Schors, Jörg A1 - Lange, Axel T1 - Röntgen-Refraktions-Topographie - Ein modernes ZfP-Verfahren zur Bewertung von Mikrorissen und Schlagschäden in Verbundwerkstoffen N2 - Röntgen-Topographie-Verfahren werden zunehmend von industriellen Herstellern und Anwendern Neuer Werkstoffe in Anspruch genommen, um deren mikrostrukturelle Eigenschaften zuverlässig und zerstörungsfrei charakterisieren zu können. Der Einsatz umfaßt die Untersuchung unterschiedlichster Materialien wie Kohlenstoff- (CFK) und Glasfaser-Verbunde (GFK), Hart- und Weichschäume, Industriekeramik sowie neuartige Kunststoffe. Gerade die mechanischen und korrosiven Eigenschaften dieser Werkstoffe weser Werkstoffe werden maßgeblich vom mikrostrukturellem Aufbau dieser Materialien bestimmt. Typische Versagensmechanismen z.B. von Faserkompositen sind neben der Faserenthaftung vor allem durch Mikrorisse gekennzeichnet, die aufgrund von Spannungsspitzen an Faserenden enttstehen und sich senkrecht zu diesen in der Matrix ausbreiten. Ein wesentliches Merkmal der Röntgen-Refaktions-Topographie besteht in der orientierungsselektiven Detektion von Mikroriß-Oberflächen. Deren Nachweisgrenze erstreckt sich bis zum Nanometerbereich. Auch die an Kompositmaterialien definiert herbeigeführten Schäden (Impacts) lassen sich mit dieser Methode ausgezeichnet erfassen und in Korrelation zu mechanischen Kenngrößen quantitativ beschreiben. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 1999 CY - Celle, Deutschland DA - 1999-05-10 KW - Röntgentomographie KW - Mikroriß KW - Schlagfestigkeit KW - Verbundwerkstoff PY - 1999 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp99/data/p18.htm SN - 3-931381-27-7 VL - 2 IS - 68 SP - 685 EP - 690 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-714 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schors, Jörg A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Röntgen-Refraktions-Topographie von Hochleistungs-Werkstoffen N2 - Für die zerstörungsfreie Charakterisierung nichtmetallischer Werkstoffe hat sich das Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topographie bewährt. Es handelt sich phänomenologisch um eine Technik der Röntgen-Kleinwinkel-Streuung mit Probekörper-Abtastung bei fest vorgewähltem Streuwinkel. Durch röntgenoptische Brechungseffekte sind innere Ober- und Grenzflächen, insbesondere Mikrorisse, auch unterhalb der licht-mikroskopischen Erkennbarkeitsgrenze, detektierbar. Die Höhe des Streusignals ist dabei proportional zur Gesamt-Grenzfläche im Streuvolumen. So werden z.B. gleichzeitig zahlreiche Risse quanmtitativ detektierbar, ohne daß sie einzeln auf der Ortsskala separiert sind. Da es sich hierbei um eine Durchstrahlungs-Technik handelt, überlagern die Strukturen zu einer Projektion, die - analog zu den radiographischen Verfahren - über die Wanddicke gemittelte innere Oberflächen abbildet. Am Beispiel typischer Hochleistungswerkstoffe, wie SiC-Keramik und C-Faser Komposite (CFK) wird der Informationsgehalt der Röntgen-Refraktions-Topogramme diskutiert. Die Ergebnisse der Keramik-Untersuchung zeigen die unterschiedliche Porengrößenverteilung verschiedener Sinterstufen sowohl ortsaufgelöst als auch statistisch. Die Topogramme der CFK-Probekörper zeigen eine inhomogene Ortsverteilung der Rißdichte nach unterschiedlichen dynamischen Belastungen. Es ergibt sich eine hervorragende Korrelation der Rißdichte mit der Restfestigkeit. Die dargestellten Ergebnisse visualisieren die Anordnung von Grenzflächen und inneren Oberflächen, die sich für zahlreiche Hochleistungs-Werkstoffe, vor allem im Transportmittel-Leichtbau, als relevante Mikrostrukturen für das Versagens-Verhalten und die Werkstoff-Optimierung erweisen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2000 CY - Innsbruck, Österreich DA - 2000-05-29 KW - Röntgen-Refraktions-Topographie KW - Hochleistungswerkstoffe PY - 2000 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp00/data/92.htm SN - 3-931381-32-3 VL - 73-1 IS - 2 SP - 1 EP - 11 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-866 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Harwardt, Michael T1 - Röntgen-Diffraktions-Rotations-Topographie von polymeren Werkstoffen N2 - Polymere Werkstoffe, insbesondere Faser-Komposite, sind auf der molekularen Skala, aber auch hinsichtlich der Faserorientierung unterschiedlich anisotrop, ebenso ihre mechanischen Eigenschaften. Diese können sich richtungsabhängig um bis zu zwei Größenordnungen unterscheiden, was für die Nutzung der Festigkeit im Leichtbau bedeutend ist. Daher besteht Bedarf an der zerstörungsfreien Charakterisierung der Orientierungs-Parameter der Mikrostruktur: Die neuartige Röntgen-Diffraktions-Rotations-Topographie nutzt (wie alle Röntgen-topographischen Verfahren) einerseits die analytischen Informationen der Röntgenstreuung und erlaubt andererseits die ortsaufgelöste Abbildung dieser Information. Für eine kontinuierliche Erfassung der Orientierungs-Informationen des Probekörpers wird dieser im eng kollimierten monochromatischen Fadenstrahl einer Weitwinkel-Streukammer verfahren. An jeder Position wird das Beugungsbild von einem um den Primärstrahl drehbaren Spalt polar abgetastet, der vor einem großflächigen Röntgen-Detektor positioniert ist. Als Rotations-, Polar- oder Textur-Topogramme werden die Streuintensitäten ortstreu dargestellt. Auswerte-Prozeduren erlauben die Ermittlung von Orientierungs-Verteilungs-Funktionen und statistischen Kennwerten. Untersuchungs-Beispiele aus einem EU-Projekt zeigen die molekularen Orientierungsverteilungen in thermoplastischen Spritzguß-Komponenten für den Helikopter-Bau, mit Korrelationen zu mechanischen Eigenschaften. Für die ESA wurde die für CFK-Sandwich-Strukturen von Satelliten-Reflektoren erforderliche präzise Orientierung der C-Fasern mit einer Genauigkeit von 0,1 Grad ermittelt. Pro Durchstrahlungsposition werden für die Orientierungs-Information nur wenige Sekunden benötigt. Die verwendete 18 keV Mo-k-a-Strahlung erlaubt Wandstärken bis zu etwa 20 mm. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2000 CY - Innsbruck, Österreich DA - 2000-05-29 PY - 2000 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp00/data/39.htm SN - 3-931381-32-3 VL - 73-1 IS - 2 SP - 1 EP - 10 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-927 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Schors, Jörg A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - van Hemelrijck, D. T1 - X-ray refraction - new methods for non-destructive evaluation of advanced materials T2 - 2nd International Conference on Emerging Technologies in NDT CY - Athens, Greece DA - 1999-05-24 KW - X-ray refraction PY - 2000 SN - 90-5809-127-9 SP - 207 EP - 212 PB - Balkema CY - Rotterdam AN - OPUS4-851 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgen-Topographie mit Klein- und Weitwinkel-Streuung N2 - Röntgen-Topographische Verfahren sind dadurch gekennzeichnet, daß die Streueigenschaften eines Probekörpers ortskorreliert erfaßt werden. Somit vereinigen sie die Vorzüge der bildgebenden Eigenschaft der Radiographie mit der Strukturselektivität der Röntgenanalyse. Sowohl die Röntgen-Weitwinkel-Streuung als auch die Röntgen-Kleinwinkel-Streuung (-Beugung und -Refraktion) werden topographisch für die Materialcharakterisierung eingesetzt. Die Topographie-Verfahren und Untersuchungsbeispiele an nichtmetallischen Werkstoffen werden dargestellt. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002 CY - Weimar, Deutschland DA - 2002-05-06 KW - Röntgen-Streuung KW - Materialcharakterisierung KW - Komposite KW - Keramik PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v15/v15.htm SN - 3-931381-39-0 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 80-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2027 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schors, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas T1 - Materialcharakterisierung durch tiefenaufgelöste Röntgen-Diffraktometrie T2 - DGZfP Jahrestagung CY - Rostock, Deutschland DA - 2005-05-02 KW - Röntgen-Diffraktions-Mikroskopie KW - Materialcharakterisierung und -identifizierung PY - 2005 SN - 3-931381-64-1 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 94-CD SP - 1(?) EP - 3(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-11696 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. A1 - Schors, Jörg A1 - Harbich, Karl-Wolfram T1 - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie N2 - Für die Charakterisierung Neuer Werkstoffe, vornehmlich Nichtmetalle, hat sich das Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topographie bewährt. Es handelt sich phänomenologisch um eine Technik der Röntgen-Kleinwinkel-Streuung mit Probekörper-Abtastung bei fest vorgewähltem Streuwinkel. Gegenüber der klassischen Beugungstheorie dominieren jedoch bei der Streuung an Strukturen oberhalb von 0.3 µm Größe röntgenoptische Brechungseffekte. Detektierbar sind damit innere Ober- und Grenzflächen, insbesondere Mikrorisse unterhalb der lichtmikroskopischen Erkennbarkeit. Da es sich hierbei um eine Durchstrahlungs-Technik handelt, überlagern jedoch die Strukturen zu einer Projektion, analog zu den radiographischen Verfahren. Um auch Informationen entlang der Durchstrahlungs-Richtung in der Tiefe des Probekörpers zu erhalten, wird unter kleinen Streuwinkeln die Computer-Tomographie durchgeführt, im ersten Ansatz mit nur zwei Meßkanälen, jeweils für die Messung der Absorptions- und der Refraktions-Intensität. Dazu werden nacheinander 360 Linear-Scans nach Drehung von jeweils 1° aufgenommen. Die Intensitätswerte werden nach den Regeln der fouriergefilterten Rückprojektion zu Computer-Tomogrammen verarbeitet. Die Ergebnisse visualisieren die Anordnung von Grenzflächen und innere Oberflächen, die sich für zahlreiche nichtmetallische Werkstoffe, vor alllem im Transportmittel-Leichtbau als relevante Mikrostrukturen für das Versagens-Verhalten und die Werkstoff-Optimierung eignen. Zum Vergleich entstehen aus den simultanen Absorptionsmessungen gleichzeitig die klassischen Computer-Tomogramme, die ausschließlich Dichteänderungen anzeigen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 1999 CY - Celle, Deutschland DA - 1999-05-10 KW - Röntgentomographie KW - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie PY - 1999 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp99/data/40.htm SN - 3-931381-27-7 VL - 1 IS - 68 SP - 361 EP - 369 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-715 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Wald, Oliver ED - Gerhard Busse, ED - Danny Van Hemelrijck, ED - Igor Solodov, ED - Anastasopoulos, Athanasios T1 - NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography T2 - 4th International Conference of Emerging Technologies in Non-Destructive Testing (ETNDT 4) CY - Stuttgart, Germany DA - 2007-04-02 KW - Nondestructive testing KW - X-ray scattering KW - X-ray topography KW - Computed topography KW - Synchrotron refraction computed tomography KW - Structure property relations KW - Composite damaging KW - Ceramics KW - Foams PY - 2007 SN - 978-0-415-46476-5 SP - 15 EP - 22 PB - Taylor & Francis CY - London, UK AN - OPUS4-17561 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -