TY - JOUR A1 - Binder, Christian A1 - Kasch, Thomas A1 - Lehné, Siegfried A1 - Beck, Uwe A1 - Weise, Matthias A1 - Sahre, Mario T1 - Combustion tests under high pressure oxygen: Promoted ignition combustion test versus metallic disk ignition test N2 - Two different test apparatuses are used at BAM to evaluate the safety of oxygen components: First, the “promoted ignition combustion test” according to ASTM G 124 [1] and to EIGA IGC Doc 13/02/E [2], and second, the new “metallic disk ignition test” that has not been standardized yet. The standard test method ASTM G 124 allows a ranking of metallic materials for use at high pressure oxygen. However, the transfer of those test results to valves and fittings in real-life situations is rather complex. The “metallic disk ignition test,” developed at BAM, is more practice oriented and uses metallic disks of different thicknesses of the investigated material. A commonly used nonmetallic sealing ring is placed in front of this disk and serves as an igniter. This test array is then exposed to high pressure gaseous oxygen impacts in a standardized pneumatic impact tester according to DIN EN 1797 [3]. KW - Adiabatic compression KW - Pneumatic impact KW - Flammability KW - High pressure oxygen KW - Metallic materials KW - Promoted ignition KW - Coatings PY - 2006 DO - https://doi.org/10.1520/JAI13532 SN - 1546-962X VL - 3 IS - 5 SP - JAI13532, 1 EP - 5 PB - American Society for Testing and Materials CY - West Conshohocken, Pa. AN - OPUS4-12677 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Herffurth, T. A1 - Schröder, S. A1 - Tan, Ö. A1 - Apel, S. A1 - Senoner, Mathias A1 - Sahre, Mario ED - Weckenmann, A. T1 - Rauheitsbewertung beschichteter Oberflächen T2 - Abschlusskolloquium DFG Schwerpunktprogramm 1159 - Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen CY - Erlangen, Germany DA - 2010-10-06 KW - AFM-Spitzencharakterisierer KW - Nanotopographie KW - Rasterkraftmikroskopie KW - Rauheit KW - Weißlichtinterferometrie PY - 2011 SN - 978-3-8440-0358-1 SN - 0945-0769 SP - 219 EP - 231 PB - Shaker Verlag GmbH AN - OPUS4-24789 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Senoner, Mathias A1 - Sahre, Mario A1 - Rooch, Heidemarie A1 - Unger, Wolfgang ED - Weckenmann, A. T1 - Neuartige, räumlich strukturierte Testproben für die Bestimmung der Abbildungsqualität und die Kalibrierung der Längenskala in der Rastersondenmikroskopie T2 - Abschlusskolloquium DFG Schwerpunktprogramm 1159 - Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen CY - Erlangen, Germany DA - 2010-10-06 KW - MOVPE KW - Rasterkraftmikroskopie KW - Referenzmaterial KW - Schichtstapel KW - Selektives Ätzen KW - Spitzencharakterisierer KW - TEM PY - 2011 SN - 978-3-8440-0358-1 SN - 0945-0769 SP - 116 EP - 129 PB - Shaker Verlag GmbH AN - OPUS4-24790 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Gamer, Nadja A1 - Wegwerth, Tillmann T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen der Steriltechnik T2 - 3-Länder-Korrosionstagung - Nichtrostender Stahl - Reinigen, beizen, passivieren, Korrosionsschutz optimieren CY - Basel, Schweiz DA - 2009-04-20 KW - Oberflächentopographie KW - Replikaverfahren KW - Oberflächenenergie KW - Modifizierung KW - Bearbeitung KW - Beschichtung und Strukturierung KW - Wechselwirkung mit Partikeln PY - 2009 SN - 978-3-935406-38-3 SP - 12 EP - 24 PB - DECHEMA CY - Frankfurt/M. AN - OPUS4-25599 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Fabry-Perot-based layer stacks for ellipsometric encoding - Embedded public, hidden, and forensic information for product authentication N2 - Public, hidden, and forensic features either encoded or directly legible are used for authentication. Fabry-Perot layer stacks as information carriers in combination with imaging ellipsometry as optical read-out system provide all-in-one anti-counterfeiting capability that may establish the new security level 'encoded forensic'. Different layer designs are described with regard to all three security levels: public features (e.g. color and tilt effect) perceptible by the human eye, hidden features (e.g. spectroscopic response in the UV or IR), and forensic features (ellipsometric quantities Ψ and Δ as a function of wavelength λ and angle of incidence AOI). Physically uncloneable functions (PUF) could be realized as a result of a multi-material and a multi-parameter deposition approach as well as by means of specific design features of the Fabry-Perot layer stack. Hence, they are not subject to any reverse engineering strategies. Examples of stratified, micro-structured, and laser-modified Fabry-Perot layer systems are considered that may be used at all perception levels (e.g. human eye, bar code reader, and imaging ellipsometry) for authentication against product counterfeiting and related areas. -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- Zur Authentifizierung werden offene, versteckte und forensische Merkmale entweder codiert oder direkt auslesbar verwendet. Mit Fabry-Perot Schichtsystemen als Informationsträger in Kombination mit der abbildenden Ellipsometrie als optischem Auslesesystem steht ein 'all-in-one' Fälschungsschutz-System zur Verfügung, das ein neues Sicherheitsniveau 'kodiert-forensisch' darstellt. Es werden unterschiedliche Schichtdesigns beschrieben, mit denen alle drei Sicherheitsniveaus realisiert werden können: offene Merkmale (z.B. Farbe und Kippeffekt), die mit dem menschlichen Auge wahrnehmbar sind, versteckte Merkmale (z.B. die spektrale Antwort im Sichtbaren oder im IR) sowie forensische Merkmale (ellipsometrische Größen Ψ und Δ als Funktion der Wellenlänge λ und des Einfallswinkels AOI). Physikalisch nicht klonbare Funktionen (PUF) können im Ergebnis einer Multi-Material- und Multi-Parameter Beschichtungsstrategie sowie durch spezifische Design-Merkmale des Fabry-Perot Schichtsystems realisiert werden. Folglich sind solche Schichtsysteme dem 'reverse engineering' nicht zugänglich. Es werden Beispiele für lateral ausgedehnte, mikrostrukturierte und Laser modifizierte Schichtsysteme auf verschiedenen Ausleseniveaus (menschliches Auge, Barcode-Lesegerät, abbildendes Ellipsometer) vorgestellt, die zur Authentifizierung von Produkten und verwandte Gebiete geeignet sind. KW - Fabry-Perot Schichten KW - Ellipsometrie KW - Produkt- und Markenschutz PY - 2012 DO - https://doi.org/10.1002/vipr.201200494 SN - 0947-076X SN - 1522-2454 VL - 24 IS - 4 SP - 6 EP - 11 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-26180 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Bobe, U. A1 - Beck, Uwe A1 - Wegwerth, Tillmann A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Strauß, Birgid A1 - Reetz, Susanne A1 - Schondelmaier, D. A1 - Kutz, O. A1 - Winzer, B. A1 - Schaule, G. T1 - Nanotechnologische Entwicklung von "easier-to-clean"- Oberflächenstrukturen für eine zukünftig gesteigerte Lebensmittel- und Produktsicherheit - Abschlussbericht AiF-Vorhaben Nr.: 210 ZN III N2 - Reinigung wird in der Lebensmittel- und Pharmaindustrie aufgrund des stetig steigenden Kosten- und Zeitdrucks sowie der hohen Verbrauchererwartungen hinsichtlich Produktsicherheit und -haltbarkeit ein immer zentraleres Thema. Eine verbesserte Reinigbarkeit bedeutet für die produzierende Industrie eine Steigerung der Effizienz der Produktionsanlage. Besonders in der heutigen medienintensiven Zeit kommt ein "Lebensmittelskandal" durch ein unsicheres Produkt einem finanziellen Desaster und immensem Imageverlust gleich. Aus diesem Grund ist die Reinigbarkeit der produktberührenden Oberflächen stets ein wichtiges Kriterium für die Werkstoffauswahl. Basierend auf den Theorien zu Schmutzhaftung und -entfernung wurde im Rahmen dieser Arbeit überprüft, ob und wie die theoretisch relevanten Parameter auch in den Experimenten den Reinigungserfolg beeinflussen. Der Schwerpunkt wurde auf die Einflussgrößen des Werkstoffes gelegt, um herauszufinden, wie stark eine Oberfläche selbst zu ihrer Reinigbarkeit beitragen kann (self-cleaning). In den durchgeführten Versuchen hat sich gezeigt, dass die Oberflächenrauheit lediglich bei der Reinigung von kohäsiven Schmutzfilmen eine entscheidende Rolle gespielt hat. Hingegen ist ihr Einfluss auf das Reinigungsergebnis von sich auflösenden Schmutzfilmen und Partikeln nur begrenzt bis gar nicht zur Geltung gekommen. Das Oberflächenmaterial hatte keinen starken, aber dennoch signifikanten Einfluss auf die Reinigbarkeit der untersuchten Oberflächen. Dass die Reinigbarkeit einer Oberfläche keine Materialkonstante sein kann, wurde unter Verwendung spezieller Oberflächen mit definiert geätzten Rauheitsstrukturen nachgewiesen. Der Reinigungserfolg hängt immer auch von der Verunreinigungsart ab, was sich auch in vergleichbaren Versuchen der Einzelpartikelablösung mittels AFM in dem Einfluss der Elastizität bzw. Plastizität der Partikeln geäußert hat. Praxistaugliche Empfehlungen gehören mit zu den wichtigsten Zielen dieser Arbeit gewesen. Mit Fokus auf die Oberflächenparameter und auf Basis der durchgeführten Untersuchungen wurde zur Optimierung der Reinigung produktberührender Oberflächen für bekannte Kontaminationen eine Checkliste als Orientierungshilfe erarbeitet. Ist die Verunreinigungsart dennoch unbekannt, so sollte der "Grenzwert" von Ra = 1 µm unterschritten werden, um bei Vorhandensein filmartiger Verschmutzungen keine negativen Auswirkungen auf die Reinigbarkeit zu haben. Die Notwendigkeit nach hochpolierten Oberflächen (Ra < 0,3 µm) aus Reinigbarkeitsgründen kann aufgrund der Untersuchungen nicht nachvollzogen werden. Das Ziel des Vorhabens wurde erreicht. PY - 2007 SP - I EP - 148 PB - TU München CY - Weihenstephan AN - OPUS4-25430 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L100 Ti/Al multilayer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l100repe.pdf SP - 1 EP - 23 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25406 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L102 TiN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l102repe.pdf SP - 1 EP - 24 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25408 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L103 VN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l103repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25409 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L104 TiC single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l104repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25410 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -