TY - JOUR A1 - Dietrich, Paul A1 - Unger, Wolfgang T1 - Charakterisierung von Microarrays durch Anwendung physikalischer Methoden der chemischen Oberflächenanalytik KW - Oberflächenmodifizierungen KW - Self-assemblierende Monolagen KW - Thiole KW - Aminierte Oberflächen KW - Microarrays KW - XPS KW - ToF-SIMS PY - 2010 UR - http://www.analytik-news.de/Fachartikel/Volltext/BAM1.pdf SP - 1 EP - 11 PB - Dr. Beyer Internet-Beratung CY - Ober-Ramstadt AN - OPUS4-21834 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -