TY - GEN A1 - Kitze, Jessica A1 - Brackrock, Daniel A1 - Brekow, Gerhard A1 - Prager, Jens A1 - Gaal, Mate A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Szabo, D. A1 - Kuti, K. A1 - Paczolay, G. T1 - SAFT und TOFD - Ein Vergleich im Analyseverhalten von Reflektoren T2 - 15. ITG/GMA-Fachtagung - Sensoren und Messsysteme 2010 (Proceedings) T2 - 15. ITG/GMA-Fachtagung - Sensoren und Messsysteme 2010 CY - Nürnberg, Deutschland DA - 2010-05-18 PY - 2010 SN - 978-3-8007-3260-9 IS - C5/115 SP - 650 EP - 657 PB - VDE-Verl. CY - Berlin; Offenbach AN - OPUS4-22971 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -