TY - JOUR A1 - Wloka, Monika T1 - Konformitätsbewertung - Allgemeine Anforderungen an Akkreditierungsstellen, die Konformitätsbewertungsstellen akkreditieren KW - Konformitätsbewertung KW - Akkreditierung KW - Laboratorien KW - Zertifizierungsstellen KW - Inspektionsstellen KW - Wettbewerb KW - Unparteilichkeit PY - 2005 UR - http://www.beuth.de/langanzeige/Allg.+Anforderungen+an+Akkreditierungsstellen/85371142.html SN - 0011-4952 IS - 10 SP - 23 EP - 25 PB - Beuth-Vertrieb CY - Berlin AN - OPUS4-11039 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Wloka, Monika T1 - Cambios ISO/IEC 17025:1999 KW - Management system KW - Laboratory KW - Compliance with ISO 9001:2000 KW - Conformity assessment services KW - Certification KW - Technical requirement PY - 2005 SN - 0210-0223 VL - 7 IS - 22 SP - 11 EP - 13 PB - Fundación Sistema CY - Madrid AN - OPUS4-11120 LA - spa AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Wloka, Monika ED - Davies, P. T1 - Alignment of ISO/IEC 17025:1999 with ISO 9001:2000 - The new edition of ISO/IEC 17025 KW - Management system KW - Laboratory KW - Compliance with ISO 9001:2000 KW - Conformity assessment services KW - Certification KW - Technical requirement PY - 2005 VL - 7 IS - 27 SP - 16 EP - 18 PB - ILAC Secretariat AN - OPUS4-11122 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Wloka, Monika T1 - Which changes will be brought about by the new edition of ISO/IEC 17025? KW - Management system KW - Laboratory KW - Compliance with ISO 9001:2000 KW - Conformity assessment services KW - Certification KW - Technical requirement PY - 2005 DO - https://doi.org/10.1007/s00769-005-0920-8 SN - 0949-1775 SN - 1432-0517 VL - 10 IS - 5 SP - 259 EP - 260 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-11124 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Wloka, Monika T1 - Die modifizierte DIN EN ISO/IEC 17025 T2 - DIN CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-27 PY - 2005 AN - OPUS4-11645 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -