TY - RPRT A1 - Bach, Reinhard A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Recycling von beschichteten Bauteilen N2 - Auf Basis einer Literaturstudie werden der Stand und die Perspektiven des Recyclings beschichteter Bauteile vorgestellt. Die Studie ist verfahrens-, branchen- und produktübergreifend angelegt. Die gesetzlichen Rahmenbedingungen werden erläutert, eine Auswahl beschichteter Bauteile und Materialkombinationen bezüglich ihrer Recyclingfähigkeit untersucht und unterschiedlichste Recyclingverfahren diskutiert. Auf die Bedeutung des Recyclings beschichteter Bauteile als spezieller Verbundwerkstoff wird eingegangen. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 239 PY - 2000 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-2110 SN - 978-3-89701-522-6 SN - 0938-5533 VL - 239 SP - 1 EP - 36 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-211 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reichel, Karin A1 - Vetters, Hermann A1 - Reiners, Georg T1 - Prüfverfahren für dünne Schichten N2 - Neue Produkte und Technologien erfordern oft auch neue Werkstoffe, doch lassen sich die mittlerweile gestellten Anforderungen kaum noch mit einem einzigen realisieren. Deshalb nutzt man häufig unterschiedliche Materialien in Verbunden. Einen bedeutenden Beitrag dazu leisten Oberflächen- und Dünnschichttechniken, die Eigenschaften modifizierter Randschichten beziehungsweise aufgebrachter Beschichtungen mit denen des Grundwerkstoffs kombinieren. Typische Schichtdicken liegen zwischen wenigen Nano- und bis zu einigen Mikrometern (millionstel beziehungsweise tausendstel Millimetern). Solche Überzüge mit besonderen Eigenschaften wie Glanz, Härte oder chemische Beständigkeit lassen sich auf vielfältige Weise herstellen. Zu den klassischen Verfahren für Beschichtungen gehört etwa die Galvanotechnik, also das im allgemeinen elektrochemische Abscheiden von Metallen zum Korrosionsschutz oder als dekorativer Überzug. Das Verfahren wurde bereits 1840 in Frankreich und England zum Vergolden und Versilbern eingesetzt. Heutzutage versteht man darunter auch rein chemische, also stromlose Methoden der Metallisierung. Es lassen sich damit Legierungen abscheiden und Hartstoff-Partikel für den Verschleißschutz beigeben; auch die Mikroelektronik-Industrie nutzt Weiterentwicklungen der Galvanotechnik in der Chip-Fertigung, um Leiterbahnen und Kontakte aufzubringen. Um nahezu beliebige Legierungen sowie viele chemische Verbindungen ohne Belastung der Umwelt durch Abfälle der galvanischen Bäder auf Stahl, Leichtmetall, Glas oder auch Kunststoff extrem dünn abzuscheiden, wurden die in den vorstehenden Beiträgen beschriebenen Prozesse der Gasphasenbeschichtung - physical und chemical vapour deposition (PVD und CVD) - entwickelt. Keramische Überzüge, halb so hart wie Diamant, schützen Werkzeuge wie Bohrer, Fräser und Schneiden oder stark beanspruchte Maschinenbauteile wie Lager, Scheiben, Federn und Kolben vor Verschleiß;[...] KW - Schicht, dünn KW - Prüfverfahren PY - 1996 UR - http://www.spektrum.de/artikel/822963&_z=798888 SN - 0170-2971 IS - April SP - 99 EP - 106 PB - Spektrum d. Wiss. Verl.-Ges. CY - Heidelberg AN - OPUS4-653 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Reiners, Georg T1 - Standards for thin film technologies T2 - 5th International Symposium on Trends and New Applications in Thin Films ; TATF '96 CY - Colmar, France DA - 1996-04-01 KW - Normung KW - Dünnschichttechnologie PY - 1996 N1 - Serientitel: Le vide, les couches minces, Suppl. – Series title: Le vide, les couches minces, Suppl. VL - 279 IS - 179 SP - 1 EP - 23 PB - sfv CY - Paris AN - OPUS4-635 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Männ, Marion A1 - Netzband, Olivia T1 - Schichtdickenbestimmung aus Quer- und Schrägschliffen von Schichtsystemen durch Einbettung von Testkörpern und Referenzmaßstäben KW - Schichtdicke KW - Dünnschichtsystem KW - Schliff KW - Testkörper PY - 1995 SN - 0032-678X VL - 32 IS - 8 SP - 388 EP - 403 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-618 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Männ, Marion A1 - Netzband, Olivia T1 - Determining the thickness of layers in cross and angled cross sections of coating systems using embedded test bodies and reference measures KW - Schichtdicke KW - Dünnschichtsystem KW - Schliff KW - Testkörper PY - 1995 SN - 0032-678X VL - 32 IS - 8 SP - 388 EP - 403 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-619 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Reiners, Georg T1 - Standardization in Surface Technologies - Role of BAM PY - 2000 AN - OPUS4-861 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Reiners, Georg ED - Berg, S. T1 - Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) - A powerful tool for the characterisation of coatings T2 - 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 SN - 0257-8972 IS - 142-144 SP - 1(?) EP - 15(?) PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-960 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -