TY - GEN A1 - Müller, Christina A1 - Ewert, Uwe A1 - Rosenthal, Martina A1 - Völker, J. A1 - Schafer, Lloyd T1 - Das Basisanliegen von Zuverlässigkeitsuntersuchungen und eine Momentaufnahme im internationalen Geschehen N2 - Das Basisanliegen - Einleitung Mit der zunehmenden Zahl akkreditierter ZfP-Firmen und zunehmender Anwendung risikobasierender Konzepte ergibt sich die Notwendigkeit, internationale Standards wie die DIN EN ISO 17025 und darüber hinausgehende Richtlinien bei der Verfahrensauswahl in der ZfP zu berücksichtigen. Dieser Aufsatz soll aufzeigen, welche internationalen Aktivitäten gegenwärtig für die Zuverlässigkeitsbetrachtungen von Bedeutung sind (siehe auch [1]). In Übereinstimmung mit den Vereinbarungen und Definitionen der European-American Workshops zur Zuverlässigkeit [2, 3] gilt: Das Basisanliegen der Zuverlässigkeitsuntersuchungen beliebiger diagnostischer Systeme besteht darin, den Grad festzustellen mit dem das Prüfsystem in der Lage ist, seinen vorgesehenen Zweck zu erfüllen. Im Falle der ZfP besteht dieser Zweck zumeist in der Aufgabe, Bauteildefekte aufzufinden und zu beschreiben bzw. die Defektfreiheit von Bauteilen zu bestätigen, sowie Wanddicken zu messen oder Material zu charakterisieren. Das Basisanliegen der Zuverlässigkeitsuntersuchungen findet seinen Niederschlag bei folgenden international relevanten Aktivitäten: neue ISO 17025 als Notwendigkeit mit variablen Möglichkeiten der Verfahrensvalidierung als Kettenglied in RBLM (Risk Based Life Time Management) (r) EPERC-Initiative CEN/TC138/WG9 "Qualifizierung von ZfP-Verfahren" Six-Sigma Strategie: als notwendiger Bestandteil ASNT-Initiative: Standing Committee on NDE Reliability: als Arbeitspaket Produkthaftung: als notwendige Voraussetzung für die Handhabung T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002 CY - Weimar, Deutschland DA - 2002-05-06 PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v29/v29.htm SN - 3-931381-39-0 N1 - Geburtsname von Rosenthal, Martina: Scharmach, M. - Birth name of Rosenthal, Martina: Scharmach, M. N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 80-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2010 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Christina A1 - Ewert, Uwe A1 - Rosenthal, Martina A1 - Bär, Sylke A1 - Schafer, Lloyd A1 - Völker, J. A1 - Wilrich, P.-Th. T1 - Current status in the area of reliability of non-destructive testing and demining: Experience in Europe and USA T2 - Reliability and Diagnostics of Transport Structures and Means, Pardubice - Czech Republic CY - Pardubitz, Tschechische Republik DA - 2002-09-26 KW - Reliability of NDE Systems KW - Performance Demonstration KW - Essential Parameters KW - European Standards KW - Radiographic Testing KW - Film Digitalization KW - Austenitic Tube Welds KW - ROC KW - POD PY - 2002 SN - 80-7194464-5 SP - 1 EP - 14(?) PB - Univ. CY - Pardubice AN - OPUS4-2011 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Elagin, Mstislav A1 - Rosenthal, Martina A1 - Redmer, Bernhard A1 - Ewert, Uwe A1 - Schafer, Lloyd A1 - Wilrich, P.-Th. T1 - Reliability Investigation of NDE Systems by Modular Analysis of Recorded Data N2 - During the second European-American Workshop on NDE Reliability, September 99 in Boulder, the term NDE reliability was defined as the degree that an NDT system is capable of achieving its purpose regarding detection, characterization and false calls. The most common – but also most expensive - way to determine this degree of capability in e.g. defect detection is to make just a performance demonstration using realistic test samples and to count the correct detections and false calls. For a more efficient way of reliability evaluation we propose to decompose the system into main modules e.g. according to the reliability formula set up on the first workshop: into f(IC) – a function of IC the intrinsic capability, determined by the physics and the technique of the NDE method representing an ideal upper bound of the reliability and g(AP) – a function of AP the industrial application factor like surface state or limited access to a component in general diminishing the ideal capability and finally h(HF) the function of the human factor which is in general also diminishing the ideal capability. The workshop proposed a rather plain mathematical shape for the formula R = f(IC) – g(AP) – h(HF) which should be considered merely as a “philosophical” expression but not as exact mathematical formula to be applied for evaluation of e.g. POD data. We propose to decompose the NDE system into modules in terms of functions of IC, AP and HF if appropriate or additional ones if necessary and then to analyze the mutual relationships of the terms via fault tree analysis. Finally the total reliability of the system is composed of the reliability of the subsystems via the rules of statistical systems theory. First trials for this approach of data analysis will be presented via examples from NDE systems in the aerospace industry. T2 - 8th ECNDT CY - Barcelona, Spain DA - 2002-06-17 PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/ecndt02/428/428.htm N1 - Geburtsname von Rosenthal, Martina: Scharmach, M. - Birth name of Rosenthal, Martina: Scharmach, M. VL - 8 SP - 1(?) EP - 14(?) PB - European Federation for Non-Destructive Testing CY - Barcelona AN - OPUS4-2013 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Christina A1 - Ewert, Uwe A1 - Rosenthal, Martina A1 - Völker, J. A1 - Schafer, Lloyd A1 - Wilrich, P.-Th. T1 - Concepts in reliability measurement T2 - European-American Workshop 2002 CY - Berlin, BAM, Germany DA - 2002-09-11 PY - 2002 N1 - Geburtsname von Rosenthal, Martina: Scharmach, M. - Birth name of Rosenthal, Martina: Scharmach, M. SP - 1 EP - 9 AN - OPUS4-2018 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Lebid, Solomija A1 - Gutmann, Toivo A1 - Habel, Wolfgang A1 - Peupelmann, J. A1 - Schäfer, C. T1 - Influence of Perturbing Effects on Composite-embedded Fibre Bragg Grating Signals PY - 2002 SN - 1430-3698 SN - 1437-7624 VL - 10 SP - 41 EP - 46 PB - Hochschule Mittweida CY - Mittweida AN - OPUS4-2076 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Radig, W. A1 - Dimmig, Th. A1 - Lehmann, Andreas A1 - Krüger, Ralph-Peter A1 - Schäfer, V. T1 - Struktur des basischen Zink-O,O'-ethylhexyldithiophosphats in unpolar, aprotischen Lösungsmitteln PY - 1995 SN - 0941-1216 VL - 337 SP - 647 EP - 654 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-2145 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Modregger, P. A1 - Schäfer, P. A1 - Lübbert, D. A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Köhler, R. T1 - µ-CT with asymmetric Bragg reflection as magnifying optics PY - 2005 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2004.pdf#page=479 SN - 0179-4159 SP - 479 EP - 480 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-7384 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schäfer, A. A1 - Konrad, R. A1 - Kuhnigk, T. A1 - Kämpfer, P. A1 - Hertel, Horst A1 - König, H. T1 - Hemicellulose-degrading bacteria and yeasts from the termite gut PY - 1996 SN - 0021-8847 VL - 80 SP - 471 EP - 478 PB - Blackwell CY - Oxford AN - OPUS4-11826 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Block, S. A1 - Boß, K.-H. A1 - Frobese, D.-H. A1 - Pape, H. A1 - Gösslinghoff, L. A1 - Grossepieper, T. A1 - Kasper, R. A1 - Kirchner, W. A1 - Kollmann, P. A1 - Kröger, P. A1 - Ringlstetter, P. A1 - Kuska, T. A1 - Mattejat, K. A1 - Niehüser, H. A1 - Pfeiffer, F. A1 - Pötzsch, Klaus-Michael A1 - Jochems, Frank A1 - Schäfer, H. A1 - Vogt, W. A1 - Zankl, C. A1 - Ludzay, J. T1 - Empfehlungen zur Vermeidung von Überdrücken an Tankfahrzeugen bei Untenbefüllung KW - Untenbefüllung KW - Tankfahrzeuge KW - Überdruck KW - Mineralöl KW - Sicherheitsventile PY - 2012 VL - 727 IS - 3 SP - 1-4, Anl. 1-3 AN - OPUS4-27921 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Albrecht, S. A1 - Schäfer, S. A1 - Lange, I. A1 - Yilmaz, S. A1 - Dumsch, I. A1 - Allard, S. A1 - Scherf, U. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Neher, D. T1 - Light management in PCPDTBT:PC70BM solar cells: A comparison of standard and inverted device structures N2 - We compare standard and inverted bulk heterojunction solar cells composed of PCPDTBT:PC70BM blends. Inverted devices comprising 100 nm thick active layers exhibited short circuit currents of 15 mA/cm², 10% larger than in corresponding standard devices. Modeling of the optical field distribution in the different device stacks proved that this enhancement originates from an increased absorption of incident light in the active layer. Internal quantum efficiencies (IQEs) were obtained from the direct comparison of experimentally derived and modeled currents for different layer thicknesses, yielding IQEs of ~70% for a layer thickness of 100 nm. Simulations predict a significant increase of the light harvesting efficiency upon increasing the layer thickness to 270 nm. However, a continuous deterioration of the photovoltaic properties with layer thickness was measured for both device architectures, attributed to incomplete charge extraction. On the other hand, our optical modeling suggests that inverted devices based on PCPDTBT should be able to deliver high power conversion efficiencies (PCEs) of more than 7% provided that recombination losses can be reduced. KW - Organic solar cells KW - Inverted solar cells KW - PCPDTBT KW - Low band-gap KW - Optical modeling PY - 2012 DO - https://doi.org/10.1016/j.orgel.2011.12.019 SN - 1566-1199 VL - 13 IS - 4 SP - 615 EP - 622 CY - Amsterdam [u.a.] AN - OPUS4-25453 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -