TY - JOUR A1 - Schenk, Gottfried A1 - Brackrock, Daniel A1 - Dohse, Elmar A1 - Ploigt, Roy A1 - Deutsch, W. T1 - Neuartige automatisierte Stangenprüfung mit Ultraschall-Gruppenstrahlern N2 - Wie erkennt man Risse oder Einschlüsse in Stabstahl, bevor daraus beispielsweise eine Automobil-Antriebswelle entsteht? Halbzeugprodukte werden vor der Weiterverarbeitung zerstörungsfrei auf Fehlerfreiheit geprüft, denn nicht erkannte Schäden können teure Rückrufaktionen zur Folge haben. Dieser Beitrag stellt ein Verfahren vor, mit dem die bisherige konventionelle Ultraschallprüfung durch die Gruppenstrahlertechnik ersetzt wird und die Prüfqualität bei gleichzeitiger Beschleunigung des Prüfvorgangs signifikant erhöht werden kann. KW - Automatisierte Prüfung von Rundstangen KW - Ultraschall-Gruppenstrahlertechnik KW - Modellrechnung KW - Viertelschalenarray KW - Aufbau und Erprobung einer automatisierten Anlage PY - 2012 SN - 0025-5300 VL - 54 IS - 3 SP - 200 EP - 205 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-25622 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ploigt, Roy A1 - Dohse, Elmar A1 - Schenk, Gottfried T1 - Schnittstellenkonzepte für digitale Ultraschallprüfgeräte T2 - DGZfP-Jahrestagung 2011 CY - Bremen, Germany DA - 2011-05-30 PY - 2011 AN - OPUS4-25299 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ploigt, Roy A1 - Dohse, Elmar A1 - Schenk, Gottfried A1 - Völz, Uwe T1 - Hohe Prüfgeschwindigkeit bei einem Gruppenstrahler-Prüfsystem - eine Herausforderung für die Entwickler T2 - DGZfP-Jahrestagung 2009 CY - Münster, Deutschland DA - 2009-05-18 KW - Ultraschall KW - Gerätetechnik PY - 2009 SN - 978-3-940283-16-0 IS - DGZfP-BB 115 ( Poster 37) SP - 1 EP - 5 AN - OPUS4-20510 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ploigt, Roy A1 - Dohse, Elmar A1 - Schenk, Gottfried A1 - Völz, Uwe T1 - Hohe Prüfgeschwindigkeit bei einem Gruppenstrahlerprüfsystem - Eine Herausforderung für den Entwickler T2 - DGZfP-Jahrestagung 2009 CY - Münster, Germany DA - 2009-05-18 PY - 2009 AN - OPUS4-19409 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -