TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Modellrekonstruktionen unvollständiger computertomographischer Datensätze T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 KW - Computer-Tomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Limited view KW - Few angles KW - Region of interest PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Poster 17) SP - 1 EP - 7 CY - Berlin AN - OPUS4-21863 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography T2 - SPIE 9th Internat. Symp. NDE for Health Monitoring and Diagnostics CY - San Diego, CA, USA DA - 2004-03-15 PY - 2004 AN - OPUS4-5558 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Computer-Tomographie mit Refraktions-Kontrast und neuem Algorithmus T2 - 12. Sitzung des FA Materialcharakterisierung der DGZfP CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-09-29 PY - 2004 AN - OPUS4-5561 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Bildgebende Charakterisierung von Kompositen mit molekularer und mesoskopisch auflösender Röntgen-Streutopographie T2 - Sitzung des DGM-Fachausschusses "Gefüge und Eigenschaften von Polymeren" CY - Kassel, Germany DA - 2008-11-06 PY - 2008 AN - OPUS4-18554 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Röntgen-Streu-Topographie für Aerospace-Werkstoffe T2 - ZFP-Seminar, Airbus Technologies CY - Bremen, Germany DA - 2007-02-06 PY - 2007 AN - OPUS4-15470 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Charakterisierung von Kompositen mittels röntgenoptischer Verfahren T2 - Expertenforum "Strukturmonitoring 2008", VDI/VDE-GMA CY - Nuremberg, Germany DA - 2008-05-06 PY - 2008 AN - OPUS4-18555 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Synchrotron-Refraktions-Computer-Tomographie für die Materialforschung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2005 CY - Rostock, Germany DA - 2005-05-02 PY - 2005 AN - OPUS4-11754 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Quantitative X-ray Determination of CFRP Micro Structures T2 - International Symposium on NDT in Aerospace CY - Fürth, Germany DA - 2008-12-03 PY - 2008 AN - OPUS4-18528 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Three-dimensional imaging of magnetic domains T2 - 2nd HZB Joint User's Meeting CY - Berlin, Germany DA - 2010-12-09 PY - 2010 AN - OPUS4-22885 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas ED - Kastner, J. T1 - A comfortable procedure for correcting X-ray detector backlight T2 - Conference on industrial computed tomography CY - Wels, Austria DA - 2012-09-19 KW - X-ray detector backlighting KW - Radiography KW - Fluorescent screen KW - Diffuse background KW - Computed tomography PY - 2012 SN - 978-3-8440-1281-1 SN - 1610-4773 SP - 151 EP - 157 PB - Shaker CY - Aachen AN - OPUS4-26768 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -