TY - GEN A1 - Görner, Wolf A1 - Berger, Achim A1 - Merchel, Silke A1 - Pernicka, E. A1 - Radtke, Martin A1 - Reiche, I. A1 - Reinholz, Uwe A1 - Riederer, J. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Wunderlich, C. H. T1 - Kunst- und Kulturgüter unter "Beschuss" T2 - ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung - Jahrestagung 2004 T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2004 CY - Salzburg, Österreich DA - 2004-05-17 KW - SY-RFA KW - PIXE KW - PIGE KW - PAA KW - Zerstörungsfreie Analyse KW - Silberstiftzeichnungen KW - Himmelsscheibe von Nebra KW - Indische Moghulmalereien PY - 2004 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp04/papers/p46/p46.htm SN - 3-931381-55-2 SP - 1(?) EP - 11(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-6897 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Merchel, Silke A1 - Berger, Achim A1 - Görner, Wolf A1 - Radtke, Martin A1 - Reinholz, Uwe A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Vogl, Jochen A1 - Frisch, A. A1 - Reiche, I. T1 - Kunst- und Kulturgüter unter "Beschuss" T2 - Jahrestagung der Fachgruppe Nuklearchemie und 19. Seminar Aktivierungsanalyse T2 - GDCh-Jahrestagung Chemie 2003 ; Jahrestagung der Fachgruppe Nuklearchemie ; 19. Seminar Aktivierungsanalyse CY - München, Deutschland DA - 2003-10-06 PY - 2003 SN - 3-936028-14-1 N1 - Serientitel: Kurzreferate / GDCh-Jahrestagung Chemie 2003 – Series title: Kurzreferate / GDCh-Jahrestagung Chemie 2003 IS - 5 SP - 68 PB - Gesellschaft Deutscher Chemiker CY - Frankfurt am Main AN - OPUS4-2686 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Radtke, Martin A1 - Berger, Achim A1 - Ecker, Klaus A1 - Merchel, Silke A1 - Procop, Mathias A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Görner, Wolf A1 - Reiche, I. T1 - Synchrotron induced X-ray fluorescence for trace element analysis T2 - Hamburg Workshop T2 - Hamburg Workshop CY - Hamburg, Germany DA - 2002-09-16 PY - 2002 SN - 3-924330-53-0 SP - 1(?) PB - Gesellschaft Deutscher Chemiker AN - OPUS4-1525 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Reiche, I. A1 - Berger, Achim A1 - Duval, A. A1 - Görner, Wolf A1 - Guicharnaud, H. A1 - Merchel, Silke A1 - Radtke, Martin A1 - Riederer, J. A1 - Riesemeier, Heinrich T1 - Traces of Albrecht Dürer: Non-destructive analyses of Renaissance silverpoint drawings T2 - Analytical applications of nuclear techniques KW - Nuclear industry KW - Nuclear medicine PY - 2004 SN - 92-0-114703-1 SN - 0074-1876 IS - 1181 SP - 138 EP - 142 PB - IAEA CY - Vienna AN - OPUS4-5548 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Reiche, I. A1 - Berger, Achim A1 - Duval, A. A1 - Görner, Wolf A1 - Guicharnaud, H. A1 - Merchel, Silke A1 - Radtke, Martin A1 - Riederer, J. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Roth, M. ED - Röhrs, S. T1 - Auf den Spuren Albrecht Dürers - Zerstörungsfreie Untersuchung von Silberstiftzeichnungen mittels Mikro-PIXE und Synchrotron-induzierter Mikro-RFA T2 - Archäometrie und Denkmalpflege (Jahrestagung ... / AK Archäometrie in der GDCh 2003) T2 - Jahrestagung 2003 im Ethnologischen Museum Berlin-Dahlem CY - Berlin, Deutschland DA - 2003-03-12 PY - 2003 SN - 3-00-014223-1 SN - 0949-4057 SP - 118 EP - 120 CY - [Frankfurt am Main] AN - OPUS4-2356 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Reiche, I. A1 - Berger, Achim A1 - Duval, A. A1 - Görner, Wolf A1 - Guicharnaud, H. A1 - Merchel, Silke A1 - Radtke, Martin A1 - Riederer, J. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Roth, M. ED - Denker, A. ED - Adriaens, A. ED - Dowsett, M. ED - Giumlia-Mair, A. T1 - Synchrotron radiation and protons on the traces of famous artists - Non-destructive analyses of silverpoint drawings by Albrecht Dürer T2 - COST Action G8 KW - X-ray spectrometry KW - XRF KW - Röntgenfluoreszenzanalyse KW - RFA KW - Silverpoint drawing KW - Silberstiftzeichnung PY - 2006 SN - 3-8167-7178-5 SP - 91 EP - 101 PB - Fraunhofer-IRB-Verl. CY - Stuttgart AN - OPUS4-14190 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -