TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II CY - Berlin, Germany DA - 2001-11-08 PY - 2001 AN - OPUS4-6163 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Elektronenstrahl-Mikroanalyse T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik", TU-Berlin - Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik", TU-Berlin - Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik CY - Berlin, Germany DA - 2001-12-11 PY - 2001 AN - OPUS4-6206 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Einsatz des Röntec MultiMax in der Materialforschung und -prüfung T2 - Festkolloquium zum 10-jährigen Bestehen der Firma Röntec T2 - Festkolloquium zum 10-jährigen Bestehen der Firma Röntec CY - Berlin, Germany DA - 2001-05-28 PY - 2001 AN - OPUS4-6153 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Erfahrungen mit STRATAGEM bei der Bestimmung von Metallschichtdicken im Nanometerbereich T2 - SAMx-Anwender-Treffen T2 - SAMx-Anwender-Treffen CY - Halle (Saale), Germany DA - 2001-07-02 PY - 2001 AN - OPUS4-6154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -