TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Illerhaus, Bernhard A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Bamberg, J. A1 - Heutling, F. T1 - 3D Refraction Computed Tomography Applied to Metal Matrix Composites N2 - For the first time Metal Matrix Composites (MMC) have been investigated by 3D Computed Tomography combined with enhanced interface contrast due to X-ray refraction. X-ray refraction is a relatively new approach for the characterization of advanced materials. The related techniques of Refraction Topography and Refraction Computed Tomography have been developed and applied at our laboratory during the last decade to meet the actual demand for improved nondestructive characterization of high performance composites, ceramics and other low density materials and components. X-ray refraction occurs, when X-rays crosses interfaces of spherical or cylindrical shape (e.g. pores or fibres) in the same way as visible light is refracted by lenses. These X-ray optical effects can be observed at small scattering angles of few minutes of arc as the refractive index n of X-rays is nearly unity (n = 1 – 10-6). Due to the short X-ray wavelength of about 0.1 nm the technique determines the amount of inner surfaces and interfaces of nanometer dimensions. The technique is expected to solve many problems in understanding the meaning of micro and sub micro structures in materials science. With the results of the CT investigation, some questions could be clarified for a better understanding of fatigue failure mechanisms under cyclic loading conditions. The specimens for the test programme have been provided by MTU Aero Engines. They consist of a titanium matrix (Ti6242) reinforced by SiC fibres (SCS6). The investigations have been performed at the materials research station of BAM (BAMline) at the Synchrotron Facility BESSY in Berlin, Germany. T2 - 35th International SAMPE technical conference CY - Dayton, OH, USA DA - 2003-09-28 KW - Non-Destructive Inspection (NDI) KW - Characterization KW - Titanium Metal Matrix Composites (Ti-MMC) KW - Ti6242 KW - SCS6 PY - 2003 SN - 0-938994-95-6 PB - SAMPE CY - Covina, Calif. AN - OPUS4-2780 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Müller, Bernd R. A1 - Görner, Wolf A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Diete, W. A1 - Klein, U. A1 - Frahm, R. T1 - BAMlin - the first hard X-ray beamline at BESSY II N2 - The first hard X-ray beamline at BESSY II will be installed by BAM and PTB at a superconducting 7 T wavelength shifter. The main optical elements of the beamline are a Double-Multilayer-Monochromator and a Double-Crystal-Monochromator. The two devices can be used separately or in-line. Main applications of monochromatic radiation with photon energies up to 50 keV are X-ray fluorescence analysis, micro-computed tomography, X-ray topography, detector calibration and reflectometry. Calculable undispersed radiation up to 200 keV will be available for radiometric applications. KW - Double-Multilayer-Monochromator with meridional bender KW - Double-Crystal-Monochromator with sagittal bender KW - X-ray fluorescence analysis KW - Micro-computed tomography KW - X-ray topography KW - Detector calibration KW - Reflectometry PY - 2001 DO - https://doi.org/10.1016/S0168-9002(01)00466-1 SN - 0168-9002 SN - 0167-5087 VL - 467-468 IS - 1 SP - 703 EP - 706 PB - North-Holland CY - Amsterdam AN - OPUS4-1171 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. T1 - Einfaches Korrigieren des Hinterleuchtens von Röntgendetektoren N2 - Hinterleuchten stellt eine oft unerkannte Fehlweisung in der radiographischen Abbildung mit Flächendetektoren dar, die durch diffuse Umverteilung der Intensität verursacht wird. Dieser Effekt kann die korrekte Transmissions-Intensität eines Probekörpers gemäß dem Lambert-Beer'schen Gesetz erheblich verfälschen. Hinterleuchten wird sowohl mit Bremsstrahlung von Röntgenröhren als auch mit monochromatischer Synchrotronstrahlung beobachtet. Die fehlerhaft reduzierten Schwächungskoeffizienten von einigen 10 % korrelieren mit der Strahlschwächung und dem direkt bestrahlten Detektorbereich. Für eine einfache numerische Korrektur des Hinterleuchtens werden lediglich integrale Intensitätswerte benötigt. KW - Hinterleuchten KW - Röntgendetektor KW - Fluoreszenzschirm KW - Radiographie PY - 2013 DO - https://doi.org/10.3139/120.110478 SN - 0025-5300 VL - 55 IS - 7-8 SP - 1 EP - 5 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-28692 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. T1 - Improved computed tomography by variable desmearing - Model reconstructions by iterative DIRECTT algorithm N2 - Die mitunter erhebliche Verschmierung von computertomograpischen Projektionen durch ausgedehnte Strahlenquellen wird durch eine neuartige Entschmierungsprozedur erheblich reduziert, um eine verbesserte Ortsauflösung der Rekonstruktion zu erreichen. Da die Breite der Verschmierungsfunktion der detektornahen und -fernen Objektelemente sich erheblich unterscheiden kann, muss die Entschmierung variabel sein. Im Gegensatz zu einer für alle Voxel-Positionen identischen Entfaltung, also einer grundsätzlich falschen Voraussetzung, wurde eine implizite Entschmierung entwickelt. Die vorab bekannte positionsabhängige Verschmierung wird auf die iterativ wiederholten Projektionen der Teilrekonstruktionen des DIRECTT-Algorithmus angewandt. Die variabel entschmierten Rekonstruktionen aus den Sinogrammen eines Pixelmodells mit Verschmierungen von 1 bis 5 Pixel erreichen eine Ortsauflösung von nahezu einem Pixel. KW - Computertomographie KW - Neutronen-Tomographie KW - Tomographische Rekonstruktionsalgorithmen PY - 2010 SN - 0025-5300 VL - 52 IS - 6 SP - 394 EP - 400 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-21464 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Beyerer, J. T1 - Threat detection and characterisation by spectroscopic THz-imaging T2 - 2nd Security Research Conference "Future Security" CY - Karlsruhe, Germany DA - 2007-09-12 KW - Terahertz-Radiography KW - Explosives PY - 2007 SN - 978-3-86644-147-7 SP - 155 EP - 158 PB - Universitätsverl. CY - Karlsruhe AN - OPUS4-16101 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg T1 - Charakterisierung von Mikroschäden in polymeren Faserkompositen mittels Röntgen-Refraktions-Topography T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2001 CY - Berlin, Deutschland DA - 2001-05-21 PY - 2001 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp01/papers/p49/p49.htm N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 75-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-1298 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Paul Sellin, T1 - Refraction enhanced micro-CT for non-destructive materials characterization T2 - IEEE Nuclear Science Symposium CY - Dresden, Germany DA - 2008-10-19 KW - Synchrotron KW - Micro-CT KW - Refraction PY - 2008 SN - 978-1-4244-2715-4 SN - 1082-2654 SP - 541 EP - 546 AN - OPUS4-18662 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Terahertz-Radiographie riskanter Substanzen ohne Strahlengefährdung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Deutschland DA - 2007-05-14 KW - Terahertz-Radiographie KW - Explosivstoffe KW - Nichtmetallische Werkstoffe PY - 2007 SN - 978-3-931381-98-1 SP - 1 EP - 10 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-16100 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas T1 - Computertomographische Rekonstruktion mit DIRECTT - 2D-Modellrechnungen im Vergleich zur gefilterten Rückprojektion KW - Computer-Tomographie KW - Tomographische Rekonstruktions-Algorithmen PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 5 SP - 272 EP - 277 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-17563 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Kupsch, Andreas A1 - Müller, Bernd R. T1 - Rekonstruktion unvollständiger computertomografischer Modelldatensätze mit Directt-Algorithmus N2 - Modellrechnungen zur Rekonstruktion unvollständiger computertomographischer Datensätze werden zur Ermittlung der Vorteile des neuen Directt-Algorithmus gegenüber der konventionellen gefilterten Rückprojektion durchgeführt, insbesondere auch zur Vermeidung experimentell begründeter Unwägbarkeiten. Ein entsprechender Bedarf entsteht seitens erweiterter Forschungsaktivitäten und industrieller Bedürfnisse, wo die Rekonstruktion limitierter Messdatensätze von Artefakten dominiert wird. Die bekanntesten Einschränkungen betreffen das Limited-View- und Few-Angles-Problem sowie die ROI-Situation, die jeweils unabhängig voneinander untersucht werden, in der Anwendung jedoch zumeist undefiniert vermischt sind, wie etwa in der Elektronen-Tomografie. Die hochauflösende Rekonstruktion von Einzelpixeln wird durch die Wahl eines kleinen Modells von nur 1012 Pixeln visualisiert und ist ohne Filterung möglich. Rekonstruktionen von 90°-Sektoren oder 50 % -ROI-Querschnitten sind fast ohne Auflösungseinschränkungen realisierbar. Die bisher nicht bekannte Möglichkeit, auch außerhalb der ROI präzise zu rekonstruieren, wurde als "Extended ROI"-Methode erfolgreich erprobt. KW - Computed tomography KW - Reconstruction algorithm KW - Filtering KW - Limited view KW - Region of interest PY - 2010 SN - 0025-5300 VL - 52 IS - 10 SP - 668 EP - 675 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-22068 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Terahertz-Wellen: Radiographie ohne Strahlengefährdung N2 - Mit dem Einsatz von Terahertz-Wellen eröffnen sich gegenüber Röntgenstrahlung neuartige Möglichkeiten der Radiologie. Von der dielektrischen Materialcharakterisierung nicht metallischer Werkstoffe bis zur Detektion des Innenlebens von unkonventionellen Spreng- und Brandvorrichtungen (USBV) wird ein großes Anwendungsspektrum für die bildgebende zerstörungsfreie Prüfung abgedeckt. Die physiologische Unbedenklichkeit der Strahlung favorisiert sie auch für Personenkontrollen an Flughäfen. Das Prinzip eines modernen zeitauflösenden Terahertz-Spektrometers mit einer Ortsauflösung bis 0,3mm und einem Frequenzbereich von 0,1 bis 2,2THz wird erläutert sowie die Wechselwirkung mit Materie. Die Besonderheiten von THz-Topogrammen werden am Beispiel einer Briefbombenattrappe mit Röntgen-Radiogrammen verglichen. KW - Terahertz-Radiographie KW - Explosivstoffe KW - Nichtmetallische Werkstoffe PY - 2008 UR - http://materialstesting.de/directlink.asp?MP100891 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 6 SP - 341 EP - 348 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-17598 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Synchrotron Based Micro-CT and Refraction Enhanced Micro-CT of MMC T2 - International Symposium on NDT in Aerospace CY - Fürth, Germany DA - 2008-12-03 KW - X-ray Refraction KW - Synchrotron Radiation KW - Computed Tomography KW - Metal Matrix Composites KW - Lightweight Materials KW - Aerospace PY - 2008 SN - 978-3-940283-12-2 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - DGZfP-BB 114 (Poster 10) SP - 295 EP - 305 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-18607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. ED - Czichos, Horst ED - Tetsuya Saito, ED - Leslie Smith, T1 - Computed tomography - Application to composites and microstructures KW - Microstructures KW - Computed tomography KW - X-ray refraction tomography KW - Composites PY - 2006 SN - 978-3-540-20785-6 SP - 870 EP - 875 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-14066 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Cohen, L. J. T1 - Non-Destructive Characterization of High Performance Composites by use of X-Ray Refraction Topography T2 - 48th International SAMPE symposium and exhibition CY - Long Beach, CA, USA DA - 2003-05-11 KW - Non-Destructive Inspection (NDI) KW - Characterization KW - Advanced Composite PY - 2003 SN - 0-938994-94-8 VL - 1 SP - 1203 EP - 1211 PB - SAMPE International Business Office CY - Covina, Calif. AN - OPUS4-2542 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Verbesserte Computertomographie durch iterative Brennfleckentschmierung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2009 CY - Münster, Deutschland DA - 2009-05-18 KW - Computer-Tomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Ortsauflösung KW - Verschmierung KW - Brennfleck PY - 2009 SN - 978-3-940283-16-0 IS - DGZfP-BB 115 SP - 1 EP - 8 AN - OPUS4-20542 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - ZfP von Luftfahrt-Kompositen mittels Röntgen-Refraktion T2 - Seminar "Zerstörungsfreie Prüfung" CY - Stuttgart, Germany DA - 2008-06-13 PY - 2008 AN - OPUS4-18553 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Materialprüfung mit Terahertz-Verfahren T2 - Berliner Wirtschaftsgespräche, DLR CY - Berlin, Germany DA - 2009-03-26 PY - 2009 AN - OPUS4-19272 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Das Anwendungspotential der Röntgen-Topographie vom Mikroriss bis zur Gepäckprüfung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Germany DA - 2007-05-14 PY - 2007 AN - OPUS4-15481 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Refraktions-Interface-Radiographie T2 - DGZfP-Jahrestagung 2013 CY - Dresden, Germany DA - 2013-05-06 PY - 2013 AN - OPUS4-28493 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schors, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas T1 - Materialcharakterisierung durch tiefenaufgelöste Röntgen-Diffraktometrie T2 - DGZfP Jahrestagung CY - Rostock, Deutschland DA - 2005-05-02 KW - Röntgen-Diffraktions-Mikroskopie KW - Materialcharakterisierung und -identifizierung PY - 2005 SN - 3-931381-64-1 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 94-CD SP - 1(?) EP - 3(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-11696 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Modellrekonstruktionen unvollständiger computertomographischer Datensätze T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 KW - Computer-Tomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Limited view KW - Few angles KW - Region of interest PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Poster 17) SP - 1 EP - 7 CY - Berlin AN - OPUS4-21863 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography T2 - SPIE 9th Internat. Symp. NDE for Health Monitoring and Diagnostics CY - San Diego, CA, USA DA - 2004-03-15 PY - 2004 AN - OPUS4-5558 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Computer-Tomographie mit Refraktions-Kontrast und neuem Algorithmus T2 - 12. Sitzung des FA Materialcharakterisierung der DGZfP CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-09-29 PY - 2004 AN - OPUS4-5561 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Bildgebende Charakterisierung von Kompositen mit molekularer und mesoskopisch auflösender Röntgen-Streutopographie T2 - Sitzung des DGM-Fachausschusses "Gefüge und Eigenschaften von Polymeren" CY - Kassel, Germany DA - 2008-11-06 PY - 2008 AN - OPUS4-18554 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Röntgen-Streu-Topographie für Aerospace-Werkstoffe T2 - ZFP-Seminar, Airbus Technologies CY - Bremen, Germany DA - 2007-02-06 PY - 2007 AN - OPUS4-15470 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Charakterisierung von Kompositen mittels röntgenoptischer Verfahren T2 - Expertenforum "Strukturmonitoring 2008", VDI/VDE-GMA CY - Nuremberg, Germany DA - 2008-05-06 PY - 2008 AN - OPUS4-18555 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Synchrotron-Refraktions-Computer-Tomographie für die Materialforschung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2005 CY - Rostock, Germany DA - 2005-05-02 PY - 2005 AN - OPUS4-11754 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Quantitative X-ray Determination of CFRP Micro Structures T2 - International Symposium on NDT in Aerospace CY - Fürth, Germany DA - 2008-12-03 PY - 2008 AN - OPUS4-18528 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Three-dimensional imaging of magnetic domains T2 - 2nd HZB Joint User's Meeting CY - Berlin, Germany DA - 2010-12-09 PY - 2010 AN - OPUS4-22885 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas ED - Kastner, J. T1 - A comfortable procedure for correcting X-ray detector backlight T2 - Conference on industrial computed tomography CY - Wels, Austria DA - 2012-09-19 KW - X-ray detector backlighting KW - Radiography KW - Fluorescent screen KW - Diffuse background KW - Computed tomography PY - 2012 SN - 978-3-8440-1281-1 SN - 1610-4773 SP - 151 EP - 157 PB - Shaker CY - Aachen AN - OPUS4-26768 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Non-destructive evaluation of advanced materials by synchrotron radiation refraction topography PY - 2002 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2001.pdf#page=233 SN - 0179-4159 SP - 233 EP - 234 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-1326 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Ekenhorst, Derk A1 - Brzezinka, Klaus-Werner A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Krenkel, W. T1 - Fiber Induced Failure of Carbon/Carbon Composites T2 - 4th International Conference on High Temperature Ceramic Matrix Composites ; 4th HT-CMC Conference CY - Munich, Germany DA - 2001-10-01 PY - 2001 SN - 3-527-30320-0 VL - 4 SP - 175 EP - 180 PB - Wiley-VCH CY - Weinheim AN - OPUS4-1289 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - X-Ray refraction computed tomography for NDE of lightweight materials T2 - Deutsche Tagung für Forschung mit Synchrotronstrahlung, Neutronen und Ionenstrahlen an Großgeräten 2006 (SNI2006) CY - Hamburg, Germany DA - 2006-10-04 PY - 2006 AN - OPUS4-15836 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Green, R. E. ED - Djordjevic, B. B. ED - Hentschel, M. P. T1 - Synchrotron Radiation Refraction Topography PY - 2003 SN - 3-540-40154-7 SP - 167 EP - 176 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-2765 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Lange, Axel A1 - Kupsch, Andreas A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. T1 - DIRECTT-Rekonstruktionen im Vergleich zur gefilterten Rückprojektion N2 - Anhand von computertomografischen Messungen und Modellrechnungen werden DIRECTT-Rekonstruktionen im Vergleich mit gefilterten Rückprojektionen bewertet. Dazu wird die Rekonstruktionsqualität mittels einer zirkular erweiterten Modulations-Transfer-Funktion (MTF) und mit integralen Kenngrößen im Radon- und im Ortsraum verglichen. Zur Überprüfung der Rekonstruktionsgenauigkeit experimenteller Daten werden Mustermessungen einfacher Probengeometrien unter definierten physikalischen Bedingungen durchgeführt. Diese beinhalten die Monochromasie, die Unterdrückung von Kantenartefakten und die radiometrische Intensitätsbestimmung. Für die Qualität der Rekonstruktionen mittels DIRECTT erweisen sich sowohl unterschiedliche Rekonstruktionsfilter als auch der Verzicht auf jede Filterung als unerheblich, im Gegensatz zur gefilterten Rückprojektion. KW - Computertomografie KW - Gefilterte Rückprojektion KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Iterative Rekonstruktion KW - DIRECTT KW - Konvergenz KW - Modulations-Transfer-Funktion (MTF) PY - 2014 UR - http://www.hanser-elibrary.com/doi/pdf/10.3139/120.110610 SN - 0025-5300 VL - 56 IS - 9 SP - 709 EP - 715 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-31378 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - SYRTOPO - Materialcharakterisierung an der BAMline N2 - Einleitung Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) hat im Synchrotronstrahlungslabor BESSY (im Wissenschafts- und Technologiezentrum Berlin-Adlershof) ein Röntgen-Strahlrohr (BAMline) sowie einen Messplatz für die zerstörungsfreie Materialcharakterisierung aufgebaut. Der Messplatz erlaubt die Untersuchung mit monochromatischer Röntgenstrahlung im Energiebereich von 5keV bis 60keV mit hohem Photonenfluß. Seit Anfang 2001 läuft der Probebetrieb zur Optimierung der Strahlungsquelle sowie des experimentellen Aufbaus. Die Besonderheiten der BAMline im Vergleich zu Laboröntgenquellen sind der hohe Photonenfluss bei freier Wahl der Photonenenergie sowie die Polarisationseigenschaften und die außerordentliche Parallelität der Strahlung bei großem Strahlungsquerschnitt. Dies ermöglicht Refraktionstopogramme für Metall-Matrix-Komposite (MMC) in relativ kurzer Zeit, mit einer lateralen Ortsauflösung von 10µm, zu messen. Das neuartige ZfP-Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topograhy wurde an anderer Stelle ausführlich beschrieben [1,2]. Es nutzt die Messtechnik der traditionellen Kleinwinkelstreuung auf unkonventionelle Weise, und wurde in den letzten zehn Jahren in unserem Labor entwickelte und an die fortgeschrittenen Anforderungen für die zerstörungsfreie Charakterisierung von neuartigen Werkstoffen wie faserverstärkten Kompositen und Keramiken angepasst. Das Verfahren basiert auf dem Brechungseffekt von Röntgenstrahlen. Auf Grund der kurzen Wellenlänge der Röntgenstrahlen (l » 0.1nm) können innere Oberflächen sowie Grenzflächenkonzentrationen von Nanometer Große detektiert werden, so dass mit Hilfe dieser Technik sehr leicht Partikel, Risse und Porengrößen im Sub-Mikrometer-Bereich gemessen werden können, ohne dabei die Proben zu zerstören, wie es bei mikroskopischen Techniken notwendig ist. Anwendungsfelder dieser Untersuchungsmethode sind z.B. die Erkennung von Faser-Matrix-Enthaftung nach Schlageinwirkung sowie Rissbildung durch Alterung und Herstellung bei faserverstärkten Kompositen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002 CY - Weimar, Deutschland DA - 2002-05-06 PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v16/v16.htm SN - 3-931381-39-0 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 80-CD SP - 1(?) EP - 6(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2793 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lange, Axel A1 - Kupsch, Andreas A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. T1 - Straightforward correction of X-ray detector backlighting N2 - A novel approach to strongly suppress artifacts in radiography and computed tomography caused by the effect of diffuse background signals ('backlighting') of 2D X-ray detectors is suggested. Depending on the detector geometry the mechanism may be different, either based on the optical scattering of the fluorescent screen materials into optical detection devices or Compton or X-ray fluorescence scattering by the detector components. Consequently, these erroneous intensity portions result in locally different violations of Lambert Beer’s law in single projections (radiographs) as function of the detector area coverage and the magnitude of the attenuation. The absorption of multiple metal sheets is investigated by monochromatic synchrotron radiation, thus excluding beam hardening. The proposed correction procedure simply requires the individual subtraction of one and the same fraction of the primary and transmitted mean intensity, as a constant (non-local) scattering mechanism is assumed. T2 - 18th WCNDT - World conference on nondestructive testing CY - Durban, South Africa DA - 2012-04-16 KW - X-ray detector backlighting KW - Radiography KW - Fluorescent screen KW - Diffuse background KW - Computed tomography PY - 2012 UR - http://www.ndt.net/article/wcndt2012/papers/205_wcndtfinal00205.pdf SN - 978-0-620-52872-6 SP - 1 EP - 8(?) AN - OPUS4-25835 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas T1 - True 3D-CT-reconstruction in comparison to the FDK-algorithm T2 - 17th World Conference on Non-Destructive Testing CY - Shanghai, China DA - 2008-10-25 KW - Computed tomography KW - Spatial resolution KW - Reconstruction algorithm PY - 2008 SP - 1 EP - 5 PB - International Committee for Non-Destructive Testing CY - Shanghai AN - OPUS4-18568 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schors, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgen-Topographie mit Klein- und Weitwinkel-Streuung und Röntgenrefraktions-Computertomographie KW - Röntgen-Streuung KW - Materialcharakterisierung KW - Komposite KW - Keramik KW - Risse KW - Computertomographie PY - 2003 SN - 0948-5112 IS - 86 SP - 11 Seiten PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-2652 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. T1 - Refraktions-Interface-Radiographie N2 - Nanoskalige Strukturen und Grenzflächen bestimmen zunehmend die Funktionalität moderner Materialien und Bauteile und erfordern ihre zerstörungsfreie Charakterisierung mit angepasster Ortsauflösung. Dazu sind wegen der passenden Wellenlängen Röntgen-Refraktionsverfahren einsetzbar. Die resultierende Kleinwinkelstreuung verursacht lokal große Intensitäten, die durch Umlagerung oder Fokussierungseffekte das Primärstahlniveau übersteigen können. Mit monochromatischer Synchrotronstrahlung an homogenen Musterproben einfacher Geometrien (Platten und Zylinder) wird die Dominanz der Refraktionsintensität gegenüber der Totalreflexion dargestellt. Der Refraktionseffekt kann für Einstrahlwinkel bis zu einigen Grad genutzt werden; die typischen Streuwinkel liegen in der Größenordnung von Bogensekunden bis -minuten. Darüber hinaus wird die Bestimmung der inneren Oberflächen, Poren und Nanorisse auch orientierungsspezifisch mit Laborausrüstungen demonstriert. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2013 CY - Dresden, Germany DA - 06.05.2013 KW - Röntgenrefraktion KW - Kleinwinkelstreuung KW - Refraktionstopographie KW - Nanostrukturen PY - 2013 SN - 978-3-940283-49-8 IS - Mo.2.A.2 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-28691 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Rack, A. A1 - Zabler, S. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Weidemann, Gerd A1 - Lange, Axel A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Görner, Wolf T1 - High resolution synchrotron-based radiography and tomography using hard X-rays at the BAMline (BESSY II) N2 - The use of high brilliance and partial coherent synchrotron light for radiography and computed tomography (CT) allows to image micro-structured, multi-component specimens with different contrast modes and resolutions up to submicrometer range. This is of high interest for materials research, life science and non-destructive evaluation applications. An imaging setup for microtomography and radiography installed at BESSY II (a third generation synchrotron light source located in Berlin, Germany) as part of its first hard X-ray beamline (BAMline) can now be used for absorption, refraction as well as phase contrast — dedicated to inhouse research and applications by external users. Monochromatic synchrotron light between 6 keV and 80 keV is attained via a fully automated double multilayer monochromator. For imaging applications the synchrotron beam transmitted by the sample is converted with a scintillator into visible light. By use of microscope optics this luminescence image is then projected onto, e.g., a CCD chip. Several scintillating materials are used in order to optimise the performance of the detector system. Different optical systems are available for imaging ranging from a larger field of view and moderate resolutions (macroscope — up to 14 mm x 14 mm field of view) to high resolution (microscope — down to 0.35 μm pixel size), offering magnifications from 1.8× to 40×. Additionally asymmetric cut Bragg crystals in front of the scintillator can be used for a further magnification in one dimension by a factor of about 20. Slow and fast cameras are available, with up to 16 bit dynamic range. We show the suitability of the setup for numerous applications from materials research and life science. KW - Microtomography KW - Non-destructive evaluation KW - Synchrotron instrumentation KW - Coherent imaging KW - X-ray refraction KW - Phase contrast KW - Holotomography KW - Synchrotron-CT KW - Scintillator KW - Bragg magnification PY - 2008 DO - https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.11.020 SN - 0168-9002 SN - 0167-5087 VL - 586 IS - 2 SP - 327 EP - 344 PB - North-Holland CY - Amsterdam AN - OPUS4-17738 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Lange, Axel A1 - Kupsch, Andreas A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Edge artefacts of radiographic images by X-ray refraction N2 - The relevance of nano sized structures and interfaces in upcoming technologies requires new non-destructive Xray techniques exploiting attenuation as well as scattering. In the course of driving the resolution and the contrast of modern radiography into micro and nano metre dimension the inevitable scattering effects require increased attention. Several radiologists interpret the observed edge artefacts simply by 'phase contrast' due to different X-ray path lengths within the sample and others refer to Fresnel scattering. The ultra small angle scattering is of high intensity and may reach the level of the primary beam. We present monochromatic synchrotron measurements on rather simply shaped objects (such as plates and cylinders) which prove clearly the dominance of refraction intensity over total reflection and coherent small angle scattering. The refraction conditions hold for angles of incidence of several degrees to the surface, but typical deflection angles range from several seconds to minutes of arc. Additionally to the concept of 'phase contrast' of the primary beam its deflection becomes the essential issue. The appropriate removal of the attenuation contribution enables the imaging of inner surfaces and interfaces by refraction scanning topography. The presented measurements of reference particles demonstrate the reliability of laboratory refraction scanners applying X-ray tubes. T2 - 18th WCNDT - World conference on nondestructive testing CY - Durban, South Africa DA - 2012-04-16 KW - X-ray refraction KW - Small angle scattering KW - Phase contrast radiography KW - Refraction topography KW - Nanostructures KW - Nanocracks PY - 2012 UR - http://www.ndt.net/article/wcndt2012/papers/274_wcndtfinal00274.pdf SN - 978-0-620-52872-6 SP - 1 EP - 11(?) AN - OPUS4-25836 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lück, S. A1 - Schmidt, V. A1 - Hilger, A. A1 - Garcia-Moreno, F. A1 - Manke, I. T1 - Reconstruction of limited view tomography data by DIRECTT N2 - Incomplete tomographic data sets such as limited view (missing wedge) data represent a well-known challenge for reconstruction algorithms, since they unavoidably lead to substantial image artefacts. Such data sets may occur in industrial computed tomography of limited access (e.g. extended components, fixed objects), directional opacity, limited sample life time or laminographic set-up. We present strategies to effectively suppress the typical elongation artefacts (e.g. lemon-like deformed pores) by our iterative algorithm DIRECTT which offers the opportunity to vary the versatile reconstruction parameters within each cycle. Those strategies are applied to experimental data obtained from metallic foams as well as model simulations. Comparison is drawn to state-ofthe- art techniques (filtered backprojection and algebraic techniques). Further reference is made to reconstructions of complete data sets serving as gold standards. For quantitative assessment of the reconstruction quality adapted techniques based on spatial statistics are introduced. T2 - 18th WCNDT - World conference on nondestructive testing CY - Durban, South Africa DA - 2012-04-16 KW - Computed tomography KW - Limited tomographic data KW - Iterative reconstruction KW - DIRECTT KW - Limited view KW - Missing wedge KW - Spatial statistics PY - 2012 UR - http://www.ndt.net/article/wcndt2012/papers/208_wcndtfinal00208.pdf SN - 978-0-620-52872-6 SP - 1 EP - 9(?) AN - OPUS4-25834 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Manke, I. A1 - Kardjilov, N. A1 - Arlt, Tobias A1 - Grothausmann, R. T1 - Rekonstruktion limitierter CT-Messdatensätze von Brennstoffzellen mit Directt N2 - Die Aufklärung spezifischer Fragestellungen zur Funktionalität von PEM(polymer electrolyte membrane)- und DMFC(Direct Methanol)-Brennstoffzellen bedarf der 3D-Abbildung der spezifischen Komponenten mit unterschiedlichen Strahlungsarten: des Wassergehalts in den Flow Fields mit Neutronen, der Katalysator-Alterung in der MEA (membrane electrode assembly) mit Synchrotronstrahlung und der freien (reaktiven) Katalysator-Oberfläche von Nano-Partikeln mit TEM-Elektronen-Tomografie. Diese Messungen im Bereich der mm- bis nm-Skala unterliegen dabei erheblichen Restriktionen: einer ortsabhängigen Verschmierung der Neutronenradiogramme, Manipulatorinstabilitäten der Synchrotronmessungen sowie einer Kombination von Limited-View-Datensätzen, wenigen Projektionswinkeln und teilweiser Nichtdurchstrahlbarkeit in der Elektronen-CT. Die Vorteile eines fortentwickelten Directt-Algorithmus für die Bewältigung dieser Randbedingungen gegenüber gefilterten Rückprojektionen werden aufgezeigt. KW - Computed tomography KW - Reconstruction algorithm KW - Electron tomography KW - Neutron tomography KW - Catalyst KW - Fuel cell PY - 2010 SN - 0025-5300 VL - 52 IS - 10 SP - 676 EP - 683 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-22070 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas A1 - Müller, Bernd R. T1 - Numerical correction of X-ray detector backlighting N2 - A novel approach to strongly suppress artifacts in radiography and computed tomography caused by the effect of diffuse background signals ('backlighting') of 2D X-ray detectors is suggested. Depending on the detector geometry the mechanism may be different, either based on the optical scattering by the fluorescent screen materials into optical detection devices or Compton or X-ray fluorescence scattering by the detector components. Consequently, these erroneous intensity portions result in locally different violations of Lambert–Beer's law in single projections (radiographs). When used as input data for computed tomography these violations are directly observed via modulation of the projected mass as a function of the rotation phase and the sample’s aspect ratio (dynamics). The magnitude of the diffuse background signal depends on the detector area covered by the projected sample. They are more pronounced the smaller the shadowed area and the stronger the total attenuation. This implies that the reconstruction suffers from additional anisotropic artifacts caused by elongated sample structures. This issue is studied simply by absorption of flat plates in a conventional laboratory radiography set-up and at a synchrotron radiation facility. In the latter case beam hardening artifacts can be excluded due to the monochromatic radiation. The proposed correction procedure requires simple integral intensity offsets as a constant (non-local) light scattering mechanism is assumed. KW - Detector backlighting KW - X-ray detector scattering KW - Fluorescent screen KW - Diffuse background KW - Computed tomography PY - 2012 DO - https://doi.org/10.3139/146.110659 SN - 1862-5282 VL - 103 IS - 2 SP - 174 EP - 178 PB - Carl Hanser CY - München AN - OPUS4-25553 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ewert, Uwe A1 - Osterloh, Kurt A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Beckmann, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Beyerer, J. T1 - Advanced radiological technologies for imaging and characterisation of threats T2 - 2nd Security Research Conference "Future Security" CY - Karlsruhe, Germany DA - 2007-09-12 KW - Threat Detection KW - Dual Energy KW - Multiple View Inspection KW - Terahertz Imaging KW - Explosives PY - 2007 SN - 978-3-86644-147-7 SP - 116 EP - 119 PB - Universitätsverl. CY - Karlsruhe AN - OPUS4-18348 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Kupsch, Andreas T1 - A comfortable procedure for correcting X-ray detector backlight N2 - A novel approach is suggested to strongly suppress artifacts in radiography and computed tomography caused by the effect of diffuse background signals 'backlighting' of 2D X-ray detectors. Depending on the detector geometry the mechanism may be different. Either based on the optical scattering of the fluorescent screen materials into the optical detection devices or Compton or X-ray fluorescence scattering by the detector components. Consequently, these erroneous intensity portions result in locally different violations of Lambert Beer's law in single projections (radiographs) as a function of the detector area coverage and the magnitude of the attenuation. The absorption of multiple metal sheets is investigated by monochromatic synchrotron radiation, thus excluding beam hardening. The proposed correction procedure simply requires the individual subtraction of one and the same fraction of the primary and transmitted mean intensity, as a constant (non-local) scattering mechanism is assumed. KW - X-ray detector backlighting KW - Radiography KW - Fluorescent screen KW - Diffuse background KW - Computed tomography PY - 2013 DO - https://doi.org/10.1088/1742-6596/425/19/192015 SN - 1742-6588 SN - 1742-6596 VL - 425 IS - 19 SP - 192015-1 EP - 192015-4 PB - IOP Publ. CY - Bristol, UK AN - OPUS4-28262 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Wald, Oliver T1 - Quantitative X-ray Determination of CFRP Micro Structures T2 - International Symposium on NDT in Aerospace CY - Fürth, Germany DA - 2008-12-03 KW - Neutronen-Radiographie KW - Neutronen-Tomographie KW - Tomographische Rekonstruktionsalgorithmen KW - Brennstoffzellen KW - In-Situ Radiologie PY - 2008 SN - 978-3-940283-12-2 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - DGZfP-BB 114 (X-Ray/Lecture 13) SP - 89 EP - 98 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-18606 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Görner, Wolf A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. T1 - The first hard X-rays at the BAMline PY - 2001 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2000.pdf#page=329 SN - 0179-4159 SP - 329 EP - 331 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-1299 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. A1 - Schors, Jörg A1 - Harbich, Karl-Wolfram T1 - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie N2 - Für die Charakterisierung Neuer Werkstoffe, vornehmlich Nichtmetalle, hat sich das Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topographie bewährt. Es handelt sich phänomenologisch um eine Technik der Röntgen-Kleinwinkel-Streuung mit Probekörper-Abtastung bei fest vorgewähltem Streuwinkel. Gegenüber der klassischen Beugungstheorie dominieren jedoch bei der Streuung an Strukturen oberhalb von 0.3 µm Größe röntgenoptische Brechungseffekte. Detektierbar sind damit innere Ober- und Grenzflächen, insbesondere Mikrorisse unterhalb der lichtmikroskopischen Erkennbarkeit. Da es sich hierbei um eine Durchstrahlungs-Technik handelt, überlagern jedoch die Strukturen zu einer Projektion, analog zu den radiographischen Verfahren. Um auch Informationen entlang der Durchstrahlungs-Richtung in der Tiefe des Probekörpers zu erhalten, wird unter kleinen Streuwinkeln die Computer-Tomographie durchgeführt, im ersten Ansatz mit nur zwei Meßkanälen, jeweils für die Messung der Absorptions- und der Refraktions-Intensität. Dazu werden nacheinander 360 Linear-Scans nach Drehung von jeweils 1° aufgenommen. Die Intensitätswerte werden nach den Regeln der fouriergefilterten Rückprojektion zu Computer-Tomogrammen verarbeitet. Die Ergebnisse visualisieren die Anordnung von Grenzflächen und innere Oberflächen, die sich für zahlreiche nichtmetallische Werkstoffe, vor alllem im Transportmittel-Leichtbau als relevante Mikrostrukturen für das Versagens-Verhalten und die Werkstoff-Optimierung eignen. Zum Vergleich entstehen aus den simultanen Absorptionsmessungen gleichzeitig die klassischen Computer-Tomogramme, die ausschließlich Dichteänderungen anzeigen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 1999 CY - Celle, Deutschland DA - 1999-05-10 KW - Röntgentomographie KW - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie PY - 1999 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp99/data/40.htm SN - 3-931381-27-7 VL - 1 IS - 68 SP - 361 EP - 369 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-715 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -