TY - JOUR A1 - Schors, Jörg A1 - Harwardt, Michael A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Wald, Oliver T1 - Röntgentopografische Verfahren mit Klein- und Weitwinkelstreuung - Ein Überblick KW - Röntgenstreuung KW - Materialcharakterisierung KW - Komposite KW - Keramik KW - Mikrorisse KW - Computertomographie PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 595 EP - 601 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18247 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Müller, Bernd R. A1 - Harwardt, Michael T1 - Vom Synchrotron ins Labor - Konversion von Einkristall-Techniken für Röntgenröhren KW - Einkristall KW - Röntgenbeugung KW - Synchrotron KW - Divergenz PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 580 EP - 587 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -