TY - CHAP A1 - Marzok, Ulrich A1 - Müller, Ralf A1 - Schadrack, Reinhard A1 - Krauhausen, M. A1 - Burgstedt, F. A1 - Brode, W. A1 - Reetz, R. ED - Kriegesmann, J. T1 - Hochtemperatur-Laserprofilometrie an keramischen Bauteilen N2 - Es wurde ein Gerät zur In-situ-Kontrolle des Sinterns keramischer Bauteile mit Hilfe der Hochtemperatur-Lasertriangulation aufgebaut. Durch Rotation der Probe und gleichzeitiger Positionierung des Laserabstandssensors erfolgt die dreidimensionale Erfassung der Topografie der Probenoberfläche. Derzeit können flache Proben mit den Maßen < 20 cm x 20 cm x 1 cm bis 1000 °C untersucht werden. Die örtliche Wiederholpräzision des verwendeten Lasersensors beträgt 10 µm bei 20 °C und 15 µm bei 1000 °C. Die lineare Positioniergenauigkeit des Sensors liegt bei 1 µm, die Winkelauflösung der Drehung des Probentellers beträgt 0,0025 °. Daten für ein 3D-Oberflächenprofil werden in etwa 2 bis 3 Minuten erzeugt. Spezielle Linienprofile erhält man bei einer Messzeit von wenigen Sekunden. N2 - A device was designed for the in situ monitoring of sintering of ceramic components using high-temperature laser triangulation. By simultaneous rotation of the sample and positioning of the laser distance sensor at the same time a three-dimensional detection of the topography of the sample surface could be achieved. Currently, flat samples with dimensions < 20 cm x 20 cm x 1 cm can be examined up to 1000 °C. The local repeatability precision of the laser sensor used is 10 µm at 20 °C and 15 µm at 1000 °C. The linear positioning accuracy of the sensor is 1 µm, the angular resolution of the rotation of the sample plate is 0.0025 °. Data for a 3D surface profile can be obtained in about 2 to 3 minutes. Specific line profiles can be received at a measurement time of a few seconds. PY - 2013 SN - 978-3-938595-00-8 VL - 135 IS - Kap. 6.3.1.0 PB - HvB-Verlag CY - Ellerau AN - OPUS4-28967 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CHAP A1 - Müller, Ralf A1 - Reinsch, Stefan ED - Bansal, N. P. ED - Boccaccini, A.R. T1 - Viscous-phase silicate processing KW - Viskoses Sintern KW - Oberflächenkeimbildung KW - Glaspulver KW - Sintermodelle KW - Sinterglaskeramik KW - Glasmatrixkomposit PY - 2012 SN - 978-0-470-55344-2 IS - Chapter 3 SP - 75 EP - 144 PB - Wiley AN - OPUS4-27054 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -