TY - JOUR A1 - Czerwensky, Michael A1 - Birkholz, M. A1 - Kanschat, P. A1 - Weiss, Thomas A1 - Lips, K. T1 - Low-temperature electron-paramagnetic-resonance study of extrinsic and intrinsic defects in CuGaSe2 KW - Electron-paramagnetic resonance KW - EPR PY - 1999 SN - 1098-0121 SN - 0163-1829 SN - 0556-2805 SN - 1095-3795 SN - 1550-235X VL - 59 IS - 19 SP - 12268 EP - 12271 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-785 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Kuxenko, Sandra A1 - Heinrich, Hans-Joachim T1 - Certification of high purity metals as primary reference materials - a challenge for multielement trace analysis N2 - The Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (Federal Institute for Materials Research and Testing) (BAM) is establishing a system of primary reference materials to meet the demands for metrological traceability and to act as national standards in the field of elemental analysis. For all elements of the periodic table - except those that are gases or radioactive - two different kinds of reference materials are being certified. One is for analyte calibration (Type A) and one for problems concerning matrix matching (Type B). These substances are of very high purity and of defined stoichiometry. As far as possible, pure elements and metals rather than pure compounds are used. The certification of both types of material requires most elements of the periodic table to be certified at very low levels using trace element analysis methods. The application of these methods is described and examples of the certification of copper and iron are given. KW - Elementspurenanalytik KW - Primäre Referenzmaterialien PY - 2002 U6 - https://doi.org/10.1002/1521-396X(200201)189:1%3C107::AID-PSSA107%3E3.0.CO;2-1 SN - 1862-6300 SN - 0031-8965 N1 - Geburtsname von Kuxenko, Sandra: Pattberg, S. - Birth name of Kuxenko, Sandra: Pattberg, S. VL - 189 IS - 1 SP - 107 EP - 122 PB - Wiley-VCH CY - Berlin AN - OPUS4-837 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Pattberg, S. A1 - Heinrich, Hans-Joachim A1 - Tutschku, S. T1 - High Purity Metals as Primary Calibration Materials for Elemental Analysis - Their Importance and Their Certification N2 - The Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung, BAM (Federal Institute for Materials Research and Testing) continues to establish a system of primary reference materials to meet the demands of metrological traceability. The materials act as national standards in the field of elemental analysis. For all elements of the periodic table -excepting those that are gases or radioactive- two different kinds of reference materials are being certified. The substances are of very high purity and of defined stoichiometry. Pure elements and metals are used as far as possible. They are certified by determining the trace contents of most elements of the periodic table at very low levels using different trace element analysis methods. Recent application of these methods is described and examples of the certification of some pure metals (copper, iron and lead) are given. (author abst.) T2 - 8th International Conference on Ultra-High Purity Base Metals (UHPM-2001) CY - Berlin, Germany DA - 2001-06-25 KW - Trace elemental analysis KW - Atomic spectrometry KW - High purity metals KW - Certification KW - Primary calibration materials KW - Reference materials KW - National standards PY - 2002 UR - https://www.researchgate.net/publication/235927297_High_purity_metals_as_primary_calibration_materials_for_elemental_analysis_-_Their_importance_and_their_certification SN - 1345-9678 SN - 1347-5320 VL - 43 IS - 2 SP - 90 EP - 97 PB - Japan Institute of Metals CY - Sendai AN - OPUS4-1600 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Czerwensky, Michael A1 - Richter, Silke A1 - Heinrich, Hans-Joachim ED - Abiko, K. ED - Takaki, S. T1 - The System of Primary Pure Metals Established at BAM - Recent Developments T2 - 9th international conference on ultrahigh-purity base metals CY - Sendai, Japan DA - 2002-10-14 PY - 2002 SP - 119 CY - Sendai AN - OPUS4-1601 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Richter, Silke A1 - Lange, Britta T1 - Spurenanalyse von Reinstmetallen mit dem Sektorfeld ICP-MS für den Aufbau des primären Kalibriersystems der BAM T2 - 6. Symposium Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse / 18. ICP-MS Anwendertreffen CY - Berlin, Germany DA - 2003-10-06 PY - 2003 AN - OPUS4-3700 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Traub, Heike A1 - Heinrich, Hans-Joachim A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Special new techniques of atomic spectrometric methods for trace analysis of high purity metals PY - 2003 SN - 0032-6895 SN - 1778-3771 VL - 91 IS - Décembre SP - 37 EP - 50, N° Hors Série CY - Paris AN - OPUS4-6188 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Czerwensky, Michael A1 - Lange, Britta A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Analyse von Reinstmetallen mit der Sektorfeld ICP-MS N2 - Das an der BAM für die anorganisch-chemische Analytik im Aufbau befindliche System zertifizierter primärer Kalibriernormale basiert auf umfassend charakterisierten Reinststoffen jeweils für die Belange der Analytkalibrierung (Typ A) und für die Matrixanpassung (Typ-B). Die primären Kalibriernormale ermöglichen eine metrologisch hochwertige Rückführung von Ergebnissen chemischer Messungen auf die SI-Einheiten und leisten damit einen Beitrag zur Verbesserung der Vergleichbarkeit und Richtigkeit von Analysenergebnissen. Als Basismethode für die Bestimmung der metallischen Verunreinigungen in den Reinststoffen kam die ICP-Massenspektrometrie mit einem Sektorfeld-Massenspektrometer (ICP-SFMS) vom Typ ELEMENT 1 (Thermo Finnigan GmbH, Bremen) zur Anwendung. Die Hauptvorteile der ICP-SFMS für die Reinheitscharakterisierung basieren auf ihrer hohen Nachweisstärke, dem breiten Elementspektrum, der Möglichkeit, viele spektrale Störungen aufzulösen, und einer relativ einfachen Kalibrierung mittels flüssiger Standards. Die Entwicklung des primären Kalibriersystems der BAM begann mit dem Element Kupfer, das unter Anwendung zahlreicher analytischer Methoden als primäres Material vom Typ-A mit 82 bestimmten Elementspuren inzwischen vollständig charakterisiert ist. Als weitere primäre Materialien vom Typ-A sind Eisen, Blei, Gallium, Bismut, Zinn, Wolfram, Silizium, Molybdän, Nickel, Gold und Zink sowie die reinen Verbindungen Natrium-, Kalium- und Cäsiumchlorid in Bearbeitung. Die Analyse der oben aufgeführten Matrizes mit der ICP-SFMS erfolgte ohne Abtrennung der jeweiligen Matrix. Die kompakten Materialien wurden nach Oberflächenreinigung in geeigneten hochreinen Säuren aufgelöst und mittels konventioneller Probenaufgabe bei einer Matrix-konzentration von ca. 1g/L direkt vermessen. Insgesamt wurden in den primären Materialien mit der ICP-SFMS jeweils etwa 70 Elementspuren analysiert, wobei die Bestimmungsgrenzen, bezogen auf den Feststoff, für ungestörte Isotope überwiegend im sub-mg/kg-Bereich lagen. Die matrixbedingten Signaldepressionen betrugen maximal 50 %. Die durch die jeweilige Matrix bedingten spektralen Störungen lassen sich in vielen Fällen durch Wahl einer höherer Massenauflösung am Sektorfeld-Analysator (R=3000 oder 7000) eliminieren. Aufgrund der in höherer Auflösung verringerten Transmission müssen dabei Verschlechterungen der Empfindlichkeit bezogen auf den empfindlichsten Messmodus (R=300) in Kauf genommen werden. Im Vortrag werden Ergebnisse der ICP-SFMS für die Zertifizierung ausgewählter primärer Materialien dargestellt und die Möglichkeiten der Hochauflösung an Beispielen demonstriert. T2 - 14. Jahreskolloquium der IGAS CY - Berlin, Germany DA - 2004-11-17 PY - 2004 AN - OPUS4-4619 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf T1 - ICP-MS analysis of high purity molybdenum used as SI-traceable standard of high metrological quality N2 - The need, concept and technical approach for the certification of SI-traceable standards of high metrological quality for chemical analysis of the elements is briefly explained. As an example of problems occurring in the certification of these standards, special technical aspects related to the analysis of high purity Mo by ICP-MS, namely blank reduction for Na, Li and Ni by protective coating of the cones with silicon, as well as dealing with the interferences from the Mo matrix, are discussed. PY - 2005 UR - http://cat.inist.fr/?aModele=afficheN&cpsidt=16469686 SN - 0267-9477 SN - 1364-5544 VL - 20 IS - 1 SP - 28 EP - 34 PB - Royal Society of Chemistry CY - London AN - OPUS4-5483 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Heinrich, Hans-Joachim A1 - Czerwensky, Michael A1 - Kuxenko, Sandra A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Multielement trace determination in high purity advanced ceramics and high purity metals T2 - International Symposium on Ultrapure Materials (ISUPM) CY - Hyderabad, India DA - 2004-11-22 KW - Advanced ceramics KW - Pure metals KW - SS ET AAS KW - HR ICP-MS PY - 2005 SN - 0250-4707 SN - 0973-7669 VL - 28 IS - 4 SP - 361 EP - 366 PB - Indian Academy of Sciences CY - Bangalore AN - OPUS4-10889 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Traub, Heike A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Panne, Ulrich T1 - Homogenitätsprüfung und Analyse von reinem Kupfer mit Laserablation-ICP-Massenspektrometrie KW - Laserablation KW - Kupfer KW - Homogenität KW - ZRM PY - 2007 SN - 0026-0746 VL - 61 IS - 11 SP - 744 EP - 745 PB - Giesel Verlag GmbH CY - Isernhagen AN - OPUS4-16153 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -