TY - GEN A1 - Blazek, M. A1 - Deilmann, M. A1 - Gasch, A. A1 - Gerlach, M. A1 - Grümbel, F. A1 - Kaiser, U. A1 - Kloska, M. A1 - Löbbecke, S. A1 - Maiwald, Michael A1 - Pötter, T. A1 - Rebner, K. A1 - Roos, E. A1 - Stieler, S. A1 - Stolz, D. A1 - Theuer, M. A1 - Berthold, J. A1 - Engelhard, H. T1 - Technologie-Roadmap "Prozesssensoren 4.0" N2 - Mit den Technologie-Roadmaps „Prozesssensoren 2005–2015“ [1] (2006) und „Prozesssensoren 2015+“ [2] und [3] (2009) wurden Grundlagen für alle Unternehmen der Prozessindustrie geschaffen, um zielgerichtet auf Kundenbedürfnisse der Prozessindustrie zugeschnittene Produktentwicklungen, technologische Weiterentwicklungen und Forschungsprojekte zum Erfolg zu bringen. Die Roadmap „Prozesssensoren 2015+“ fand große Akzeptanz aufgrund der soliden Betrachtung der Prozesse und der daraus abgeleiteten Thesen. Diese Aussagen haben in vollem Umfang weiterhin Gültigkeit. Im Rückblick auf die damals formulierten Entwicklungsziele wurden viele dieser Ziele im prognostizierten Zeithorizont auf den Weg gebracht und teilweise bereits umgesetzt. In dieser Technologie-Roadmap werden einige Beispiele dazu aufgezeigt. KW - Roadmap KW - Industrie 4.0 KW - Prozess-Sensoren KW - Prozessanalytik KW - Sensoren PY - 2015 UR - http://www.namur.net/fileadmin/media_www/Roadmap_Dateien/Roadmap_Prozesssensoren_4.0.pdf SP - 1 EP - 36 AN - OPUS4-34947 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Baer, D. R. A1 - Cant, D. J. H. A1 - Castner, D. G. A1 - Ceccone, G. A1 - Engelhard, M. H. A1 - Karakoti, A. S. A1 - Müller, Anja ED - Hodoroaba, Vasile-Dan ED - Unger, Wolfgang ED - Shard, A. G. T1 - Preparation of nanoparticles for surface analysis T2 - Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles N2 - A variety of methods used to prepare nano-objects for surface analysis are described along with information about when they might be best applied. Intrinsic properties of NPs which complicate their characterization and need to be considered when planning for surface or other analyses of NPs are identified, including challenges associated with reproducible synthesis and functionalization of the particles as well as their dynamic nature. The relevant information about the sample preparation processes, along with analysis details and data that need to be added to the collection of material provenance information is identified. Examples of protocols that have been successfully used for preparation of nano-objects for surface analysis are included in an annex. KW - Sample preparation KW - Nanoparticles KW - Surface chemistry KW - XPS KW - Dynamic behavior KW - Nano-object KW - Surface analysis PY - 2020 SN - 978-0-12-814182-3 DO - https://doi.org/10.1016/B978-0-12-814182-3.00018-3 SP - 295 EP - 347 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-50186 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -