TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren T2 - 29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) T2 - 29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) CY - Münster, Germany DA - 1996-10-08 PY - 1996 AN - OPUS4-3260 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe A1 - Hasche, K. A1 - Herrmann, K. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Pohlenz, F. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Schindler, A. T1 - Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche T2 - Maschinenbau und Nanotechnik: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau T2 - Maschinenbau und Nanotechnik: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau CY - Ilmenau, Germany DA - 2002-09-23 PY - 2002 AN - OPUS4-3620 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - EDXTOOLS - ein Programmpaket in MATLAB zur Berechnung von Röntgenspektren und Spektrometereigenschaften T2 - Forschungsseminar "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" am Institut für Atomphysik der Technischen Universität Berlin T2 - Forschungsseminar "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" am Institut für Atomphysik der Technischen Universität Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2006-05-30 PY - 2006 AN - OPUS4-12413 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Wie genau ist standardlose Elektronenstrahl-Mikroanalyse? T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" - TU-Berlin, Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" - TU-Berlin, Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik CY - Berlin, Germany DA - 2002-10-29 PY - 2002 AN - OPUS4-6248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - EDX-Spektrometerüberprüfung an der BAM gemäß ISO 17025 T2 - ThermoNORAN Nutzertreffen T2 - ThermoNORAN Nutzertreffen CY - Marburg, Germany DA - 2002-11-05 PY - 2002 AN - OPUS4-6249 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Energiedispersive Röntgenspektrometrie und Qualitätssicherung T2 - BAM-Kolloquium "Rasterelektronenmikrosakopie unter variablem Kammerinnendruck" T2 - BAM-Kolloquium "Rasterelektronenmikrosakopie unter variablem Kammerinnendruck" CY - Berlin, Germany DA - 2002-05-28 PY - 2002 AN - OPUS4-6213 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Erste Ergebnisse mit m-XRF-Röhre am REM T2 - Klausurberatung des IFV UVR T2 - Klausurberatung des IFV UVR CY - Berlin, Germany DA - 2003-02-07 PY - 2003 AN - OPUS4-4368 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Eine Mikrofokus-Röntgenquelle als Zusatz zum Raserelektronenmikroskop für die Röntgenflüoreszenzanalyse T2 - Fachtagung "PRORA 2003" T2 - Fachtagung "PRORA 2003" CY - Berlin, Germany DA - 2003-04-03 PY - 2003 AN - OPUS4-4369 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Fehlermöglichkeiten bei der ESMA am REM/EDX T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec CY - Strausberg, Germany DA - 2003-06-04 PY - 2003 AN - OPUS4-4370 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Stand und Perspektiven der Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop T2 - Kolloquium des Zentrums für Mikro- und Nanotechnologie (ZMN) T2 - Kolloquium des Zentrums für Mikro- und Nanotechnologie (ZMN) CY - Ilmenau, Germany DA - 2004-03-31 PY - 2004 AN - OPUS4-4610 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Messung von absoluten Röntgenemissionsausbeuten für K-linien bei Elektronenanregung T2 - XRF-Kolloquium der TU Berlin T2 - XRF-Kolloquium der TU Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2003-06-24 PY - 2003 AN - OPUS4-5029 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schnelle Elementverteilungsanalysen mit dem RÖNTEC ColorSEM T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec CY - Strausberg, Germany DA - 2003-06-04 PY - 2003 AN - OPUS4-6356 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Anforderungen an ein modernes EDX-System T2 - Kolloquium "Neue Entwicklungen in der EDX-Analyse am Rasterelektronenmikroskop", Bruker Microanalysis GmbH, Berlin-Adlershof T2 - Kolloquium "Neue Entwicklungen in der EDX-Analyse am Rasterelektronenmikroskop", Bruker Microanalysis GmbH, Berlin-Adlershof CY - Berlin, Germany DA - 2007-06-11 PY - 2007 AN - OPUS4-14953 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Charakterisierung energiedispersiver Röntgenspektrometer durch Effizienz und Antwortfunktion T2 - Forschungsseminar "Moderne analytische Methoden der Physik", Technische Universität Berlin, Institut für Optik und atomare Physik T2 - Forschungsseminar "Moderne analytische Methoden der Physik", Technische Universität Berlin, Institut für Optik und atomare Physik CY - Berlin, Germany DA - 2007-06-05 PY - 2007 AN - OPUS4-14954 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II CY - Berlin, Germany DA - 2001-11-08 PY - 2001 AN - OPUS4-6163 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Elektronenstrahl-Mikroanalyse T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik", TU-Berlin - Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik", TU-Berlin - Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik CY - Berlin, Germany DA - 2001-12-11 PY - 2001 AN - OPUS4-6206 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Scholze, F. T1 - Aufbau und Funktionsweise von energiedispersiven Röntgenspektrometern T2 - 32. Kolloquium EDO T2 - 32. Kolloquium EDO CY - Saarbrücken, Germany DA - 2000-09-18 PY - 2000 AN - OPUS4-6121 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Einsatz des Röntec MultiMax in der Materialforschung und -prüfung T2 - Festkolloquium zum 10-jährigen Bestehen der Firma Röntec T2 - Festkolloquium zum 10-jährigen Bestehen der Firma Röntec CY - Berlin, Germany DA - 2001-05-28 PY - 2001 AN - OPUS4-6153 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Erfahrungen mit STRATAGEM bei der Bestimmung von Metallschichtdicken im Nanometerbereich T2 - SAMx-Anwender-Treffen T2 - SAMx-Anwender-Treffen CY - Halle (Saale), Germany DA - 2001-07-02 PY - 2001 AN - OPUS4-6154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Combination of energy dispersive electron probe microanalysis with X-ray fluoescence analysis in a SEM T2 - Microscopy and Microanalysis T2 - Microscopy and Microanalysis CY - Fort Lauderdale, FL, USA DA - 2007-08-05 PY - 2007 AN - OPUS4-15189 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Qualitätssicherung in einem REM/EDX-Labor T2 - Workshop "Raster-Elektronen-Mikroskopie in der Mikroverbindungstechnik" des FhG-IZM T2 - Workshop "Raster-Elektronen-Mikroskopie in der Mikroverbindungstechnik" des FhG-IZM CY - Berlin, Germany DA - 1999-10-27 PY - 1999 AN - OPUS4-6054 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Scholze, F. T1 - Calibration of the detection efficiency of energy dispersive X-ray spectrometers for absolute intensity measurements and to establish a basis for a more rigorous quantitation procedure T2 - Microscopy and Microanalysis 2008 T2 - Microscopy and Microanalysis 2008 CY - Albuquerque, NM, USA DA - 2008-08-03 PY - 2008 AN - OPUS4-16589 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Laborpraxis mit dem IMOXS T2 - 1. EDAX Partikelanalyse und iMOXS Anwendertreffen T2 - 1. EDAX Partikelanalyse und iMOXS Anwendertreffen CY - Wiesbaden, Germany DA - 2007-11-29 PY - 2007 AN - OPUS4-16169 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-04 PY - 2004 AN - OPUS4-6424 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-25 PY - 2004 AN - OPUS4-6425 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenmikrofluoreszenzanalyse im REM mit dem Thermo NSS300 und der Röntgenquelle iMOXS T2 - Anwendertreffen Mikroanalyse T2 - Anwendertreffen Mikroanalyse CY - Berlin, Germany DA - 2006-10-17 PY - 2006 AN - OPUS4-13191 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -